「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A computer system comprising a processor configured to cause an operating system to be booted, a test module, and a component coupled to a test module and configured to receive a clock input is provided.例文帳に追加

本発明によれば、オペレーティングシステムを起動させるように構成されたプロセッサ、テストモジュール、およびテストモジュールに接続され、クロック入力を受け取るように構成されたコンポーネントを備えたコンピュータシステムが提供される。 - 特許庁

Thus, even in the case of a device operating at a very high speed, a delay time to an input test signal can be measured.例文帳に追加

これにより、超高速で動作するデバイスであっても、入力された試験信号に対する遅延時間を測定することが可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a testing cost by carrying out a current leak test while constricting the number of input/output pads.例文帳に追加

入出力パッドの数を圧縮しながら、電流リーク試験を行って、試験コストの低減を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

A signal received at an input terminal 210 of a test and measurement instrument 200 is low-pass filtered and transmitted to dF/dT trigger circuitry 220.例文帳に追加

試験測定装置２００の入力端子２１０で受けた信号は、ローパス・フィルタ処理されて、ｄＦ／ｄＴトリガ回路２２０に送られる。 - 特許庁

To make a flash memory, etc., of multiple bit configuration a basic element and to reduce test cost of a memory card performing an input-output operation of data in one-bit unit.例文帳に追加

多ビット構成のフラッシュメモリ等を基本素子とし、１ビット単位でデータの入出力動作を行うメモリカードの試験コストを低減する。 - 特許庁

To provide a double data rate(DDR) memory in which a normal memory tester can be used at the time of a test and circuit constitution of a data input circuit is easy.例文帳に追加

テスト時に通常のメモリテスタを使用できるデータ入力回路の回路構成が容易なダブルデータレート（ＤＤＲ）メモリを提供する。 - 特許庁

To provide a test-data generation apparatus, by which the operation of a semiconductor device with reference to the input of data is evaluated at low costs and easily.例文帳に追加

データの入力に対する半導体装置の動作評価を低コストで容易に実現するための試験用データ生成装置を提供する。 - 特許庁

Carrying amount of each roller can thereby be corrected by performing input operation based on the test pattern image (S160-S210).例文帳に追加

このため、テストパターン画像に基づく入力操作を行わせることで、各ローラによる搬送量を補正することができる（Ｓ１６０〜Ｓ２１０）。 - 特許庁

A test signal (±12 V, 1 kHz) being output from a transducer 20 is transmitted through a signal line SL and input to a measurement electrode 11.例文帳に追加

変換器２０から送出した試験信号（±１２Ｖ，１ｋＨｚ）は、信号線ＳＬを伝搬して測定電極１１に入力される。 - 特許庁

In a step S103, correspondence between the cells of the test recording data sheet and an arrangement of data for database is generated as input/output conversion information.例文帳に追加

ステップＳ１０３では、試験記録データシートのセルとデータベース用データの並びとの対応関係を入出力変換情報として作成する。 - 特許庁

The instruction execution part 121 selects a new input variable combination 193, and executes the test object program 191 step by step.例文帳に追加

命令実行部１２１は新たな入力変数値組み合わせ１９３を選択して試験対象プログラム１９１を一ステップずつ実行する。 - 特許庁

A test mode input circuit 15 comprises an NOMS transistor(TR) 22, a PMOS TR 23, an inverter 24, and a current-limiting circuit 25.例文帳に追加

テストモード入力回路１５は、ＮＭＯＳのトランジスタ２２、ＰＭＯＳのトランジスタ２３、インバータ２４、および電流制限回路２５から構成される。 - 特許庁

You can enhance the Composite Application project by adding test cases, binding to the operation, supplying input, and then using the tester. 例文帳に追加

テストケースを追加して操作に結合し、入力を行なったあと、テスターを使用することにより、複合アプリケーションプロジェクトの機能を強化できます。 - NetBeans

You can enhance the Composite Application project by adding test cases, binding them to the operations, supplying input, and then using the Tester. 例文帳に追加

テストケースを追加して操作に結合し、入力を行なったあと、テスターを使用することにより、複合アプリケーションプロジェクトの機能を強化できます。 - NetBeans

Select operation1 and click Finish.Notice in the project tree, under Test, new folder MyTestCase is created, containing two files: Input and Output. 例文帳に追加

「 operation1 」を選択し、「完了」をクリックします。 プロジェクトツリーの「テスト」の下に、「入力」および「出力」の 2 つのファイルが入った新しいフォルダ MyTestCase が作成されます。 - NetBeans

In that case, the test sound input is detected by using gain control signals that are output from an AGC circuit provided in the information processing apparatus.例文帳に追加

その際、情報処理装置に備えられたＡＧＣ回路から出力されるゲイン制御信号を利用して、テスト音声入力を検知する。 - 特許庁

A data input/output signal DQ and the reference clock (a data strobe signal DQS) are output from the device under test 200.例文帳に追加

被試験デバイス２００からは、読み出されるデータ入出力信号ＤＱと共に基準クロック（データストローブ信号ＤＱＳ）が出力される。 - 特許庁

To accurately adjust the timing for each input signal for test, without requiring an exclusive tool for grounding forcibly each pad for signal.例文帳に追加

各信号用パッドを強制接地するために専用治具を必要とすることなく各試験用入力信号の正確なタイミング調整を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for which characteristics test can be performed through an output buffer or input buffer before a semiconductor wafer is diced.例文帳に追加

半導体ウエハのダイシング前に、出力バッファ、又は入力バッファを介した特性試験を行なうことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To apply excitation input in the two or more directions to a test object, in a vibration testing device formed by combining a plurality of vibrating tables and excitation means.例文帳に追加

複数の振動台及び加振手段を組み合わせた振動試験装置において、２方向以上の加振入力を試験体に与えること。 - 特許庁

To take in an input/output signal of an electronic circuit even in a small electronic component or board such that a test point cannot be prepared.例文帳に追加

テストポイントが用意できないような小型の電子部品や基板でも電子回路の入出力信号を取り込むことができるようにすること。 - 特許庁

A system for performing the function test of the microcomputer by impressing a test signal by a tester to the microcomputer and detecting its expected value is provided with a test synchronizing signal generation circuit 1 generating the timing of detecting an input signal asynchronously inputted to the reference clock of the microcomputer as a test synchronizing signal, and the test synchronizing signal by the circuit 1 is supplied to the tester.例文帳に追加

マイクロコンピュータにテスタによるテスト信号を印加し、その期待値を検出することによりマイクロコンピュータのファンクションテストを行うものにおいて、マイクロコンピュータの基準クロックに対して非同期に入る入力信号を検出するタイミングをテスト同期信号として発生するテスト同期信号発生回路１を設け、テスト同期信号発生回路１によるテスト同期信号を前記テスタに供給する。 - 特許庁

A device comprises: input application/output signal observation timing signal generating means 104 for generating signal representing timing of input application timing and timing of output observation, and a logic circuit for an input application timing signal and an output observation timing signal; and test bench generating means 106 for generating a test bench for observing the signals and performing input application and output observation.例文帳に追加

入力印加のタイミング及び出力観測のタイミングを表す信号、及び前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号のための論理回路を生成する入力印加・出力信号観測タイミング信号生成手段１０４と、当該信号を観測して入力印加、及び、出力観測をおこなうテストベンチを作成するテストベンチ生成手段１０６と、を有する。 - 特許庁

The device has an input application/output signal observation timing signal generating means 104 for generating a signal representing timing of input application and timing of output observation, and a logic circuit for the input application timing signal and the output observation timing signal, and a test bench generating means 106 for generating a test bench for observing the signals and performing input application and output observation.例文帳に追加

入力印加のタイミング及び出力観測のタイミングを表す信号、及び前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号のための論理回路を生成する入力印加・出力信号観測タイミング信号生成手段１０４と、当該信号を観測して入力印加、及び、出力観測をおこなうテストベンチを作成するテストベンチ生成手段１０６と、を有する。 - 特許庁

The simulation support tool comprises: analyzing a ladder program; extracting variables used in the ladder program; retrieving the execution sequence of the input variable out of the extracted variables in the ladder program; and preparing a test input sequence describing a table related to the command of the input variable, a variable name, and a normal input value together in accordance with the execution order.例文帳に追加

ラダープログラムを解析し、ラダープログラムで使用される変数を抽出し、抽出された変数のうちの入力変数について、ラダープログラムにおける実行順を検索し、入力変数のコマンド，変数名，正常な入力値を関連付けたテーブルを、実行順にしたがって記述したテスト入力シーケンスを作成する。 - 特許庁

This testing apparatus includes: a storage section 10a which stores music and test questions related to the music; audio output means 5 for outputting the music; display means 2 for displaying the test questions; input means 3 where a subject inputs answers to the test questions; and testing means 1 which determines the level of the dementia or forgetfulness of the subject based on the input answers.例文帳に追加

音楽と音楽に関連する検査質問が保存された記憶部１０ａと、音楽を出力する音声出力手段５と、検査質問を表示する表示手段２と、検査質問に対して被験者が回答を入力する入力手段３と、入力された回答から被験者の認知症又は物忘れの症状レベルを判定する検査処理手段１と、を備えている。 - 特許庁

As a plurality of LSI formed on a wafer 1, a digital circuit 6 is packaged on a die area, a test circuit 5 is provided on a scribe line formed on the wafer 1, input and output pads 4 to become interfaces with the test circuit 5 on the die area are connected by wiring, and a test signal is supplied by using the input and output pads 4.例文帳に追加

ウエハ１上に形成された複数のＬＳＩとして、ダイ領域上にはデジタル回路６を搭載し、またウエハ１上に形成されたスクライブライン上にはテスト回路５を備え、そのテスト回路５とダイ領域上のインターフェイス部となる入力及び出力パッド部４とを配線で接続し、入力及び出力パッド部４を用いて試験信号を供給する。 - 特許庁

The analog input circuit provided with an A/D converter 5 for converting the analog input signals of a prescribed frequency is provided with a test signal superimposing part 3 for continuously superimposing the analog test signals of a test frequency ft different from the N multiple (N is a natural number) of the prescribed frequency and superimposed signals by the superimposing part 3 are converted into digital superimposed signals by the A/D converter 5.例文帳に追加

所定周波数のアナログ入力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ５を有するアナログ入力回路に、所定周波数のＮ倍（Ｎは自然数）とは異なる試験周波数f_tのアナログ試験信号を連続的に重畳する試験信号重畳部３を設け、重畳部３による重畳信号をＡ／Ｄコンバータ５によりディジタル重畳信号とする。 - 特許庁

That is, a state in which a predetermined input signal is inputted from an element corresponding to the input part in the GPIIN setting 32 defined by the test button 34 is virtually created to inputs an input signal similar to that of a case where a phenomenon occurs.例文帳に追加

すなわち、テストボタン３４で規定されるＧＰＩＩＮ設定３２の入力部に対応する要素から所定の入力信号が入力された状態が仮想的に創られ、現象が起こった場合と同様の入力信号が入力部に入力される。 - 特許庁

To conduct a test of an LSI provided with a plurality of input terminals in a short time and at low cost.例文帳に追加

複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験を短時間かつ低コストで行うことができる回路試験装置および回路試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a projector capable of realizing processing for autofocus or processing for correcting image distortion using a test pattern even while displaying a video according to an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパタンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To provide a projector constituted to perform autofocus and image distortion correcting processing using a test pattern while displaying a video by an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を常時可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

In a first step, a memory input signal when defective memory operation is caused in an actual device test of a semiconductor memory in a state mounted on a system is extracted.例文帳に追加

第１ステップでは、システムに搭載された状態での半導体メモリの実機テストでのメモリ動作不良発生時のメモリ入力信号を抽出する。 - 特許庁

To provide a projector capable of always realizing processing for autofocus or processing for correcting image distortion using a test pattern even while displaying a video according to an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を常時可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a failure in a path between a data input/output pad and a test pad and a failure in a circuit in the middle of the path.例文帳に追加

データ入出力パッドとテストパッド間の経路や当該経路途中の回路の不良を検出することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

A communication means 18 switches the actual operational control data and the test control data according to a command from the input device 15, and transmits to the controller 12.例文帳に追加

通信手段１８は、入力装置１５からの指令により実運用制御データとテスト用制御データとを切替えて制御装置１２に送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing an actual operation speed test of a small amplitude/high-speed operation input/output part without using a dedicated tester.例文帳に追加

専用の試験装置を用いなくとも小振幅・高速動作の入出力部の実動作速度テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The system comprises a first integrated circuit 102 having input and output pins 240, a normal operation logic 230, and a test control logic 200.例文帳に追加

システムは、入力ピンおよび出力ピン２４０と、通常動作ロジック２３０と、テスト制御ロジック２００とを有する第１の集積回路１０２を備えている。 - 特許庁

The control wirings 5 and 6 can be fixed to H or L by the input from the I/O output control terminal 15 and the test control terminals 9 and 16.例文帳に追加

制御配線５、６はＩ／Ｏ・出力制御端子１５、テスト制御端子９、１６からの入力によりＨまたはＬに固定することができる。 - 特許庁

At the reset time, a signal inputted from the ordinary external input terminal 1 is inputted into the flip-flop 4 with load hold as a test mode setting signal.例文帳に追加

リセット時、通常外部入力端子１から入力された信号は、テストモード設定信号として、ロードホールド付きフリップフロップ４へ入力される。 - 特許庁

In a fault simulation, a pattern input part 14 inputs a test pattern to a tested circuit whose fault generation is supposed by a fault supposing part 12.例文帳に追加

開示される故障シミュレーションでは、故障仮定部１２により故障が仮定された被テスト回路にパターン入力部１４からテストパターンが入力される。 - 特許庁

A second integrated circuit 102 of the system comprises the input and output pins 240, the normal operation logic 230, and the test control logic 200.例文帳に追加

システムの第２の集積回路１０２は、入力ピンおよび出力ピン２４０と、通常動作ロジック２３０と、テスト制御ロジック２００とを有している。 - 特許庁

To enhance efficiency of a test of an interactive program which performs input operation by a graphic user interface(GUI) and further to easily grasp an error generation condition and a generation factor.例文帳に追加

ＧＵＩによる入力操作を行う対話型プログラムのテストの効率化、さらにはエラー発生状況や発生要因の把握の容易化を実現する。 - 特許庁

Carrying amount of each roller can thereby be corrected by performing input operation based on a printed test pattern image (S160-S210).例文帳に追加

このため、印刷したテストパターン画像に基づく入力操作を行わせることで、各ローラによる搬送量を補正することができる（Ｓ１６０〜Ｓ２１０）。 - 特許庁

In semiconductor devices 500A-500D, the number of data bits is compressed inside, and a test result is outputted to data input/output terminals DQ [0:3] to the number of m (m=4).例文帳に追加

半導体装置５００Ａ〜５００Ｄは、データビット数を内部で圧縮し、テスト結果をｍ個（ｍ＝４）のデータ入出力端子ＤＱ［０：３］に出力する。 - 特許庁