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test inputの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1297件
This semiconductor memory is provided with a high voltage detecting circuit 4 detecting high voltage for an address input pin X0, a latch circuit 5, and a test mode control circuit 6 controlling a test mode based on latch data held by the latch circuit 5.例文帳に追加
本発明の半導体記憶装置は、アドレス入力ピンX0に対して、高電圧を検出する高電圧検出回路4、ラッチ回路5、ラッチ回路5で保持するラッチデータに基づきテストモードを制御するテストモード制御回路6が設けられている。 - 特許庁
In this control device of the rack for test tubes, a rack body is fixed on a placing table, and the placing table is moved and controlled in the X-axis direction and in the Y-axis direction, and thereby each holding hole of the rack body can be positioned on each input position of the test tubes.例文帳に追加
本発明の試験管用ラックの制御装置では、ラック本体を載置テーブルへ固定し、載置テーブルをX軸方向及びY軸方向へ移動制御することで、ラック本体の各保持孔を試験管の投入位置へ位置させることができる。 - 特許庁
A successive approximation type A/D converter mounted on an LSI chip 10a is allowed to have a self-test function, and the conversion test of the successive approximation type A/D converter circuit 18a can be made with voltage generated from a built-in DAC circuit 22 as an analog input voltage AIN.例文帳に追加
LSI チップ10a に搭載された逐次比較型A/D コンバータ回路18a にセルフテスト機能を持たせ、内蔵DAC 回路22から生成した電圧をアナログ入力電圧AIN として逐次比較型A/D コンバータ回路の変換テストを行なうことを可能とした。 - 特許庁
After a wafer W is placed on a θ stage 21 arranged on an input side of a probing tester 3 to perform positioning the wafer W and the external appearance test of each semiconductor chip, this wafer W is placed on the probing tester 3 to perform the probing test.例文帳に追加
プロービングテスト装置3の入側に配置されたθステージ21にウエハWを載せて、このウエハWの位置決めと各半導体チップの外観検査を行った後に、このウエハWをプロービングテスト装置3に設置してプロービングテストを行う。 - 特許庁
A logic circuit 100 has an observable test point 110 or a controllable test point 120, connected thereto, at which to detect a delay-failure-related signal propagating in a logical path 130 between an input terminal 101 and an output terminal 105.例文帳に追加
論理回路100は、入出力端子間(101と105との間)の論理パス130に伝搬する遅延故障に関する信号を検出する可観測性テストポイント110または可制御性テストポイント120が接続されている。 - 特許庁
To enable increasing the number of simultaneous measuring remarkably and to reduce a cost required for a test by reducing the number of input terminals and output terminals to be controlled by a test device (IC tester) largely in a semiconductor memory.例文帳に追加
本発明は、半導体記憶装置において、試験装置(ICテスタ)が制御すべき入力端子、出力端子数を大幅に削減することにより同時測定数を著しく増加することができ、テストにかかるコストを低減することを目的とする。 - 特許庁
Input circuits 102 input a common test pattern to each of pairs of shift registers in, for example, two lines out of the N lines of the N-line M-stage shift register circuit 101.例文帳に追加
N行並列配置M段のシフトレジスタ回路101のN行のうち例えば2行のシフトレジスタ回路を1組として、各組において、1組の2行のシフトレジスタ回路に対して入力回路102が共通の同一テストパターンを入力する。 - 特許庁
Therefore, it is unnecessary to connect pins for bias to the input pads 13-15 being not used at the time of the test mode, thus the number of input pads needed for the connection of the pins is decreased to increase the number of devices to be simultaneously tested.例文帳に追加
従って、試験モード時に使用されない入力パッド13〜15に対してバイアス用のピンを接続する必要がなくなり、ピンの接続が必要な入力パッドの数が減少して、同測数を増加させることができる。 - 特許庁
To allow check on an obvious input mistake, a measurement mistake and the like in input of a measurement value in a test field and to prevent unnecessary labor and man-hours required for visiting the field again for inspection after arriving at an office.例文帳に追加
検査現場における計測値の入力時点で、明らかな入力ミスや計測ミス等をチェックできるようにすると共に、事務所に戻ってから、再度、現場に点検に出向くといった無駄な手間や工数を回避できるようにする。 - 特許庁
When receiving a forenotice of online batch for the test from the online systems and the input telegraphic messages match between the online systems, the information processing device interrupts the input of the telegraphic messages and notifies each online system of an execution command of the online batch.例文帳に追加
オンラインシステムからテスト用のオンラインバッチの予告通知を受信した際、投入済みの電文がオンラインシステム間で一致している場合、電文投入を中断し、オンラインバッチの実行指示を各オンラインシステムに通知する。 - 特許庁
IN scan test mode, inspection data received by the inspection input terminal TI are held synchronously with a clock of master clock terminal MSK and are outputted from the output terminal Q synchronous with a clock of a slave clock input terminal SCK.例文帳に追加
スキャンテストモードにおいては、検査入力端子TIに受けた検査データがマスタークロック端子MSKのクロックに同期して保持され、スレーブクロック入力端子SCKのクロックに同期して出力端子Qから出力される。 - 特許庁
In this way, control is carried out so that signal is not transmitted by the input/output cells, to which the LSI chips 220 and 260 are connected, and connection of the scan path and the input/output cell is switched for performing simultaneous operation of the scan test.例文帳に追加
これにより、LSIチップ220、260を接続する入出力セルが信号のやりとりを行わないように制御し、スキャンテストの同時実行を可能なようにスキャンパスと入出力セルの接続を切り替える。 - 特許庁
To provide an input termination control device in which analysis for initial defects, functions, and reliability of a semiconductor memory at a test can be easily performed by controlling ON/OFF of an input termination of a semiconductor memory, and its method.例文帳に追加
半導体メモリの入力ターミネーションをオン・オフ制御して、テストの際に半導体メモリの初期不良、機能分析、信頼性分析を容易にすることができる入力ターミネーション制御装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁
Then, all input events and state transition actions on the picture are simulated by using data indicating the input events and the state transition actions as arguments, and the arguments are embedded, and the parts are arrayed according to a test scenario.例文帳に追加
前記部品は入力イベントと状態遷移アクションを表すデータを引数とし、、画面への全入力イベントと状態遷移アクションをシミュレートするもので、テストシナリオに従い、引数を埋めかつ部品を配列して使用する。 - 特許庁
Signals fixed to the logic level H or L are inputted to input terminals INm+1 to INn of a functional macro 1 in at least one test pattern.例文帳に追加
また、集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合に、試験用外部端子を少なくしてコストの削減を図るとともに、各機能マクロの試験時間の短縮を図る。 - 特許庁
According to the invention, a test using uncompressed actual data can be performed while the plurality of data input/output terminals are assigned to one determination circuit in a tester.例文帳に追加
本発明によれば、テスタ内の1つの判定回路に複数のデータ入出力端子を割り当てつつ、非圧縮の実データを用いたテストを行うことが可能となる。 - 特許庁
To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.例文帳に追加
テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理LSIを得る。 - 特許庁
A method and a device for verifying the function design of a response of a system (10) to the propagation delay from the input of the transmission source synchronous link during a test are disclosed.例文帳に追加
テスト中における送信元同期リンクの入力からの伝搬遅延に対するシステム(10)の応答の機能設計を検証するための方法及び装置が開示される。 - 特許庁
Before carrying out a test, an operator uses the personal computer to previously display a failure detection rule input screen and to set a failure detection rule dialogically.例文帳に追加
作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め異常検出ルール入力画面を表示して、異常検出ルールを対話形式で設定する。 - 特許庁
The selector 24 connects a specified functional block to input/output terminals 18 according to these selecting signals, and a test of the functional block according to the set operation mode is performed.例文帳に追加
セレクタ24は、これら選択信号に応じて所定の機能ブロックを入出力端子18と接続し、設定された動作モードに応じた機能ブロックのテストが行なわれる。 - 特許庁
In this environmental test device, setting input of the operation condition is performed by displaying successively the set screens in the hierarchical structure by button operation by an operation part 3.例文帳に追加
環境試験装置では、操作部3でのボタン操作により、階層構造における設定画面を順次表示させて、操作条件の設定入力を行う。 - 特許庁
A hole for the screw and a hole for a projecting part, into which the projecting part of the equipment is inserted when a test voltage device is connected with the power input terminal, are formed on the first wall.例文帳に追加
一の壁にはネジ用孔と電源入力端子に試験電圧装置が接続されると装置の凸部が挿入される凸部用孔が形成されている。 - 特許庁
To obtain a semiconductor device which can be restrained from increasing in power consumption in a normal operation mode, while making normal input pin function as a test pin.例文帳に追加
通常の入力ピンにテストピンとしての機能を持たせながらも、通常動作モードにおいて消費電力を増加させない半導体装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加
半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁
Therefore, when one combination of address signals is made to correspond to this command, the number of test modes can be increased without being restricted by the number of input pins of an address signal.例文帳に追加
したがって、アドレス信号の1の組合せをこのコマンドに対応づければ、アドレス信号の入力ピン数に制限されずテストモードを増やすことも可能となる。 - 特許庁
The test system is used for a steering device 1 which transmits a steering force input from a steering wheel 2 to right-and-left steering force output parts 7a', 7b' connected to wheels.例文帳に追加
ステアリングホイール2から入力される操舵力を、車輪に接続される左右の操舵力出力部7a′、7b′へ伝達するステアリング装置1のための試験システムである。 - 特許庁
An ordinary external input terminal 1 is used in common for a test mode setting terminal, and a flip-flop 4 with LOAD/HOLD for controlling LOAD/HOLD operation by a reset signal RST is provided.例文帳に追加
通常外部入力端子1をテストモード設定用端子と共用し、リセット信号RSTにてLOAD/HOLD動作の制御が行われるLOAD/HOLD付きフリップフロップ4を設ける。 - 特許庁
To obtain a circuit and method for testing a microcomputer capable of performing test operation free from the influence of the delay of an input signal by eliminating adjusting operation to be performed in debugging.例文帳に追加
デバッグ時に行う調整作業をなくし、入力信号の遅延に影響を受けないテスト動作を行えるマイクロコンピュータのテスト回路およびテスト方法を得る。 - 特許庁
The device preferably includes in the groove part 2a, an interlaminar fluid input port 4 for inputting fluid between constituting members of the resin test piece TP having a laminated structure.例文帳に追加
積層構造である樹脂試験片TPの構成部材間に流体を投入する積層間流体投入口4を溝部2aに備えていることが好ましい。 - 特許庁
A test signal is input to a cascaded first-stage semiconductor device 310 and sequentially sent to later-stage semiconductor devices via cascading.例文帳に追加
テスト信号は、カスケード接続された一段目の半導体装置310にテスト信号を入力し、カスケード接続を介して順次後段の半導体装置にテスト信号を送る。 - 特許庁
When a first selection button 2A is depressed after depression of an input test mode switch 8a and a set key 8e, the first selection button 2A outputs a depression signal.例文帳に追加
入力テストモードスイッチ8aを押下した後、設定キー8eを押下し、第1選択ボタン2Aを押下すると、第1選択ボタン2Aは、押下信号を出力する。 - 特許庁
The function circuit also comprises a diagnostic logic for conducting an operation test of an internal circuit mounted in the delay circuit (41, 42) to externally input a diagnostic signal.例文帳に追加
また、遅延回路(41,42)に内部回路の動作試験を行うための診断用論理を搭載し、外部から診断用信号が入力されるように構成する。 - 特許庁
The inspector 9 manually executes a test input by short-circuiting a limit switch 801a and its program response can be checked by voice information to execute tests only by one person in the field B.例文帳に追加
検査員はリミットスイッチ801aの短絡による手動のテスト入力を行い、そのプログラム応答を音声報知で確認でき、現場でのワンマン試験を実行する。 - 特許庁
Test data input(TDI signal), supplied from an external inspection apparatus (not shown), is respectively inputted to the TDI terminals of integrated circuit devices 1, 2, 3 in parallel.例文帳に追加
外部の検査装置(図示せず)から供給される入力テストデータ(TDI信号)を、集積回路デバイス1,2,3の各TDI端子に並列にそれぞれ入力する。 - 特許庁
At scan shift operation, a signal of a signal level Hi is inputted to an operation mode switching signal input terminal SE of a selector 29 to select a scan test signal of SI.例文帳に追加
スキャンシフト動作時は、セレクタ29の動作モード切替信号入力端子SEに信号レベルHiの信号を入力してSIのスキャンテスト信号を選択する。 - 特許庁
To apply proper stress even to an I/O cell other than a terminal used for the output and input of a scan, at the time of a burn-in test using a scanning circuit.例文帳に追加
スキャン回路を用いたバーンインテスト時に、スキャンの入力と出力で使用する端子以外のI/Oセルに対しては、適切なストレスを印加することができない。 - 特許庁
The personal computer 4 compares the input log and an error code stored in an error code storage part 41, and starts a test procedure management part 43 when the error code is detected.例文帳に追加
パーソナルコンピュータ4は、入力したログとエラーコード記憶部41に記憶したエラーコードとを比較し、エラーコードが検出された場合には、テスト手順管理部43を起動する。 - 特許庁
A synthesizer 14 synthesizes RF signals from the UP-converters 12-1, 12-2,..., 12-N and gives the synthesized signal to an MCPA(multi-channel power amplifier) 16 as a test input signal.例文帳に追加
各アップコンバータ12−1,12−2,…12−NによりRF信号を合成器14により合成し、試験用の入力信号としてMCPA16に入力する。 - 特許庁
A test system comprises communication channels 220 and 222 of which terminals are in probes 110d and 110e which have contact with input terminals 208 and 210 of an electronic device 112 to be tested.例文帳に追加
テストシステムは、テストされる電子デバイス112の入力端子208,210と接触するプローブ110d,110e内を終端とする、通信チャネル220,222を備える。 - 特許庁
Also, this failure detecting device is configured so that a server request control part temporarily stops the execution of a disk input/output instruction from a server device from the start to the end of the access test.例文帳に追加
また、サーバ要求制御部がアクセス試験の開始から終了までサーバ装置からのディスク入出力指示の実行を一時的に停止するよう構成する。 - 特許庁
First, when identification information such as a variety and a lot of the plate material in use is input, a profile, which becomes a base, is read out from the identification information, and a test curving is performed.例文帳に追加
先ず、使用している版材の種別やロットなどの識別情報が入力されると、識別情報からベースとなるプロファイルが読み出され試験彫刻が行われる。 - 特許庁
The operator adjusts the amplification of an amplifying circuit 16 and a reference voltage of an A/D converter 18 so as to eliminate the difference between the white input picture and the luminance of the white test pattern.例文帳に追加
オペレータは、白の入力画像と白のテストパターンの輝度の差がなくなるように、増幅回路の増幅率やA/Dコンバータの基準電圧を調整する。 - 特許庁
When test signals are input to the terminals T1, T2, a connection state between the display panel 1 and the FPC 2 is predicted according to signals appearing on the terminal T2, T4.例文帳に追加
端子T1,T3にテスト用の信号を入力し、端子T2,T4に現れる信号によって、表示パネル1とFPC2の接続状態を予測する。 - 特許庁
To provide electronic equipment capable of improving the efficiency of an operation confirmation test of electronic equipment in which an abnormal operation occurs due to a combination and timing of unexpected input signals.例文帳に追加
予期しない入力信号の組合せやタイミングで異常な動作が起こる電子機器の動作確認試験の効率を向上させることのできる電子機器を提供する。 - 特許庁
To execute a scan test mode while holding delay for one stage of latch for operating speed in a mode for fetching input data where high-speed operation is required.例文帳に追加
高速動作が要求される入力データの取り込みモード時の動作速度を、ラッチ1段分の遅延を保ったまま、スキャンテストモードを実行することができるようにする。 - 特許庁
A micro-bump pad (a first pad 21) for data input/output is arranged in a connection path between the test pad (second pad 22) used for testing a semiconductor device and an internal circuit 23.例文帳に追加
半導体装置のテストのためのテストパッド(第2パッド22)と内部回路23との接続経路に、データ入出力のためのマイクロバンプパッド(第1パッド21)が配置されている。 - 特許庁
To solve such a problem that when a test of a DDR memory is performed with SIP circuit constitution, a data strobe signal must be input to a DOQ pin while securing setup/hold margin.例文帳に追加
SIP回路構成でDDRメモリの試験を行う場合、データストローブ信号をDQSピンにセットアップ/ホールドマージンを確保して入力しなければならない。 - 特許庁
When an operator inputs a start instruction from an input unit 1, a controller 2 checks if the test operation of an IC tester 4 has paused or not upon receipt thereof.例文帳に追加
オペレータが入力装置1から起動指示を入力すると、それを受けた制御部2がIC試験装置4の試験動作が一時停止中か否かを確認する。 - 特許庁
When an instruction for starting a burn-in test is accepted in an input part 22, the control part 21 reads a control number added to a TBIB to extract an item number.例文帳に追加
入力部22において、バーンイン試験開始の指示が受け付けられると、制御部21はTBIBに付加されている管理番号を読み取り、品種番号を抽出する。 - 特許庁
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