「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

An interface enables verifying of incorporating memory-macro design using a test interface, the test interface enables that an input signal from a tester of a half rate and a narrow word performs all memory macro- operation over width of a wide memory-macro input/output architecture (I/O) by comprising an on-chip test circuit being separated from a memory-macro.例文帳に追加

インターフェイスは、テストインターフェイスを用いて組込みメモリマクロ設計の検証を可能にし、該テストインターフェイスはメモリマクロと別々のオンチップテスト回路を含むことにより、ハーフレートで狭いワードのテスタからの入力信号が、広いメモリマクロ入力／出力アーキテクチャ（「Ｉ／Ｏ」）の幅をわたってすべてのメモリマクロ動作を行なうことを可能にする。 - 特許庁

A semiconductor device is provided with a chip selecting circuit 10 responding to an input signal and outputting a selecting signal making an internal circuit active, and a test circuit 26 responding to a test input signal and outputting a test active signal switching forcedly an internal circuit to an active state independently of active/non-active state by a selecting signal.例文帳に追加

半導体装置は、入力信号に応答し、内部回路をアクティブにする選択信号を出力するチップセレクト回路１０と、テスト入力信号に応答し、選択信号によるアクティブ／非アクティブの如何に拘わらず内部回路を強制的にアクティブに切り替えるテストアクティブ信号を出力するテスト回路２６とを備えている。 - 特許庁

The distortion compensating power amplifier includes: a test pattern addition part 10 for adding a test pattern to an input signal Vin; a predistortion part 20 for applying distortion compensation processing using a distortion correction coefficient for canceling distortion during amplification to the test pattern-added input signal Vin to generate predistortion signal; and an amplification part 30 for amplifying the predistortion signal.例文帳に追加

入力信号Ｖinにテストパタンを付加するテストパタン付加部１０と、テストパタンが付加された入力信号Ｖinに、増幅時の歪みを打ち消すための歪み補正係数を用いて歪み補償処理を施してプリディストーション信号を生成するプリディストーション部２０と、プリディストーション信号を増幅する増幅部３０と、を備える歪み補償電力増幅器である。 - 特許庁

The input termination control device of a semiconductor memory is constituted of an input termination for matching impedance when a signal is received at a transmission line, a test circuit receiving an input termination-off instruction and an off-release-instruction and outputting the input termination off-control signal, and first and second switch performing switching-on-off by the input termination on-off control signal of the test circuit.例文帳に追加

半導体メモリの入力ターミネーション制御装置において、伝送ラインに信号が受信されるときにインピーダンスをマッチングさせるための入力ターミネーションと、外部からテスト入力ピンを通して入力ターミネーションオフ命令及びオフ解除命令を受けて前記入力ターミネーションオン・オフ制御信号を出力するテスト回路と、前記テスト回路の入力ターミネーションオン・オフ制御信号によりスイッチングオン・オフする第１及び第２スイッチと、から構成される。 - 特許庁

When a compensation is to be made for the dispersion in the voltage amplitudes of input video signals, a maximum luminance test pattern, which is the object of comparison, is displayed in a portion of on-screen and an operator conducts an adjustment to reduce the difference between the test pattern and the input picture to maximum luminance video signals.例文帳に追加

入力映像信号の電圧振幅のバラツキを補正する際に、比較の対象となる最大輝度のテストパターンをオンスクリーンの一部の領域に表示させ、このテストパターンと最大輝度の映像信号に対する入力画像との差をなくすようにオペレータに調整を行わせる。 - 特許庁

By providing a register 104 for test inserted with a delay control circuit, with which the delay of a path for input/output can become greater than the delay of a path for input/output of the other register, the register 104 for test becomes a representative register, in the case of examining the register access between function blocks 101.例文帳に追加

入出力のパスの遅延が他のレジスタの入出力のパスの遅延より大きくなるような遅延調整回路を挿入したテスト用レジスタ１０４を設けることで、テスト用レジスタ１０４は機能ブロック１０１間のレジスタアクセスを検査する際の代表レジスタとなる。 - 特許庁

In a servo control material tester having a controller 10 with a servo control, a tester 20 having the actuator 22 placed on a test piece 23 and an input and output device/host computer 30, a stop command of a test is inputted from the input and output/host computer 30.例文帳に追加

サーボ制御部を有する制御部１０および試験片２３に載荷するアクチュエータ２２を有する試験機部２０および入出力装置／ホストコンピュータ３０を有するサーボ制御材料試験機において、入出力装置／ホストコンピュータ３０から試験の停止指示が入力される。 - 特許庁

Potentials generated in respective nodes by applying a voltage to one of a first test pad 102 and a second test pad 103 in both ends of the measurement target circuit are input to the node information transmission circuit 107, and the input potentials of respective nodes are output in the connection order.例文帳に追加

被測定素子回路の両端の第１のテストパッド１０２又は第２のテストパッド１０３に電圧を印加したときに各ノードに発生する電位が、ノード情報伝達回路１０７に入力され、入力された各ノードの電位を接続された順に出力する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit for performing an input/output test of data is provided with a sense amplifier detecting a level of input data and a sense amplifier controller for blocking a signal path between the sense amplifier and a memory cell when a test mode signal is activated.例文帳に追加

本発明は、データの入出力テストを行うするための半導体集積回路において、入力されたデータのレベルを検出するセンスアンプと、およびテストモード信号が活性化されたとき、前記センスアンプからメモリセルに達する信号経路を遮断するセンスアンプコントローラを備える。 - 特許庁

To provide a logic simulator capable of highly accurately measuring the AC characteristics of external input pin of an LSI on an LSI tester with a test pattern for easily verifying the AC characteristics by preparing this test pattern without increasing the number of input terminals of a real device.例文帳に追加

実デバイスの入力端子数を増加することなく容易にＡＣ特性を検証するテストパターンを作成し、この作成したテストパターンでＬＳＩの外部入力ピンのＡＣ特性をＬＳＩテスタ上で高精度に測定可能な論理シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

To realize a macro-test circuit in an LSI in which the number of external input terminals for testing is not increased even if the number of input terminals for testing provided in a macro-fashion is increased and the versatility of varying the input pattern of testing data is high.例文帳に追加

マクロに設けられるテスト入力端子の数が増加しても、テスト用の外部入力端子の数が増加することがなく、かつ、テストデータの入力パターンを可変する自由度の大きい、ＬＳＩにおけるマクロテスト回路を実現すること。 - 特許庁

The pattern data PTN of the output expected values corresponding to input signals IN1-INm are inputted in series from a test input terminal 9, converted into parallel data by a S/P converter 7, and fed to a first input side of a comparator 5.例文帳に追加

入力信号ＩＮ１〜ＩＮｍに対応した出力期待値のパターンデータＰＴＮが、試験入力端子９から直列に入力され、Ｓ／Ｐ変換器７で並列データに変換されて比較器５の第１の入力側に与えられる。 - 特許庁

At the loop back test time, a clock signal selected by the clock selection circuit is used as a transmission clock, the transmission data is turned up by an input-output terminal and is input into a receiving circuit, data from the receiving circuit is input into the CDR circuit, and a comparing circuit compares reproduced data from the CDR circuit with expected value data, thereby performing the test.例文帳に追加

ループバックテスト時、クロック選択回路で選択されたクロック信号が送信クロックとして用いられ、送信データは入出力兼用端子にて折り返されて受信回路に入力され受信回路からのデータがＣＤＲ回路に入力され、比較回路はＣＤＲ回路からの再生データと期待値データの比較を行うことでテストが行われる。 - 特許庁

When a tester easily operates the input-output device (CSL) 10 of the PC 1, the PC 1 executes the test instructed from the tester by transmitting and receiving test signals to and from the DUT 4 by controlling the operation of the TST 2 after decoding the subject matters of the test instructed to the testing system.例文帳に追加

試験者がＰＣ１の入出力装置（ＣＳＬ）１０を簡易に操作し、本システムに指示する試験内容をＰＣ１が解読処理した上で、ＴＳＴ２を動作制御してＤＵＴ４との間で試験信号を送受することにより、試験者が指示する内容の試験を実行する。 - 特許庁

An arithmetic circuit performs operation of the flag data stored in the flag register with a first test data stored in the data register for each cycle from the input time of the first test data to the plurality of number of cycles of the clock signal, and the data control circuit 1-2 generates test data to be written in the memory cell.例文帳に追加

そして、演算回路は、第１テストデータの入力時からクロック信号の複数サイクル目まで各々のサイクル毎に、フラグレジスタに記憶されたフラグデータとデータレジスタに記憶された第１テストデータとの演算を行って、前記データ制御回路１−２がメモリセルに書き込むテストデータを発生する。 - 特許庁

Storing a data state before and after the update of a data base as history information facilitates automatic creation of the test data creation suitable for the test case and execution of the test, regardless of the existence or nonexistence of the past input online journal and regardless of the change in data layout.例文帳に追加

データベースの更新前後のデータ状態を履歴情報として格納しておくことにより、過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することを可能にする。 - 特許庁

Moreover, the semiconductor device equipped with decoding means which decodes the plurality of internal implementation test signals and a signal formation means which forms the plurality of internal implementation test signals according to each voltage level of the plurality of implementation test signals which are input from outside is offered.例文帳に追加

また、外部から入力される複数の実装テスト信号のそれぞれの電圧レベルに応じて、複数の内部実装テスト信号を生成する信号生成手段と、前記複数の内部実装テスト信号をデコードするデコード手段とを備える半導体装置を提供する。 - 特許庁

Information and a reference value input and calculated in the engineering process are processed by a process control part, the process control part calculates all the tests to be executed by the test module and results obtained in the test process by the test module are provided to the process control part.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス内に入力され、算出される情報及び基準値は、プロセス制御部によって処理され、プロセス制御部は、テストモジュールによって実行されるべき全てのテストを算出し、テストモジュールによりテストプロセスで得られた結果は、プロセス制御部に提供される。 - 特許庁

In the solid-state imaging device 20, the electronic component IC39 is provided with a terminal test pin 85 that takes out an intermediate output between the input/output terminals of the internal circuit, and test pads 86 connected to the test pin 85 are provided in the circuit substrate 36 and a holder 45 in the solid-state imaging device 20.例文帳に追加

固体撮像装置２０では、前記内部回路の入出力端子間の中間出力を取り出す端子のテストピン８５を前記電子部品に設け、これに接続するテストパッド８６を前記固体撮像装置２０内の回路基板３６およびホルダ４５に有している。 - 特許庁

By inputting a test mode signal to a test mode input terminal 6, a RAM 2 (special cell requiring the measurement of a standby current) of a semiconductor device 1 is set to a standby state through a dedicated test mode circuit 7 (such as an OR 4 inserted to a chip enable signal line 3, for example).例文帳に追加

テストモード入力端子６にテストモード信号を入力することにより、専用のテストモード回路７（例えば、チップイネーブル信号ライン３に介挿した論理和４）を介して半導体装置１のＲＡＭ２（スタンバイ電流の測定を要する特殊セル）をスタンバイ状態に設定する。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

To provide a test program development device allowing easy comprehension of a form of an automatically generated source code, allowing guarantee of identity of test conditions between an input sheet and a source file after edition by a user, and allowing heightening of working efficiency of debug or the editing of a test program.例文帳に追加

自動生成されたソースコードの形態を容易に把握でき、入力シートとユーザーが編集した後のソースファイル相互間のテスト条件の同一性が保証され、テストプログラムの編集やデバッグの作業効率を高めることができるテストプログラム開発装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test information management system reducing the burden of a visual check in a client side of a test by automatically performing a data input in a testing institution, a disclosure to the client side of the test, a logical check and data fixing.例文帳に追加

本発明の目的は、試験機関でのデータ入力から試験依頼者側への開示、ロジカルチェック、データ固定までを自動で行うことにより、試験依頼者側での目視等によるチェックの負担を減少させることができる試験情報管理システムを提供することにある。 - 特許庁

The test condition parameter extracted in the extraction means 21 is input into an intermediate file generating means 22, and is generated as an intermediate file 4, to be input thereafter into an overwriting means 23.例文帳に追加

抽出手段２１において抽出されたテスト条件パラメータは、中間ファイル生成手段２２へ入力され、中間ファイル４として生成された後に、上書き手段２３へ入力される。 - 特許庁

A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested.例文帳に追加

試験用入出力装置３０は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン４０は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する。 - 特許庁

When the circuit is simulated, a spike enable input structure 257 supplies a voltage level making a pull down transistor 248 in a state of default opening, and connects external electronics to a test-spike input structure 254.例文帳に追加

シミュレートする場合は、スパイクイネーブル入力構造２５７はプルダウントランジスタ２４８をデフォルトオープンの状態にする電圧レベルを供給し、外部のエレクトロニクスをテストスパイク入力構造２５４に取りつける。 - 特許庁

The comparator circuit 12 compares a test data signal input from the decoder circuit 11 with an expected value data signal input from the external and detects the existence/absence of an output error in the decoder circuit 11.例文帳に追加

比較回路１２は、デコーダ回路１１から入力されるテストデータ信号と外部から入力される期待値データ信号とを比較し、デコーダ回路１１の出力エラーの有無を検出する。 - 特許庁

A component module constituting this scan test system has an input scan cell 76 and an output scan cell 102 if the input and output are not on a boundary of an integrated circuit 10.例文帳に追加

この走査テストシステムを構成する成分モジュールは、その入力または出力が集積回路１０の境界上になければ、入力走査セル７６と出力走査セル１０２とを有する。 - 特許庁

Test signal adding circuits 55L and 55R add current detection signals into input signals to detect the relationship between the input signals and the beam currents in electron guns 31L and 31R.例文帳に追加

テスト信号追加回路５５Ｌ．５５Ｒは、入力信号と電子銃３１Ｌ．３１Ｒにおけるビーム電流との関係を検出するための電流検出用信号を入力信号中に追加する。 - 特許庁

In a normal operation where a test terminal 120 is low, input terminals 202, 212, 222, and 232 of first to fourth input circuits 200-230 are pulled up or down by transistors 208, 218, 228, and 238.例文帳に追加

テスト端子１２０がＬＯＷである通常動作では、第１〜第４の入力回路２００〜２３０の入力端子２０２，２１２，２２２，２３２を、トランジスタ２０８，２１８，２２８，２３８によりプルアップまたはプルダウンする。 - 特許庁

An analysis and conversion processing part 1041 reads a test program 310 for another kind of equipment inputted from an input and output device 101 and stored in a storage part 1044, and executes following IC test processing.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、入出力装置１０１から入力されて記憶部１０４４に記憶された他機種用のテストプログラム３０１を読み出して後述するＩＣテスト処理を実行する。 - 特許庁

In order to prevent the plural integrated circuits to be driven during a test mode contrary to each other, an input terminal 10 connected already in any case to a channel of an automatic test device is connected to a circuit means 30.例文帳に追加

テストモード中に複数の集積回路が相反して駆動されてしまうのを避けるため、いずれにせよすでに自動テスト装置のチャネルと接続されている入力端子１０が回路手段３０と接続される。 - 特許庁

On the other hand, each test tube with a label stuck thereon having specific information of a patient printed thereon is prepared one by one by a widely-used test tube preparation device, and supplied to the input position of the rack body.例文帳に追加

一方、汎用されている試験管準備装置で患者の特定情報を印字したラベル貼着後の試験管を一本ずつ準備し、これをラック本体への投入位置へ供給するようにしている。 - 特許庁

The built-in self-test circuit generates a pattern for memory test in a programmable manner conforming to indication input through the TAP controller and output it, also, compares data read from the external memory with an expected value and judges the data.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路は、ＴＡＰコントローラを介して入力される指示に従ってプログラマブルにメモリテスト用パターンを生成して出力し、且つ、外部メモリから読み込んだデータを期待値と比較判定する。 - 特許庁

In particular, current consumption at the time of an operation-incapable condition for the test circuit 3 is reduced and malfunction is prevented, by controlling operation capability/operation incapability for the input circuit 3b in an initial stage of the test circuit 3.例文帳に追加

特にテスト回路（３）の入力初段の入力回路（３ｂ）の動作可能／不能を制御することにより、テスト回路（３）の動作不能時の消費電流を低減しかつ誤動作を防止することができる。 - 特許庁

In a first test mode to test the macro book MB1, SEL1 outputs the signal M1OUT from MB1 to the first input of the SEL2, and the SEL2 outputs the signal SQ from the SEL1 to the MB1.例文帳に追加

ＭＢ１をテストする第１のテストモードでは、ＳＥＬ１がＭＢ１からの信号Ｍ１ＯＵＴをＳＥＬ２の第１の入力に出力し、ＳＥＬ２がＳＥＬ１からの信号ＳＱをＭＢ１に出力する。 - 特許庁

When the display position of specific data related to the next test operation is selected from among the memory dumps by using an input device 111, test result information corresponding to the specific memory data are shown on the monitor 115.例文帳に追加

このメモリダンプの中から、次のテスト操作に関係する特定のデータの表示位置を、入力装置１１１を使って選択すると、特定のメモリデータに対応するテスト結果情報をモニタ１１５に表示する。 - 特許庁

To verify the test facilitation in the function description of a register transfer level by checking the propagation of data from its input up to its output by an inputted test pattern without correcting a source code to be verified.例文帳に追加

検証対象のソースコードを修正することなく、入力するテストパタンにより入力から出力までのデータの伝搬を調べることによりレジスタトランスファレベルの機能記述においてテスト容易化を検証する。 - 特許庁

Thus, by interconnecting input terminals and output terminals of a plurality of test devices, pieces of time information of the test devices are synchronized with each other to accurately conduct testing by using the time information.例文帳に追加

このため、複数台の試験装置の入力端子と出力端子の間を接続することで、複数台の試験装置の時刻情報を同期させることができ、時刻情報を用いる試験を正確に行うことができる。 - 特許庁

To provide an inspection probe which can respond to a narrow pitch of the input terminals and the output terminals of a semiconductor device, and to properly test the semiconductor device and the manufacturing method for the test probes.例文帳に追加

半導体装置の入力端子及び出力端子の狭ピッチに対応可能であるとともに、半導体装置を良好に検査できる検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁

Subsequently, a prescribed test pattern generation means for failure verification such as an ATPG is applied to the logic circuit after the sequence circuit is replaced by the combination circuit, thereby generating an input test pattern (step S2).例文帳に追加

続いて、順序回路を組み合わせ回路で置換した後の論理回路に対してＡＴＰＧ等の所定の故障検証用テストパターン生成手段を適用して入力テストパターンを生成する（ステップＳ２）。 - 特許庁

The HSI sample data generator 210 serially combines received low-speed parallel test data, and generates first and second test input signals TXP, TXN having reverse phases.例文帳に追加

ＨＳＩサンプルデータ生成器２１０は、受信した低速の並列テストデータを直列に結合して、位相が互いに逆になる高速の第１テスト入力信号ＴＸＰ及び第２テスト入力信号ＴＸＮを生成する。 - 特許庁

The computer then sets as initial values for the input-dedicated register values that can prevent exception interrupt from occurring and executes the instruction string for test use, thereby conducting an operation test without allowing any exception interrupt to occur.例文帳に追加

そして、コンピュータは、入力専用レジスタの初期値として例外割り込みの発生を回避することのできる値をセットして試験用命令列を実行し、例外割り込みを発生させることなく動作試験を行なう。 - 特許庁

At the burn-in test, an output signal of the program circuit 3b is selected by a selection circuit 4 and input to the boosted voltage generating circuit 2 to generate the voltage necessary at the burn-in test by the boosted voltage generating circuit 2.例文帳に追加

バーンインテスト時には、プログラム回路３ｂの出力信号をセレクタ回路４で選択して、昇圧電圧発生回路２に入力させ、バーンインテスト時に必要な電圧を昇圧電圧発生回路２に発生させる。 - 特許庁