「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

The analysis means prepares brain science examination result information indicating individuality of a test subject who operates the input device, in order to provide the plurality of control inputs based on the trial result information.例文帳に追加

解析手段は、前記試行結果情報に基づいて前記複数の制御入力を与えるために前記入力装置を操作した被検体の個性を表す脳科学検査結果情報を作成する。 - 特許庁

The data input circuit 4 generates test bit data 16, 17 by the bit number per one word of the memory 2A from respresentative one bit data 13 from the BIST sub-circuit 1 to be written in the memory 2A.例文帳に追加

データ入力回路４は、ＢＩＳＴサブ回路１からの代表１ビットデータ１３からメモり２Ａ等の１語当りのビット数だけのテストビットデータ１６，１７を生成しメモり２Ａ等に書き込む。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnostic system allowing a user to securely and stably input subject identification information of the subject and test preset conditions with unperplexed and simple operation.例文帳に追加

被検者の被検体識別情報及び対象の検査プリセット条件の入力が、煩雑で無い単純な操作により確実で安定に設定される超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁

When a recording trigger of a cycle timer 21 is output, this controller for an environmental test apparatus stores in a storage section 22, current time data counted by a real time clock 23 associated with environmental state data acquired by a sensor input section 5.例文帳に追加

サイクルタイマ２１の記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit, OR gates 11-1n of a controller 1 enables all input buffers 21-2n regardless of level selection signals SEL1-SEL3 when a mode switch signal Magnetic optical disk(MOD) shows test operation.例文帳に追加

モード切替信号ＭＯＤがテスト動作を示す場合、制御部１のオアゲート１１〜１ｎは、レベル選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ３に関係なく入力バッファ２１〜２ｎをすべて有効にする。 - 特許庁

In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部２０ｃの操作表示パネル部１のパネル面から試験片の形状（丸棒、矩形、パイプ）を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁

Log data at the performance of a manual operation are read from a log file 110, and continuous log data in which an input signal value and an output signal value are neither changed are identified, and integrated into one test vector.例文帳に追加

ログファイル１１０からマニュアル操作した際のログデータを読み込み、入力信号値と出力信号値とが共に変化していない連続したログデータを識別して１個のテストベクタに統合する。 - 特許庁

Since a level of a power source voltage VCC is not required to be lowered in the test mode, an operation of an input-output circuit supplied with the power source voltage VCC is carried out without getting unstable.例文帳に追加

しかも、この試験モードにおいては電源電圧ＶＣＣのレベルを低下させる必要がないため、電源電圧（ＶＣＣ）が供給される入出力回路の動作が不安定にならずに済む。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a mask circuit 11 which is connected to the data input terminals T0 to T3 and passes a test mode setting signal having a smaller pulse width than the prescribed pulse width PW.例文帳に追加

半導体装置１は、データ入力端子Ｔ０ないしＴ３に接続され、所定パルス幅ＰＷより小さいパルス幅を有するテストモード設定信号を通過させるマスク回路１１を備える。 - 特許庁

To reduce distortion caused by an input waveform inputted to an A-D converter via a coupling capacitor, and to shorten a measurement waiting time in the performance test of the distortion measurement of an A-D converter.例文帳に追加

カップリングコンデンサを介してＡ／Ｄ変換器へ入力するための入力波形により生じる歪みを抑え、Ａ／Ｄ変換器の歪測定の性能試験における測定待ち時間を抑えること。 - 特許庁

The tire analysis system 1 performs a behavior analysis of a tire by measuring the change in the tire shape and the change in the surface distortion of the tire when predetermined test conditions are input.例文帳に追加

このタイヤ解析システム１は、所定の試験条件を入力したときのタイヤ形状の変化やタイヤ表面歪みの変化を測定することによりタイヤの挙動解析を行うシステムである。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which normal operation or test operation is performed by variably controlling access paths between a plurality of input/output ports and a plurality of memory regions, and a method therefor.例文帳に追加

複数個の入出力ポートと複数個のメモリ領域の間のアクセス経路を可変的に制御してノーマル動作またはテスト動作を行う半導体メモリ装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁

An input pattern and an output expected value for the simulation are expressed by a structural body constituted of a starting pointer, a data size, a next pointer and a parameter of control information on a memory 104 within a test bench 102.例文帳に追加

テストベンチ１０２内では、シミュレーションのための入力パターンおよび出力期待値はメモリ１０４上の開始ポインタ、サイズ、次ポインタ、制御情報のパラメータからなる構造体で表現する。 - 特許庁

A common input/output signal line 4 is connected to the semiconductor devices 1 constituting each column on the test board 2, and moreover, a clock signal CLK and an address signal Address are inputted to the semiconductor devices 1.例文帳に追加

テストボード２上で各列を構成する半導体装置１には、共通の入出力信号線４が接続されると共に、クロック信号ＣＬＫ及びアドレス信号Ａｄｄｒｅｓｓが入力される。 - 特許庁

In the case of generating picture correction data, a test picture is displayed on a screen with an input signal having a luminance level L5 and a video camera detects the luminance at each position in the picture.例文帳に追加

画面補正データを作成する際に、或る輝度レベルＬ５の入力信号によりテスト画面をスクリーン上に表示させ、ビデオカメラ装置により画面内の各位置における輝度の検出を行う。 - 特許庁

A functional test of a digital circuit block D1 is performed by applying a signal voltage from a tester provided outside to the digital circuit block D1 through a comparator of input I/F parts IF2, IF4.例文帳に追加

外部に設けられたテスタから入力Ｉ／Ｆ部ＩＦ２，ＩＦ４のコンパレータを介してデジタル回路ブロックＤ１に信号電圧を与えることによりデジタル回路ブロックＤ１のファンクショナル試験を行う。 - 特許庁

The ground voltage is applied to the test terminal 10, and the current application voltage measurement is performed to the signal wiring 23, to thereby also detect the mounting defect of the input/output terminal 6.例文帳に追加

また、テスト端子１０にグランド電圧を与えるとともに、信号配線２３に対して電流印加電圧測定を行うことにより、入出力端子６の実装不良を検出することも可能である。 - 特許庁

One or more robotic arms move the workpieces from the input conveyor to the tester and from the tester to one of the output receptacles depending upon the results of the test performed by the tester.例文帳に追加

１つ以上のロボットアームがワークピースを入力コンベヤからテスト装置へ移動し、そしてテスト装置により遂行されたテストの結果に基づいてテスト装置から出力リセプタクルの１つへ移動する。 - 特許庁

An operation level simulation control part 220 acquires an operation level simulation model, an operation level test pattern and an RTL description through a data input device 100, and makes an operation level simulation executing part 210 execute operation level simulation.例文帳に追加

動作レベルシミュレーション制御部220は、データ入力装置100を介して動作レベルシミュレーションモデル、動作レベルテストパタン及びRTL記述を取得し、動作レベルシミュレーション実行部210に動作レベルシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

The test device 1 measures a delay time from the output of the received data packets to the input, calculates the statistic feature quantity of measured delay time for each priority as an evaluation value and outputs the result.例文帳に追加

試験装置1で、入力した各データパケットの出力から入力までの遅延時間を測定し、各優先度毎に、測定した遅延時間の統計的直腸を評価値として算出し、出力する。 - 特許庁

When a print job of a test page is input, a CPU 205 specifies a sheet feed tray stacking sheets having a characteristic value within a range of characteristic values indicated by information about the range of characteristic values.例文帳に追加

ＣＰＵ２０５は、テストページの印刷ジョブが入力された場合に、特性値範囲情報により示される特性値の範囲に含まれる特性値の用紙が積載されている給紙トレイを特定する。 - 特許庁

The table creation apparatus 100 creates a test item list including one or more condition values and result values expected as the condition values are input into software.例文帳に追加

本願発明の表作成装置１００は、１又は複数の条件値と、該条件値をソフトウェアに入力したときに期待される結果値と、を含むテスト項目リストを生成する表作成装置である。 - 特許庁

A boundary scanning setting part 15 sets BS chain order generation in a pin number order by the signal name and the input/output attribute of the signal, sets a BS cell to be and also sets a test instruction.例文帳に追加

バウンダリスキャン設定部１５は、信号名、信号の入出力属性による、ピン番号順でのＢＳチェーン順序生成および使用するＢＳセルの設定とテスト命令の設定を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, in which a test pattern from the outside can be input easily and by which the data write, etc., of initial data to a RAM section can be conducted at high speed from the outside.例文帳に追加

外部からのテストパターンの入力等が容易であり，また，ＲＡＭ部への初期データのデータ書き込み等も外部から高速に行うことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To a node 106B of the signal line, a voltage discriminating circuit 107 for discriminating whether an input signal voltage is a signal voltage normally used by the internal circuit or a high voltage to be set to a test mode is connected.例文帳に追加

信号線のノード１０６Ｂには入力信号電圧が、内部回路の通常使用する信号電圧か試験モードへ設定する高電圧かの電圧判定回路１０７が接続されている。 - 特許庁

Then the input signal is scanned and detected similarly in a normal manner, corresponding function processing is therefore carried out in the same manner as the case the phenomenon actually occurs to perform a test.例文帳に追加

すると、その入力信号が通常の場合と同様に走査、検出されるので、実際に現象が生じた場合と同様に、対応する機能処理が実行されることで、テストが実行される。 - 特許庁

When the user selects a desired incoming melody for a listening test from the key input part, incoming music data retrieved from the auxiliary storage part by the information processing part is outputted from the receiver 20 instead of the speaker 3.例文帳に追加

キー入力部から着信メロディ試聴希望が選択されたときに、情報処理部が補助記憶部から索出した着信楽曲データを、スピーカ３に代えてレシーバ２０から出力させる。 - 特許庁

Then, a digital voltage value output per channel is compared with the input test voltage value to determine whether a fault is in the multiplexer or the A/D converter on the basis of results of comparison.例文帳に追加

そして、各チャンネル毎に出力されるデジタル電圧値を入力されたテスト電圧値と比較し、その比較結果から、マルチプレクサの故障か、あるいはＡ／Ｄ変換器の故障かを判別する。 - 特許庁

The power level of the output in the multistage multiplexer 2 is measured at a frequency corresponding to the input data speed of the multistage multiplexer 2 while a test pattern is being sent through the multistage multiplexer 2.例文帳に追加

多段マルチプレクサ２の出力の電力レベルは、多段マルチプレクサ２を通してテストパターンが送られる時間の間に、多段マルチプレクサ２の入力データ速度に対応する周波数において測定される。 - 特許庁

An image region deciding circuit 112 decides the printing part of a recording head 109 from the image information of a test pattern for density correction on a material to be recorded which is read by an input sensor section 101.例文帳に追加

画像領域判定回路１１２は、入力センサ部１０１で読み取った被記録材上の濃度補正用テストパターンの画像情報から記録ヘッド１０９のプリント部分を判定する。 - 特許庁

The test circuit 40 decides whether the input signal of a frame unit from the unit length dividing circuit 20 is a voiced section or an unvoiced section, and forwards the result of the decision to a unit length converting circuit 50.例文帳に追加

検定回路４０は単位長分割回路２０からのフレーム単位の入力信号に対して音声区間か無音声区間かを判定し、判定結果を単位長変換回路５０に渡す。 - 特許庁

Then, the switch of the switching circuit is connected to the other connection terminal by a control signal of the switching control circuit 13, and the test is performed relative to the input/output pin connected to the connection terminal.例文帳に追加

次に切替制御回路１３の制御信号によって、切替回路のスイッチが他方の接続端子に接続され、当該接続端子に接続されている入出力ピンに対して試験が行われる。 - 特許庁

When the result of the test for each internal level for each FU conversion is normal, information is input from outside the software (e.g. a screen or a batch) to the FU in the new language and the FU in the old language corresponding thereto, and a test for an external level as to whether the same behavior is performed or not is performed.例文帳に追加

各ＦＵ変換についての各内部レベルのテストの結果が異常無しであれば、新言語のＦＵとそれに対応する旧言語のＦＵに対して、ソフトウェアの外部（例えばスクリーン或いはバッチ）から情報を入力し同じ振舞いが行われたかどうかの外部レベルのテストが行われる。 - 特許庁

An LSI tester 32 outputs a test signal from an analog signal generator 34 to an input terminal IN1, and tests the analog circuit blocks 39-42 collectively at a time, on the basis of this test signal and an output signal from an output terminal OUT4 detected by an analog signal inputting part 36.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ３２は、アナログ信号発生器３４から入力端子ＩＮ１に対してテスト信号を出力し、このテスト信号とアナログ信号入力部３６で検出した出力端子ＯＵＴ４からの出力信号とに基づいて、アナログ回路ブロック３９〜４２を１度にまとめてテストする。 - 特許庁

For a cell 1a to be detected, in which a pair of electrodes 121, 122 are formed on a solid electrolyte material 112, a microcomputer 28 is configured to input a test signal temporarily containing an alternative current component to a signal line connected to the electrodes 121, 122, and also to detect a response signal to this test signal.例文帳に追加

固体電解質材１１２に１対の電極１２１，１２２を形成した検出対象のセル１ａについて、マイクロコンピュータ２８が、一時的に交流成分を含む試験信号を、電極１２１，１２２と接続された信号線に入力するとともに、その応答信号を検出するようにする。 - 特許庁

The semiconductor devices are loaded on test boards to the number of n (n=4), and tester terminals TDQ03-TDQ1215 to the number of n×m (16) of a semiconductor test device 301B are allocated to all data input/output terminals (DQ [0:3], DQ [4:7], DQ [8:11], DQ [12:15]) of the semiconductor devices 500A-500D.例文帳に追加

半導体装置をｎ個（ｎ＝４）試験用ボードに搭載し、半導体試験装置３０１Ｂのｎ×ｍ個（１６個）のテスタ端子ＴＤＱ０３〜ＴＤＱ１２１５を、半導体装置５００Ａ〜５００Ｄの全てのデータ入出力端子（ＤＱ［０：３］、ＤＱ［４：７］、ＤＱ［８：１１］及びＤＱ［１２：１５］）に割り当てる。 - 特許庁

When generating the test data including a pair of an input (a combination between a factor and a level) and an expectation value, a combination between the inputs not but combinations between all the levels possible to the factor is generated such that each of all the levels in each factor is used in a test at least once.例文帳に追加

本発明は、入力（因子と水準の組み合わせ）と期待値のペアからなるテストデータを生成する際に、因子に対して、有り得る全ての水準の組み合わせではなく、各因子における全ての水準が少なくとも１回はテストで使用されるように、入力の組み合わせを生成する。 - 特許庁

The noise injecting block 220 is provided with first and second noise injecting blocks 220-1, 220-2 for generating first and second test noise signals RXP, RXN as the first and second test input signals TXP, TXN applied with a predetermined noise.例文帳に追加

ノイズ注入ブロック２２０は、第１ノイズ注入ブロック２２０−１と第２ノイズ注入ブロック２２０−２を備え、それぞれ第１テスト入力信号ＴＸＰに所定のノイズを印加した第１テストノイズ信号ＲＸＰ及び第２テスト入力信号ＴＸＮに所定のノイズを印加した第２テストノイズ信号ＲＸＮを生成する。 - 特許庁

The trial examination system via the Internet is so constituted that the management of a trial test is performed by a trial examination managing terminal 10, and the student can input the answer to the trial test and can receive information of the result of marking by accessing the trial examination managing terminal 10 with a member side terminal 20a-20c via the Internet 30.例文帳に追加

模擬試験管理端末１０により、模擬試験に関する管理が行われるとともに、会員側端末２０ａ〜２０ｃによってインターネット３０を介し模擬試験管理端末１０にアクセスすることにより、模擬試験に対する解答の入力と採点結果に関する情報の受取りとが行われるようにする。 - 特許庁

Between a buried core 11 and a custom logic section 12, a test shift register 13 constituting a scan path circuit for testing the buried core 11 of an input register and an output register is provided, and the first stage flip-flop of a scan path circuit 122 in the custom logic section 12 is connected with the last stage flip-flop of the test shift register 13.例文帳に追加

埋め込みコア１１とカスタムロジック部１２との間に、入力用レジスタおよび出力用レジスタで埋め込みコア１１テスト用のスキャンパス回路を構成するテスト用シフトレジスタ１３を備え、カスタムロジック部１２内のスキャンパス回路１２２の初段のフリップフロップとテスト用シフトレジスタ１３の最終段のフリップフロップとを接続する。 - 特許庁

When detecting the pattern, a first photographic video image A resulting from superimposing the test pattern on an input video image, a second photographic video image B resulting from inverting black and white luminance levels of only the test pattern in the video image A and a third photographic video image B' resulting from inverting black and white luminance levels of the video image B are stored in a storage part.例文帳に追加

そのパターンの検出にあたっては、入力映像にテストパターンを重畳した第1の撮影映像Ａと、その映像Ａにおいてテストパターンのみの輝度レベルを白黒反転させた第２の撮影映像Ｂと、この映像Ｂの輝度レベルを白黒反転させた第３の撮影映像Ｂ´とを記憶部に記憶させる。 - 特許庁

An adder 22 sums a signal received by an input terminal C20 resulting from being given to a test object element and fed back from an output terminal A18 and a signal given to the test object element and subjected to phase/amplitude adjustment by a phase delay device 12 and a multiplier 13 and subjected to phase inversion.例文帳に追加

試験対象素子に入力した出力端子Ａ１８からの信号が帰還され入力端子Ｃ２０に入った信号と、試験対象素子に入力した信号を位相遅延器１２および乗算器１３により位相／振幅を調整した信号を、位相反転し加算器２２で加算する。 - 特許庁

The method for indirectly simulating a semiconductor integrated circuit forms a circle chain by using input pins and output pins to provide an IP core model that substitutes for a real IP core circuit, generates a test bench for the IP core model and simulates the integration of the semiconductor integrated circuit including the IP core model by using the generated test bench.例文帳に追加

半導体集積回路の間接シミュレーション方法は、入力及び出力ピンでサークルチェーンを構成して実際コアＩＰ回路に代わるコアＩＰモデルを提供し、コアＩＰモデルに対するテストベンチを生成し、生成されたテストベンチを用いてコアＩＰモデルが含まれた半導体集積回路のインテグレイションをシミュレーションする。 - 特許庁

The diversity evaluation signal generating device comprises a test signal generating section for creating and outputting the test signals for diversity evaluation, a signal distributing section for distributing output signals of this test signal generating section to a plurality of antenna input systems of a tested apparatus at an equal power level, and a plurality of adjustable attenuators for individually setting the signal levels of the plurality of systems distributed by the signal distributing section at different values.例文帳に追加

ダイバーシティ評価用試験信号を生成出力する試験信号発生部と、この試験信号発生部の出力信号を被試験機器の複数のアンテナ入力系統に等しいパワーレベルで分配する信号分配部と、この信号分配部で分配された複数系統の信号レベルを個別に異なった値に設定する複数の可変アッテネータ、とを設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁