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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test inputに関連した英語例文

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test inputの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1297



例文

The controlling flip-flop 3 can be configured so as to beset to perform operation to toggle the data output in synchronization with the clock by an external control signal and a macro mode switching signal supplied to an external control input 51 and a macro test mode switching input 53 provided separately from a data input 52.例文帳に追加

制御用フリップフロップ3は、データ入力52とは別に設けられた外部制御入力51及びマクロテストモード切換入力53に供給される外部制御信号及びマクロモード切換信号により、そのデータ出力を前記クロックに同期してトグルする動作を行うように設定可能であるように構成されている。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit includes an input side flip-flop 46; a combinational circuit 49, which is the multi-cycle path, having an input connected with the input-side flip-flop 46; an output-side flip-flop 48 connected to the output of the combinational circuit 49; and a delay test circuit 10.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路は、入力側フリップフロップ46と、入力側フリップフロップ46に接続された入力を有する、マルチサイクルパスである組み合わせ回路49と、組み合わせ回路49の出力に接続された出力側フリップフロップ48と、ディレイテスト回路10とを具備する。 - 特許庁

The difference voltage between the output voltage of a battery voltage memory circuit 41 for storing the voltage of a secondary battery 12 and the output voltage of a direct current voltage source 42 is added to the voltage between an anode input/output terminal 16 and a cathode input/output terminal 17, which is input to a control circuit 13 as a test voltage.例文帳に追加

二次電池12の電圧を記憶する電池電圧記憶回路41の出力電圧と直流電圧源42の出力電圧との差電圧を正極入出力端子16と負極入出力端子17との間の電圧に加算して制御回路13に検査電圧として入力する。 - 特許庁

Furthermore, a signal of the test tray 5 is transmitted to the print circuit board 7 through a board interconnecting pin 9, and a writer or an IC tester is connected thereto by an input/output connector 13.例文帳に追加

さらに9の基板間接続ピンにて5のテストトレーの信号を7のプリント基板に伝達し13の信号入出力コネクタよりライタまたはICテスタに接続される。 - 特許庁

例文

According to the constitution, even if the function turned ON by the respective switches 6-9 is changed, an executor of the action test can perform input operation to the switches in the lighting order of the switches 6-9.例文帳に追加

この構成により、各スイッチ6〜9によってONされる機能が変更しても、動作試験の実施者は、スイッチ6〜9の点灯順にスイッチへの入力操作を行うことができる。 - 特許庁


例文

Thus, it is not necessary to conduct a plurality of times of tests while changing the input voltage, and the operation confirmation of the analog-to- digital converter can be accurately executed by one time test.例文帳に追加

これにより、入力電圧を変化させながら、複数回のテストを行う必要がなくなり、一回のテストでA・Dコンバータの動作確認を精度よく実施することができる。 - 特許庁

To easily hold competition between application of communication route information of a device to be tested and input of a control command of a communicated party in test control of communication equipment.例文帳に追加

通信装置の試験制御において、被試験装置の通信経路情報の印加と通信先の制御コマンドの入力との競合を容易に発生させることができるようにする。 - 特許庁

In the parts 13, a plurality of test control pad parts 14 which are required to input/output signals used to control the parts 13 installed in the regions 12 are installed.例文帳に追加

このテスト回路部13にはやはりスクライブライン領域12に設けられたテスト回路制御用として信号の入出力に必要な複数のテスト制御パッド部14が設けられている。 - 特許庁

In the normalization fixture, an impedance matrix which enables to choose is set, the impedance matrix is adapted to the effective input impedance of a test probe corresponding to the stored transmission parameter.例文帳に追加

正規化フィクスチャ内には選択可能なインピーダンス・マトリクスが設けられており、蓄積された伝送パラメータに応じて、このインピーダンス・マトリクスをテスト・プローブの実効入力インピーダンスに適応させる。 - 特許庁

例文

A test device 2 tests a DUT 1 having at least one input/output terminal, a power supply plane and a plurality of power supply terminals P1 commonly connected to the power supply plane.例文帳に追加

試験装置2は、少なくともひとつの入出力端子と、電源プレインおよびそれに共通に接続される複数の電源端子P1を有するDUT1を試験する。 - 特許庁

例文

An expected value of a wiring contained in a fault candidate wiring pair is input to an XOR operation part 22 as for each of a plurality of test patterns, and the operation part finds and outputs the exclusive OR (XOR).例文帳に追加

XOR演算部22は、複数のテストパタンそれぞれについて、故障候補配線対に含まれる配線の期待値を入力し、排他的論理和(XOR)を求めて出力する。 - 特許庁

When the ASIC is in a manufacturing test mode, a gating signal at an input terminal of a power gating circuit is set to exceed a threshold voltage of transistors within the power gating circuit.例文帳に追加

ASICが製造検査モードにあるとき、電力ゲート回路の入力端子におけるゲート信号は電力ゲート回路内のトランジスタの閾値電圧を超えるように設定される。 - 特許庁

Tests are executed for the operating condition of the storage content of a ROM 22, a RAM 23, an input circuit 40 and an output circuit 60 as plural test objects in an ECU 10.例文帳に追加

ECU10における複数の検査対象としてのROM22の記憶内容、RAM23、入力回路40及び出力回路60の動作状態に対する検査が実行される。 - 特許庁

To provide an acoustic unit capable of detecting a trouble of an ultrasonic wave not radiated from a parametric speaker while the acoustic unit is being operated, without requiring a test signal input.例文帳に追加

テスト信号の入力を必要とせず、音響装置を動作させたまま、パラメトリックスピーカから超音波が放射されない不具合を検出することが可能な音響装置を得る。 - 特許庁

Thereby, it is possible to prevent unwanted data from being input to the combined circuits 8, 9, and it is possible to reduce a simultaneous switching place during the scan test so as to reduce power consumption.例文帳に追加

これにより、組み合わせ回路8、9への不必要なデータの入力を阻止することで、スキャンテスト中の同時スイッチング箇所を減らして消費電力を低減することが可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device with a pulse width compensating device that can fine-adjust to a prescribed pulse width by a circuit structure suitable for making an LSI corresponding to an input pulse signal received.例文帳に追加

LSI化に適した回路構成で、入力されるパルス信号を受けて所定のパルス幅に微調整が可能なパルス幅補正装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The test signal is input to the respective semiconductor devices 310-380 at each different delay timing according to a delay time that the respective semiconductor devices 310-380 have.例文帳に追加

各半導体装置310−380が持つ遅延時間によってテスト信号がそれぞれ異なる遅延タイミングで各半導体装置310−380に入力されることになる。 - 特許庁

The transmission-side selector connects each input terminal to any one of the output terminals so that mutual connection destinations are different, on the basis of control of the transmitting side control part in test mode.例文帳に追加

送信側セレクタは、テストモード時に、送信側制御部の制御に基いて、各入力端子を、出力端子のいずれか1つに、互いの接続先が異なるように接続する。 - 特許庁

At the time of a test mode, one input data signal is generated and converted to data of plural bits by a data generating circuit, and they are written to a RAM simultaneously en bloc for plural bits.例文帳に追加

試験モード時には、一つの入力データ信号が、データ発生回路により、複数ビットのデータに発生、変換され、RAMへの書き込みが複数ビットに同時に行われる。 - 特許庁

An input vector composed of the value of the clinical test result of a subject is inputted to the completed self-organizing map to display the medical examination and treatment support information corresponding to an fired cell.例文帳に追加

完成された自己組織化マップに被験者の臨床検査結果の値からなる入力ベクトルを入力し、発火したセルに対応する診療支援情報を表示させる。 - 特許庁

Therefore, a latch circuit is provided to which a data mask signal for the write data is input together with issuing of the WRITE command in performing the parallel test and which holds the data mask signal.例文帳に追加

そこで、パラレルテスト実施時のWRITEコマンド発行と共に書き込みデータに対するデータマスク信号を入力し、そのデータマスク信号を保持するラッチ回路を設ける。 - 特許庁

A comparison circuit 25 actuates the charge pump circuit 30 according to a comparison result between a second positive voltage inputted to an input terminal 2b from the outside in the test mode and the control voltage Vo.例文帳に追加

比較回路25は、テストモード時に外部から入力端子2bに入力される第2の正電圧と制御電圧Voとの比較結果に応じて、チャージポンプ回路30を動作させる。 - 特許庁

A reception synchronous pulling control circuit 431 is provided between a pattern input control circuit 419 connected to a transmission line 417 for selecting a test object and a pseudo random pattern detection circuit 430.例文帳に追加

試験対象を選択するため伝送路417に接続されるパターン入力制御回路419と、疑似ランダムパターン検出回路430との間に受信同期引き込み制御回路431を設ける。 - 特許庁

Since the potentials of input terminals IN1 and IN2 have the potential of the test control voltage signal TC, the varactor diodes VD1 and VD2 are in a forward bias state and the capacitance becomes larger.例文帳に追加

入力端子IN1、IN2の電位は、テスト制御電圧信号TCの電位にあるので、バラクタダイオードVD1、VD2は、順バイアス状態となって、容量値がより大きくなる。 - 特許庁

To improve inspection efficiency by switching a control mode from a normal control mode to a test mode without providing any special input/output terminal while preventing malfunction.例文帳に追加

特別な入出力端子を設けることなく、しかも誤動作の発生を防ぎながら、制御モードを通常制御モードからテストモードに切換えることを可能にして検査効率を向上させる。 - 特許庁

In an S1, test patterns (toner images) obtained by binarizing input data at 64, 96 and 128 levels are each outputted onto the entire surface of a blank sheet of paper with an A3 size being a transfer material P one by one (three sheets in all).例文帳に追加

S1で、64、96、128レベルの入力データが二値化されたテストパターン(トナー像)を転写材PとしてのA3白紙全面にそれぞれ1枚ずつ、計3枚出力する。 - 特許庁

A stub function generation part 5 generates the stub function mounted with the interface of the input/output between the lower function and the function of the test target based on an extraction analysis result of the I/F.例文帳に追加

スタブ関数生成部5は、I/Fの抽出分析結果に基づいて、下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を生成する。 - 特許庁

To realize a liquid crystal display panel in which a non-display area can be made narrower and smaller by optimizing the position of forming a signal input/output pad which is not used after finishing a test.例文帳に追加

検査終了後には使用しない信号入出力パッドの形成位置を最適化して、非表示領域の狭小化が可能な液晶表示パネルを実現すること。 - 特許庁

A partial pressure circuit 10 generates a control voltage Vo according to a voltage difference between a first positive voltage inputted to an input terminal 2a from the outside in a test mode and the internal voltage Vnn.例文帳に追加

分圧回路10は、テストモード時に外部から入力端子2aに入力される第1の正電圧と内部電圧Vnnとの電圧差に応じて制御電圧Voを生成する。 - 特許庁

To easily conduct a test of operation in case of trouble by causing dummy trouble without any anxiety about device breakage as to a computer system to which peripheral equipment is connected by an input/output interface.例文帳に追加

入出力インタフェースで周辺機器を接続するコンピュータシステムにおいて、装置破壊の懸念なく、簡便に疑似障害の発生による障害発生時運用試験等を行う。 - 特許庁

A mode detecting circuit 12 detects the supply of same-phase input signals to the respective oscillation terminals X0, X1, and supplies a detection signal CO to a test circuit 13.例文帳に追加

モード検出回路12は、各発振端子X0,X1に同相の入力信号が供給されたことを検出し、検出信号COをテスト回路13に供給する。 - 特許庁

A pattern generation part 5 generates information on the relation of input/output signals required for generating test data based on information on a function description stored in the component database 4.例文帳に追加

パターン生成部5はコンポーネントデータベース4に格納された機能記述に関する情報を元に、テストデータ生成に必要な入出力信号の関係等の情報を生成する。 - 特許庁

When a profile and test data are inputted from the terminal 5 of a specific applicant 100 via the network 4, an application information management part 11 stores the input data into a database 14.例文帳に追加

特定の出願人100の端末5から、ネットワーク4を介してプロフィールと試験データとが入力された場合、出願情報管理部11は、これをデータベース14に蓄積する。 - 特許庁

A rise detection section 60a detects a rise of the test signal input into the corresponding channel, and a latch 60b latches a count value of a sample counter 61 at the rise.例文帳に追加

立上がり検出部60aにおいてそのchに入力されたテスト信号の立上がりが検出され、この立上がりでサンプルカウンタ61のカウント値をラッチ60bでラッチする。 - 特許庁

The ROM 4 is made to store the waveform information equivalent to the digital signal converted by the ADC 2 in the case, the analogue signal for the test is inputted to the analogue input terminal 12.例文帳に追加

ROM4には、試験用のアナログ信号をアナログ入力端子12に入力する場合に、ADC2で変換されるデジタル信号と同等の波形情報を記憶させておく。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

When the interface circuit functions as an input circuit, the interface test circuit 20 outputs data which is preliminarily written and buffered by the CPU 13 so that the interface circuit inputs the data.例文帳に追加

インタフェース回路が入力回路として機能する場合、CPU13によって予め書き込まれバッファリングしてあるデータを出力し、インタフェース回路が該データを入力する。 - 特許庁

The multiplexer circuit 12 is controlled by control signals 131-133 inputted to input terminals, and an arbitrary signal of a circuit incorporated in the FPGA 1 is outputted to a test terminal.例文帳に追加

マルチプレクサ回路12は入力端子に入力される制御信号131〜133により制御され、FPGA内部回路の任意の信号がテスト端子に出力される。 - 特許庁

Even when the waveform of the input signal supplied to the semiconductor memory in the test is not normal, the semiconductor memory is tested correctly by removing a noise by the glitch removal circuit.例文帳に追加

試験時に半導体メモリに供給される入力信号の波形が正常でないときにも、グリッチ除去回路によりノイズを除去することにより、半導体メモリを正しく試験できる。 - 特許庁

A level calculation section 8 receives a test signal corresponding to the prescribed electric field intensity as an input and calculates the noise level included in the audio signal obtained by an FM demodulation section 4.例文帳に追加

レベル算出部8は、所定の電界強度に対応するテスト信号を入力としてFM復調部4により得られるオーディオ信号に含まれる雑音レベルを算出する。 - 特許庁

To provide a test circuit detecting whether a bit error takes place in retiming data outputted from a CDR circuit when an input timing of serial data is changed.例文帳に追加

シリアルデータの入力タイミングが変化した場合に、CDR回路から出力されるリタイミングデータにビットエラーが発生するかどうかを検出することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

A developer sets a recording trigger event (specific operation or the like) which seems to be beneficial for the specification of the occurrence of any defect and an observation object (input/output or the like) prior to a test.例文帳に追加

開発者は、試験前に不具合発生の特定に有用であると思われる記録契機事象(特定の操作など)と観察対象(入出力など)とを設定しておく。 - 特許庁

The printer is provided with a control means 1 for differentiating the internal information of a test printer being outputted by the push apart pattern of a switch button constituting the panel input section of the printer.例文帳に追加

プリンタのパネル入力部を構成するスイッチボタンの押分けパターンにより、出力されるテストプリントの内部情報を異ならせる制御を行う制御手段1を配設する。 - 特許庁

A test signal Ref_Osc for corrction is supplied to the input of the pair of lowpass filters for transmission of reception or transmission, and phase difference between the pair of filters is detected by phase detection units Lmt1, Lmt2, PD.例文帳に追加

受信または送信の一対の送信用ローパスフィルタの入力には校正用テスト信号Ref_Oscが供給され、一対のフィルタの位相差が位相検出ユニットLmt1、Lmt2、PDにより検出される。 - 特許庁

Input image data and test pattern data are corrected by a correcting section 3 based on linear component data and nonlinear component data of an amount of color mis-registration separately held by a holding section 4.例文帳に追加

保持部4に別々に保持されている色ずれ量の線形成分データと非線形成分データとに基づいて、入力画像データ及びテストパターンデータを補正部3で補正する。 - 特許庁

The input of the parameter and a test are repeatedly executed and, when a desired parameter is obtained, an [adaptation] button area R4 is clicked to store the parameter and the analysis results at that point.例文帳に追加

パラメータ入力とテストを繰り返し実行し、所望のパラメータが得られたならば、[適用]ボタン領域R4をクリックすることで、そのときのパラメータ及び解析結果が保存される。 - 特許庁

A built-in analog test circuit 20 performs the processing above and outputs a result of whether or not the voltage Vout is decreased (increased) before and after the input of the volume setting data as a binary H/L voltage.例文帳に追加

これを内蔵のアナログテスト回路20で行い、ボリューム設定データ入力前後でVoutが低下(上昇)したか否かをH/Lの2値の電圧として出力する。 - 特許庁

In this system or this method for measuring group delay of an optical device under test(DUT), a test interferometer and a linked optical frequency counter are utilized in order to compensate a non-uniform frequency change generated in an input light signal used in the interferometer for group delay measurement.例文帳に追加

光学被測定物(DUT)の群遅延を測定するためのシステムまたは方法において、群遅延測定用の干渉計で用いられる入力光信号に生じる一様でない周波数変化を補償するために、テスト干渉計と連携した光周波数カウンタを利用する。 - 特許庁

To relieve the potential fluctuation of power sources and GNDs in the vicinity of a package which occurs in the case of a test at high frequencies at the time of testing an LSI with an extremely large number of input/output signals and power source and GND electrodes especially in the case of performing the test in a package state.例文帳に追加

LSIの入出力信号や、電源及びGND電極が非常に多いLSIをテストするに際し、特にパッケージの状態でテストする場合において、高周波でテストする場合に起こるパッケージの近傍での電源及びGNDの電位変動を緩和する。 - 特許庁

例文

When the person itself is authenticated correctly by the authentication test, the dictionary registration and updating part 104 prepares a new dictionary again based on the data for the dictionary acquired by the authentication data input part 103 and the data for the authentication test, and stores it in the dictionary storage part 101 as a regular dictionary.例文帳に追加

この認証テストにより正しく本人と認証された場合、辞書登録・更新部104は、認証データ入力部103により取得した辞書用データと認証テスト用データを基に新たな辞書を再度作成し、これを正式な辞書として辞書記憶部101に記憶せしめる。 - 特許庁




  
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