「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

This system is equipped with an input means for inputting data on subject candidates provided by a doctor participating in the clinical test, a subject selection means for certifying the data on the subject candidates, and selecting the subject, and an information processing means for collecting the data on the selected subject, and organizing a database for the clinical test.例文帳に追加

当該臨床試験に参加する医師が提供する被検候補者に関するデータを入力する入力手段と、該被検候補者に関するデータを検証して被験者を選択する被験者選択手段と、選択された被験者のデータを収集して臨床試験のためのデータベースを構築する情報処理手段とを備える。 - 特許庁

The learning device 1 learning the prediction model for predicting an output of test databased on an importance level that is a ratio of a generation probability between training data that are input data of training sample data and the test data includes a learning part 12 learning the prediction model by the use of an importance level weighted loss function that is a loss function wherein the importance level is considered.例文帳に追加

訓練サンプルデータの入力データである訓練データと、テストデータとの生成確率の比である重要度に基づき、テストデータの出力を予測するための予測モデルを学習する学習装置１であって、重要度を考慮した損失関数である重要度重み付き損失関数を用いて予測モデルの学習を行う学習部１２を有する。 - 特許庁

An external input signal multiplexed with the scan path test signal for IC1 and IC2 is entered from the external terminal 8A for the test into the separation multiplex circuit 5, separated and supplied to the scanning control circuits 3, 13, and Scanout signals are received from each scanning control circuit 3, 13, multiplexed and outputted through the external terminal 8A.例文帳に追加

分離多重回路５には、テスト用外部端子８ＡからＩＣ１及びＩＣ２用のスキャンパステスト信号が多重化された外部入力信号が入力され、これを分離してスキャン制御回路３、１３に供給し、各スキャン制御回路３、１３からScanout信号を受け取り、これを多重化して外部端子８Ａを介して出力する。 - 特許庁

Scanning only flip-flops 10 and 11 for reducing the wiring delay are inserted between an input pad 5 for test data and the first-stage flip-flop 8 on a scan chain, and a scanning only flip-flop 12 for reducing the wiring delay is inserted between the last-stage flip-flop 9 on the scan chain and an output pad 6 for the test result.例文帳に追加

テストデータの入力パッド５とスキャンチェーン上の初段フリップフロップ８との間に配線遅延を減少させるためのスキャン専用フリップフロップ１０，１１を、スキャンチェーン上の最終段フリップフロップ９とテスト結果の出力パッド６との間に配線遅延を減少させるためのスキャン専用フリップフロップ１２をそれぞれ挿入する。 - 特許庁

Replica output buffers 120, 121 having the same input output characteristic as that of an output buffer 180 respond to a leading of a TEST signal generated by a test pulse generating circuit 110, raises an output signal at a slew rate in response to a voltage of an SL_SET signal and falls down the output signal at a slew rate in response to a voltage of a CNT signal.例文帳に追加

出力バッファ１８０と同一の入出力特性を有するレプリカ出力バッファ１２０、１２１は、テストパルス生成回路１１０が生成したＴＥＳＴ信号の立ち上がりに応答し、ＳＬ＿ＳＥＴ信号の電圧に応じたスルーレートで出力信号を立ち上げ、ＣＮＴ信号の電圧に応じたスルーレートで出力信号を立ち下げる。 - 特許庁

A simulator 52 obtains a response with a tire drive torque obtained from a measurement value of a dynamometer 2 as an input value to a vehicle model, thus simulating the movement of a test vehicle 1 and calculating the longitudinal traveling speed of the test vehicle 1 and linear wheel velocity, namely the longitudinal traveling speed of each wheel relative to a vehicle body, by the movement of suspension.例文帳に追加

シミュレータ５２は、ダイナモメータ２の測定値より求まるタイヤ駆動トルクを、車両モデルの入力値として、その応答を求めることにより、試験車両１の運動をシミュレーションし、試験車両１の前後方向の移動速度と、サスペンションの運動による各車輪の車体に対する前後方向への移動速度である車輪線速度とを算出する。 - 特許庁

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁

A coverage devaluation system 10 is composed roughly of an input means for inputting a register transfer level(RTL) description 3, a means for inputting a verification suite 4, a function test coverage measuring instrument 1 which measures the function test coverage, an RTL simplifying device 2 which simplifies RTL, and an output means which outputs a converted verification suite 5.例文帳に追加

カバレッジ評価システム１０は、レジスタ転送レベル（ＲＴＬ）記述３を取り込む入力手段と、検証スイート４を入力する手段と、機能テストカバレッジを計測する機能テストカバレッジ計測装置１と、ＲＴＬを簡単化するＲＴＬ簡単化装置２と、変換された検証スイート５を出力する出力手段とから概略構成される。 - 特許庁

In an operation test of a semiconductor integrated circuit 200, an oscillation inverter 20 used for an oscillation circuit is put into a state of high impedance, signal collision between an output signal of the oscillation inverter 20 and a clock signal input from an output terminal Xout is avoided, a test clock that is not affected by the oscillation inverter 20 is supplied to an internal circuit 26.例文帳に追加

半導体集積回路２００の動作テストの際に、発振回路に用いる発振インバータ２０をハイインピーダンスの状態とし、発振インバータ２０の出力信号と出力端子Ｘｏｕｔから入力されるクロック信号との信号衝突を回避し、発振インバータ２０の影響を受けないテストクロックを内部回路２６に供給する。 - 特許庁

In the process, binarization data for making only the gradation voltage wiring L to be selected from a first TEST terminal 5a is input and digital gradation data showing gradation corresponding to the gradation voltage wiring L is input from a gradation data input terminal 12 for detecting high level output from an output terminal 10 corresponding to the digital gradation data.例文帳に追加

このとき、第１のＴＥＳＴ端子５ａから前記選択されるべき階調電圧用配線Ｌのみをハイレベルにする２値化データを入力するとともに、階調データ入力端子１２から該階調電圧用配線Ｌに対応する階調を示すディジタル階調データを入力し、該ディジタル階調データに対応する出力端子１０からハイレベルの出力がされるか否かを検出する。 - 特許庁

The method of testing an optical-electric converter that receives an optical input signal and provides an electric output signal comprises the steps of: applying an input signal having a parameter out of a specific application range defined by the limits of normal operation characteristics of the converter; and evaluating the electric output signal of the converter by responding to the input signal applied in order to determine the result of the test procedure.例文帳に追加

光入力信号を受信して電気出力信号を提供する光電気変換器を試験する方法は、変換器の正常な動作特性の限界によって規定された特定の適用範囲の外のパラメータを有する入力信号を印加するステップと、試験手順の結果を判定するために、印加された入力信号に応答して、変換器の電気出力信号を評価するステップとを包含する。 - 特許庁

When a start signal for the simulation test in input, testing state keeping means outputs an instruction to input-switching means to switch an input signal to an intermediate value selecting circuit to a simulation sensor signal from a simulator, and an instruction to output switching means to output a control signal of control unit to the simulator so as to feed back an output signal to a triplicated composite circuit.例文帳に追加

試験状態保持手段は、シミュレーション試験の開始信号を入力すると、入力切替手段に指令を出力して中間値選択回路への入力信号をシミュレータからの模擬センサ信号に切り替えると共に、出力切換手段に指令を出力して制御部の制御信号をシミュレータに出力し３重化合成回路への出力信号をフィードバックして入力する。 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit devices, a combination circuit built in with the chip, plural input pads and output pads are connected to input pins and output pins of respective SFFs in shift resistors adjacently provided from the plural SFFs directly or via the combination circuit, and the input pads and the output pads are connected on the inside of the chip to constitute a test bus.例文帳に追加

チップ内蔵の組み合わせ回路、複数個の入力パッドおよび出力パッドと、複数個のＳＦＦから連続したシフトレジスタの各ＳＦＦの入力ピンおよび出力ピンがそれぞれ当該入力および出力パッドと直接または組み合わせ回路を介して接続し、出力パッドおよび入力パッドをチップ内部で接続してテストパスを構成する半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor assembling technique equipped with a plurality of gyroscopes detecting angular velocities around different input axes, respectively, capable of enhancing working efficiency and implementing test calibration work simply and inexpensively.例文帳に追加

異なる入力軸まわりの角速度をそれぞれ検出する複数のジャイロを備えたセンサの組立方法において、作業効率を向上させることができ、試験校正作業を低コストで簡単に行うことができるようにする。 - 特許庁

When the parameter is converged (S16:YES), newly acquired observation data (test data) is input to the probability model to calculate the total probability (S18), and the behavior is estimated according to the calculated total probability (S19).例文帳に追加

そして、パラメータが収束した場合（Ｓ１６：ＹＥＳ）、新たに取得した観測データ（テストデータ）を確率モデルに入力してトータル確率を算出し（Ｓ１８）、算出したトータル確率に基づいて行動の予測を行う（Ｓ１９）。 - 特許庁

Thereby, input/ output of data of a redundant memory cell can be performed simultaneously with that of data of a normal memory cell 1, the normal memory cell 1 and the redundant memory cell 2 can be tested en bloc, and a test can be realized easily.例文帳に追加

これにより、ノーマルメモリセル１のデータの入出力と同時に冗長メモリセル２のデータの入出力が可能になり、ノーマルメモリセル１と冗長メモリセル２とを一括して検査することが可能であり、テストの容易化を実現できる。 - 特許庁

In the input buffer circuit 21, the threshold value changing circuit is activated at the time of a test mode, current quantity of the N channel MOS transistor 215 is increased, voltage of a node N1 is increased, and the reference voltage VREF is changed equivalently.例文帳に追加

入力バッファ回路２１は、テストモード時閾値変更回路が活性化され、ＮチャネルＭＯＳトランジスタ２１５の電流量を増加させてノードＮ１の電圧を増加させ、基準電圧ＶＲＥＦを等価的に変化させる。 - 特許庁

The value of the second output terminal of the combination circuit 1 is read from the through latch 7, the second input terminal value of the combination circuit 2 is set to the through latch 7, whereby the test of the combination circuits 1-2 can be easily performed.例文帳に追加

組合せ回路１の第２出力端子の値をスルーラッチ７から読み取り、組合せ回路２の第２入力端子の値をスルーラッチ７に設定することにより、組合せ回路１〜２のテストを容易に行うことができる。 - 特許庁

The semiconductor device includes a pre-decoding circuit for simultaneously activating a plurality of pre-decoding signals for driving each of a plurality of sub-word lines connected to one main word line, when a test mode signal to be input is activated.例文帳に追加

半導体装置は、入力されるテストモード信号が活性化されたときに、一つのメインワード線に繋がる複数のサブワード線をそれぞれ駆動する複数のプリデコード信号を同時に活性化するプリデコード回路を含んでいる。 - 特許庁

During the scan test, a third clock control section 117 stops the supply of the clock to a hard macro 110 such as a ROM and a RAM which are irrelevant to inspection by a control signal from the control signal input terminal 105.例文帳に追加

一方、第３のクロック制御部１１７は、スキャンテスト時に、制御信号入力端子１０５からの制御信号によって、検査に関係の無いＲＯＭやＲＡＭ等のハードマクロ１１０へのクロックの供給を停止させる。 - 特許庁

When the stick is operated normally and the contents of the operation input outputted from the stick is taken in by the game device normally, the test bar 30 is extended or shortened in the direction of bringing down the stick according to the way of bringing down the stick.例文帳に追加

スティックが正常に動作し、ゲーム装置がスティックから出力される操作入力の内容を正常に取り込んでいれば、テストバー３０はスティックを倒した方向に、その倒し方に応じて伸びたり縮んだりする。 - 特許庁

The chip selection circuit activates defect detecting and repairing circuits, such as a repair circuit or a test time shortening circuit, when at least one signal out of output signals of the plurality of data input buffer circuits is in a first logic state.例文帳に追加

チップ選択回路は複数のデータ入力バッファ回路の出力信号のうち少なくとも一つが第１論理状態の時、リペア回路またはテストタイム短縮回路のような不良検証及び改善回路を活性化させる。 - 特許庁

To separately and easily test each semiconductor component of an SBM (System Block Module) composed by integrating semiconductor components of different kinds into a package, while suppressing sharp increase of the number of its input and output pins.例文帳に追加

本発明は、異品種の半導体部品を１パッケージング化してなるＳＢＭにおいて、入出力ピン数の大幅な増加を抑えつつ、各半導体部品を単独で容易にテストできるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

This linking addressable shadow port (LASP) and a protocol comprise to address to the LASP using a single protocol or a protocol bypass input and connect a plurality of secondary test access ports (TAP) of the LASP.例文帳に追加

本発明によれば、リンキング・アドレス可能シャドウ・ポート（ＬＡＳＰ）とプロトコルが単一プロトコル又はプロトコル・バイパス入力を使用してＬＡＳＰにアドレスすること及びＬＡＳＰの複数の２次テスト・アクセス・ポート（ＴＡＰ）の接続を構成できる。 - 特許庁

In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

A scan memory board 3 is controlled by the logic LSI tester 2 to synchronizes a scan-in signal 17 from the scan memory board 3 and an input test signal 20 from the logic LSI tester 2 and inputs them the an LSI to be measured 5.例文帳に追加

そして、ロジックＬＳＩテスタ２でスキャンメモリボード３を制御して、スキャンメモリボード３からスキャンイン信号１７を、また、ロジックＬＳＩテスタ２から入力テスト信号２０を、同期をとって被測定ＬＳＩ５に入力させる。 - 特許庁

The travel mode is set to input the external condition into the tire in response to a frequency of the acceleration corresponding to the external condition, and the tire is rotated on a simulated road face, based on the travel mode, to test the abrasion of the tire.例文帳に追加

そして、外的条件が、その外的条件に対応する加速度の頻度に応じてタイヤに入力されるように走行モードを設定し、その走行モードに基づいて模擬路面上でタイヤを転動させてタイヤ摩耗を試験する。 - 特許庁

This allows the load measurement instrument 30 to measure the load on the clamp surface 7 through the push pin 28 to output it while suppressing a disturbance input, and thus the strength measurement in the clamper test specimen 2 can be enhanced in precision.例文帳に追加

このため、荷重測定器３０は、プッシュピン２８を通してクランプ面７にかかる荷重を、外乱の入力を抑えて測定して出力でき、これに伴いクランパ試験片２の強度計測の精度向上を図ることができる。 - 特許庁

To provide a data transmission device and an input/output interface circuit with a jitter transmission circuit, capable of testing for jitter tolerance in data transmission/reception at the time of a mass production test and of improving a fault detection rate.例文帳に追加

量産試験時にデータ送受信におけるジッタトレランスについて試験することができ、故障検出率の向上を図ることができるデータ送信装置およびジッタ送信回路を備える入出力インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

When the optical switch 13 selectively outputs the pulse test light input to the port P from a port P_n to the photocoupler 15_n, the optical line monitoring system 1 identifies a failure location in the particular optical fiber lines 30_n.例文帳に追加

光線路監視システム１は、光スイッチ１３がポートＰに入力したパルス試験光をポートＰ_ｎから選択的に光カプラ１５_ｎへ出力することで、特定の光ファイバ線路３０_ｎにおける故障位置を判定する。 - 特許庁

An output data signal A of a test object circuit 1 and an expected value signal B from an expected value input terminal 2 are compared by a comparing means 3, and the comparison result signal C is held in a nonconformity holding means M1 when the signal C represents nonconformity.例文帳に追加

テスト対象回路１の出力データ信号Ａと期待値入力端子２からの期待値信号Ｂとを比較手段３で比較し、その比較結果信号Ｃが不一致を示すとき不一致保持手段Ｍ１において保持する。 - 特許庁

In the case of a test other than speedy selection or a normal operation, the proper level is given to the signal EN and switching is executed so that the selector 1 selects the input side, to thereby cut a negative-feedback path for executing negative feedback of the output of F/F4 to F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

When an optical system performance test is performed, a reception signal is transmitted to the input of a sampling and holding part 110 by a signal switch 160, and the frequency spectrum of jitter components of the reception signal is obtained by an FFT operation part 120.例文帳に追加

光学系性能テスト時に、信号スイッチ１６０によって、受信信号はサンプルホールド部１１０の入力へ伝達され、ＦＦＴ演算部１２０によって受信信号のジッタ成分の周波数スペクトルが求められる。 - 特許庁

A differential signal VRx1 between a test pattern signal VRx being an output from an input buffer 10 and an external reference voltage Vref applied by an LSI tester, and the like is applied to CDR12 to generate a clock signal CLK2.例文帳に追加

入力バッファ１０の出力であるテストパタン信号ＶＲｘとＬＳＩテスタ等より印加される外部基準電圧Ｖｒｅｆとの差動信号ＶＲｘ１がＣＤＲ１２に印加され、クロック信号ＣＬＫ２が生成される。 - 特許庁

On predetermined input/outputs (I/O), data inputs may be inverted to create a desired test pattern (such as stripes) which are "worst case" for I/O circuitry or column stripes which are "worst case" for memory arrays.例文帳に追加

所定の入力／出力（Ｉ／Ｏ）において、データ入力は、Ｉ／Ｏ回路用の「最悪な場合」である所望の検査パターン（たとえば、データストライプ）、または、メモリアレイ用の「最悪の場合」である列ストライプを作成するために反転されうる。 - 特許庁

A non-volatile storage means 7 generates correction data at the time of an analog test operation or at the time of periodic inspection, stores correction data corresponding to conversion data and reads correction data corresponding to a request from the input/output controller 51.例文帳に追加

非揮発性記憶手段７は、アナログ試運転時や定検時に補正データを作成し、変換データに対応する補正データを記憶し、入出力制御装置５１からの要求に応じる補正データの読出しがされる。 - 特許庁

In a FCRAM, when receiving a mode register set detecting signal bMSET generated by a command detecting circuit and a detecting signal AILTC<;7>; of arbitrary one bit VA<;7>; of an address signal input, a mode register set or test mode entry is switched in accordance with a logic level of the signal AILTC<;7>;.例文帳に追加

FCRAM において、コマンド検知回路で生成されたモードレジスタセット検知信号bMSET とアドレス信号入力の任意の１ビットVA<7> の検知信号AILTC<7>を受け、信号AILTC<7>の論理レベルに応じてモードレジスタセットまたはテストモードエントリを切り換える。 - 特許庁

An appropriate level is given to a signal EN in a test other than speed selection or in normal operation, and switching is made so that a selector 1 selects an input side, thus enabling the output of the F/F4 to cut a negative feedback path to be fed back to the F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

Consequently, the API test control part 120 displays a candidate API list expressing the API to be the succeeding performance candidate, based on the order data, and determines the input data of the API to be successively performed, based on the relation data.例文帳に追加

これにより、ＡＰＩテスト制御部１２０は、順序データに基づいて次の実行候補となるＡＰＩを表す候補ＡＰＩリストを表示し、更に関連データに基づいて次に実行するＡＰＩの入力データを決定する。 - 特許庁

A control unit 12 measures the time T1 from when test character data are displayed on a monitor 36 by a video control unit 38 until when a singing voice signal input by a microphone 25 is output to a DSP 24c.例文帳に追加

制御部１２が映像制御部３８によってテスト用の文字データをモニタ３６に表示させた時からマイク２５によって入力された歌唱音声信号がＤＳＰ２４ｃに出力されるまでの時間Ｔ１を計測する。 - 特許庁

In this case, an inspection controller 12 performs in parallel inspection of a threshold voltage of a built-in comparator relative to input I/F parts IF1, IF3, IF5-IFz unused in the functional test of the digital circuit block D1 as objects.例文帳に追加

このとき、検査用コントローラ１２が、デジタル回路ブロックＤ１のファンクショナル試験で使用されない入力Ｉ／Ｆ部ＩＦ１，ＩＦ３，ＩＦ５〜ＩＦｚを対象として内蔵のコンパレータのしきい値電圧の検査を並行して行う。 - 特許庁

Logical behaviors of semiconductor integrated circuits are simulated through the use of test vectors, and part or all input signals, output signals, and time-series variations A of internal state of the semiconductor integrated circuits during simulation are stored.例文帳に追加

テストベクタを用いて半導体集積回路の論理的振舞をシミュレーションし、シミュレーション中の半導体集積回路の一部またはすべての入力信号と出力信号と内部状態の時系列変化Ａを保存する。 - 特許庁

A test mode (level 'H') is specified by a mode signal MOD, analog switches (SW) 18, 19 are turned off, a SW20 is turned on, semiconductor circuits of memory cell array 14 and the like are separated, and an input node 11 and an output node 17 are connected.例文帳に追加

モード信号ＭＯＤで試験モード（レベル“Ｈ”）を指定し、アナログスイッチ（ＳＷ）１８，１９をオフ、ＳＷ２０をオンにして、メモリセルアレイ１４等の半導体回路を切り離し、入力ノード１１と出力ノード１７の間を接続する。 - 特許庁

To improve efficiency of program testing work by automatically judging whether results of a test of a program are correct or not without troubling human hands (eyes) in a testing operation of an interactive program involving input operations.例文帳に追加

入力操作を伴うような対話型プログラムのテスト作業において、プログラムのテスト結果が正しいか否かの判定を人の手(目)を煩わせることなく自動的に行うこことにより、プログラムテストの作業効率の向上を目的とする。 - 特許庁

Program cells are combined by a program cell combination unit 130 by using random numbers generated by a random number generator 120 with program cell information 110 and cell weight information 111 being input, and a compiler test program 140 is automatically generated.例文帳に追加

プログラムセル情報１１０とセル重み情報１１１を入力として、乱数発生器１２０により発生させた乱数を用いて、プログラムセル組合せ器１３０でプログラムセルを組合せ、コンパイラのテストプログラム１４０を自動生成する。 - 特許庁