「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

The buffer circuit in the logic circuit block 200 is made a buffer circuit 207 with a select function, in addition to the input terminal of the proper buffer circuit controlled by the output terminal of the NOR circuit 203, an input terminal controlled by the output terminal Q of the scan flip flop 103 for latching the data for scan test from the SCAN_IN terminal is provided.例文帳に追加

組合せ論理回路ブロック２００内のバッファ回路をセレクト機能付きのバッファ回路２０７とし、ＮＯＲ回路２０３の出力端子から制御される本来のバッファ回路の入力端子に加えて、ＳＣＡＮ＿ＩＮ端子からのスキャンテスト用のデータをラッチするスキャンフリップフロップ１０３の出力端子Ｑから制御される入力端子を設けた。 - 特許庁

The scan separation circuit 10 is provided with a selector 11 for selecting anyone out of the two signal lines, in addition to a selector 12 for constituting a scan path and an FF 13 therefor, and a switch controlling data latched by the each FF 13 from a test input terminal 2 via the scan path is used as an input selection signal SL of the selector 11.例文帳に追加

スキャン分離回路１０には、スキャンパスを構成するためのセレクタ１２とＦＦ１３に加えて、２本の信号線の内のいずれか一方を選択するセレクタ１１が設けられ、このセレクタ１１の入力選択信号ＳＬとして、テスト入力端子２からスキャンパスを介してＦＦ１３にラッチされた切替制御用のデータを用いる。 - 特許庁

In a control device for performing the feedback control for at least the position and attitude angle of a test piece, a sensitivity function related to a transfer function concerning disturbance input through the outputs of the position and attitude angle, and a complementary sensitivity function related to a transfer function concerning a disturbance input through the output of a current fed to a coil and an electromagnet are defined.例文帳に追加

供試体の少なくとも位置・姿勢角についてのフィードバック制御をする制御装系において、外乱入力から位置・姿勢角の出力までの伝達関数に関連する感度関数と、また外乱入力からコイル・電磁石に印加される電流の出力までの伝達関数に関連する相補感度関数とが定められる。 - 特許庁

The test bench circuit 103, in which a built-in logic circuit has a specific circuit configuration adapted to an inspected device 100, comprises transmitting and receiving circuits 111a to 111c for input/output signals 200 of the inspected device, and an inspection signal generating circuit 112, to thereby generate the input/output signals 200 of the inspected device.例文帳に追加

テストベンチ回路１０３は、内蔵された論理回路が被検査デバイス１００に適合する特有の回路構成を持ち、被検査デバイスの入出力信号２００用の送受信回路１１１ａ〜１１１ｃと検査信号生成回路１１２とを備えることによって被検査デバイスに対する入出力信号２００を生成する。 - 特許庁

In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁

To provide a carrier tape capable of reducing the electrostatic breakdown of an integrated circuit element caused by the discharge of an electrified charge or the like, and conducting performance test on the integrated circuit element such as conducting input/output inspection of signals by contacting a probe pin with an input terminal or output terminal or the like in the manufacturing process of the tape carrier package.例文帳に追加

テープキャリアパッケージの製造工程の過程において、帯電された電荷の放電等により集積回路素子が静電破壊するのを低減するとともに、入力端子または出力端子にプローブピンを当てて信号の入出力検査を行う等の集積回路素子の性能試験を行うことができるキャリアテープを提供すること。 - 特許庁

The device is characterized by having a data item extraction means for extracting data items from the template, a parameter input means for displaying the data items of the data item extraction means, and inputting the parameter of the data items, and a program generating means for generating the test program with the parameter from the parameter input means and with the template.例文帳に追加

本装置は、テンプレートからデータ項目を抽出するデータ項目抽出手段と、このデータ項目抽出手段のデータ項目を表示し、データ項目のパラメータを入力するパラメータ入力手段と、このパラメータ入力手段からのパラメータとテンプレートからテストプログラムを作成するプログラム作成手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

The semiconductor test circuit includes: a plurality of the semiconductor macros having respective bypass circuits for internally bypassing data; a combination circuit for connecting two semiconductor macros; an input circuit for inputting the data input from the outside to the semiconductor macro at the first stage; and an output circuit for outputting the data obtained from the semiconductor macro at the last stage.例文帳に追加

半導体テスト回路は、内部でデータをバイパスするバイパス経路をそれぞれ有する複数の半導体マクロと、２つの半導体マクロ間を接続する組合せ回路と、外部から入力されたデータを先頭の半導体マクロに入力する入力回路と、終端の半導体マクロから得られたデータを出力する出力回路とを備える。 - 特許庁

A breaking energy Ec required for destructing the solid substance is obtained by a compression test and the obtained breaking energy Ec and mass (m) of the solid substance are inputted to a computer 20 via an inputting device 31 and an input section 21.例文帳に追加

固体状物質の破壊に必要とされる破壊エネルギＥｃを圧縮試験によって求め、求められた破壊エネルギＥｃ、および該固体状物質の質量ｍを入力デバイス３１および入力部２１を介してコンピュータ２０に入力する。 - 特許庁

A chain 26 is wound during the test run of a man conveyor between a shaft disposed adjacently to a driving machine 3 and rotated with the rotation of a handle 9, and the rotor of the shaft and the rotor of the input shaft of a speed reducer 4.例文帳に追加

マンコンベアの試運転時に、駆動機３に隣接配置され、ハンドル９の回転に伴い回転する軸と、この軸の回転体と減速機４の入力軸の回転体との間にマンコンベアの試運転時にチェーン２６を巻架するようにした。 - 特許庁

To provide a tape printer, and its data inputting means, in which the operability of test data input can be enhanced by providing an area for edition on a display in addition to an area capable of inputting the text data.例文帳に追加

ディスプレイ上において、テキストデータ入力可能領域以外に、編集用の領域を設けることにより、テキストデータ入力の操作性を向上し得るテープ印刷装置およびそのデータ入力処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

When a user terminal applies for an examination, the user is made to input specific information needed for the examination through the user terminal and users having completed the examination application procedure are listed up to let the test holder know them and send examination admission tickets.例文帳に追加

ユーザ端末から受験申込があったとき、受験に要する所定の情報をユーザ端末から入力させ、受験申込手続の完了したユーザをリストアップしてそれぞれの試験主催者に通知して受験票の送付を行わせる。 - 特許庁

Written contents of the personal history are digitized to be an input to a proper diagnosis test 35, proper diagnosis is performed, problems, etc., of the current personal history are displayed as proper diagnosis results 37, and a personal history with higher percentage of completion is prepared.例文帳に追加

記入した経歴書の内容を数値化し適正診断テスト３５の入力とし、適正診断を行い、適正診断結果３７として現状の経歴書の問題点等を表示し、より完成度の高い経歴書を作成する。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

The switching of the normal application state and the test state is implemented by a voltage input to a battery connecting terminal of the charge/discharge control circuit by using a voltage detection circuit that detects a voltage higher than an overcharge detection voltage of a secondary battery.例文帳に追加

二次電池の過充電検出電圧より高い電圧検出回路を用いて、充放電制御回路の電池接続端子に入力された電圧によって、通常応用状態とテスト状態のいずれかに切り替えが可能になる。 - 特許庁

Also the computer, when preparing an instruction string for test use, designates for inputting of any instruction that may give rise to exception interrupt, such as floating point calculation or fixed point division, the input-dedicated register into which execution results are not written.例文帳に追加

また、コンピュータは、試験用命令列の作成時に、浮動小数点演算や固定小数点除算など例外割り込みが発生する可能性のある命令の入力に実行結果が書き込まれない入力専用レジスタを指定する。 - 特許庁

In the case of testing the functions of an IP core 32, test signals outputted by a signal generator 44 are supplied for a normal signal input terminal of the IP core 32 via a selector 40, and its output signals are transferred to a signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２の機能試験を行う場合は、信号発生器４４が出力する試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２の通常信号入力端子に供給し、その出力信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

When the integrated circuit 2 is mounted on a circuit board 20, a ground voltage is applied to signal wiring 23, and current application voltage measurement is performed to the test terminal 10, to thereby detect a mounting defect of the input/output terminal 6.例文帳に追加

集積回路２を回路基板２０に実装したとき、信号配線２３にグランド電圧を与えるとともに、テスト端子１０に対して電流印加電圧測定を行うことにより、入出力端子６の実装不良を検出することができる。 - 特許庁

When measuring the harmonic component (harmonic noise) of the high-frequency power amplifier being a test device DUT, a controller 3 changes switches 8, 9 and allows an output signal from a coupler 4 to be input to a digitizer 7 through a filter 10.例文帳に追加

テストデバイスＤＵＴである高周波電力増幅器の高調波成分（高調波ノイズ）を測定する際、制御部３は、スイッチ８，９の切り替えを行い、カプラ４から出力信号がフィルタ１０を介してデジタイザ７に入力されようにする。 - 特許庁

A test signal infiltration preventive circuit 6 is provided between an input buffer 3 and the integrated circuit 1, and prevents the output signal coming from the 3-state buffer 4 from being fed to the integrated circuit 1 at testing the integrated circuit 1.例文帳に追加

テスト信号回り込み防止回路６は、入力バッファ３と集積回路１との間に配置され、集積回路１のテスト時に、スリーステートバッファ４からの出力信号が集積回路１に帰還されるのを防止するようになっている。 - 特許庁

To provide an image processing method and device capable of realizing highly precise color reproduction even when an observation environment for an input image and the observation environment of psychological evaluation test and an observation environment for an output image are different from each other.例文帳に追加

入力画像に対する観察環境、心理評価実験を行った観察環境、出力画像に対する観察環境が相違する場合であっても、高精度の色再現が可能な画像処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a voltage detector circuit capable of immediately measuring a detection voltage by adding a simple circuit upon input of a specified test signal, thereby greatly reducing the required time for measuring the detection voltage.例文帳に追加

簡単な回路を追加することで、所定のテスト信号を入力すると直ちに検出電圧を測定することできるようにして、検出電圧の測定に要していた測定時間を大幅に短縮することができる電圧検出回路を得る。 - 特許庁

Output cells 302a, 302b use either of an output from the programmable logic circuit 100 and scan-in as input corresponding to a test mode signal MODE, and select scan-out corresponding to the select signal SELECT and the configuration information.例文帳に追加

出力セル３０２ａ，３０２ｂは、テストモード信号ＭＯＤＥに応じてプログラマブルロジック回路１００の出力またはスキャンインの一方を入力とし、セレクト信号ＳＥＬＥＣＴおよびコンフィギュレーション情報に応じてスキャンアウトを選択する。 - 特許庁

In a self discharge defect detection device 10 for a secondary battery 1, charging means 2 charges the secondary battery 1 as a test object, and determination means 5 calculates an input capacity of charged current required to reach charge finish current.例文帳に追加

二次電池１の自己放電不良検出装置１０において、充電手段２は、検査対象である二次電池１を充電し、判定手段５は、電流が充電終了電流に到達するまでに要した投入容量を計算する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit wherein a test stabilization waiting time and easiness of trouble diagnosis are taken into consideration when a high-speed clock signal same to that in a usual operation for the semiconductor integrated circuit is generated in an inside, in response to an input clock.例文帳に追加

入力クロックに応じて、半導体集積回路の通常動作時と同じ高速なクロック信号を内部生成した場合のテスト安定待ち時間と故障診断の容易性を考慮した半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.例文帳に追加

遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁

In this case, a display form of the test result is switched between a plural display form for displaying a plurality of specimens and a single display form for displaying each specimen based on an instruction from a user through an input device 102.例文帳に追加

このとき、入力装置１０２を介した使用者からの指示に基づいて、試験結果の表示形式を複数の供試体について表示する複数表示形式、および各々の供試体について表示する単数表示形式との間で切り替える。 - 特許庁

To provide a test circuit of a light receiving amplifier circuit for inspecting as well a resistance value of wiring connecting an output part of light receiving element and an input part of a current-voltage conversion circuit and reducing a chip cost; and an optical pickup device using the same.例文帳に追加

受光素子の出力部と電流電圧変換回路の入力部とを接続する配線の抵抗値も検査でき、チップコストを低くすることが可能な受光増幅回路のテスト回路、及びこれを用いた光ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁

The control circuit controls the circuit to be controlled in response to the state of the fuse circuit when a normal mode (TS) is indicated, and controls the circuit to be controlled in response to the state of the fuse circuit and the input signal (CS) when a test mode (TS) is indicated.例文帳に追加

制御回路は、通常モード（ＴＳ）が指示されるとヒューズ回路の状態に応じて被制御回路を制御し、テストモード（ＴＳ）が指示されるとヒューズ回路の状態及び入力信号（ＣＳ）に応じて被制御回路を制御する。 - 特許庁

The torque loading means 3 is equipped with an electric servo motor 7 for applying tortional torque to the test target W, a servo controller 9 for controlling the output of the electric servo motor 7 and an input means 13 for inputting set torque to the servo controller 9.例文帳に追加

トルク負荷手段３は、被試験体Ｗに捩りトルクを負荷する電気サーボモータ７と、電気サーボモータ７の出力を制御するサーボコントローラ９と、設定したトルクをサーボコントローラ９に入力する入力手段１３とを備える。 - 特許庁

A flowchart creation part 1 displays a user interface screen on a display, and based on input by a user on the user interface screen, creates a flowchart consisting of at least one module for defining a test on a verification objective logic circuit.例文帳に追加

フローチャート作成部１は、ユーザインタフェース画面をディスプレイに表示し、このユーザインタフェース画面上でのユーザの入力に基づいて、検証対象の論理回路のテストを規定するための、少なくとも１つのモジュールから構成されるフローチャートを作成する。 - 特許庁

A diagnosis voltage input unit inputs test voltage values different per channel of a multiplexer to the multiplexer having a plurality of channels configuring an analog signal conversion unit and to the A/D converter for converting the output of the multiplexer into a digital signal.例文帳に追加

アナログ信号変換部を構成する複数チャンネルを有するマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器に対して、マルチプレクサの各チャンネル毎に異なったテスト電圧値を、診断電圧入力部から入力する。 - 特許庁

The tests can be configured so that the test init function will constrain the input photomap to a specified number of levels, on a per-band basis, so that word-sizedand quad-sized pixels are passed through the flos.例文帳に追加

テストは、テストの初期化関数は、基本的にはバンドごとに、入力のフォトマップを指定された数のレベルに制限するように構成することができる。 また、ワード長のピクセルや、4倍長のピクセルが flo を通じて渡されるように構成することができる。 - XFree86

Only connecting pads 3 are collectively arranged on each of the adjacent sides of semiconductor chips 1 and 2; and the input/output interface circuits 5, test pads 6, and external connecting pads 7 are arranged along the other three sides of the chips 1 and 2.例文帳に追加

各半導体チップ１，２の互いに隣接する１辺には、接続用パッド３のみが集まって配置されており、残りの他の３辺に沿って入出力インターフェース回路５や、テスト用パッド６、外部接続用パッド７が配置されている。 - 特許庁

A switch of the switching circuit is connected to one connection terminal following a control signal inputted from a switching control circuit 13, and the input/output pin connected to the connection terminal is conducted with the channel circuit, to thereby perform the test.例文帳に追加

そして、切替制御回路１３から入力される制御信号に従って、切替回路のスイッチを１つの接続端子に接続し、当該接続端子に接続されている入出力ピンがチャンネル回路と導通し、試験が行われる。 - 特許庁

The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.例文帳に追加

複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するＲＯＭ装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁

This device is mainly composed of a signal input means for inputting an original signal derived from a test body, a signal separation means for separating the original signal into plural signals, a characteristic extraction means for extracting a characteristic of the test based on at least a part of the plural separated signals, and a diagnostic result presentation means for presenting the characteristic as a diagnostic result to a user.例文帳に追加

被検体に由来する源信号を入力する信号入力手段と、源信号を複数の信号に分離する信号分離手段と、複数の分離信号の少なくとも一部に基づいて前記被検体の特徴を抽出する特徴抽出手段と、前記特徴を診断結果として利用者に提示する診断結果提示手段とから主に構成されている。 - 特許庁

In this object detecting device for detecting a specific object from an input image, a test image group 236 including an object to be detected in an image is corrected according to the detection illuminance of an illuminance detecting part 22 by a test vector correcting part 233, and set in an object detecting part 21 under the control of a detection rate adjusting part 23.例文帳に追加

入力画像の中から特定の物体を検出する物体検出装置において、検出率調整部２３による制御の下に、検出対象の物体を画像中に含むテスト画像群２３６を用い、当該テスト画像群２３６をテストベクター補正部２３３で照度検出部２２の検出照度に応じて補正して物体検出部２１に設定する。 - 特許庁

The connection confirming test for the multibit in the A/D converter circuit can be performed with high accuracy and at low cost using logic tester, by inputting a digital expected value control signal from outside to the input of a latch circuit on the output side of an A/D converter circuit, and inputting this expected value control signal from the latch circuit into an internal system circuit so as to perform a connection test.例文帳に追加

この発明は、Ａ／Ｄコンバーター回路の出力側のラッチ回路の入力に外部からデジタルの期待値制御信号を入力して、この期待値制御信号をラッチ回路から内部のシステム回路に入力して結線テストを行うことによって、Ａ／Ｄコンバーター回路における多ビットの結線確認テストをロジックテスターにより高精度で且つ安価に行うことができる。 - 特許庁

A series of timing or time plates for input pins and corresponding output pins is controlled by a timing generator in the automatic test device; when the number (n) of the time plates is larger than the number (m) of timing generators, a test is actualized in several steps and the timing generators are reused to implement other time plates in 2nd and succeeding steps.例文帳に追加

入力ピンおよび対応する出力ピンに用の、各一連のタイミングまたはタイムプレートは、自動テスト装置中のタイミング発生器によって制御され、タイムプレートの数ｎが、タイミング発生器の数ｍよりも多いときに、テストは、いくつかのステップで実現され、タイミング発生器は、第２のステップまたはそれより後のステップの間に他のタイムプレートを実施するために再使用される。 - 特許庁

In the semiconductor operating speed guaranteeing circuit 10 provided in an LSI 13, an operating speed guaranteeing mode selector 11 sets a measuring mode and an operating speed guaranteeing state input circuit 12 generates input data to an input selector 13 to set operations of registers 5, 6 including a combinational circuit 4 in the LSI 3 to a most critical state by using a speed measuring special purpose test vector 1 and an LSI tester 2.例文帳に追加

ＬＳＩ３に設けられた半導体動作速度保証回路１０においては、速度測定専用テストベクタ１とＬＳＩテスタ２を用いることにより、ＬＳＩ３内の組み合わせ回路４を含むレジスタ５、６間の動作をもっともクリティカルな状態に設定するために、入力セレクタ１３に対し、動作速度保証モード選択回路１１が測定モードを設定し、動作速度保証状態入力回路１２が入力データを生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit eliminating the need for the input of a test pattern from the outside and preventing the increase of a TAT while preventing the generation of a region incapable of detecting a malfunction caused by the voltage drop of a power-supply voltage.例文帳に追加

外部からテストパターンを入力することを不要とし、ＴＡＴの増加を防止するとともに、電源電圧の電圧降下による動作不具合を検出することができない領域が発生しないようにする半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Once a trigger signal is input to the mean value processing continuous sampling circuit 202 from a semiconductor test device 100, the mean value processing continuous sampling circuit 202 causes an IDDQ measurement part 201 to execute the IDDQ measurement repeated by a prescribed number of times.例文帳に追加

一度半導体試験装置１００からトリガ信号が平均値処理用連続サンプリング回路２０２に入力されると、平均値処理用連続サンプリング回路２０２が規定の回数繰り返してＩＤＤＱ測定をＩＤＤＱ測定部２０１に実行させる。 - 特許庁

After a test signal is sounded from a master unit speaker 22 on receipt of a prescribed operation of a master unit 2, a reception offset continuation time is set if a transmission voice detector 49 detects a time in which an input level of a master unit microphone 21 becomes lower than the transmission voice threshold.例文帳に追加

受話オフセット継続時間は、親機２の所定の操作を受けて、テスト信号を親機スピーカ２２から報音させた後、親機マイク２１の入力レベルが送話音声閾値を下回るまでの時間を送話音声検出部４９が検出して設定される。 - 特許庁

The semiconductor device 10 comprises the ADC 1, the determination circuit 2; the channel selection circuit 3, the test signal generator circuit 4, switches SW1 to SWn, switches SWn+1 to SWn+m, input terminals Pin1 to Pinn; and the output terminal Pout.例文帳に追加

半導体装置１０には、ＡＤＣ１、判定回路２、チャネル選択回路３、テスト信号発生回路４、スイッチＳＷ１乃至ＳＷｎ、スイッチＳＷｎ＋１乃至ＳＷｎ＋ｍ、入力端子Ｐｉｎ１乃至Ｐｉｎｎ、出力端子Ｐｏｕｔが設けられている。 - 特許庁