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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test parameterの意味・解説 > test parameterに関連した英語例文

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test parameterの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 201



例文

A ground tint image is generated by a density parameter, used for generating one of the plurality of ground tint image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで地紋画像を生成する。 - 特許庁

The method further includes configuring a trigger of the test and measurement device in response to the graphical user input, by setting a value for a trigger parameter of the trigger.例文帳に追加

この方法は、トリガのトリガ・パラメータの値を設定することにより、図形的ユーザ入力に応じて試験測定装置のトリガを構成することを更に含む。 - 特許庁

A base pattern image is generated by a concentration parameter used for generating one base pattern image patch within the plurality of base pattern image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで地紋画像を生成する。 - 特許庁

The dimension is determined, in such a way that concerning a calibrate pattern which is formed on the wafer and already checked in dimension, a data base is created by finding a polarized state parameter, and the database is searched for on the basis of a polarizing parameter of a test portion.例文帳に追加

ウェハ上に形成された、寸法が確認されている較正パターンについて、偏光状態パラメータを求めてデータベースを作成し、測定試料の偏光パラメータにもとづいてデータベースを検索し、寸法を求める。 - 特許庁

例文

The adjusting means have a detection means to detect an unused amount of the test area, and a selection means to select a test area to be used for adjustment and a recording parameter for adjustment in accordance with the detected unused amount.例文帳に追加

前記調整手段は、テストエリアの未使用量を検出する検出手段と、検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択する選択手段と、を有する。 - 特許庁


例文

At least one of the plurality of terminals applies the parameter to a prescribed test and responds to the network if the terminal judges that it is qualified to respond to the network in response to a result of the prescribed test.例文帳に追加

複数の端末のうち少なくとも1つの端末において前記パラメータを所定のテストに適用させて、前記少なくとも1つの端末が前記テスト結果によってネットワークに応答できると判断されると、ネットワークに応答する。 - 特許庁

A parameter DB (bypass) 15 and a parameter DB (alteration) 16 store parameters that are used for a test to be executed for a program that is before being written in an IC card, based on a result generated in the IC card by a physical attack to the IC card.例文帳に追加

パラメータDB(バイパス)15と、パラメータDB(改ざん)16とは、ICカードに対する物理的な攻撃により当該ICカードで生じた結果に基づいた、ICカードに書き込む前のプログラムに対して実行する試験に用いるパラメータを記憶する。 - 特許庁

A test parameter estimation method relating to the present invention has a step to normalize a capability value parameter θ_i, and a step to move a value of θ_i on a variable axis of distribution function while maintaining a magnitude relation so that a distribution of θ_i gets close to a normal distribution.例文帳に追加

本発明に係る試験パラメータ推定方法では、能力値パラメータθ_iを正規化することに加え、θ_iの分布が正規分布に近づくように、大小関係を維持しつつ、θ_iの値を分布関数の変数軸上で移動させる。 - 特許庁

To provide an apparatus and program for simulating propagation environment capable of using data unique to an area wherein a terminal field test is actually conducted for a propagation parameter.例文帳に追加

実際に端末フィールド試験を行うエリア固有のデータを伝搬パラメータとして用いることのできる伝搬環境模擬装置およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

An evaluation device 104 evaluates the test prediction result, determines parameters for actual prediction according to the evaluation result, and stores the parameters in a parameter storage device 111.例文帳に追加

評価装置104がテスト予測結果を評価し、上記評価結果に基づいて実予測用パラメータを決定し、上記パラメータをパラメータ記憶装置111に格納する。 - 特許庁

例文

A parameter is decided so that a characteristic value of a reproducing signal after recording may become optimal, in order to decide the amount of optimum focus offset from this test write result (step S4).例文帳に追加

このテストライトの結果から最適なフォーカスオフセット量を決定するために、記録後の再生信号の特性値が最適になるようにパラメータを決定する(ステップS4)。 - 特許庁

Preferably one or more steps of obtaining the test result on the device using the value of the parameter for optimizing the device are further included in some case.例文帳に追加

この装置の最適化を図るためのパラメータの値を使用して、前記装置についての実験結果を得るステップをさらに1回以上含めることがより好ましい場合がある。 - 特許庁

Thereby, even if there is electromotive force impedance under test, the arbitrary parameter can be estimated by at least one-time change in the rectangular current.例文帳に追加

こうすることにより供試インピーダンス中に起電力を有していても任意のパラメータを少なくとも1回の矩形状の電流変化で推定することができる。 - 特許庁

To provide a voltage supply parameter measurement device of a wafer burn-in system capable of measuring voltage supply parameters to more DUTs simultaneously by a single test process.例文帳に追加

単一のテスト工程によってより多くのDUTに対するVSパラメータを同時に測定できるウェハバーンインシステムのVSパラメータ測定装置を提供すること。 - 特許庁

By a parameter setting screen which is displayed on an input display 2, an operator selects a disk, to be used, from a rack disk, a disk for a test tube and a disk for a urine cup.例文帳に追加

オペレータが、入出力表示器2に表示されるパラメータ設定画面により、使用ディスクがラックディスクか、試験管用のディスクか、尿カップ用のディスクかを選択する。 - 特許庁

A reference signal 23 at a known lift-off may be weighted by a corresponding calculated ratio parameter and subtracted from a test signal 32 to compensate for lift-off.例文帳に追加

既知のリフトオフにおける基準信号(23)を対応する計算した比パラメータで重み付けしてテスト信号(32)から差し引くことによってリフトオフを補償することができる。 - 特許庁

Based on the computed result, the ratio MTACun/c is obtained from MTACun of urea nitrogen and MTACc of creatinine, and then used as a test parameter of the peritoneal hyperergasia mechanism.例文帳に追加

その演算結果より、尿素窒素のMTACun、クレアチニンのMTACcより比MTACun/cを算出し、腹膜機能亢進機序の検査指標として用いる。 - 特許庁

When this test information management server 20 receives a value of each parameter to be set in use environment of the software component from a client computer 13-1 to 13-3, the test information management server 20 creates test patterns for combinations between the values of the relevant parameters, and transmits them to the client computer 13-1 to 13-3.例文帳に追加

テスト情報管理サーバ20は、ソフトウェア部品の使用環境において設定する予定のそれぞれのパラメータの値をクライアントコンピュータ13−1〜13−3から受け付けた場合に、関連性のあるパラメータの値の組み合わせについてのテストパターンを作成して当該クライアントコンピュータ13−1〜13−3に送信する。 - 特許庁

A test program creation part 11 recognizes the hierarchical structure of the structure group received by a method of a test target and each value of a parameter inside the structure group based on the tag, and creates and outputs the test program 22 having a procedure of generating the structure group having the values and a procedure of calling the method of the test target with a structure positioned in the topmost position as an argument.例文帳に追加

テストプログラム作成部11は、このタグに基づき、テスト対象のメソッドが受け取る構造体群の階層構造と構造体群中のパラメータの各値とを認識し、それらの値を持つ当該構造体群を生成する手続きと、最上位に位置する構造体を引数としてテスト対象のメソッドを呼び出す手続きとを有するテストプログラム22を作成して出力する。 - 特許庁

A quality processing section 33 reads a predetermined statistic out of the simulation parameter storage section 32 based upon a separately indicated test mode, and performs processing for quality deterioration on a test medium based upon the statistic to make the quality worse in a pseudo manner.例文帳に追加

品質加工部33は、別途に指示される試験モードに基づいて所定の統計量を模擬パラメータ記憶部32から読み出し、この統計量に基づいて試験メディアに品質劣化の加工を施して品質を擬似的に劣化させる。 - 特許庁

When disk quality of an m-th layer (m denotes an integer of 2 or more) satisfies a fixed standard by a disk quality checking circuit confirming disk quality for each layer, the optimum laser parameter of the m-th layer is calculated and recording is performed in a data part using the parameter in test writing.例文帳に追加

各層毎にディスク品質を確かめるディスク品質チェック回路により、m層目(mは、2以上の整数)のディスク品質が、一定の基準を満たす場合は、試し書きにおいて、m層目の最適なレーザパラメータを算出し、このパラメータを使い、データ部に記録する。 - 特許庁

An event equivalence partitioning function calculates a direct product of a plurality of parameter values of a test target system on an event basis, generates a plurality of combined instances indicating the combinations of the parameter values, and from the commonality of the combined instances, aggregates the event instances into an event equivalence class.例文帳に追加

イベント同値分割機能は、テスト対象のシステムのイベントごとに複数のパラメータ値の直積を計算し、パラメータ値の組合せである組合せインスタンスを複数生成し、組合せインスタンスの共通性からイベントインスタンスをイベント同値クラスに集約する。 - 特許庁

This method contains the estimation of a load test voltage of a battery as a function of a dynamic parameter of the measured battery, open circuit voltage, a load resistance value of a load tester, and the temperature of the battery.例文帳に追加

この方法は、測定したバッテリの動的パラメータ、開放電圧、負荷テスタの負荷抵抗値、およびバッテリの温度の関数として、バッテリの負荷テスト電圧を推定することを含む。 - 特許庁

In the normalization fixture, an impedance matrix which enables to choose is set, the impedance matrix is adapted to the effective input impedance of a test probe corresponding to the stored transmission parameter.例文帳に追加

正規化フィクスチャ内には選択可能なインピーダンス・マトリクスが設けられており、蓄積された伝送パラメータに応じて、このインピーダンス・マトリクスをテスト・プローブの実効入力インピーダンスに適応させる。 - 特許庁

The data analyzer identifies each light intensity measurement value obtained from at least one test region, and calculates at least one parameter from each identified light intensity measurement value.例文帳に追加

データ分析器は、少なくとも1つのテスト領域から得られた各光強度測定値を識別し、識別された各光強度測定値から少なくとも1つのパラメータを算出する。 - 特許庁

In an execution mode, an actual vehicle driving test or simulation is performed by the driving condition set by the condition setting part 2 and an initial vehicle parameter, and data processing is performed by the data processing part 4.例文帳に追加

実行モードでは、条件設定部2で設定した走行条件や初期車両パラメータで実車走行試験又はシミュレーションを行い、データ処理部4でデータ処理する。 - 特許庁

A crystal vibration test performed before package mounting reduces a frequency adjustment width to be performed after mounting, enabling reducing a parameter change of the crystal vibrator and reducing the dispersion of a variable characteristic.例文帳に追加

パッケージ実装前に行う水晶振動子テストは実装後に行う周波数調整幅を減らすので水晶振動子のパラメータ変化を少なくし、可変特性のばらつきを減らす。 - 特許庁

A polishing profile is measured for each of the plurality of test substrates and a polishing time is calculated for each polishing parameter set which minimizes the difference between a predicted substrate profile and a desired substrate profile.例文帳に追加

該複数のテスト基板の研磨プロファイルをそれぞれ測定し、予測基板プロファイルと所望基板プロファイル間の差を最小とする各研磨パラメータセットについて研磨時間を計算する。 - 特許庁

An image quality analysis module 28 mutually compares the 1st and 2nd parameter values and outputs an image quality evaluation value result expressing the deterioration of the test video signal from the reference video signal.例文帳に追加

画像品質分析モジュール28は、第1及び第2パラメータ値を比較して、基準ビデオ信号に対する試験ビデオ信号の劣化を表す画像品質評価値結果を出力する。 - 特許庁

The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.例文帳に追加

試験回路14は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット12に送信する。 - 特許庁

In this fatigue characteristic determination method of a material, a fatigue test of a brittle material is performed by increasing the amplitude of a stress to be applied to the brittle material at a fixed rate together with a cycle as shown in Fig.1(b), and the optimum value of a parameter of a fatigue behavior is acquired by analysis by using the result of the fatigue test.例文帳に追加

図1(b)に示すように、脆性材料に与える応力の振幅をサイクルとともに一定割合で増加させて脆性材料の疲労試験を行い、この疲労試験の結果を用い、解析により疲労挙動のパラメータの最適値を得る。 - 特許庁

To provide a gear testing apparatus dispensing with re-adjustment after the revolution of either one of a drive shaft or a follower shaft is adjusted, capable of continuously changing a parameter, enabling the reduction of trouble and the shortening of time in a test and capable of performing a test nearer to mounting.例文帳に追加

駆動軸と従動軸とのいずれかを回動調整した後の再調整を不要で、連続的にパラメータを変化させることができ、かつ試験の手数、時間を短縮することが可能で、より実裝に近い試験が出来る歯車試験装置を提供する。 - 特許庁

In the measurement of an error rate performed in the process to optimize the signal channel parameter of the disk device, the error rate is deteriorated by means of deteriorating the S/N ratio of an input signal, thereby the decision of the optimized parameter value is attained by the error rate test of less transfer bits.例文帳に追加

ディスク装置の信号チャンネルパラメータの最適化の過程で行われるエラーレートの測定において、入力信号のS/N比を劣化させることにより、エラーレートを劣化させ、より少ない転送ビットのエラーレート試験で最適化パラメータ値を決定することを可能にする。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム30に従って、テストヘッド12のピンエレクトロニクス18に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ICテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム34は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ44として保存する。 - 特許庁

A parameter to be loaded by changed by referring to saved nonvolatile items required for registration to exclude the terminal from being registered in a base station and to move the terminal into the test stage of the idle mode, and the performance of the terminal is tested on the test stage of the idle mode.例文帳に追加

登録に必要な既に貯蔵された不揮発性アイテムを参照してローディングされるパラメータを変更して端末機が基地局に登録されることを排除し、アイドルモードのテスト状態へ進入し、前記アイドルモードのテスト段階で前記端末機の性能をテストすることを特徴とする。 - 特許庁

A load estimating part 40 applies a test signal S7, containing a prescribed frequency component, to a node N1 via the power-supply line 4, the power-supply terminal P1 being connected to the node N1, and generates a control parameter S8 of the digital signal processing circuit 24 according to the test signal S7 and the analog observed signal S2'.例文帳に追加

負荷推定部40は、電源端子P1が接続されるべきノードN1に、電源ライン4を介して所定の周波数成分を含む試験信号S7を印加し、試験信号S7および観測信号S2’に応じて、デジタル信号処理回路24の制御パラメータS8を生成する。 - 特許庁

A plurality of test strip calibration codes is stored in a memory in the device, and those codes represents a plurality of geometric regions in a multi-dimensional calibration parameter space.例文帳に追加

この装置における一定のメモリー内に保管されるものとして、複数の試験片較正コードがあり、これらのコードは一定の多次元的な較正パラメーターの区域における複数の幾何学的領域を示す。 - 特許庁

The test condition parameter extracted in the extraction means 21 is input into an intermediate file generating means 22, and is generated as an intermediate file 4, to be input thereafter into an overwriting means 23.例文帳に追加

抽出手段21において抽出されたテスト条件パラメータは、中間ファイル生成手段22へ入力され、中間ファイル4として生成された後に、上書き手段23へ入力される。 - 特許庁

Under a secondary distortion characteristic calibration mode, during supply of the first test signal to the receiving mixer, the calibration circuit 42 varies an operation parameter of the receiving mixer to calibrate secondary distortion characteristics into the best state.例文帳に追加

2次歪特性校正モードでは、第1テスト信号の受信ミキサへの供給の間に、校正回路42は受信ミキサの動作パラメータを可変して2次歪特性を最良の状態に校正する。 - 特許庁

Using the test results on the device and the numerical value simulation result on the device, optimizing technique and data analysis method are used to determine a parameter for optimizing the device.例文帳に追加

装置についての実験結果と当該装置についての数値シミュレーション結果とを用い、最適化手法とデータ分析手法とを使用して、当該装置の最適化を図るためのパラメータの値を決定する。 - 特許庁

To more excellently, particularly highly reliably, test a parameter intrinsic to a backscatter transponder for an HF communication system using modulated back radiation.例文帳に追加

変調された後方放射を用いたHF通信システムのための後方散乱型トランスポンダにおいて、トランスポンダ固有のパラメータをいっそう良好に殊に高い信頼性を伴ってテストできるようにする。 - 特許庁

To efficiently adjust a parameter in matching relation to a change in the capacity of a radiation image detector such as deterioration with the elapse of time by utilizing the evaluation result of a test by a QC phantom performed with respect to the radiation image detector.例文帳に追加

放射線画像検出装置に対し行われるQCファントムによる試験の評価結果を利用し、経時劣化等の装置の性能変化に合わせて効率的にパラメータ調整を行う。 - 特許庁

An input pattern and an output expected value for the simulation are expressed by a structural body constituted of a starting pointer, a data size, a next pointer and a parameter of control information on a memory 104 within a test bench 102.例文帳に追加

テストベンチ102内では、シミュレーションのための入力パターンおよび出力期待値はメモリ104上の開始ポインタ、サイズ、次ポインタ、制御情報のパラメータからなる構造体で表現する。 - 特許庁

When the specified function is invoked on the target computer system, if the specified test is not satisfied by the specified parameter, the facility performs the specified modification to the behavior of the specified function.例文帳に追加

指定された機能が、対象コンピュータシステムで呼び出される時、指定されたテストが指定されたパラメータによって満足されない場合、本機構は、指定された機能の挙動の指定された変更を実行する。 - 特許庁

First, necessary parameters for irradiation of charged particle beam are found for every beam energy by operating a beam adjusting test in advance, then, are stored as a parameter file for a high frequency signal in a memory of a control device.例文帳に追加

まず、事前に、荷電粒子ビームの出射に必要なパラメータを、ビームエネルギー毎に、ビーム調整試験を行って求め、制御装置内のメモリに高周波信号用パラメータファイルとして格納しておく。 - 特許庁

The toner concentration of the formed test toner image is detected by a toner concentration sensor (S240), and a control parameter for controlling a toner image forming operation is set based on the detected toner density (S250).例文帳に追加

そして、形成された試験用トナー像のトナー濃度をトナー濃度センサで検出して(S240)、検出されたトナー濃度に基づいてトナー像形成動作を制御する制御パラメータを設定する(S250)。 - 特許庁

The server 5 calculates a learning parameter of each advertisement mail from data for learning prepared from the test transmission results and calculates a predicted value by applying respectively the learning parameter of each advertisement mail to data for evaluation about personal computers 8-1 to 8-3 to be a real transmission object.例文帳に追加

データマイニングサーバ5は、テスト送信の結果から作成した学習用データから各広告メール毎の学習パラメータを算出し、本送信の対象となるパーソナルコンピュータ8−1乃至8−3に関する評価用データに、各広告メール毎の学習パラメータをそれぞれ適用して予測値を算出する。 - 特許庁

A preliminary life estimation formula is derived by executing a multiple linear regression analysis by selecting plural life dominant parameter candidates from contents of impurities contained in the bearing steels and the size of a nonmetal intermediate to use all the life dominant parameter candidates as explanation variables and by using an objective variable as an actual service life in a life test.例文帳に追加

軸受用鋼に含まれる不純物の含有量や非金属介在物の大きさから複数の寿命支配パラメータ候補を選択し、全ての寿命支配パラメータ候補を説明変数とし、目的変数を寿命試験における実際の寿命として重回帰分析を行って予備寿命推定式を導出する。 - 特許庁

To provide a numerical control device for correctly measuring a machine position during a test operation by using a measuring unit for measuring a machine position, obtaining a machine error from the measurement result, and correctly obtaining a parameter for correcting the machine error.例文帳に追加

試験動作時の機械位置を機械位置測定用計測器を用いて正確に測定し、測定結果から機械誤差を求め、機械誤差を補正するためのパラメータを正確に求める数値制御装置を得る。 - 特許庁

例文

The biosensor 100 has a sensor 106 to receive an user sample to measure and a microcontroller 130 to carry out predetermined test sequence to measure a predetermined parameter value.例文帳に追加

バイオセンサ装置100は、測定すべきユーザ標本を受理するためのセンサ106と、予め決められたパラメータ値を測定するために予め決められたテストシーケンスを実施するためのマイクロコントローラ130とを含んでいる。 - 特許庁




  
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