「test value」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A test case generation part 7 creates a test case from an obtainable value of an input variable of the function of the test target and an obtainable value of the output variable of the stub function output by the stub function output value generation part 6.例文帳に追加

テストケース生成部７は、試験対象の関数の入力変数の取り得る値と、スタブ関数出力値生成部６が出力したスタブ関数の出力変数の取り得る値とからテストケースの作成を行う。 - 特許庁

A test process determining part 12 determines the test process data indicating a schedule of a test, and an evaluation reference value as the reference for judging a progress.例文帳に追加

テスト工程設定部１２は、テストのスケジュールを示すテスト工程データと進捗判定の基準となる評価基準値とを設定する。 - 特許庁

To provide a J1C tester capable of reducing such a useless test that a value calculated by a test becomes invalid to efficiently perform a J1C test.例文帳に追加

試験により求められた値が無効となる無駄な試験を削減して、効率的にＪ_1C試験を行うことのできる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a computer program, a test support method and a test support device capable of supporting setting of an expectation value used for a program test.例文帳に追加

プログラムテストに使用される期待値の設定を支援することができるコンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a falling weight type impact test apparatus and a falling weight type test method which make an impact load value of a collision head to be made to collide with a material test piece into an appropriate and fixed value.例文帳に追加

材料試験片に衝突させる衝突ヘッドの衝撃荷重値を適切かつ一定な値とする落錘式衝撃試験装置と落錘式試験方法を提供する。 - 特許庁

As another test method, various different voltages are applied to the test pad 2 to detect a current value.例文帳に追加

また別の試験方法として、試験パッド２にそれぞれ異なる電圧を印加して電流値を検出する。 - 特許庁

The DCM circuit obtains a voltage value from a test clock having unknown duty cycle value, similarly to the above manner.例文帳に追加

ＤＣＭ回路は、未知のデューティ・サイクル値のテスト・クロックから上記と同様の方法で電圧値を得る。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

Test signals are transmitted through a transmission electrode at test frequencies which are changed monotonously in a specified frequency band (S410), the test return loss value and insertion loss value for each test signal are derived, and then the test return loss value and insertion loss value thus derived are stored in a memory (S420).例文帳に追加

規定周波数帯域内において単調に変化させたテスト周波数でのテスト信号が送信電極を介して送信され（Ｓ４１０）、それらのテスト信号それぞれに対するテスト反射損失値及び挿入損失値を導出すると共に、それらの導出したテスト反射損失値及び挿入損失値をメモリに記憶する（Ｓ４２０）。 - 特許庁

A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.例文帳に追加

任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ１０２に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ１０４に蓄積する。 - 特許庁

A test pattern generating means 40 generates a test pattern T with the same data value as the code pattern data based on the set range and the initial value I.例文帳に追加

試験パターン生成手段４０は、設定された範囲及び初期値Ｉにもとづいて、符号パターンデータと同一のデータ値を持つ試験パターンＴを生成する。 - 特許庁

Return torque in which a temporary value of the recursion offset at the time of a test is zero is provided.例文帳に追加

テスト時に回帰オフセットの一時値がゼロの戻りトルクを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CORRECTION VALUE, METHOD FOR MANUFACTURING FLUID EJECTION DEVICE, AND TEST SHEET例文帳に追加

補正値の決定方法、流体噴射装置の製造方法、及び、テストシート - 特許庁

An estimated value of a residual dielectric strength is determined from a diagnosis item of a nondestructive dielectric deterioration test, and a dielectric strength value is also determined by an actual destruction test.例文帳に追加

非破壊絶縁劣化試験の診断項目から残存絶縁耐力の推定値を求めると共に、実破壊試験による絶縁耐力値を求める。 - 特許庁

Simultaneously, the signal value of the test data (frame data) is inputted to a memory 32.例文帳に追加

同時にメモリ３２にテストデータ（フレームデータ）３７の信号値を入力する。 - 特許庁

The return value is a test suite which supports all the tests defined for each name.例文帳に追加

戻り値はnames中の名前で指定されるテスト全てを含むテストスイートです。 - Python

Before a performance recording to the optical disk is carried out, a test recording is made, and the relation among a recording laser power value, a β value and a C1 error value is found based on the test result.例文帳に追加

光ディスクに対する本番の記録を行う前に、テスト記録を行い、当該テスト記録の結果から記録レーザパワー値と、β値およびＣ１エラー値との対応関係を求める。 - 特許庁

An indeterminate value reactivating means 104 allocates into an indeterminate value in a test pattern, a value used in a corresponding position within a test pattern one or a random number behind inside the set.例文帳に追加

不確定値再活性手段１０４は、テストパタン内の不確定値に、セット内で１つまたは任意個だけ後ろにあるテストパタンで対応する位置に用いられている値を割り当てる。 - 特許庁

A test pattern for failure verification, comprising the input test pattern and the expectation value test pattern, thus generated, is used to verify the logic circuit.例文帳に追加

このようにして生成された入力テストパターンおよび期待値テストパターンからなる故障検証用テストパターンを用いて論理回路の検証を行う。 - 特許庁

A test result prediction apparatus 1 calculates the value of a test parameter group to be used for the test based on inputted observation data (a step S1).例文帳に追加

検定結果予測装置１では、入力された観測データに基づいて、検定に用いられる検定パラメータ群の値が算出される（ステップＳ１）。 - 特許庁

An optimum C-value is similarly obtained for each value of spring constant K, and the spring constant K is measured in real time during test, and then an optimum C value corresponding to that value is used for pseudodynamic test.例文帳に追加

異なるバネ定数Ｋの値に対してそれぞれ同様に最適なＣの値を求めておき、試験実行中にバネ定数Ｋをリアルタイムで計測して、その値に対応した最適なＣの値を用いてスード試験を実行する。 - 特許庁

A consumption current value within a prescribed test time is calculated on the basis of the monitoring current value and the maximum load current value of the system, and the battery 8 is subjected to a capacity test by dummy load on the basis of the consumption current value.例文帳に追加

システムの監視電流値及び最大負荷電流値を基に、所定の試験時間内の消費電流値を求め、その消費電流値を基にして、疑似負荷による電池８の容量試験を行う。 - 特許庁

The test module has a register for holding a register value supplied from the control device by performing the test program by the control device, and the gate array for changing the hardware logic by the register value held by the register, and supplying the test data corresponding to the test sequence realized by the test program to the device under test.例文帳に追加

テストモジュールは、制御装置が試験プログラムを実行することによって制御装置から供給されたレジスタ値を保持するレジスタと、レジスタが保持するレジスタ値によりハードウェア論理を変更し、試験プログラムにより実現される試験シーケンスに応じた試験データを被試験デバイスに供給するゲートアレイとを有する。 - 特許庁

The developer revises the knowledge base so as to obtain the expected value of the test case stored in the test case base.例文帳に追加

開発者は、テスト事例ベースに格納されたテスト事例について期待値が得られるような知識ベースの改版を行う。 - 特許庁

To set the sound volume of a test tone during a check of a speaker to a proper value when the speaker is checked with a test tone signal.例文帳に追加

テストトーン信号によりスピーカのチェックをするとき、そのチェック時におけるテストトーンの音量を適正値に設定する。 - 特許庁

The test area 10 is used to check a reproduction output value after test signals are multiple-recorded in the hologram layer.例文帳に追加

テスト領域１０は、テスト信号をホログラム層に多重記録した後、再生出力値を確認する領域である。 - 特許庁

When the test image exhibits a desired image level, a correction value of the test image is set as the photographing condition for main photographing.例文帳に追加

これが所望の画像レベルであればこのときの補正値を本撮影のための撮影条件として設定する。 - 特許庁

Additionally, after the junction characteristic value corresponding to a desired reliability test value is obtained according to the correlation relationship between the junction characteristic value and reliability test value and that between junction connections in alloy junction work and the junction characteristic value, the junction conditions corresponding to the junction characteristic value are obtained.例文帳に追加

さらに、接合特性値と信頼性試験値との相関関係と、合金接合作業時の接合条件と接合特性値との相関関係とから、所望の信頼性試験値に対応する接合特性値を求めた後、ここで求めた接合特性値に対応する接合条件を求める。 - 特許庁

DEVICE FOR STORING VARIABLE VALUE TO PROVIDE CONTEXT FOR TEST RESULT TO BE FORMATTED例文帳に追加

フォーマットする試験結果の文脈を提供する変数値を格納する装置 - 特許庁

An expectation value collation test is carried out for two adjacent semiconductor chips.例文帳に追加

試験は隣接する２個の半導体チップ毎に期待値照合試験を行う。 - 特許庁

The amount of sticking toner of the test pattern 1 is detected from a value of the reflected light.例文帳に追加

この反射光の値から、テストパターン１のトナー付着量を検出する。 - 特許庁

To test a program including a random output block outputting a random value for an input value.例文帳に追加

入力値に対してランダムな値を出力するランダム出力ブロックを含むプログラムをテストできるようにする。 - 特許庁

To turn the value of the low-order bit of the compared result of a comparator to a reliable value at all times and to widen a test coverage.例文帳に追加

コンパレータの比較結果の下位ビットの値を常に信頼のある値として、テストカバレッジを広げることができる。 - 特許庁

When the light output value is larger than the dark output value and the dark output value is equal to a dark output reference value, it can be judged that the test light source operates normally (step S6).例文帳に追加

そして、明出力値＞暗出力値であり、かつ、暗出力値＝暗出力基準値のときには、試験光源は正常に動作していると判断できる（ステップＳ６）。 - 特許庁

A test execution control means 1 instructs a test information input means 2, a test instruction sequence generating means 3, an expected value generating means 4, and a test execution result decision means 5 to perform processings and performs execution control over the whole test.例文帳に追加

試験実行制御手段１は、試験情報入力手段２と試験命令列生成手段３と期待値作成手段４と試験実行結果判定手段５とに対して処理を指示し、試験全体の実行制御を行う。 - 特許庁

The ground evaluation system is formed of a test value data file in which test numerical values corresponding to a plurality of depths collected by the SWS test, are stored, and an evaluation value data file in which evaluation values determined in proportion to stress functions corresponding to the respective depths of the test values are stored.例文帳に追加

ＳＷＳ試験で収集した複数深度ごとの試験数値を格納する、試験値データファイルと、試験値の各深さに応じる応力関数に比例して決定した評価値を格納する、評価値データファイルとによって構成する。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

When the execution time of the test vector is larger than the value of a preliminarily set designated holding time, the value of the execution time is forcedly replaced with the value of the designated holding time, and outputted as the test vector.例文帳に追加

テストベクタの実行時間があらかじめ設定された指定保持時間の値よりも大きい場合は、強制的に実行時間の値を指定保持時間の値に置き換えテストベクタとして出力する。 - 特許庁

The present set value VB0 of developing bias is stored, a test patch image is formed at the set value VB0, and respective detection outputs Vsc and Vsgc on the test patch and the adhesive amount 0 are obtained by the adhesive amount sensor (S33 and 34).例文帳に追加

現像バイアスの現設定値VB0を記憶し、VB0でテストパッチを作像し、付着量センサでテストパッチと付着量0の各検知出力Vsc、Vsgcを得る（Ｓ３３，３４）。 - 特許庁

When a main control unit switches a data class, it extracts a first test value or a second test value corresponding to the data class of authentication information to be generated next time.例文帳に追加

主制御部はデータ種別を切り替える場合、次回生成する認証情報のデータ種別に対応した第１検査値又は第２検査値を抽出する。 - 特許庁

When the transfer to the test mode is commanded, data provided to the multiplier 66 is switched to data for test, and an output value of the SRAM 90 is compared with a predetermined expected value.例文帳に追加

テストモードへの移行が指示されると、乗算器６６に与えるデータをテスト用データに切り替えるとともに、ＳＲＡＭ９０の出力値と所定の期待値とを比較する。 - 特許庁

After that, test patterns are mutually joined by a test pattern join means 106 after processes by an uncertain value reactivation means 104 and an uncertain value determining means 105.例文帳に追加

その後、不確定値再活性手段１０４、不確定値決定手段１０５による処理を経て、テストパタン併合手段１０６によってテストパタンの併合が行われる。 - 特許庁

A test case includes cache entry reference and an early stage cache entry value (cache initialization record).例文帳に追加

テストケースは、キャッシュエントリ参照・初期キャッシュエントリ値（キャッシュ初期化記録）を含む。 - 特許庁

The amount of sticking toner of the test pattern 2 is detected from a value of the reflected light.例文帳に追加

さらに、この反射光の値から、テストパターン２のトナー付着量を検出する。 - 特許庁

A parameter characteristic determination module 26 obtains a 2nd parameter value from the test video signal.例文帳に追加

パラメータ特性決定モジュール２６は、試験ビデオ信号から第２パラメータ値を求める。 - 特許庁