「test value」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A test pattern utilized for acquiring an eccentricity correction value and an outside diameter correction value is formed to have a surplus region exceeding an integral multiple of the circumferential length of a roller.例文帳に追加

偏心補正値および外径補正値を取得するために利用されるテストパターンは、ローラの周長の整数倍を超える過剰領域を持って形成される。 - 特許庁

Thereafter, thickness or resistance value of the unwanted film remaining at the bottom surface of the contact hole of the test object is estimated by measuring potential contrast of the secondary electron image of the test object, by radiating the electron beam to the contact hole as the test object, and then comparing the potential contrast of the standard sample 1 for test with potential contrast of the test object.例文帳に追加

その後、被検査対象のコンタクトホールへ電子線を照射して被検査対象の二次電子画像の電位コントラストを測定し、検査用標準試料１の電位コントラストと被検査対象の電位コントラストとを比較することにより、被検査対象のコンタクトホールの底面に残る不要残存膜の厚さまたは抵抗値を推定する。 - 特許庁

A test simplifying design rule judgement unit 160 judges whether a design rule such as a test simplifying rule is satisfies or not on the basis of the logical value of the signal output by using API.例文帳に追加

テスト容易化設計ルール判定部１６０では、ＡＰＩを使って出力された信号の論理値を元に、テスト容易化ルールなどの設計ルールを満たしているかどうか判定する。 - 特許庁

To provide a highly-accurate clinical test data processing system capable of determining the presence or absence of an abnormal value from test result data based on a stable reference range.例文帳に追加

高精度、かつ、安定した基準範囲に基づいて、検査結果データから異常値の有無を判断することが可能な臨床検査データ処理システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

Thereafter, the test output data in the FIFO memory 2 are read out after returning to the test mode A, and outputted from an output terminal 12, and the data are compared with expected value data, to thereby determine acceptance.例文帳に追加

その後、テストモードＡに戻し、ＦＩＦＯメモリ２のテスト出力データを読み出して出力端子１２から出力し、これを期待値データと比較して合否を判定する。 - 特許庁

To provide a test charge time-limited settling switching circuit for a protective relay, in which a time-limited settling value of a bus communication relay or a post-protective relay can be automatically switched during test charge.例文帳に追加

試充電時に母線連絡継電器や後備保護継電器の時限整定値を自動的に切り替えることができる保護継電器の試充電時限整定切替回路を提供する。 - 特許庁

To easily execute a test such as an operation margin test executed by changing a set value to a semiconductor chip after carrying out different settings on a chip basis by fuse trimming or the like.例文帳に追加

ヒューズトリミングなどによってチップ毎に異なる設定をした後の半導体チップに対して設定値を変化させて行う動作マージン試験などのテストを容易に行えるようにする。 - 特許庁

A plurality of test patterns are formed along a roller in the longitudinal direction, and a correction value optimal for correcting conveyance error dependent on the eccentricity of the roller is acquired from the test patterns.例文帳に追加

ローラの長手方向に沿って複数のテストパターンを形成し、これに基いてローラの偏心に依存する搬送誤差を補正するのに最適な補正値を取得するようにする。 - 特許庁

To allow a test where the travel resistance including a mechanical loss having reproducibility equivalent to the theoretical value or actual vehicle travel time is applied to a test vehicle, using accurate mechanical loss measurement.例文帳に追加

精度良いメカニカルロス計測によって、理論上又は実車走行時と同等の再現性のあるメカニカルロスを含めた走行抵抗を試験車両に印加した試験ができる。 - 特許庁

A density difference between the measured density value of each patch of a test chart image recorded on photosensitive material by an automatic calibrator and the target density of each patch based on test chart image data is calculated.例文帳に追加

オートキャリブレータによる感光材料に記録されたテストチャート画像の各パッチの測定濃度値と、テストチャート画像データに基づく各パッチの目標濃度との濃度差を算出する。 - 特許庁

A control section 1165 prints out a test image outputted from a pattern generator 1161 and sets a correction value of gradation correction devices 1164-1167 on the basis of an image signal obtained by reading the printed test image.例文帳に追加

制御部1165は、パターンジェネレータ1161から出力されたテスト画像を印刷し、印刷されたテスト画像を読み取った画像信号に基づき、階調補正器1164〜11167の補正値を設定する。 - 特許庁

When user data U are recorded on a data area 200 of an optical disk 101, a test signal T including a component in which a signal level is smaller than a reference value is recorded on a test area 210.例文帳に追加

光ディスク１０１のデータ領域２００にユーザデータＵを記録する際に、テスト領域２１０に信号レベルが基準値よりも小さい成分を含むテスト信号Ｔを記録しておく。 - 特許庁

To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.例文帳に追加

オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値（オール０）からオーバーフローまでの計量（桁上げ）試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

According to this structure, the test and diagnosis for a plurality of scan chains can be performed, and the processing can be performed so that an unknown value have no influence on the test result.例文帳に追加

この構成により、複数個のスキャンチェーンについてのテスト及び診断が可能にし、スキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないように処理することができる。 - 特許庁

The equipment management server 600 compares a fetched image signal with a predetermined logical value of the test image and performs an arithmetic operation of errors by every kind of density of patterns on the test image.例文帳に追加

機器管理サーバ６００は取り込まれた画像信号と予め定められたテスト画像の理論値を比較し、テスト画像上のパターンの各濃度毎に誤差の演算を行う。 - 特許庁

After a test image is transferred to a transfer material, the value of a transfer current flowing when the test image is re-transferred to an image carrier is monitored and then a transfer bias is altered according to this.例文帳に追加

テスト画像を被転写材上に転写した後、そのテスト画像が像担持体に再転写される時の転写電流値をモニタして、これに応じて転写バイアスを変更する。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

The HDD 1 predicts the number of defects at a stage where a portion of tracks is tested, and stops the test to thereby omit a useless test time when the predicted value exceeds a reference number.例文帳に追加

ＨＤＤ１は、一部のトラックについてテストした段階で欠陥数を予想し、その予想値が基準数を超える場合にテストを中止することで、無用なテスト時間を省略する。 - 特許庁

The result of simulation with delay fetched by the second test pattern generation circuit 15 is forcedly assigned to the corresponding scan flip-flop as a PLS test pattern with expected value.例文帳に追加

第２のテストパターン生成回路１４で取り込まれたディレイ付きのシミュレーション結果は、対応するスキャンフリップフロップに期待値付きＰＬＳ用テストパターンとして強制的に割り付けされる。 - 特許庁

To provide a material testing machine including an analog indicator capable of surely moving a pointer to a position indicating a maximal value of a test force even when the test force is abruptly changed.例文帳に追加

試験力が急激に変化したときでも、指針を確実に試験力の最大値を示す位置まで移動させることが可能なアナログ指示計を備える材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a test body reaction force estimating device capable of estimating reaction force of a testing body, based on known data such as vibration table oscillation force, without measuring directly a reaction force value of the test body.例文帳に追加

試験体の反力値を直接計測しなくても、振動台加振力等の既知データから試験体の反力を推定することが可能な試験体反力推定装置を提供する。 - 特許庁

When a prize ball dispensation monitoring timer is time-out in signal output processing for test, and when the value of an excessive dispensation number storage counter exceeds a prescribed value, the storage value of a total prize ball number storage buffer exceeds a prescribed value or a dispensation stop flag is set, a CPU outputs a game machine error state signal as a signal for test.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

This method for evaluating the etching accuracy comprises forming a test pattern 2 for measuring resistance including test patterns 21-24 each with a predetermined width and a space between lines arranged in rows and columns on all over the test substrate, measuring a resistance value after etching, and assuming a finished state of a circuit pattern by converting the resistance value into the widths of the line.例文帳に追加

縦、横に配列された所定線幅および線間のテストパターン２１〜２４を含む抵抗測定用テストパターン２をテスト基板の全面にわたって形成し、エッチング後に抵抗値を測定し、その抵抗値を線幅に換算して回路パターンの仕上がり状態を想定しエッチング精度を評価する。 - 特許庁

When the recording medium receives a start signal in the X-th charge cycle of a test battery EK, the recording medium functions as a sampling means for forming a new file in the predetermined range of a hard disk and for sampling a voltage value and a current value of the stored test battery E and the start signal and a code of the test battery E.例文帳に追加

記録媒体は、試験電池ＥＫの充電サイクルＸ回目の開始信号を受けたときは、ハードディスクの所定領域に新規ファイルを生成して記憶された試験電池Ｅの電圧値及び電流値を開始信号及び試験電池Ｅの符号をサンプリングするサンプリング手段として機能する。 - 特許庁

When the molding conditions are set, a set value for each of N kinds of molding conditions is set, a molding test of a plurality of shots is done based on the same condition, and a test molding is repeated in which a molding test of a plurality of shots is done based on a changed set value with respect to at least one molding condition.例文帳に追加

成形条件出しに際し、Ｎ種類の成形条件に対してそれぞれ設定値を設定して同じ設定値のもとで複数ショットの成形テストを行い、続いて少なくとも１つの成形条件について変更された設定値のもとで複数ショットの成形テストを行うというテスト成形を繰り返し行う。 - 特許庁

First of all, test working is performed while using a device (grinding device) becoming an object and data are collected concerning the setting value (grinding pressure/speed) of the device, the state value (temperature) of the device and the evaluation value (working accuracy) of the worked result.例文帳に追加

先ず、対象となる装置（研磨装置）を用いて試験加工を行い、装置の設定値（研磨圧力・速度）、装置の状態値（温度）及び加工結果の評価値（加工精度）についてデータを収集する。 - 特許庁

While the inner circuit processes the high-speed test pattern and outputs an output expectation value, the inner circuit converts the high-speed output expectation value to a low-speed output expectation value to return it to the low-speed LSI tester.例文帳に追加

内部回路は高速のテストパターンを処理して出力期待値を出力するが、これら出力される高速の出力期待値を低速の出力期待値に変換して低速ＬＳＩテスタに戻す。 - 特許庁

This semiconductor testing device is provided with a memory 34 storing failure rate specified value information 38 specifying an upper limit of a failure rate of a test for every kind of test in advance and a CPU 32 which measures a failure rate of a semiconductor integrated circuit for every kind of test, compares the measured failure rate with the failure rate specified value information, and judges whether the test is interrupted or not.例文帳に追加

予め試験の種類毎にその試験の不良率の上限を規定した不良率規定値情報３８を記憶するメモリ３４を備え、更に、試験の種類毎に半導体集積回路の不良率を測定し、測定された不良率と上記不良率規定値情報とを比較し、試験を中断するか否かを判断するＣＰＵ３２とを備える。 - 特許庁

In different aspects, a root key test value, which is utilized to test the root key, and other security features such as a re-purpose number and a cipher block chaining re-purpose value are included to protect the electronic device from unauthorized access.例文帳に追加

本発明の別の特徴は、ルート鍵をテストするために使用されるルート鍵テストの値およびその他のセキュリティ・フィーチャー、例えば、再利用回数および暗号ブロック・チェイニング再利用値を、電子デバイスを不正アクセスから保護するために含むことである。 - 特許庁

A program counter switching part 109 is controlled so that an address value of the program counter 101 is selected when the address of the memory 117 is detected in the program counter 101 and an address value of the program counter 108 for test when the address of the external memory is detected in a test mode.例文帳に追加

プログラムカウンタ切替部109は、テストモード時に、プログラムカウンタ101にメモリ117のアドレスを検出したとき、プログラムカウンタ101のアドレス値を選択し、プログラムカウンタ101に外部メモリのアドレスを検出したとき、テスト用プログラムカウンタ108のアドレス値を選択するよう制御する。 - 特許庁

A cyclic redundancy check (CRC) calculator 144 calculates a test CRC value that is a CRC value of a plurality of pictures constituting a moving image obtained by processing test stream data by a moving image processing device 110 for performing moving image processing including stream data decoding.例文帳に追加

ＣＲＣ算出部１４４は、ストリームデータのデコードを含む動画像処理を行う動画像処理装置１１０がテスト用ストリームデータを処理して得た動画像を構成する複数のピクチャのＣＲＣ値であるテストＣＲＣ値を算出する。 - 特許庁

A test pattern including a plurality of color patches to be printed respectively using a varying correction value, as a test pattern for determining a correction value of a subscan feed of a printing subscan feed, is printed using one kind of ink with less than 100% ink duty.例文帳に追加

印刷媒体の副走査送り量の補正値を決定するためのテストパターンとして、異なる補正値を用いてそれぞれ印刷される複数のカラーパッチを含むテストパターンを、１種類のインクを用いて１００％未満のインクデューティで印刷する。 - 特許庁

A scanning test of a combination circuit 200 is performed on the basis of a test pattern generated by a scan pattern generation circuit 300, a comparison control circuit 400 compares a test result with an expected value to check the shifting of the flip-flops 100-105.例文帳に追加

スキャンパターン生成回路３００で生成したテストパターンに基づいて組み合せ回路２００のスキャンテストを実行し、比較制御回路４００がテスト結果と期待値との比較を行い、フリップフロップ１００〜１０５のシフト動作の確認を行う。 - 特許庁

The test writing is finished at N=M and when a test write flag is turned OFF (S11) (S12), recording signals of the conditions M to N obtained by the test writing are reproduced (S13), optimal value selection is executed (S14), and an optimal recording pulse is decided (S15).例文帳に追加

Ｎ＝Ｍ、かつ試し書きフラグがオフ（Ｓ１１）で試し書きを終了し（Ｓ１２）、試し書きによって得られた条件Ｍから条件Ｎまでの記録信号を再生し（Ｓ１３）、最適値選択を行い（Ｓ１４）、最適な記録パルスを決定する（Ｓ１５）。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁

A test signal is added to a spare area continuing to the end of the PCA area at a plurality of types of laser power values that are lower than the maximum value of laser power used in a recording test after carrying out the recording test in the PCA area.例文帳に追加

ＰＣＡ領域にて記録テストを実行した後、前記記録テストで使用するレーザーパワーの最大値より低い複数種類のレーザーパワー値にて、前記ＰＣＡ領域の終端に連続する予備エリアへテスト信号を追記するようにした。 - 特許庁

When a test pattern is applied to a memory 101 after relieving processing from a test pattern generating section 105, a data input value is converted utilizing defective address information of a fail information storing section 108 in which fail information of a memory at a wafer test.例文帳に追加

テストパターン生成部１０５からテストパターンを救済処理後のメモリ１０１に印加する際に、ウエハテスト時のメモリのフェイル情報を格納したフェイル情報格納部１０８の不良アドレス情報を利用し、データ入力値を変換する。 - 特許庁

A program generation means generates a test program outputting an output value based on the computed true and faulty input values.例文帳に追加

プログラム生成手段は、演算された真および偽入力値に基づく出力値を出力させるテストプログラムを生成する。 - 特許庁

Modification of the final value is implemented without physically disconnecting the port of calibration module from the first port of device under test.例文帳に追加

終端値の変更は、被測定デバイスの第１のポートから校正モジュールのポートを物理的に切り離すことなしに実行される。 - 特許庁

A voltage is applied between first and second test pads 117, 118, to thereby determine quality of a connection part between the pads from a current value.例文帳に追加

第１，第２テスト用パッド１１７，１１８間に電圧を印加して、電流値からパッド間の接続部の良否を判定する。 - 特許庁

To provide a device testing equipment capable of constantly maintaining a contact pressure for a device as a test object at an optimal value.例文帳に追加

被試験対象のデバイスに対するコンタクト圧力を、常に最適値に維持することが可能なデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

To prevent the response of a measurement value from being extended by restraining a change in the exhausting velocity, when switched from a roughing pump mode to a test mode.例文帳に追加

粗引きモードからテストモードに切り替わった際の排気速度の変化を抑え、測定値の応答時間の延びを防止する。 - 特許庁

To evaluate the thickness of a test object in an inaccessible environment by an inspector in terms of an absolute value in a short time.例文帳に追加

検査員が近づき難い環境下の検査対象物の肉厚を短時間で絶対値換算で評価することである。 - 特許庁

In a specific embodiment, a first synchronization test is met when a renormalization rate of a trellis decoder (90) is below a threshold value.例文帳に追加

具体的実施例で、第１同期テストは、トレリス・デコーダ（９０）の再標準化率が、限界値以下である時に満たされる。 - 特許庁

A wafer, test object, is inspected by a wafer defect inspection part 11, and coordinate value data S11 are outputted from the wafer defect inspection part 11.例文帳に追加

検査の対象となるウエハがウエハ欠陥検査部11で検査され、該ウエハ欠陥検査部11から座標値データS11 が出力される。 - 特許庁