「test value」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A set temperature Test of an air conditioner is increased by a prescribed amount (1°C) when a derivative value of the ultradian rhythm becomes maximum.例文帳に追加

そして、ウルトラディアンリズム周期の微分値が極大となるときに、空調機の設定温度Testが所定量（１℃）だけ増加される。 - 特許庁

An initial count value (111) is reloaded to the counter at the time of finish of one test step and at the time of preparation of the next test step.例文帳に追加

カウンタには、１つのテスト段階の終了時及び次のテスト段階の準備の際に、初期カウント値(111)がリロードされる。 - 特許庁

Next, on the basis of the test patterns 100 recorded on the recording medium 16, a discharge timing adjustment value of ink in a recorded position of a test pattern 100 is determined per test pattern 100 (A2, A3).例文帳に追加

次に、記録媒体16上に記録されたテストパターン100を基に、当該テストパターン100が記録された位置でのインクの吐出タイミング調整値をテストパターン100毎に決定する（A2、A3）。 - 特許庁

If a test interrupting order 62 is input when the test is performed by an external signal, the target value of the test force allowed to act on the testpiece is stored.例文帳に追加

外部信号により試験を行っている時、試験中断指令６２が入力されると、そのとき供試体に作用させる試験力の目標値を記憶する。 - 特許庁

The test part 301 outputs test data during the invalid period of a bus transfer permission signal 23 and the inspection part 10 inspects the test data by comparing it with an existing value.例文帳に追加

試験部３０１はバス転送許可信号２３が有効でない間は試験データを出力し、検査部１０において既値と比較することにより検査される。 - 特許庁

Test pattern data with a single gray pixel value is formed in an image recording medium as a test pattern image, and the test pattern image is obtained as image data to be evaluated.例文帳に追加

単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成し、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test by performing a test continuously by using a high speed clock signal in an expected value determination test and defective cycle detection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の期待値判定テストおよび不良サイクル検出に関し、高速のクロック信号を用いて連続してテストを行うことでテストに係る費用を削減する。 - 特許庁

An image reader (10), on the other hand, detects chromaticity of the same test chart to acquire an RGB value and an XYZ value.例文帳に追加

一方、画像読取装置（１０）によって同じテストチャートの色度を検知し、ＲＧＢ値およびＸＹＺ値を取得する。 - 特許庁

When the test process is terminated, the value of the display control process flag is changed to the value corresponding to the variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

テスト処理を終了すると、表示制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理に応じた値とする。 - 特許庁

A calibration value generation part 14 generates a calibration value based on the optical environment, test image data and the calibration image.例文帳に追加

キャリブレーション値生成部１４は、光環境とテスト画像データとキャリブレーション画像とに基づきキャリブレーション値を生成する。 - 特許庁

The main controller 10 of the game machine 1 includes an individual test value generator 12 for generating a first or second individual test value when a control command to be output is a first or second control command, adds the first individual test value to the first control command or the second individual test value to the second control command, and transmits it to a post-stage part 20 or the peripheral part 30.例文帳に追加

遊技機１の主制御部１０は、出力する制御コマンドが第１又は第２制御コマンドの時、第１又は第２個体検査値を生成する個体検査値生成部１２を備え、第１個体検査値を第１制御コマンド、又は第２個体検査値を第２制御コマンドに付加して後段部２０又は周辺部３０へ送信する。 - 特許庁

Furthermore, based on the test return loss value and insertion loss value stored in the memory, the insertion loss values are compared, respectively, for the test frequencies at which the test return loss goes below a specified threshold (S470), and a test frequency corresponding to a maximum insertion loss value (minimum absolute value), as a result of comparison, is set as a candidate frequency (S480).例文帳に追加

さらに、メモリに記憶されたテスト反射損失値及び挿入損失値に基づいて、テスト反射損失値が規定閾値以下であるテスト周波数それぞれについての挿入損失値を比較し（Ｓ４７０）、その比較の結果、最大（絶対値が最小）となる挿入損失値に対応するテスト周波数を候補周波数として設定している（Ｓ４８０）。 - 特許庁

The test execution control section 231 repeats same processing by changing the write current value.例文帳に追加

テスト実行制御部２３１は、ライト電流値を変化させて同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

Correction value of feeding amount is determined by examining print results of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの印刷結果を調べることによって、各送り量の補正値を決定する。 - 特許庁

A CPU 14 calculates the wavelength of the light under test based on the counted value by the counter 8.例文帳に追加

ＣＰＵ１４は、カウンタ８の計数値に基づいて被測定光の波長を算出する。 - 特許庁

Further, phosphor content [mg]/test powder weight [mg]=0.071 is used as the reference value.例文帳に追加

また前記基準値は、リン含有量［ｍｇ］／試験粉末の重量［ｍｇ］＝０．０７１とする。 - 特許庁

To efficiently carry out an I/O circuit threshold value test of a semiconductor device by simple circuit constitution.例文帳に追加

半導体装置のＩ／Ｏ回路閾値試験を簡易な回路構成で効率よく実施する。 - 特許庁

Handling errors is an easy task, you just have to test the return value as shown below. 例文帳に追加

エラー処理は簡単な作業です。 単に、以下のように返り値を調べるだけでいいのです。 - PEAR

For some parameters, a value which a test case candidate should have is determined (718).例文帳に追加

いくつかのパラメータに対して、テストケース候補が持っているべき値を決定する（７１８）。 - 特許庁

For animals having a gender difference, the value of the gender having a smaller value is adopted as the acute toxicity value in the test, and when there are plural data, the value is used for calculation.例文帳に追加

なお、Priority 1の記述を優先し、例え、Priority２に急性毒性に係る記述が複数あったとしても、Priority１に一つでも急性毒性に係る記述があれば、Priority１のデータのみで計算すること。 - 経済産業省

The determination processing function stores a received input value whenever receiving a set of an input value and an output value from a test program and executes determination processing on the condition that the number of times for receiving the set of an input value and an output value from the test program exceeds the number of pipeline stages.例文帳に追加

この判定処理関数は、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取る度に受け取った入力値をバッファに保存し、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取った回数がパイプライン・ステージ数を越えたことを条件に、判定処理を実行する。 - 特許庁

A test pattern order change means 103 changes the arrangement according to the order starting from least number of uncertain value for a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generation means 102.例文帳に追加

初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数テストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数が少ない順番に並び替えを行う。 - 特許庁

The transmission part 101 defines random data as an initial value for every test cell to be transmitted and outputs data containing that initial value and the result of operation predetermined on the basis of that initial value as the payload data of the test cell.例文帳に追加

送信部１０１は、送信する試験セルごとに、ランダムデータを初期値とし、当該初期値と、当該初期値に基づいて予め定めた演算の結果とを含むデータを、試験セルのペイロードデータとして出力する。 - 特許庁

The main control unit also makes changes in order to change a change result of a test value changed by the expected value changing data on the basis of change method information associated with the extracted third test value.例文帳に追加

また、主制御部は、前記抽出した第３検査値に対応付けられた変更方法情報に基づいて、期待値変更用データで変更した検査値の変更結果を変化させるための変更を行う。 - 特許庁

The sample for acquiring relative correction data is measured by the test tool 26 and the reference tool 16, and the first equation for calculating the estimated value of the measurement value by the reference tool 16 from the measurement value of the test tool 26 is obtained.例文帳に追加

試験治具２６と基準治具１６とで、相対補正データ取得用試料を測定し、試験治具２６での測定値から基準治具１６での測定値の推定値を算出するための第１の数式を求める。 - 特許庁

A CPU 120 detects an expected value having the same value as a top test CRC value calculated by the CRC calculator 144 among expected values of the CRC value of at least partial continuous pictures in a moving image corresponding to the test stream data and with the detected expected value as an origin, the test CRC value is sequentially compared with expected values, thereby diagnosing the moving image processing device 110.例文帳に追加

ＣＰＵ１２０は、テスト用ストリームデータに対応する動画像の少なくとも一部の連続したピクチャのＣＲＣ値の期待値のうちの、ＣＲＣ算出部１４４が算出した先頭のテストＣＲＣ値と同値を有する期待値を検出し、検出した期待値を起点にし、テストＣＲＣ値と期待値との順次比較を行うことにより動画像処理装置１１０を診断する。 - 特許庁

Then, the set temperature Test of the air conditioner is decreased by the prescribed amount (1°C) when the derivative value of the ultradian rhythm becomes minimum.例文帳に追加

次に、ウルトラディアンリズム周期の微分値が極小となるときに、空調機の設定温度Testが所定量（１℃）だけ減少される。 - 特許庁

Based on reproduced signals of the plural test recording operations at the outer peripheral side test area, the appropriate recording power value at this linear speed is obtained.例文帳に追加

該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を求める。 - 特許庁

An image shift value is calculated by subtracting a difference associated with a test frame from a filtered image including the test frame.例文帳に追加

画像シフト値は、テストフレームに関連付けられた差を、このテストフレームを含むフィルタリングされた画像から減算することによって計算される。 - 特許庁

Test data is recorded in the inner peripheral trial writing areas of an optical disk from an optical pickup side by a plurality of test recording power values, and a recording power value is set for an inner periphery OPC according to recording power value characteristics obtained from an asymmetry value for each test recording power value obtained from its reproduced signal.例文帳に追加

光ピックアップ側から光ディスクの第１記録層の内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号から求めたテスト記録パワー値毎のアシンメトリ値から得られる記録パワー値特性に応じて内周ＯＰＣでの記録パワー値を決定する。 - 特許庁

In this method for automatically forming test data, a key code initial value is made to increase and decrease corresponding to an item name constituting the test data by a key code increase and decrease value, the data are made to increase and decrease from an initial value by the increase and decrease value, the data are registered, and the data registration is performed until the registered data number reaches the number of test data.例文帳に追加

テストデータを構成する項目名に対応するキーコード初期値をキーコード増減値ずつ増減させ、データを初期値から増減値ずつ増減させて、データを登録させ、その登録されたデータ数がテストデータの件数となるまでデータ登録を行うようにしてテストデータを自動的に作成している。 - 特許庁

A virtual device 150 simulates and outputs a voltage value and a current value on the basis of an inputted parameter and the test signal.例文帳に追加

仮想デバイス１５０は入力されたパラメータや試験信号に基づいて電圧値や電流値をシミュレートして出力する。 - 特許庁

A shift position is decided from the peak correlation value, and its adjacent correlation value of the correlation surface and both original and test images are aligned.例文帳に追加

相関面のピーク相関値及び隣接相関値からシフト位置を求めて、オリジナル画像及び試験画像をアライメントする。 - 特許庁

The patch tone value acquiring part acquires a scanned tone value x_i in each component of RGB obtained by scanning a gray patch of a test chart.例文帳に追加

パッチ階調値取得部は、テストチャートのグレーパッチを読み取ったＲＧＢ各成分における読取階調値ｘ_iを求める。 - 特許庁

Then 1 is added to the value of the test data DT and the DAC 14 performs conversion to generate an analog voltage VA corresponding to a value 1.例文帳に追加

次に、テストデータＤＴの値を１に増加し、ＤＡＣ１４で変換して値１に対応するアナログ電圧ＶＡを生成する。 - 特許庁

Among test data, wherein yi is an undefined value, a class yNNtest(i) of a data NNtest(i) is not an undefined value, and the data NNtest(i) is correctly leaned, a test data iB for providing a minimum d(i, NNtest(i)) is found out (Step 2).例文帳に追加

yiが未定義値でかつデータN Ntest(i)のクラスy_N Ntest(i_)が未定義値でなく、かつN Ntest(i)が正しく学習されているテストデータの中で、最小のd(i, N Ntest(i)）を与えるテストデータi_Bを見つける（ステップ３）。 - 特許庁

When no transmission signal is being transmitted, a test signal output means 4 outputs to the correction means 1 a test signal for calculating the correction value of the correction value calculation means 3.例文帳に追加

テスト信号出力手段４は、送信信号が送信されていない場合、補正値算出手段３の補正値を算出するためのテスト信号を補正手段１に出力する。 - 特許庁

In a verification support device 100, test patterns 213 and 214 are generated by a test pattern generation part 201 to execute simulation and an expected value is judged by an expected value judgement part 204.例文帳に追加

検証支援装置１００では、テストパターン生成部２０１により、テストパターン２１３，２１４を生成してシミュレーションを実行し、期待値判定部２０４により期待値判定する。 - 特許庁

A test value of a relation between a direction of a fluid and a hue value of the shearing stress liquid crystal for the test is stored in a memory, based on the image photographed concurrently by the two color cameras.例文帳に追加

２つのカラーカメラにより同時に撮影された画像に基づいて、流体の方向と前記検定用の剪断応力液晶の色相値との関係の検定値をメモリに格納する。 - 特許庁

That is, a circuit for generating the CT value in order, a circuit for making a BIST (Built In Self Test) circuit operate and holding its result (right or wrong value) and a circuit for controlling them are held in the macro.例文帳に追加

すなわち、ＣＴ値を順次生成する回路、ＢＩＳＴ(Built In Self Test)回路を動作させその結果（正否値）を保持する回路、それらを制御する回路をマクロ内に保有する。 - 特許庁

Then, an arbitrary test parameter is selected from the calculated test parameter group, and the parameter value is developed within a predetermined range including a value calculated from observation data (a step S2).例文帳に追加

次に、算出された検定パラメータ群から、任意の検定パラメータが選択され、そのパラメータ値が、観測データより算出された値を含む所定の範囲内に展開される（ステップＳ２）。 - 特許庁

To provide a reference voltage generation circuit whose quantity resistance value of a quantity resistance test of latch-up is high by preventing variation of a rudder resistance value and disconnection of rudder resistor in a quality resistance test of latch-up.例文帳に追加

ラッチアップ耐量試験でのラダー抵抗値の変化およびラダー抵抗の断線を防ぐことで、ラッチアップ耐量試験の耐量値が高い参照電圧発生回路を提供する。 - 特許庁

An initial probability setting file 13 shows the rate of each parameter value for each parameter item, and a test parameter generator 2 generates a plurality of types of test patterns according to a rate of each parameter value of the initial probability setting file 13, and makes a test bench 4 execute simulation by using a test pattern 3.例文帳に追加

初期確率設定ファイル１３は、パラメタ項目ごとに各パラメタ値の比率を示しており、テストパターンジェネレータ２は、初期確率設定ファイル１３のパラメタ値ごとの比率に従って複数種のテストパターンを生成し、テストベンチ４にテストパターン３を用いたシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In this test mode register circuit, test functions to which conventional test modes are divided into each element are allotted to the decoder circuit 60 as a set address value, and each test mode is realized by multi- selecting a plurality of test mode register circuits.例文帳に追加

この試験モード登録回路においては、従来の試験モードを各要素に分けた試験機能がデコーダ回路６０に設定されたアドレス値として割当てられており、複数の試験モード登録回路を多重選択することにより各試験モードを実現する。 - 特許庁