「test-object」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test method, a tester, and a test system capable of obtaining a highly accurate test result of a magnetic responsive unit equipped with a test object.例文帳に追加

テスト対象物に備わる磁気反応ユニットの高精度なテスト結果を得ることができるテスト方法、テスタおよびテストシステムを提供する。 - 特許庁

A refractive index of the test object is calculated based on Z_1, Z_10, Z_2, Z_20, a spacing L_1 sandwiching the test object in the first container, and a spacing L_2 sandwiching the test object in the second container.例文帳に追加

Ｚ_１、Ｚ_１０、Ｚ_２、Ｚ_２０と、第１の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_１と、第２の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_２から被検物の屈折率を算出する。 - 特許庁

To suitably detect a color of test object from two or more kinds of candidate colors of a test object even when two or more kinds of colors of the test object having a predetermined color change permittable width are overlapped as the candidate colors of the test object.例文帳に追加

予め定められた色変化許容幅を持つ検査対象色が検査対象候補色として複数種類重なり合っている場合でも、その複数種類の検査対象候補色からなる検査対象色を好適に検出する。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

Since the test circuit is provided on the other test wafer 210 separated from the test object wafer 10 on 1 to 1 of the test object chip CP, a number of the chips CP can be simultaneously tested in parallel during the wafer test without increasing the area of the test object chip CP.例文帳に追加

試験回路を、試験対象チップＣＰと１対１に、試験対象ウェハ１０とは別のテストウェハ２１０上に備えるので、試験対象チップＣＰの面積を増加させることなく、ウェハテスト時において、同時に多数個のチップＣＰを並列にテストすることができる。 - 特許庁

To improve test efficiency while reducing a risk that, though test object software is normally operated, it is determined as a test failure due to a time difference of processing time between the test object software and a test simulator.例文帳に追加

テスト対象ソフトウェアが正常動作しているにもかかわらず、テスト対象ソフトウェアとテストシミュレータとの処理時間の時間差によりテスト失敗と判定されてしまう危険性を少なくしつつ、テスト効率を向上させる。 - 特許庁

A test circuit for performing an operation test for each chip CP on the test object wafer 10 is mounted on each chip SCP on the test wafer 210.例文帳に追加

テストウェハ２１０上の各チップＳＣＰには、試験対象ウェハ１０上の各チップＣＰに対して動作テストを実行するための試験回路が搭載される。 - 特許庁

The operator executes image correction of the test object image 53 comparing the standard image 51 and the test object image 53.例文帳に追加

オペレータは、基準画像５１と検定対象画像５３とを比較しながら、検定対象画像５３の画像補正を行う。 - 特許庁

The elongate strip also includes a large area of contact with the object under test allowing efficient irradiation to the object under test.例文帳に追加

細長いストリップは、試験対象物との大きな接触面積も有し、試験対象物への効率的な照射が可能になる。 - 特許庁

To test the electric characteristics of an evaluation object element without installing any exclusive terminal for test.例文帳に追加

専用のテスト用の端子を設けることなく評価対象素子の電気的特性をテストする。 - 特許庁

A relay 8 of a test object removed from a control panel is attached to a pedestal 7 for test.例文帳に追加

制御盤１３から取り外した試験対象のリレー８を試験用台座７に取り付ける。 - 特許庁

To reduce energy consumption of a device while maintaining a test environment for a test object.例文帳に追加

試験対象物に対する試験環境を維持しつつ装置の消費エネルギーを低減させる。 - 特許庁

To detect defects on the structure of a test object speedily and with an improved signal noise ratio in a circuit device for processing signals which are generated from the defects on the structure of the test object by ultrasonic waves during the nondestructive test of the test object.例文帳に追加

被検体の無破壊試験で被検体の構造の欠陥の超音波によって生じる信号の処理のための回路装置において、被検体の構造の欠陥を高速度で、かつ改善された信号雑音比で検出すること。 - 特許庁

The device comprises: a light source 5 which is placed on one side of the test object 3 and radiates light to the test object 3; and imaging means 1 which is placed on the other side of the test object 3 and captures the image corresponding to the transmitted beam through the test object 3.例文帳に追加

そして、検査対象３の一方の面側に配置され検査対象３に光を照射する光源５と、検査対象３の他方の面側に配置され検査対象３を透過した光に応じた画像を撮像する撮像手段１と、を備えている。 - 特許庁

To apply pressurized air to a test object, to measure accurately a temperature change of the air generated inside the test object, and to obtain accurately a pressure change (drift value) caused by the temperature change inside the test object.例文帳に追加

被検査体に加圧した空気を印加し、被検査体の内部で発生する空気の温度変化を正確に測定し、被検査体の内部の温度変化による圧力変化（ドリフト値）を正確に求める。 - 特許庁

The test object mounting surface may be smaller than the terminal contact side of a test object to be mounted, and test object suction holes may be provided in between the top surfaces of the plurality of terminals.例文帳に追加

検査対象載置面は、載置すべき検査対象の端子接触側面よりも小さい面積であっても良く、複数の端子の頂面間に検査対象吸引穴が設けられていても良い。 - 特許庁

By means of this improved IC tester, a test signal is given to a test object, and the test object is tested according to an output from itself.例文帳に追加

本発明は、被試験対象に試験信号を与え、被試験対象の出力により被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a determination method of a test object, capable of measuring simply and accurately the concentration of the test object in a test sample having a coexisting interfering material.例文帳に追加

妨害物質が共存する被検試料中の被検物質の濃度を簡便、かつ正確に測定することができる被検物質の定量方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

Callable object that constructs a test suite from a list of tests.No methods on the resulting object are needed. 例文帳に追加

テストのリストからテストスイートを構築する呼び出し可能オブジェクト。 メソッドを持つ必要はありません。 - Python

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This also accepts a string in the format "href='/test.jpg' alt='test'", which will be parsed into the attributes array of the object. 例文帳に追加

ここには"href='/test.jpg' alt='test'" のような文字列も指定でき、これはオブジェクトの属性の配列として扱われます。 - PEAR

Run the examples in test (a DocTest object), and display the results using the writer function out. The examples are run in the namespace test.globs.例文帳に追加

test 内の例題 (DocTest オブジェクト) を実行し、その結果を出力用の関数out を使って表示します。 - Python

The test system is acquired by improving a test system for testing the test object for inputting the TMDS signal by the IC tester.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

A transmitter/receiver is installed on one end of a test object pipe, and an acoustic signal is transmitted from a transmitter to the inside of the test object pipe, and the acoustic signal reflected on the inside of the test object pipe is received by a receiver, and inspection of the test object pipe is executed by the received acoustic signal.例文帳に追加

検査対象管の一端に送受信機を取り付け、送信子から音響信号を検査対象管内部に送信すると共に受信子により検査対象管内で反射した音響信号を受信し、この受信した音響信号により検査対象管の検査を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device taking may chip numbers capable of parallel test simultaneously during a wafer test while suppressing the area increase of chips being a test object.例文帳に追加

試験対象となるチップの面積増加を抑制しつつ、ウェハテスト時において同時に並列試験可能なチップ数を多くとれる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The stress test circuit (11) outputs control signals (TM1-TM3) for performing a stress test to a test object (2) and the stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ここにおいて、ストレス試験回路（１１）は、ストレス試験を実行するための制御信号（ＴＭ１〜ＴＭ３）を試験対象（２）とストレス試験判定回路（１２）とに出力する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加

テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

With respect to each test item of the analysis object test result table, a determination rule defined to the test item is applied to a test analysis rule table 24 to determine the final test result.例文帳に追加

そして、解析対象テスト結果テーブルの各テスト項目について、テスト解析ルールテーブル２４に、そのテスト項目に対して定義されている判定ルールを適用し最終的なテスト結果を求める。 - 特許庁

To determine the quality of an object under test, by initially performing a comparison of the object under test, by using an image as a template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place.例文帳に追加

本発明の目的は、被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像とし、最初に被検物との比較を実施することで、被検物の良否を判定することにある。 - 特許庁

METHOD FOR SYNTHESIZING FULL APERTURE NUMERICAL DATA MAP OF OBJECT TEST SURFACE例文帳に追加

物体試験表面の完全アパーチャ数値データマップを合成する方法 - 特許庁

To collect logs regardless of the state of a test object computer state without providing a means for collecting logs on the test object computer.例文帳に追加

試験対象計算機上にログを収集する手段を設けず、かつ、試験対象計算機状態に関わらずログを収集可能とする。 - 特許庁

To measure the refractive index of a test object in a short period of time and with high accuracy.例文帳に追加

被検物の屈折率を短時間で高精度に計測すること - 特許庁

The varying temperature section includes a plurality of mobile heat conduction sections, in which each contact surface with the test object can move according to the shape of test object.例文帳に追加

変温部は、被試験体の形状に応じて、被試験体との各々の接触面が可動する複数の可動式熱伝導部を含む。 - 特許庁

As a result, the wind quantity to a substrate as the test object increases, and movement of vapor between the test object and outside air can be conducted smoothly.例文帳に追加

その結果、被試験物たる基板に接する風量が増大し、被試験物と外気間における水蒸気の移動が円滑に行われる。 - 特許庁

Then, the tracer gas is introduced, and the leakage from the test object 11 is detected.例文帳に追加

その後、トレーサガスを導入し、被試験体１１の漏れを検出する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SCALING TEST OBJECT, AND MOLDING MEMBER USED THEREIN例文帳に追加

スケーリング試験体の製造方法及びそれに使用される成形部材 - 特許庁

To provide a magnetic deformation transducer for generating a torsion wave on a prescribed cross-section of a test object to receive the torsion wave advanced toward the test object.例文帳に追加

試験体の所定の断面にねじり波を発生させ、試験体に進むねじり波を受信する磁気変形トランスデューサを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFIC DETECTION OF OBJECT, DETECTION APPARATUS, AND TEST CHIP例文帳に追加

被検物質の特異的検出方法および装置、ならびに検査チップ - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING DEW CONDENSATION CONTROL MECHANISM FOR TEST OBJECT SURFACE例文帳に追加

被試験物表面の結露制御機構を備えた環境試験装置 - 特許庁

The present invention performs AC coupling by the test object and the capacitor to improve the IC tester for testing the test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象とキャパシタによりＡＣカップリングを行い、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The operators is and is not test for object identity: 例文帳に追加

演算子 is および is not は、オブジェクトのアイデンティティに対するテストを行います: - Python

This device is provided with an amplifier inputting an output from the test object, turning a phase of noise in the test signal into an opposite phase, and using an output as an output of the test object.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を入力し、試験信号のノイズを逆位相にし、出力を被試験対象の出力とするアンプを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To test by mixing at random individual instructions selected from test object instructions at random and a command string pattern constituted of pre-created test object instructions.例文帳に追加

試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする - 特許庁

A plurality of test object chips CP on a test object wafer 10 and a plurality of chips SCP on a test wafer 210 are simultaneously electrically connected through water contactors 20, 220 respectively.例文帳に追加

ウェハコンタクタ２０，２２０を介して、試験対象ウェハ１０上の複数の試験対象チップＣＰと、テストウェハ２１０上の複数のチップＳＣＰとは、それぞれ同時に電気的に結合される。 - 特許庁