「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(96ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pressure measurement device and a pressure test method capable of easily and precisely testing a fine pressure measurement device while effectively utilizing a conventional pressure tester.例文帳に追加

従来の耐圧試験機を有効に利用しながら、微小圧力測定装置を容易、且つ精確に試験することのできる圧力測定装置、及び圧力試験方法を提供することである。 - 特許庁

A testing method is employed for evaluating a permeation resistance to a permeable substance of every kind such as chloride ions or water with respect to the surface impregnation material applied to the surface of an inspection target such as reinforced concrete or the like.例文帳に追加

鉄筋コンクリート等の被検査物の表面に塗布される表面含浸材に対する塩化物イオンや水等の各種透過物に対する透過抵抗を評価する試験方法である。 - 特許庁

To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加

環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a cover for a passive sensor operation test which can remarkably reduce a work load by making a cover part be floated using helium gas, and to provide a method for testing a passive sensor operation using the cover.例文帳に追加

この発明は、ヘリウムガスを用いてカバー部を浮き上がらせるようにし、作業負荷を著しく軽減できるパッシブセンサ動作試験用カバーおよびそれを用いたパッシブセンサの動作試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.例文帳に追加

柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tape for wafer processing that has good sensor recognition properties, and also has good productivity and testing accuracy, even if an adhesive layer is thin (≤10 μm), and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

接着剤層が薄い（１０μｍ以下）場合であっても、センサ認識性が良好であり、生産性や検査精度が良好であるウエハ加工用テープ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

This easily disaggregating paper tube is constituted so that required time up to completely disaggregating becomes 60 minutes or less when performing disaggregation processing by a pulp-disaggregation testing method recorded on JIS P 8220.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｐ ８２２０に記載のパルプ−離解試験方法により離解処理を行った際の、完全に離解するまでの所要時間が６０分以下である易離解性紙管を製造する。 - 特許庁

To provide an inexpensive corrosion test method capable of reproducing a corrosion state in an actual environment, and efficiently performing a corrosion test by accelerating corrosion, and dispensing with special testing devices.例文帳に追加

実環境における腐食状態を再現でき、腐食を加速させて効率的に腐食試験を行うことができ、しかも特殊な試験装置を必要としない安価な腐食試験方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.例文帳に追加

Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.例文帳に追加

診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.例文帳に追加

ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加

データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁

To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加

高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42.例文帳に追加

燃焼器（２０）、該燃焼器（２０）に結合された圧力変換器（４４）、及びスパーク検出器（４２）を含むガスタービンエンジン（１０）内部に結合された点火器（４０）をテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

In a solid cancer testing method, subjects are determined to suffer from solid cancers in the case that α1-antitrypsin (α1-AT^52) having a molecular weight of 52KDa has been detected in their urine.例文帳に追加

本発明は、分子量５２ＫＤａのα１−アンチトリプシン（α１−ＡＴ^５２）が尿中に検出された場合に固形癌に罹患していると判定する、固形癌の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a droplet ejecting head, capable of finding out a failure which could not be found in the past early by laying the head in a state equal to the actual using state.例文帳に追加

実際と同様の使用状態にすることで従来では発見できなかった不良を早期に発見することができる液滴吐出ヘッドの試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.例文帳に追加

周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a command transmission control device for transmitting a command to a sound reproduction device at optional timing, and to provide an integrated circuit device, a sound reproduction evaluation system and a testing method of the sound reproduction device.例文帳に追加

音再生装置に対して、任意のタイミングでコマンドを送信することが可能なコマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide the acceleration testing method of a computer for specifying a part where any failure is generated by reducing the reproducing period of any latent failure such as memory leak due to memory release leakage.例文帳に追加

メモリ解放漏れによるメモリリークなど潜在的な不具合は、不具合を持ったプログラムを計算機上で長期間動作させることではじめて顕在化するため、再現試験に長期間を要する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor deterioration acceleration testing method and equipment, in which unevenness in the deterioration of an electrophotographic photoreceptor and unevenness in discharge are suppressed and uniform and sufficient charging can be given.例文帳に追加

電子写真感光体の劣化ムラ、放電ムラを抑制し、均一かつ充分な帯電を与える事が出来る電子写真用感光体劣化加速試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an integrated circuit which cannot be reverse-engineered easily by a third party, to provide a testing method for the integrated circuit, and to provide an integrated-circuit component.例文帳に追加

本発明は、第３者が容易にリバースエンジニアリングを行うことができない良好な集積回路と、この集積回路の試験方法及び、集積回路部品とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a board-mounted component and a mounting method therefor which is applied, for example, to a wireless LAN module, design and manage easier than the conventional types and simplify testing facility.例文帳に追加

本発明は、基板実装部品及び基板実装部品の実装方法に関し、例えば無線ＬＡＮモジュールに適用して、従来に比して設計、管理が容易で、かつ検査設備を簡略化できるようにする。 - 特許庁

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

To provide a temperature control device having a comparatively simple structure, and capable of executing accurately temperature adjustment of a sample, and a burn-in testing method utilizing the temperature control device.例文帳に追加

構造が比較的簡略であり、試料の温度調整を精度良く実施可能な温度制御装置、並びに、当該温度制御装置を利用したバーンイン試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a DUT board hardly affected by an electric power source/a ground bounce and hardly generating operation failure even in a high-speed operation and a low voltage in a tested LSI, and to provide a testing method using the DUT board.例文帳に追加

被試験用ＬＳＩの動作が高速化かつ低電圧化しても電源／グランドバウンスの影響を受け難く、動作不良を起こし難いＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

The monitor/method also has a control part for emitting the light signal with the second condition applied, from the testing device, when the attenuation amount determining part determines the presence of the terminal device of which the reflected light intensity is attenuated.例文帳に追加

また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.例文帳に追加

複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor memory device, which detects a minute defect in an SRAM memory cell without finely controlling a voltage or excessively increasing measuring time.例文帳に追加

電圧を細かく制御させることなく、かつ測定時間を極端に増大させることなく、ＳＲＡＭメモリセルの微小欠陥を検出可能な半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a fault existing in an electrocasting belt to increase manufacturing efficiency for a fixing belt and realize the high durability and high quality fixing belt.例文帳に追加

定着ベルトの製造効率を高めると同時に、高耐久性かつ高品質な定着ベルトを実現するために必要な、電鋳ベルトに存在する欠陥をあらかじめ検査できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for evaluating segregation resistance of fresh concrete with a slump value of 18-23 cm which can be easily conducted by using a simple apparatus or device.例文帳に追加

簡単な器具ないし装置を用いて容易に実施することのできる、スランプ値が１８〜２３ｃｍのコンクリートのフレッシュ時の材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing nuclear fuel pellets which enable accurate and efficient tests on the whole surface of them without being affected by inspectors'vision and the like.例文帳に追加

原子力燃料ペレットの全表面を検査員の視力等によって影響されることなく正確に効率良く検査することのできる原子力燃料ペレット検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.例文帳に追加

材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing lymph node metastasis in cervical cancer which can determine the presence of lymph node metastasis in cervical cancer with higher accuracy, a device for determining lymph node metastasis in cervical cancer and a computer program.例文帳に追加

子宮頸癌のリンパ節転移の有無をより高い精度で判定することができる子宮頸癌のリンパ節転移の検査方法、子宮頸癌のリンパ節転移判定装置およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.例文帳に追加

本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

To provide electrolytic copper foil for solving the problems of the warpage and twisting of a copper clad laminate after the covering of electrolytic copper foil and the problem of dimensional stability and to provide a testing method for ensuring its quality.例文帳に追加

電解銅箔を張り付けた後の銅張積層板の反り、捻れの問題、寸法安定性の問題を解決するための電解銅箔及び品質を保証するための検査方法を提供する。 - 特許庁

The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.例文帳に追加

回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁