「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(98ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.例文帳に追加

広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a flushing occurrence testing device of powder and grain and a flushing occurrence prediction method of the powder and grain capable of predicting flushing occurrence of the powder and grain more accurately in consideration of a gap size and a differential pressure.例文帳に追加

間隙の大きさおよび差圧を考慮して、より正確に粉粒体のフラッシング発生の有無予測を可能とする、粉粒体のフラッシング発生試験装置および粉粒体のフラッシング発生予測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head test device and test method capable of testing the characteristic of a magnetic head with higher precision, and of heightening the quality of the magnetic head by allowing electromagnetic waves to act on the magnetic head.例文帳に追加

磁気ヘッドに電磁波を作用させることによって、磁気ヘッドの特性をさらに精度よく試験することができ、磁気ヘッドの品質向上を図ることができる磁気ヘッドの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

In the scratch testing method, an acceleration sensor for preventing sensitivity from degrading is used for detecting variations in a load even when a signal generated in the breakdown of the thin film has a high frequency.例文帳に追加

薄膜が破壊する時に発生する信号が高い周波数を持つ場合にも感度が落ちにくい加速度センサを荷重変動の検出に使用することによって課題を解決して発明を完成するに至った。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a surface state of a measuring object suitable for evaluating the hardness and dynamical characteristic of metal, polymeric material, surface film, or the other material, for example.例文帳に追加

例えば、金属、高分子材料、表面膜、又はその他の材料の硬さや力学的特性を評価するのに好適な測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mobile communication testing device and method which can confirm normal operations of a packet data call process function, containing a wireless section of a base station wireless installation in a mobile communication system, and can estimate fault position.例文帳に追加

移動通信システムにおける基地局無線装置の、無線区間を含めたパケットデータ呼処理機能の正常動作確認ができ、更に障害位置の推測を可能にする移動通信試験装置及び方法の提案。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for testing bending strength to be used in the RCCP (Roller Compacted Concrete) compound design or in the quality control without using special equipment and without needing huge labors.例文帳に追加

ＲＣＣＰにおける配合設計や品質管理などに用いられる曲げ強度試験用供試体を、特別な機材を使用することなく、かつ多大な労力を必要とせずに製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for attaching an electronic component which can prevent an occurrence of a defective board by testing whether or not an area for attaching a large-sized electronic component is normal before the large-sized electronic component is attached thereto.例文帳に追加

大型電子部品を装着する前に大型電子部品を装着する領域が正常であるか否かを検査することにより、不良基板の発生を防止できる電子部品の装着方法を提供する。 - 特許庁

When a slump testing method regulated by JIS(Japanese Industrial Standard) A1173 is applied to the material 25 to be cast in the water, slump can indicate a value of 0.5-2.0 cm.例文帳に追加

然も、この材料は、水中に投入するときの該材料２５に対しＪＩＳ（日本工業規格）Ａ１１７３で規定されているスランプ試験方法を実施した場合のスランプが、０．５ｃｍ以上２．０ｃｍ以下の値を示す。 - 特許庁

The method of simulating the surface acoustic wave (SAW) on a structure that is modeled on a computer or other processor-based device enables the testing of actual SAW devices or to develop improved SAW devices.例文帳に追加

コンピュータ又はその他のプロセッサベースのデバイス上でモデル化された構造体上の表面弾性波（SAW）をシミュレートする方法は、実際のSAWデバイスの試験を可能にするし、或いは改善されたSAWデバイスの開発を可能にする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a rotary balance of a crankshaft which facilitates an automation of a measurement and which can precisely measure the rotary balance of the crankshaft even when an error is included in a phase of a crank pin.例文帳に追加

測定の自動化が容易であり、かつクランクピンの位相に誤差が含まれている場合であってもクランク軸の回転バランスを正確に測定可能なクランクバランス試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.例文帳に追加

搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.例文帳に追加

セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

The piercing member is fitted to hold the test sensor on the inlet area by a method to take out the package, and the test sensor is held on the inlet area during a time testing the blood sample.例文帳に追加

穿刺部材は、パッケージを取り出すような方法で入口領域に試験センサを保持するように適合され、かつ血液試料を試験する間、入口領域に試験センサを保持するように適合されている。 - 特許庁

To provide a monitor and a method for monitoring an optical path, which specify the optical path where a trouble is generated, even when splitters and terminal devices are multi-stage connected by the optical path in a testing device.例文帳に追加

試験装置に、スプリッタ、終端装置が光線路により多段接続されている場合であっても、障害が発生した光線路を特定することができる光線路監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tire durability testing method capable of effectively and precisely reproducing and evaluating the internal failure tend to occur in the pneumatic tire mounted on the vehicle running continuously in a comparatively hot area.例文帳に追加

比較的暑い地域で連続走行する車両に装着される空気入りタイヤに発生しがちな内部故障を効率的に精度良く再現評価することが可能なタイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a handheld analyzer for testing a sample for a medically significant component, and a method for causing the handheld analyzer to operate in such a way as to reduce the possibility of malfunctions or operating errors.例文帳に追加

試料の医療上有意な成分を検査するための手持ち式分析装置、およびそのような手持ち式分析装置を、故障または誤作動の可能性が低くなるように動作させる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a portable twisting tester for simply measuring the elastic constant and twisting strength of an existing structure and an elastic constant/twisting strength testing method, using a twist to measure the elastic constant and destruction constant of the existing structure on the spot, in real time.例文帳に追加

本発明は、既存構造物の弾性定数とねじり強度とを簡易に測定する携帯型ねじり試験器およびねじりを利用した弾性定数とねじり強度の試験方法に関する発明である。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting a printed board that are capable of easily and inexpensively performing electrical testing of a printed board the position of which should be determined in such a state that a plurality of inspection probes are made close to each other.例文帳に追加

複数の検査用プローブを接近させた状態で位置決めすることが必要なプリント基板の電気検査を簡単、かつ低コストで行えるプリント基板の検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple and rapid wipe-off property testing method, capable of evaluating the degree and distribution state of a stain remaining, after the stain has been wiped off by a sample and reduced in error, and a wipe-off property tester therefor.例文帳に追加

試料で汚れを拭き取ったあとに残留する汚れの程度と分布状態が評価可能な、簡便、迅速かつ誤差が小さい拭き取り試験方法とそのための拭き取り性試験装置を提供する。 - 特許庁

The water absorption speed testing method: including putting 0.5 g water absorbing resin into a 100 ml container at 20°C followed by putting 50 g tap water thereinto at one time, and measuring a time (s) until the whole gels by 10 seconds.例文帳に追加

吸水速度試験法：２０℃において、吸水性樹脂０．５ｇを１００ｍｌ容器に入れ、その中に水道水５０ｇを一度に入れ、全体がゲル化するまでの時間（秒）を１０秒単位で測定する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.例文帳に追加

本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

The method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.例文帳に追加

本発明の方法は、制御弁（２８）位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁（２８）の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.例文帳に追加

電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The recognition belt is manufactured by using a resin film having JIS A hardness of 60 to 120, 100% attraction stress of 6 to 12 MPa and elongation of 500 to 700% in a testing method of JIS K 7311.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７３１１の試験方法において、６０〜１２０ＪＩＳ Ａの硬さ、６〜１２ＭＰａの１００％引力応力、および５００〜７００％の伸びを有する樹脂フィルムを用いて、認識ベルトを製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a forming workability evaluation system and its method capable of eliminating variation due to difference of experience of a person and estimating direct scale-up from a small-sized extrusion testing machine to a production machine.例文帳に追加

人の経験の違いによるバラツキを無くすことができると共に、小型の押出試験機からも生産機へ直接スケールアップ予測を行うことができる成形加工性評価システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

This method makes it possible to determine whether to assemble a semiconductor device using the semiconductor element 11 based on the testing result of the electric characteristics of the distorted semiconductor element 11, and to reduce production cost of the semiconductor device.例文帳に追加

歪曲した半導体素子１１の電気特性の試験結果に基づいて、当該半導体素子１１を半導体装置に組み立てるか否かを判断できるようになり、半導体装置の製造コストが低減する。 - 特許庁

The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing quickly and easily how an antithrombogenetic medicine inhibits the promotion of blood coagulation, when a platelet activity activator serves as a cause of the promotion of the blood coagulation.例文帳に追加

血小板活性賦活剤が血液凝固促進の原因になっている場合、抗血栓薬が、どのように血液凝固の促進を阻害するのかを迅速かつ簡易に試験する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁

A method of testing a blood sample from an individual for diagnosing chronic renal failure in the individual comprises determining the presence of BMP-1 isoforms BMP-1-3 and BMP-1-5 in the sample.例文帳に追加

個体の慢性腎不全を診断するために個体からの血液試料を試験する方法であって：ＢＭＰ−１イソ型であるＢＭＰ−１−３、およびＢＭＰ−１−５の試料中の存在を確定する。 - 特許庁

A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加

前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

The method is carried out by isolating a chromosomal DNA containing a human DGCR8 gene or the human DGCR8 cDNA and carrying out Southern hybridization or a quantitative PCR (polymerase chain reaction) of the chromosomal DNA extracted from the object of testing.例文帳に追加

ヒトＤＧＣＲ８遺伝子を含む染色体ＤＮＡまたはヒトＤＧＣＲ８ｃＤＮＡを単離し、検査対象から抽出した染色体ＤＮＡに対し、サザン・ハイブリダイゼーションや定量的ＰＣＲを行う。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.例文帳に追加

チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for generating a test signal for testing the accuracy of the CINR measurement of a subscriber station through a base station emulator with which a trigger line for synchronization and a combiner are not necessary and the costs of the establishment of a test environment can be reduced.例文帳に追加

同期維持のためのトリガーラインや結合器が不要であり、テスト環境の構築費用を減らせる基地局エミュレータを利用した端末のＣＩＮＲ測定の精度テスト信号生成方法に関する。 - 特許庁