「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(102ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing and adjusting method for a microwave semiconductor device which shortens the time for electric characteristic measurement and adjustment by eliminating a screw-fixing process and matches characteristics in the adjustment with characteristics after sealing by ensuring electromagnetic shielding.例文帳に追加

ネジ止め工程を無くして、電気特性測定及び調整の時間を短縮させるとともに、電磁気シールドを確実にして、調整時の特性と封止後の特性を一致させることを可能にするマイクロ波半導体装置の試験調整方法を得る。 - 特許庁

To obtain a device with which wear test of an artificial joint can be performed in operation conditions specific to each portion of a human body using an NC lathe or a machining center; and to propose a method for testing wear of the artificial joint using the device.例文帳に追加

ＮＣ旋盤やマシニングセンタを用いて人体の各部位に特有な動作条件で人工関節の摩耗試験を行うことができる装置を得ること、及び当該装置を用いて人工関節の摩耗試験を行う方法を提案する。 - 特許庁

The device and the method for testing are constituted so that the electromagnetic waves L are made to collectively irradiate a plurality of pad parts (code 121(a) or the like) formed in a region ER on the circuit board 10 and continuity is tested by selecting wiring to be tested by changeovers of a multiplexer 42.例文帳に追加

回路基板１０上の領域ＥＲに形成された複数のパッド部（符号１２１ａ等）に一括して電磁波Ｌを照射し、マルチプレクサ４２の切り替えで被検査配線を選択して導通検査を行うように構成されている。 - 特許庁

To provide a method of checking/testing for rapidly checking whether filler materials of various components have appropriate gas permeability based on standard indices by establishing the indices for standardly evaluating the gas permeability of filler materials.例文帳に追加

中詰め材の透気性を標準的に評価する指標を確立し、各種成分の中詰め材に対して、適正な透気性を有するか否かを標準的な指標を基にして迅速に確認することができる確認試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a jitter transfer characteristic which can shorten a time for determining whether or not a measuring object 100 conforms to a predetermined jitter transfer characteristic mask.例文帳に追加

本発明は、測定対象１００が予め定められたジッタ伝達特性マスクに適合しているか否かの判定時間を短縮することのできるジッタ伝達特性試験装置及びジッタ伝達特性試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing leakage, capable of eliminating temperature induced fluctuations for pressure changes of fluid in piping or a tank in response to situational changes with respect to a pressure type of leakage test.例文帳に追加

圧力式の漏洩検査において、配管またはタンク内の流体の圧力変化における温度起因の変動分を、状況の変化に応じて高精度で確実に除去することが可能な漏洩検査方法および漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁

There is provided a reinforced polyamide resin composition prepared by compounding an alloy resin containing a polyamide resin and/or a polyamide rein and a polyolefin resin with 5-50 wt.% talc having acid solubles content of at most 1.5 wt.% as measured by a testing method of the Japanese Pharmacopoeia.例文帳に追加

ポリアミド樹脂または／およびポリアミド樹脂とポリオレフィン系樹脂とのアロイ樹脂に、日本薬局方試験法による酸化溶物が１．５重量％以下のタルクを５〜５０重量％配合することを特徴とする強化ポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

To provide a semiconductor device equipped with a stacked capacitor whose capacitance insulating film contains an aluminum oxide and capable of suppressing the increase of a leak current by suppressing the deterioration of a semiconductor device upon BT testing, and to provide a manufacturing method of the semiconductor device.例文帳に追加

容量絶縁膜が酸化アルミニウムを含むスタック型のキャパシタを備える半導体装置であって、BT試験の際の半導体装置の劣化を抑制し、リーク電流の増大を抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for evaluating whether adjustment factors used in a process of testing or monitoring an operation system need to be updated or varied and varying and updating those adjustment factors when so.例文帳に追加

運転システムを試験又は監視するプロセスで使用される調整因子を更新又は変更する必要があるか否かを評価し、且つ必要又は希望がある場合にはそれらの調整因子を変更し、更新する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products.例文帳に追加

ウェハー上のチップを１個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。 - 特許庁

To provide a stress measuring and testing method, capable of easily extracting a sample to be measured from dies without the adhesion of part of the sample to be measured to the surface of a tester, such as a die or a rotating shaft after the completion of stress measurement and test.例文帳に追加

応力測定試験終了後の被測定試料の一部がダイあるいは回転軸など試験機の表面に付着することなく、被測定試料をダイから簡単に取り出すことができる応力測定試験方法を提供する。 - 特許庁

The method for testing the disease caused by Streptococcus pneumoniae of the patient includes detecting ribosomal protein L7/L12 of Streptococcus pneumoniae in the urine or serum of the patient using the antibodies against ribosomal protein L7/L12 of Streptococcus pneumoniae.例文帳に追加

肺炎球菌リボゾーム蛋白質Ｌ７／Ｌ１２に対する抗体を用いて、患者の尿又は血清中の肺炎球菌リボゾーム蛋白質Ｌ７／Ｌ１２を検出することを含む、該患者の肺炎球菌に起因する病態を検査する方法。 - 特許庁

To provide an inspection device of motor thrust and its inspection method capable of easily reproducing an operation conditions simulating a complicated load pattern without change of constitution of dummy for testing and inspecting by dynamically changing the complicated load pattern.例文帳に追加

試験用ダミーの構成変更がいらず、複雑な負荷パターンをシミュレートした運転条件を容易に再現でき、また複雑な負荷パターンを動的に変更して検査が行えるモータ推力の検査装置およびその検査方法を提供すること - 特許庁

This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.例文帳に追加

方法は、回路の第１時間フレームパターンに対する回路の第２時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁

Different processing speeds of the digital logical circuit 202 can be tested by this method, and can be tested without making a special automatic testing device such as supporting the whole different possible voltage levels in response to the supporting different data rates.例文帳に追加

この方法で、ディジタル論理回路の異なる処理速度をテストすることができ、サポートされる異なるデータ・レートに対応してすべての異なる可能な電圧レベルをサポートするような特殊な自動テスト装置を作ることなしにテストすることができる。 - 特許庁

To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁

The method for preparing and testing specimens for high-throughput screening assays for identifying bonding between a chemical target and a library compound and the use of a calorimeter device for measuring reaction enthalpy on the bonding are disclosed.例文帳に追加

薬剤標的とライブラリ化合物の間の結合の同定のための、ハイスループットスクリーニングアッセイ用の標本調製および検査のための方法、結合に関する反応エンタルピーを測定する熱量計装置を用いた使用について開示される。 - 特許庁

The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.例文帳に追加

様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁

To allow decreasing the number of pads in a semiconductor device along with its manufacturing method, which comprises a first circuit connected to a connection pad and a second circuit which requires testing.例文帳に追加

接続パッドに接続された第１の回路部とテストが必要とされた第２の回路部とを有する半導体装置及びその製造方法に関し、パッド数を削減できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an operation control method and a device which is provided with a semiconductor switching means for low-voltage load, capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method by which every worker can produce a test piece having uniform quality without influence of his habitude and skillness, and bulk characteristics of material itself can be measured universally and objectively while suppressing increases of testing labor, time and cost.例文帳に追加

作業者の癖や熟練度に左右されず、誰でも容易に均一な品質の試験片を作製することができ、試験に必要な労力、試験時間、コストの増加を抑え、材料自体のバルク特性を示す普遍的で客観的な測定を行う。 - 特許庁

This rice ball packaging film is composed of a polylactic acid based polymer and has a storage elastic modulus E' at 120°C by the testing method relating to the temperature dependence of viscoelasticity on the basis of JIS K7198 of ≥100 MPa, and a coefficient of dynamic friction of 0.15-0.5.例文帳に追加

ポリ乳酸系重合体からなり、ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’は、１００ＭＰａ以上であり、動摩擦係数が０．１５〜０．５とする。 - 特許庁

In this method, every testing emitted light separately containing different energy density for measuring or predefined radiation is simultaneously-irradiated on some sample volumes 1211-1233 in the optical material, in order to determine radiation damage resistance of the optical material, where any radiation used for all sample volumes arises from a common radiation source 13.例文帳に追加

光学材料の耐照射損傷性を決定するために、光学材料内の幾つかのサンプル体積１２１１〜１２３３に、異なった測定または所定放射エネルギ密度を有する試験放射光線を同時に照射する。 - 特許庁

To provide a method and a device which enables testing of each semiconductor LSI chip, as it is, in a state of a lamination, e.g. system verification as to presence or absence of an internal fault of the chip, a connection fault between chips, etc., with respect to a laminated LSI chip formed by laminating a plurality of semiconductor LSI chips.例文帳に追加

半導体LSIチップを複数積層した積層LSIチップに対して、積層状態のまま各チップのテスト、例えばチップ内部不良やチップ間接続不良の有無などのシステム検査を行うことのできる方法および装置を提供する。 - 特許庁

To accurately adjust the pressure of a proportional solenoid control valve in a short time independently of existence of an individual difference of the proportional solenoid control valve when testing a pressure control of the proportional solenoid control valve and to provide a device for the same method.例文帳に追加

比例電磁制御弁の圧力調整試験において、比例電磁制御弁の個体差の有無に関係なく短時間でかつ精度の高い比例電磁制御弁の圧力調整を行うこと及び、その装置の提供をすること。 - 特許庁

To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method.例文帳に追加

ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.例文帳に追加

部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.例文帳に追加

また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁

To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.例文帳に追加

サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical load testing method for an existing pile performed for confirming support performance of a pile whether or not the existing pile used for an existing building can be reused as the pile for a new building when reconstructing the building.例文帳に追加

既存建物の建て替えに際し、既存建物の柱の直下に位置する既存杭を、新築建物の杭として再利用できるかどうか、同杭の支持性能を確認するために実施する既存杭の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.例文帳に追加

トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁

To provide an EL panel and a pixel current testing method that realize a contactless test of a pixel current that a current driving transistor of a pixel circuit constituting the EL panel outputs without requiring any special inspecting device.例文帳に追加

ＥＬパネルを構成する画素回路において電流駆動トランジスタが出力する画素電流のテストを非接触で特別な検査装置を要せず実現可能とするＥＬパネル及び画素電流テスト方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a tire wear test method and a tire wear testing device capable of appropriately promoting a tire wear test of an inspected tire by preventing the rubber powder shaved from the inspected tire from adhering to the surface of the inspected tire in the tire wear test.例文帳に追加

タイヤの摩耗試験において、被験タイヤから削り取られたゴム粉が被験タイヤの表面に付着することを防止して、被験タイヤの摩耗試験を適正に促進することができるタイヤ摩耗試験方法及びタイヤ摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

To realize a testing method capable of shortening a period required from confirming the presence of a flaw up to specifying the presence position of the flaw, preventing any defective from being produced, shortening a period for which a production line is suspended, and improving productive efficiency.例文帳に追加

傷の存在の確認から傷の存在位置の特定までに要する時間を短縮し、不良品を造り出すのを防止すべく、製造ラインを停止させている時間を短くして、生産効率の向上を図れる検査方法を実現する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device and its test method, and electro-optical equipment, for easily testing an auxiliary wiring line at a low cost, and displaying a clear image for a long period of time without causing faults such as lighting unevenness.例文帳に追加

補助配線の検査を簡便かつ低コストにて行うことができ、点灯ムラ等の不具合が生じる虞が無く、鮮明な画像を長時間表示することができる電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for a band torsional endurance test capable of reproducing a load generated when a band is attached to one part of a body, and capable of testing a state generated in the band.例文帳に追加

バンドを体の一部に装着した際に起こる負荷を可能な限り再現することができ、バンドに如何なる状況が生じ得るかを試験することのできるバンド捻り耐久試験用装置およびバンド捻り耐久試験方法の提供。 - 特許庁

This nondestructive testing method for an underwater concrete structure uses the rebound hammer built in a pressure-resisting vessel preventing intrusion of water and an influence of water pressure, and has performance having all the functions of the rebound hammer used as same as those on land.例文帳に追加

水の侵入や水圧の影響を防止し、リバウンドハンマーの機能を全て陸上と同様に使用できる性能を備える耐圧性の容器に内臓されたリバウンドハンマーを用いた水中コンクリート構造物非破壊試験方法である。 - 特許庁

In this method for testing a measured value, dispersion is obtained from plural reference measured values obtained preliminarily by measuring plural wafers prepared by changing a processing condition, and a range in which measured values can be obtained is predicted based on the obtained dispersion (S21).例文帳に追加

本測定値検定方法では、まず、処理条件を変えて作製した複数のウエハを測定することによって予め得ておいた複数の基準測定値から分散を求め、求めた分散に基づいて測定値がとりうる範囲を予想する（Ｓ２１）。 - 特許庁

* As for Priority 2, if the animal test was performed by the testing method shown below, the ratio of sensitized animals is clear, and the substance is concluded as positive in skin sensitization, then the substance shall be classified as Category 1.例文帳に追加

※ Priority2 については、下記に示される試験方法で実施されており、かつ感作された動物の比率が明確で、皮膚感作性が陽性であると結論づけている場合は、区分 1 とする。それ以外の場合は、試験を実施していても、「分類できない」とする。 - 経済産業省

To provide a gasket for a hard disk apparatus, a manufacturing method of the gasket for the hard disk apparatus and a testing method of the gasket for the hard disk apparatus capable of easily checking an application state of an adhesive after application of another material even when the another material is continuously coated on the adhesive after application of the adhesive.例文帳に追加

接着剤の塗布後、その上に連続的に他の材料を塗布形成するような場合にも、その後に接着剤の塗布状態を容易に確認することが可能なハードディスク装置用ガスケット、ハードディスク装置用ガスケットの製造方法及びハードディスク装置用ガスケットの検査方法を提供する。 - 特許庁

In the method of testing the semiconductor device to determine an interface state density of a MIS transistor formed on a semiconductor substrate 1 by using the charge pumping method, first, a value of a first current made to flow to the semiconductor substrate by applying a first measurement signal composed of continuous pulse waves to a gate of the MIS transistor is measured.例文帳に追加

チャージポンピング法を用いて、半導体基板上に形成されたＭＩＳ型トランジスタの界面準位密度を求める半導体装置の評価方法において、まず、パルス波が連続してなる第１の測定信号をＭＩＳ型トランジスタのゲートに印加して前記半導体基板に流れる第１の電流値を測定する。 - 特許庁

The method for avoiding inhibition of nucleic acid amplification reaction with the bile component by using an enriched culture solution containing a cell body obtained by a culture process as a testing sample and removing a bile component in the culture solution by centrifugal concentration and alkali treatment is provided in a method for amplifying a nucleic acid derived from a cell body.例文帳に追加

菌体由来の核酸を増幅する方法において、培養法によって得られた菌体を含む増菌培養液を被検試料とし、遠心濃縮およびアルカリ処理により前記培養液中の胆汁成分を除去することによって、胆汁成分による核酸の増幅反応阻害を回避する方法。 - 特許庁

To provide an elution testing method for measuring an elution amount of a component eluted from a steel making slag with a reduced elution time, and for obtaining a measurement result of the elusion amount sufficient to primary decision for a use of a slag product with respect to correlation with an elution test result by an official method and to reproducibility of the measurement result.例文帳に追加

製鋼スラグから溶出する成分の溶出量を測定する溶出試験方法において、溶出時間を短縮し、かつ、公定法による溶出試験結果との相関及び測定結果の再現性がスラグ製品の用途の一次決定に利用するのに十分な程度である溶出量の測定結果を得る。 - 特許庁