「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(103ページ目) - Weblio英語例文検索

LIQUID PRESSURE CONTROL METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE BY CAVITATION JET FLOW, MECHANISM FOR CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK, JET PRESSURE CONTROL MECHANISM, MECHANISM FOR AUTOMATICALLY CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK AND/OR JET PRESSURE, AND MECHANISM FOR SUPPLYING AND EXHAUSTING LIQUID INTO LIQUID TANK IN SHORT TIME例文帳に追加

キャビテーション噴流による材料試験装置の液体圧力制御方法、液体槽内圧力制御機構、噴射圧力制御機構、液体槽内圧力および／または噴射圧力の自動制御機構及び液体槽内への短時間液体給排機構 - 特許庁

The method for testing the wire bonded connection comprises the steps of forming the bonding wire of a bonding head having a bonding tool and a wire clamp relating to the bonding tool by the operation of a pressure and an ultrasonic wave and/or a heat, connecting the wire to the surface of the board.例文帳に追加

圧力及び超音波及び／又は熱の作用の下で、ボンディングツールを具備するボンディングヘッドとボンディングツールと関連するワイヤクランプとによって形成されたボンディングワイヤと基板表面との間のワイヤボンド接続をテストする技術が提供される。 - 特許庁

To provide a production facility for hot-rolled steel plate of a high strength steel having little unevenness of mechanical testing characteristics in the length direction and the width direction, e.g. even in the case of being such comparatively thin steel plate thickness of ≤30 mm, and its production method.例文帳に追加

例えば鋼板厚さが３０ｍｍ以下のような比較的板厚が薄い場合であっても、長さ方向及び幅方向に機械的試験特性にばらつきが少ない高強度鋼の熱間圧延鋼板の製造設備、及び製造方法を提供する。 - 特許庁

In the resin magnet configured by binding and integrating magnetic powder with a coupling resin, its bending strength in a testing method of plastic bending characteristics (JIS K7171) is ≥75MPa, and its rupture distortion in bending has a value of ≥1.0%.例文帳に追加

磁性粉末を結合樹脂によって結合して一体化した樹脂磁石において、プラスチック−曲げ特性の試験方法（ＪＩＳ Ｋ７１７１）による曲げ強さ７５ＭＰａ以上、曲げ破壊ひずみが１．０％以上を有することを特徴とする樹脂磁石。 - 特許庁

A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.例文帳に追加

試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁

To provide a flat display device and a method for testing the flat display device which are applied, for example, to a liquid crystal display device with a driving circuit integrally formed on an insulating substrate, so as to simply and certainly detect a defect related to a potential failure.例文帳に追加

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a deformed disk for testing which is obtained by deforming a disk, like a DVD disk, formed by bonding two substrates to each other in order to prevent deformation to a desired shape and a method of deforming the disk which is capable of easily and surely yielding such deformed disk.例文帳に追加

ＤＶＤディスクのように変形を防ぐため２枚の基板を張り合わせて形成したディスクを所望の形状に変形させたテスト用の変形ディスク及びそのような変形ディスクを簡単、確実に得ることの出来るディスク変形方法を提供すること。 - 特許庁

In the method for testing the drug sensibility of the tubercle bacillus, a specimen is cultured in a culture medium containing a tuberculostat and the obtained cultured medium is subjected to immunoassay to detect the tubercle bacillus strain specific secretory protein in the cultured medium as a tubercle bacillus marker.例文帳に追加

抗結核薬を含有する培地中で検体を培養し、得られた培養物を免疫学的測定に供することによって該培養物中の結核菌群特異的分泌タンパク質を結核菌マーカーとして検出する、結核菌の薬剤感受性検査法。 - 特許庁

To provide a testing tool having a hemocyte separation part, and capable of separating easily a plasma component by only dropping the whole blood specimen to a blood dropping part in a medical field, as to a specified component in blood, to conduct measurement quickly, easily, inexpensively and precisely, and a measuring method.例文帳に追加

血球分離可能部を有し、血液中の特定成分について、診療の現場で全血検体を血液滴下部に滴下するだけで容易に血漿成分を分離し、迅速、簡便、安価に精度良く測定ができる試験用具、測定方法を提供する。 - 特許庁

This site work managing method performs test measurement and construction management by carrying an automobile mounted with the testing apparatus for measuring properties and an environmental condition of various building materials or civil engineering materials and its display apparatus in the construction site or the civil engineering site.例文帳に追加

本発明の現場施工管理方法は、各種建築材料又は土木材料の性状、環境条件を計測する試験機器及びその表示機器を搭載した自動車を建築現場又は土木現場に搬入し、試験測定及び施工管理を行う。 - 特許庁

In the adhesive property testing method for evaluating adhesive properties by adding force to the adherend and the material to be tested adhered thereto, the primer is applied to the surface to be adhered of the adherend in coincidence with the adhesive surface of the adherend with the material to be tested.例文帳に追加

被着体とこれに接着した被試験材とに力を加えて接着性を評価する接着性試験方法において、被着体と被試験材との接着面に一致させて被着体の被着面にプライマーを塗布することを特徴とする方法とする。 - 特許庁

To provide an adhesive property testing method which enables the adhesive properties in the same state as in a state where an object, obtained by adhering a sealing material or the like to an adherend such as a building member coated with a primer or the like, is actually used to be simply and properly evaluated.例文帳に追加

プライマーを塗布した建築用部材等の被着体にシーリング材等を接着したものが実際に使用される状況と同様の状況での接着性を、簡易かつ適切に評価することのできる接着性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation performance testing device of a radiator which is used for cooling an engine of, for example, a vehicle and can safely and promptly collects cooling water of the radiator, and a method for collecting the radiator cooling water.例文帳に追加

車両等のエンジン冷却用に用いられるラジエータの放熱性能試験装置に関し、安全で迅速にラジエータの冷却水の回収が行えるラジエータの放熱性能試験装置及びラジエータ冷却水の回収方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a maintenance information providing system, a device and a method therefor capable of reducing both the user side cost and maker side cost required for maintenance by enabling to cope, on the user side, with a deficiency generated in semiconductor integrated circuit testing device.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置で生する不具合をユーザ側で対処可能とすることにより、メンテナンスに要するユーザ側のコスト及びメーカ側のコストの双方を低減することができるメンテナンス情報提供システム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.例文帳に追加

システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁

In the method of identifying the transparent object or testing the authenticity of the transparent object utilizing an absorption spectrum, the object to be identified is formed of material containing at least one, preferably at least two light absorbing substances (coloring agents).例文帳に追加

吸収スペクトルを利用して透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法において、同定される物体は、少なくとも一つのそして好ましくは少なくとも二つの光吸収物質（着色剤）を含有する材料から成る。 - 特許庁

To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts.例文帳に追加

本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し，サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁

To provide a serial communication apparatus test device for specifying which circuit out of a plurality of circuits in a serial communication card for performing transmitting/receiving processing of a serial communication apparatus generates a trouble and to provide a method for testing the serial communication apparatus.例文帳に追加

シリアル通信装置の送受信処理を行なうシリアル通信カードにおいて、そのシリアル通信カード上の複数の回路のうちいずれの回路に不具合があるかの特定する、シリアル通信装置試験装置及びシリアル通信装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.例文帳に追加

試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing of rubber, capable of reproducing the behavior of rubber in actual abrasion with higher precision, thereby allowing the measured degree of abrasion and abrasion form of the rubber to be more precisely matched with actual abrasion results.例文帳に追加

実際の摩耗時におけるゴムの挙動をより高精度に再現することができ、これにより、測定されるゴム摩耗度および摩耗形態を、実際の摩耗結果に、より精度良く対応させることが可能なゴム試験機およびゴム試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for measuring and testing a transformation plasticity coefficient and a method for identifying a transformation plasticity coefficient, which easily detect a deformation quantity of a test piece in a temperature change associated with phase transformation, and can identify a compressed transformation plasticity coefficient based on the deformation quantity.例文帳に追加

相変態をともなう温度変化中の試験片の変形量を容易に検出し、それに基づいて圧縮の変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数測定試験装置および変態塑性係数同定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method of a semiconductor integrated circuit capable of testing whether a through via formed in a single chip on a wafer is defective, and whether a through via formed in a semiconductor integrated circuit packaged is defective.例文帳に追加

ウェハ上の単一チップに形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができ、またパッケージングされた半導体集積回路に形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.例文帳に追加

加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.例文帳に追加

コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.例文帳に追加

プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a dark fiber supervisory testing method and apparatus capable of preventing disabled optical transmission utilizing a dark fiber in advance due to deterioration in the dark fiber by properly supervising the optical transmission characteristic of the dark fiber and informing a user of the dark fiber about it.例文帳に追加

ダークファイバの光伝送特性を適確に監視して、ダークファイバの利用者に通知することによりダークファイバを利用した光伝送がダークファイバの劣化により不可能になるような事態を未然に防止し得るダークファイバ監視試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

A processing crack is intentionally applied onto the coat membrane of the spectacle lens by using at least one method among following methods (1) to (3), and the spectacle lens is inputted into an acceleration testing machine for weather resistance or the like as long as an optional period, and then the coat membrane adhesive performance of the spectacle lens is evaluated.例文帳に追加

下記（１）から（３）の少なくとも一つの方法を用いて眼鏡レンズのコート膜上に意図的に加工クラックを施し、該眼鏡レンズを耐候性等の加速試験機へ任意の期間投入した後、該眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus capable of accurately testing the capacity of an viscoelastic object for feeding or frictionally separating a sheet for a short time and excellent in reproducibility.例文帳に追加

本発明は、シートを搬送或いは摩擦分離するための粘弾性体の性能試験を短時間で且つ正確に行うことが出来、再現性に優れた粘弾性体の試験方法及び粘弾性体の試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a packaging method of an electronic component and a board module, by which lifting between insulating resin and the electronic component or a substrate is made less likely to be generated, even in reflow process or heat cycle testing process, short circuiting or erosion can be prevented, and reliability can be improved.例文帳に追加

リフロー工程やヒートサイクル試験工程においても絶縁樹脂と電子部品又は基板との間で剥離が生じにくく、短絡又は腐食が防止でき、信頼性を高めることができる電子部品実装方法及び基板モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.例文帳に追加

テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing system which effectively tests a semiconductor integrated circuit by applying different test patterns to objects under test arranged in parallel without inviting large increase in cost of the system and a method.例文帳に追加

大幅な装置のコスト上昇を招かずに、並列に設けられた被試験対象に対して異なる試験パターンを印加することができ、効率的に半導体集積回路の試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This method for evaluating or screening the sensitizing substance in vitro comprises incubating a MIP (macrophage derived inflammation protein)-1-expressing cell together with a testing specimen estimated to contain the sensitizing substance and then detecting the MIP-1 released from the cell.例文帳に追加

本発明は、MIP-1を発現する細胞と、感作性物質を含有すると予想される被験試料とをインキュベートし、該細胞から放出されたMIP-1分子を検出することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

In the method, the change in the characteristic impedance of an incoming cable to which the NIU is connected is detected by testing a reflection signal that exists when a signal sent to a head end is not connected to a coaxial cable that is properly connected to the link.例文帳に追加

本発明は、ヘッドエンドに送信されている信号が、適正に接続された同軸ケーブルに接続されていないときに存在する反射信号をテストすることによって、ＮＩＵが接続されている来入ケーブルの変化を検出することにより、行う。 - 特許庁

To provide a method and a system for analyzing failures and a program for analyzing failures to systematically fix a quantity of the degree of suspicion using a doubtful failure list detected by a light-emitting analysis and OBIRCH analysis and a suspected failure list narrowed down by testing.例文帳に追加

発光解析やOBIRCH解析で検出した被擬故障リストや、テスティングによって絞り込んだ被擬故障リストを用いて、その疑わしさの度合いを体系的に定量化する不良解析方法及びそのシステム並びにその不良解析プログラムを提供することにある。 - 特許庁

To provide an adaptor for pressure-resistant expansion test of a compact high- pressure gas container and a pressure-resistant expansion test method for automating a testing device by achieving continuous inspection without any restrictions to the outer diameter and height of the high-pressure gas container.例文帳に追加

高圧ガス容器の外径と高さに制約条件が付加されずに連続検査を可能とし、試験装置の自動化をはかることができる小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.例文帳に追加

より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁

The invention relates to: a method for sterilizing the envelope made of film for holding articles, foods, cosmetics, medical implants, medical plasters, medical auxiliaries, microbiological tools or a pharmaceutical active substance formulation; a method for testing the leaktightness of the envelope made of film sterilized by electron radiation or gamma radiation; and the envelope made of film for use in the methods.例文帳に追加

物品、食品、化粧品、医療移植片、医療用石膏、医療用補助器具、微生物学的道具又は医薬活性物質製剤を保持するためのフィルム容器を滅菌する方法、電子放射線或いはガンマ放射線によって滅菌されたフィルム容器の耐漏えい性を試験する方法、及びこれらの方法に用いられるフィルム容器を用いる。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance-type input device, a method of testing the electrostatic capacitance-type input device capable of reliably detecting whether or not a short circuit is formed in the electrodes used for detecting an input position without using a large-scale test device, and a driving device for an electrostatic-type input device capable of implementing such a test method.例文帳に追加

大掛かりな検査装置を用いなくても、入力位置検出用の電極が断線しているか否かを確実に検出することのできる静電容量型入力装置、該静電容量型入力装置の検査方法、およびかかる検査方法を実現可能な静電容量型入力装置用駆動装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加

気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for accurately testing the ejection state of a recording processing liquid in an ink-jet recording apparatus for continuously ejecting an ink and colorless transparent recording processing liquid, and mixing them on a recording medium for fixing the ink on the recording medium, capable of improving the water resistance of the ink and capable of preventing blurring, and an ejection test film used in the method.例文帳に追加

インクと無色透明な記録処理液とを連続して吐出し、記録媒体上でこれらを混合してインクを記録媒体に定着させ、該インクの耐水性を向上し、にじみを防止するインクジェット記録装置の、該記録処理液の吐出状況を正確に検査する方法と該方法に用いる吐出検査フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate transfer device and its method with which the falling of a substrate can be prevented for the substrate transfer device and its method to vacuum chuck substrates such as a glass plate, a semiconductor wafer, etc., and cause them to move, in steps for manufacturing, testing, or measuring a semiconductor device or a liquid-crystal indication device, etc.例文帳に追加

本発明は、半導体装置や液晶表示装置等を製造し、検査し、或いは測定等する工程において、ガラスプレートや半導体ウェハ等の基板を真空吸着して移動させる基板搬送装置および方法に関し、基板の落下を防止することのできる基板搬送装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.例文帳に追加

さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁

One embodiment provides a method of testing humidity, comprising: determining a property of a device which encloses a plurality of interferometric modulators; and determining a relative humidity value or a degree of the relative humidity inside the device based at least in part upon the determined property.例文帳に追加

一実施形態は、複数のインターフェロメトリック変調器を取り囲むデバイスの特性を測定することと、上記測定した特性に少なくとも部分的に基づいて、このデバイスの内部の相対湿度の値又は相対湿度の程度を判断することとを備える、湿度を検査する方法を提供する。 - 特許庁