「testing process」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The following conclusions were established from the process emissions survey and bench-scale testing: 1）..., 2）, .....例文帳に追加

プロセス排気テストの調査，そしてベンチスケール実験から次の様な結論が確立された。1）…，2），…である。 - 英語論文検索例文集

To effectively treat FPI wastewater (penetrant testing wastewater discharged from liquid penetrant testing process) while restraining running cost and a site area from increasing.例文帳に追加

ＦＰＩ廃水（浸透探傷検査工程から排出される浸透検査廃水）の処理を、ランニングコスト及び敷地面積を抑えつつ効果的に行う。 - 特許庁

SERVER PROCESS TESTING SYSTEM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST FRAMEWORK RECORDED AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST PROGRAM RECORDED例文帳に追加

サーバプロセス試験システム、サーバプロセス試験フレームワークを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、およびサーバプロセス試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加

直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁

This material testing machine carries out a material test consisting of a main process applying a target load to a material test piece 1 by automatic control, a pretreatment process before the main process, and a post-treatment process following the main process.例文帳に追加

材料試験装置は、材料試験片（１）に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行っている。 - 特許庁

Then, the testing method comprises a formation process for pushing the flat work 5 into the forming dice 1 by the punch 3, and a machining process for pushing a flat work 5' formed in the formation process into the ironing dice 2 by the punch 3, by using the testing apparatus, thus measuring the damage generated during the machining process.例文帳に追加

そして、上記装置を用い、板状ワーク５をパンチ３により成形ダイス１に押し込む成形工程と、成形工程で成形された板状ワーク５’をパンチ３によりしごきダイス２に押し込んでしごく加工工程と、からなり、しごき加工工程中に発生する損傷を測定する。 - 特許庁

To simplify actual operation of an insulation and pressure resistance testing process carried out in factories.例文帳に追加

工場等で行われる絶縁耐圧試験工程の実作業を簡略化することを目的とする。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INSULATION IN MANUFACTURING PROCESS OF COIL FOR ROTARY ELECTRICAL MACHINE, AND METHOD OF MANUFACTURING COIL FOR ROTARY ELECTRICAL MACHINE例文帳に追加

回転電機巻線の製造工程内絶縁試験方法及び回転電機巻線の製造方法 - 特許庁

It is preferred that calculation and establishment are done after the collection of the testing image on real time in the process.例文帳に追加

計算及び設定は進行中にリアルタイムで試験画像の収集後に行われるのが好ましい。 - 特許庁

To provide process testers and testing methodology for thin-film PV devices, which can provide information directly relating to fabrication processes through electrical testing.例文帳に追加

電気的テスティングを通して製造プロセスに直接関連した情報を与えることのできるような、薄膜ＰＶ装置のためのプロセステスタ及びテスティング技法を提供する。 - 特許庁

A testing pad (22), which is integrated with the bonding pad, is equipped with a probe region for the execution of a wafer level testing (26) prior to the execution of the bumping process.例文帳に追加

試験パッド（２２）は、ボンディング・パッドと一体構築されており、バンピング・プロセスの実行に先立ってウェハ・レベルの試験を実行するためのプローブ領域（２６）を備えている。 - 特許庁

To reduce time and cost relating to the testing process by improving the uniformity and the precision of the burn-in test conditions and widening the testing items executable during a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験条件の均一性と精度を高め、バーンイン試験中に行うことのできる試験項目の幅を広げ、検査工程に係る時間と費用を削減する。 - 特許庁

To provide a closed vessel that a pinhole test (i.e., gas leakage test) is accurately carried out using a small quantity of testing gas and that a filling process of contents and the testing gas and a testing process of pinhole can be carried out continuously at the same place, and to provide a pinhole detecting method using the closed vessel.例文帳に追加

少量の検査用ガスによってピンホール検査（ガス漏れ検査）を正確に行うことができ、また、内容物・検査用ガスの充填工程とピンホールの検査工程とを同じ場所で連続的に行うことのできる密閉容器と、該密閉容器を用いたピンホール検出方法を提供する。 - 特許庁

ANTENNA FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE, AND METHOD FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE IN MANUFACTURING/TESTING PROCESS OF MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加

電磁ノイズ計測用アンテナおよび磁気ディスク装置の製造・検査工程における電磁ノイズの計測方法 - 特許庁

In addition, optimum acceptance criteria values can be used, to conduct highly-reliable motor surfacing revolution testing because the surfacing revolution testing in fluid bearing motor inspection process enables more accurate motor surfacing revolution testing.例文帳に追加

また、流体軸受モータ検査工程の浮上回転数検査で、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことができるため、最適な合格判定基準値を用い信頼性の高い浮上回転数の検査を行うことができる。 - 特許庁

To improve testing efficiency in an easy testing process without narrowing the power range of a device in which burn-in is possible, in a burn-in test method and burn-in system.例文帳に追加

本発明は、バーンイン試験方法及びバーンインシステムに関し、バーンイン可能なデバイスのパワー範囲を狭めることなく、簡単な試験工程で試験効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

(b) Programs for testing aerial vehicle gas turbine engines or components thereof, and designed to collect, process and analyze the data in real time and also execute feedback control during testing 例文帳に追加

ロ　航空機用ガスタービンエンジン又はその部分品の試験のためのプログラムであって、実時間でデータを収集、処理及び解析し、かつ、試験中にフィードバック制御を行うように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。 - 特許庁

A transferring process part 15 of detected data transfers patch data for the exchanger 3 to an automatic testing workstation 2.例文帳に追加

検証データ転送処理部１５は、自動試験ワークステーション２へ、検証用交換機３用のパッチデータを転送する。 - 特許庁

This process may be repeated for each die in a stack to generate reference for future testing.例文帳に追加

本プロセスは、将来のテストのためのレファレンスを生成するために、スタックの中のそれぞれのダイについて繰り返され得る。 - 特許庁

The cycle of heating step-holding process-cooling step is repeated by a prescribed frequency, and the damage of the testing object 12 is confirmed thereafter.例文帳に追加

加熱工程−保持工程−冷却工程を所定回数繰り返した後、試験体１２の損傷を確認する。 - 特許庁

By a lighting testing process 17, aging is carried out while passing the light-emitting tube through a heating furnace in a lighted state.例文帳に追加

点灯検査工程１７により、発光管を点灯させた状態で加熱炉に通過させながらエージングをする。 - 特許庁

To provide a method and structure for testing a semiconductor wafer prior to the execution of flip chip bumping process.例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造を提供すること。 - 特許庁

This designation of impairment was supported by toxicity testing results, and subsequently resulted in a reevaluation of the treatment process of this facility.例文帳に追加

この損傷指定は，毒性試験結果によって裏づけられ，後日，この施設の処理過程への再評価が行われた。 - 英語論文検索例文集

This designation of impairment was supported by toxicity testing results, and subsequently resulted in a reevaluation of the treatment process of this facility.例文帳に追加

この損傷指定は，毒性試験結果によって裏付けられ，後日，この施設の処理過程への再評価が行われた。 - 英語論文検索例文集

To provide a semiconductor device which can increase the margin in the accuracy for the positioning of a probing stylus, in the wafer testing process of the manufacturing process of semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の製造工程におけるウェハテスト工程でのプローブ針の位置合せにおける精度余裕を大きくすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The testing method of the semiconductor integrated circuit device is so constituted that testing items of the semiconductor integrated circuit device (30) can be changed on the basis of testing result in the manufacturing steps of the semiconductor integrated circuit device by testing (20) the manufacturing process of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法であって、前記半導体集積回路装置の製造工程において検査を行い（２０）、該半導体集積回路装置の製造工程における検査結果に基づいて、該半導体集積回路装置の試験項目を可変にする（３０）ように構成する。 - 特許庁

To provide a testing process of a semiconductor device capable of confirming degradation of the semiconductor device after inspection.例文帳に追加

本発明は検査後の半導体装置の劣化を確認できる半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.例文帳に追加

ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁

A test system for testing objects to be tested, which process correlation dual sampling waveforms, is improved to acquire the present invention.例文帳に追加

本発明は、相関二重サンプリング波形を処理する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To process the plurality of sensor devices, such as humidity sensors or gas sensors, the sensor devices are run through a testing station and a turret handler.例文帳に追加

湿度センサ又はガスセンサのような複数のセンサデバイスを処理するために、センサデバイスは、試験ステーションとタレットハンドラとを経る。 - 特許庁

To provide a static load testing method for conducting a test by applying load in only one direction, testing changes of load in a pulling-up process, and grasping properties of the ground by a simple method to conduct research on an accurate N value and geological features.例文帳に追加

載荷荷重を一方向のみに付加して試験するとともに、引き上げ過程の荷重変化をも試験し、簡素な方法で地盤の性状を把握し正確なＮ値、地質の調査を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing means for simultaneous, simple reference by accurately grasping the position of each mast by a highly reliable method in the process of the installation safety test of the mast.例文帳に追加

マストの設置安全性試験の過程において信頼性の高い手法で各マストの位置を正確に把握し、同時に簡単に参照することができるような試験方法及び手段を提案する。 - 特許庁

To provide a testing process and a testing program capable of facilitating a single operation confirmation test of a nuclear power plant control device and an operation confirmation test combined with another control device actual machine.例文帳に追加

原子力発電プラント制御装置の単体での動作確認試験、及び他の制御装置実機と組合せた動作確認試験が容易となる試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an IC-testing apparatus, and a control method and a memory medium in an IC-testing apparatus whereby a throughput is improved by individually and concurrently executing a signal application process for measurement and a process for communication control.例文帳に追加

本発明の課題は、測定用の信号印加処理と、通信制御用の処理とを個別に並行して実行することにより、スループットを向上させるＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における制御方法及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.例文帳に追加

前記トレッド溝４を形成した試験片３を作成する試験片作成工程と、該試験片３を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁

To provide example methods, apparatus and articles of manufacture for testing batch configurations, which can reduce a potential for disrupting a process.例文帳に追加

プロセス中断の潜在性を低減させることができる、バッチ構成を試験するための例示的方法、装置、および製品を提供する。 - 特許庁

In a wafer testing process of a device, the capacity load of the variable dummy load 7 can be adjusted to its optimum value.例文帳に追加

本発明によれば、デバイスのウェハ試験工程において、可変ダミーロードの容量負荷を調整して最適値に設定することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device comprising a scanning circuit which enables testing of a process monitor as well as semiconductor elements.例文帳に追加

半導体素子のみならず、プロセスモニタをも試験することができるスキャン回路を含む半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Before testing the lead element 211 in a manufacturing process of a head gimbal assembly, charge on transmission lines 135a, 135b of a trace is discharged.例文帳に追加

ヘッド・ジンバル・アセンブリの製造工程において、リード素子２１１のテスト前に、トレースの伝送線１３５ａ、ｂ上の電荷をディスチャージする。 - 特許庁

Testing a deployed business process application involves using test cases that act as remote partner services which send SOAP messages to the BPEL Service Engine runtime.例文帳に追加

配備したビジネスプロセスのテストは、BPEL サービスエンジンランタイムへ SOAP メッセージを送信するリモートパートナーサービスとして機能するテストケースの使用を含みます。 - NetBeans

An interface assembly (20) for testing a semiconductor wafer prior to the execution of a flip chip bumping process and its method are provided.例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するためのインタフェース・アセンブリ（２０）および方法が提供される。 - 特許庁

To provide a performance testing method for an HGA at the time of a low driving voltage, which can be actualized in a short time through a simple process.例文帳に追加

簡易なプロセス、及び、短時間にて実現可能な、低駆動電圧時におけるＨＧＡの性能試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide testing vessel which makes a staining process easily executable under a microscope even when the vessel is not moved and also makes the comparison between the localized positions of genes and images of cells easier by easily staining hybridized samples.例文帳に追加

顕微鏡下で検査容器を移動することなく染色工程を行わせることが簡便にできるようにする。 - 特許庁

To provide a method for confirming the operation of a crusher, a method for managing the accuracy of a pretreatment device for testing genes, and a sample analysis system, improving the reliability of the data of gene testing, by improving the reliability of crushing process as a pretreatment of gene testing.例文帳に追加

遺伝子検査の前処理である破砕処理の信頼性を向上させることにより遺伝子検査のデータの信頼性を高めることができる破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システムを提供する。 - 特許庁