「testing process」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a tracking function automatic generation system of a process control which realizes creation of a tracking function program, decreasing number of man-hours for testing, leveling of a generation program level and improvement of maintenanability of an automatic generation program.例文帳に追加

トラッキング機能プログラムの製作、試験工数削減、作成プログラムレベルの平準化、自動生成プログラムの保守性向上を実現したプロセス制御のトラッキング機能自動生成システムを得る。 - 特許庁

In the deposition amount stabilizing process, a plurality of primary color toner images for testing are formed by image forming means, and control parameters of the image forming means are corrected so as to bring the results of the detection of the amount of toner deposited on the primary color toner images for testing closer to a corresponding target value of a deposition amount.例文帳に追加

また、付着量安定化処理では、複数のテスト用１次色トナー像を作像手段によって形成し、それらテスト用１次色トナー像に対するトナー付着量を検知した結果をそれぞれに対応する付着量目標値に近づけるように、作像手段の制御パラメータを補正する。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

The ink-jet recording method includes the image recording process for recording an image by giving a pigment-containing ink to a recording medium and the fixing process in which a pressure-sticking giving means is pressure-contacted with the image part to fix the image part when the tackiness of the image part by a ball tack testing method is at least 20 mm.例文帳に追加

記録媒体に顔料を含むインクを付与して画像を記録する画像記録工程と、画像部のタック性がボールタック試験法にて２０ｍｍ以上となったときに、圧着付与手段を前記画像部に圧接して画像部を固定化する固定化工程と、を有している。 - 特許庁

In a fine adjustment process after performing a wafer testing process, either the fuse T13 or the fuse T14 is disconnected, the output terminal 3 is connected to the node N1 or N2, and either or both of the fuses T11, T12 are disconnected to carry out fine adjustment of the voltage of the output terminal 3.例文帳に追加

ウエハテスト工程を行なった後、微調整工程においてヒューズＴ１３，Ｔ１４のいずれか一方を切断して出力端子３を端子Ｎ１又はＮ２に接続し、さらにヒューズＴ１１，Ｔ１２のいずれか一方又は両方を切断して出力端子３の電圧を微調整する。 - 特許庁

After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.例文帳に追加

被テスト対象プロセス１００のテストを単体テスト処理システム１３０によりテストし、その結果をトレースログファイル１２５に格納後、被テストプログラム１００よりテスト用初期化関数１１１がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル１２０より読み込む。 - 特許庁

As a result, for example, data stored in a ROM area are surely read from the ferroelectric memory having the ROM area in which the data are written beforehand in the testing step or the like of the manufacturing process.例文帳に追加

この結果、例えば、製造工程の試験工程等で予めデータが書き込まれるＲＯＭ領域を有する強誘電体メモリにおいて、ＲＯＭ領域に記憶されているデータを確実に読み出すことができる。 - 特許庁

To provide a mobile communication testing device and method which can confirm normal operations of a packet data call process function, containing a wireless section of a base station wireless installation in a mobile communication system, and can estimate fault position.例文帳に追加

移動通信システムにおける基地局無線装置の、無線区間を含めたパケットデータ呼処理機能の正常動作確認ができ、更に障害位置の推測を可能にする移動通信試験装置及び方法の提案。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

To provide an automatic, convenient, and small-sized polishing machine in which, in a pretreatment process requiring grinding and polishing by means of various testing methods, the grinding and polishing are performed even at a narrow part and a high location work and the like.例文帳に追加

各種検査手法で研削及び研磨を必要とする前処理過程において、狭隘部及び高所作業等においても研削及び研磨が実施できる自動、小型、簡便な研磨機を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

To provide a method of testing an optical fiber having a branch capable of monitoring increase in loss or the like in an N-branch optical fiber network, in a branched part of an optical fiber, by a simple process.例文帳に追加

本発明の課題は、簡単なプロセスにより、Ｎ分岐光ファイバネットワークの損失増加等のモニタリングを、分岐部以下の光ファイバにおいて可能とする分岐を有する光ファイバの試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a suspension for testing a characteristic of a magnetic head slider, capable of easily attaching/detaching a magnetic head slider to/from a suspension and holding the magnetic head slider not to come off due to an impact, etc., in handling in a characteristic test and a manufacturing process.例文帳に追加

磁気ヘッドスライダをサスペンションに取付け・取外しすることが容易で、特性試験及び製造工程での取扱いに際し衝撃等で磁気ヘッドスライダが脱落しないように保持できる構造が必要である。 - 特許庁

Next, testing fabrication is done (S205), a curing shape is measured (S206), slice data are prepared (S207), actual fabrication is done (S208), the shape of fabricated article is evaluated (S209), and a process is completed (S210).例文帳に追加

次いで、テスト造形行い（Ｓ２０５）、硬化形状の測定を行い（Ｓ２０６）、スライスデータの作成を行い（Ｓ２０７）、実際の造形を行い（Ｓ２０８）、造形物の形状評価を行い（Ｓ２０９）、完成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

To shorten a semiconductor measurement time in a semiconductor measurement device used in a semiconductor product inspection process testing electric characteristics of a semiconductor, a break in a wire, and the like, for example.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体の電気的特性、断線等を検査する半導体製品検査工程において使用される半導体測定装置に関し、半導体測定時間の短縮を図ることが課題である。 - 特許庁

To uniformly deposit chloride to the surface layer of a specimen, and to accurately reproduce corrosion in an actual facility, in a short time, without flushing away chlorides deposited in a subsequent testing process.例文帳に追加

試験体の表層に均一に塩化物を付着することができ、しかも、その後の試験工程において付着させた塩化物を洗い流すことなく、実設備での腐食を精度よく短時間で再現することである。 - 特許庁

To provide a method for testing an acuiclude earth material which can quickly execute various kinds of characteristic tests in a moisture-saturated state without containing air by surely completing a moisture saturating process in a short time.例文帳に追加

水分飽和の過程を短時間で確実に完了させて、空気の含有が無い水分飽和の状態で各種特性試験を迅速に実施することができる難透水性土質材料の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Also, the method for producing activated carbon comprises: a raw coke forming process comprising converting one kind or a mixture of coal-based heavy oil and petroleum oil-based heavy oil, each having a coefficient of thermal expansion of 4.0-7.0, measured by an artificial graphite electrode testing method, into a raw coke; and an activation process for activating the obtained raw coke.例文帳に追加

また、活性炭の製造方法は、人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数が４．０〜７．０の範囲内にある石炭系または石油系重質油のいずれか一方またはそれらの混合物を生コークス化する生コークス化工程と、得られる生コークスを賦活する賦活工程とを有する。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

In a power supplying port determining process, part of a plurality of power supply bumps are determined as the power supplying ports upon testing in the range wherein neither the voltage drop violation nor the current density violation is detected by power supply network analysis.例文帳に追加

電源供給口決定工程では、電源網解析により電圧降下違反または電流密度違反のいずれも検出されない範囲で、複数の電源バンプの一部が試験時の電源供給口として決定される。 - 特許庁

To provide a receiving device wherein high frequency performance is tested by using a testing device without high frequency output function, and multiple receiving devices are simultaneously arranged on a wafer by using a semiconductor process.例文帳に追加

半導体プロセスを用いて複数個同時にウエハ上に実現した高周波信号の受信装置であって、高周波出力機能を備えていない試験装置を用いて高周波性能を試験できる受信装置を実現する。 - 特許庁

To provide a connector in which an insertion force required in the insertion process of an electronic component is reduced, and a pressing force for pushing a contact portion to an electronic component can be secured, and to provide a semiconductor testing device equipped with the connector.例文帳に追加

電子部品の挿入過程において必要とされる挿入力を低減すると同時に、接触部を電子部品に押し付ける力を確保することのできるコネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置の提供。 - 特許庁

By evaluating the core material using an indication such as a dewatering testing, the core material having less moisture absorbing amount or high speed drying can be used, the load of a drying process can be reduced, and an amount of the used moisture adsorbent can be also reduced.例文帳に追加

芯材を脱水試験という指標で評価することで、水分の吸湿量が少ないまたは乾燥が早い芯材を使用でき、乾燥工程の負荷を低減し、水分吸着剤の使用量も減らすことができる。 - 特許庁

The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加

本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁

In a process that CO_2 as testing gas flows in the nozzle model 1 while expanding, its ratio κ of specific heat is changed from about 1.2 to 1.3, so that a flow similar to a flow in the rocket nozzle in the actual machine can be realized.例文帳に追加

試験用気体であるＣＯ_２が当該ノズルモデル１内を膨張しながら流れる過程で、その比熱比κはおよそ１．２から１．３近傍まで変化するので、実機のロケットノズル内における流れと相似の流れが再現できる。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This system is composed of a process for performing virus elimination by using a porous separation membrane filter, a process for washing the porous separation membrane filter by using washing liquid containing a surfactant and an alkaline substance, and a process for performing the integrity testing (gold colloid method and/or liquid forward flow rate method) for the porous separation membrane filter.例文帳に追加

本発明は、０〜１５度において、多孔性分離膜フィルターを用いてウイルス除去処理を行う工程及び界面活性剤とアルカリ性物質を含む洗浄液を用いて多孔性分離膜フィルターの洗浄を行う工程、多孔性分離膜フィルターの完全性試験（金コロイド法及び金コロイド法あるいはＬｉｑｕｉｄ Ｆｏｒｗａｒｄ Ｆｌｏｗ Ｒａｔｅ法）を行う工程からなるシステムに関するものである。 - 特許庁

To provide a testing and adjusting method for a microwave semiconductor device which shortens the time for electric characteristic measurement and adjustment by eliminating a screw-fixing process and matches characteristics in the adjustment with characteristics after sealing by ensuring electromagnetic shielding.例文帳に追加

ネジ止め工程を無くして、電気特性測定及び調整の時間を短縮させるとともに、電磁気シールドを確実にして、調整時の特性と封止後の特性を一致させることを可能にするマイクロ波半導体装置の試験調整方法を得る。 - 特許庁

To prevent damage due to losses and falls of specimens when a lid is opened by enabling the visual recognition of the spots where the specimens are located in a cassette in a process for preparing the specimens for testing pathological tissues and previously drawing workman's attention.例文帳に追加

病理組織検査標本をつくる工程において検体がカセット内のどこにあるかを視認できるようにし、作業者にあらかじめ注意を促すことができるようにして、開蓋時の検体の紛失や落下による損傷を防止する。 - 特許庁

To provide a method and a system for evaluating whether adjustment factors used in a process of testing or monitoring an operation system need to be updated or varied and varying and updating those adjustment factors when so.例文帳に追加

運転システムを試験又は監視するプロセスで使用される調整因子を更新又は変更する必要があるか否かを評価し、且つ必要又は希望がある場合にはそれらの調整因子を変更し、更新する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

A BB memory 7 backed up by a battery 6 on the motherboard 10 is provided to write unique data in the BB memory 7 in a product testing process, and then the contents of an EEPROM 5 for BIOS storage are updated to a product BIOS for shipment.例文帳に追加

マザーボード１０上に電池６でバックアップされるＢＢメモリ７を設け、製品の試験工程でこのＢＢメモリ７に固有のデータを書き込み、その後、ＢＩＯＳ格納用のＥＥＰＲＯＭ５の内容を、製品ＢＩＯＳに更新して出荷する。 - 特許庁

This method for validating a virus deactivating process is characterized by comprising the steps of treating virally contaminated blood components by the virus deactivating process, adding virus host cells to the thus treated blood components, filtering the resultant blood components for removing the virus host cells, and testing the virus host cells for viral contamination.例文帳に追加

ウイルス汚染した血液成分をウイルス不活性化工程によって処理する段階と、該血液成分にウイルスホスト細胞を加える段階と、ウイルスホスト細胞を取り除くために該血液成分をフィルターで濾過する段階と、そしてウイルス汚染について該ウイルスホスト細胞を試験する段階とからなることを特徴とするウイルス不活性工程をバリデートするための方法。 - 特許庁

Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a circuit board and a manufacturing method of the same circuit board for realizing size reduction and high density of circuit board, accurately testing natural circuit wires for propagating high-frequency signals in the course of the board manufacturing process, assuring higher application efficiency of electronic components to be embedded in the circuit board, removing restrictions on the manufacturing process, and improving the board manufacturing yield.例文帳に追加

回路基板の小型化や高密度化を実現し、基板製造工程途中で高周波信号の伝搬する本来の回路配線を正確に検査でき、回路基板に埋設する電子部品の利用効率が高くでき、製造工程の制限を除くことができ、基板製造歩留を向上できる回路基板およびその製造方法の提供。 - 特許庁

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.例文帳に追加

システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁

To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.例文帳に追加

従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁

A braking indication signal (a pseudo signal) is transmitted from an ECU between vehicles to a VSC-ECU via an engine ECU on a vehicle 12 side by a complex indication by combining predetermined switching operations with detected values of sensors for operating an actuator to realize a testing process.例文帳に追加

所定のスイッチ操作やセンサの検出値の組み合わせによる複雑な指示により、車両１２側で、ブレーキ指示信号（擬似信号）を、車間ＥＣＵから、エンジンＥＣＵを介してＶＳＣ・ＥＣＵへ送信してブレーキアクチュエタを作動させ、検査工程を実現する。 - 特許庁

Then, in the automatic testing devices 11-1m, the operation test of a call processing is executed with the user side systems 31-3n according to the procedure and contents of the test described in the test file and log information obtained in the execution process is stored.例文帳に追加

そして、自動試験装置１１〜１ｍにおいて、上記試験用ファイルに記述された試験の手順と内容に従い、ユーザ側システム３１〜３ｎとの間で呼処理の動作試験を実行し、その実行過程で得られるログ情報を蓄積するようにしたものである。 - 特許庁

A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.例文帳に追加

試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of accurately detecting abnormalities during an EW operation and accurately testing an error process by outputting an operation state information indicating which of a plurality of operation stages is executed according to the progress of the operation stages.例文帳に追加

複数の操作段階の何れを実行中かを示す操作状態情報を、操作段階の進行に合わせて出力することにより、ＥＷ操作中の異常検出を精度良く行うことや、エラー処理の試験を的確に実行することができる不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

When a test process decided that the mixed memory array cannot be or can be mended, a signal showing that it is incapable or capable of being mended respectively is output directly to an external testing device.例文帳に追加

試験プロセスが、メモリ混載アレーを修理することができないと判断した場合、メモリ混載アレーは修理不能であることを示す信号を、また欠陥を修理することができると判断した場合、メモリ混載アレーは修理可能であることを示す信号を外部試験装置へ直接与える。 - 特許庁