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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing processに関連した英語例文

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testing processの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 230



例文

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

A time progression of a reaction force applied additionally in a deformation process by a testing body is measured during the deformation process, measured values (distance and force) are passed to a computer for processing and evaluation, and a testing table 1 is arranged on a force measuring instrument.例文帳に追加

変形過程時に、付加的に、試験体によって変形過程時に加えられた反力の時間的な経過を測定し、測定値(距離および力)を、処理および評価のための計算器に供給し、かつ試験テーブル1が、力測定装置上に配置されているようにした。 - 特許庁

To provide a testing means for sealing performance of a sealed container having a rubber-plugged opening, capable of facilitating rapid testing, and of being favorably employed for process inspection performed in a manufacturing process of a sealed vial, bottle or the like, for chemicals filling.例文帳に追加

容器の開口部をゴム栓で閉塞してなる密封容器の密封性の試験手段であって、迅速かつ容易に試験を行うことができ、薬液充填用密封バイアル、密封ボトル等の製造工程で行う工程検査に好適に採用することができる試験手段を提供する。 - 特許庁

A system for analyzing the cause of the fault includes a testing apparatus 20, a yield memory 14, a test result memory 15 and a process controller (CPU) 100.例文帳に追加

不良原因解析システムは、テスト装置20、歩留まり記憶装置14、テスト結果記憶装置15、処理制御装置(CPU)100を含む。 - 特許庁

例文

Also the tutorial illustrates the enhancement, deploying, executing, and testing a synchronous BPEL process using NetBeans IDE 6.1 with all the necessary runtimes. 例文帳に追加

また、改善された点、および NetBeans IDE 6.1 と必要なすべての実行環境を使用して、同期 BPEL プロセスを配備、実行、およびテストする例を示します。 - NetBeans


例文

To effect timely and safe operation of online testing routines within field devices, such as valves, used in a process control system or a safety system.例文帳に追加

プロセス制御システムまたは安全システムで用いられるバルブの如きフィールドデバイス内でオンライン試験ルーチンを適時にかつ安全に動作させる。 - 特許庁

The testing process of polyester taste is characterized in that a polyester molded article is heat-treated in ultrapure water to prepare an extraction water, and the extraction water is then measured by a taste testing device equipped with a taste sensor formed of an artificial lipid membrane.例文帳に追加

ポリエステルからなる成形体を超純水中で加熱処理をして得られた抽出水を人工脂質膜からなる味センサを備えた味検査装置で測定することを特徴とするポリエステルの味覚試験方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor package equipped with an electrode pad which serves as an effective stopper when forming a through-hole electrode in a semiconductor substrate and contributes to successful testing in a testing process such as the Die Sort test.例文帳に追加

半導体基板に貫通電極を形成する際に良好なストッパーとして働き、さらにダイソート等のテスト工程においても良好なテストを行うことができる電極パッドを備えた半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having non-volatile memory elements with which testing at a high temperature is possible and shortening of the manufacturing process is realized.例文帳に追加

高温での試験が可能となり製造工程の短縮を実現する不揮発性記憶素子を有する半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

例文

To provide a durability testing method for tires comprising a deterioration acceleration process capable of reproducing a secularly deteriorated state of a tire in a short time with high precision.例文帳に追加

タイヤが経時劣化した状態を短時間で精度良く再現させうる劣化促進工程を含むタイヤの耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

The life testing method is applied to the ball bearing having at least an orbital ring which is made of a steel for bearings and whose orbital surface is subjected to a hardening process.例文帳に追加

少なくとも軌道輪が軸受用鋼よりなり、軌道輪の軌道面に硬化処理が施された転がり軸受の寿命試験方法である。 - 特許庁

This tutorial provides an overview of the sample project, AsynchronousSample, and illustrates deploying, executing and testing an asynchronous BPEL process using the NetBeans IDE with all the necessary runtimes. 例文帳に追加

このチュートリアルは AsynchronousSample サンプルプロジェクトの概要と、NetBeans IDE 6.1 と必要な実行時環境を用いた非同期 BPEL プロセスの配備と実行、テストについて説明します。 - NetBeans

Compatibility Testing is the process of evaluating how well your web site or software product will work with popular third-party components and hardware such as, ... 例文帳に追加

互換性テストは, あなたのウェブサイトやソフトウェア製品が, ...のような一般的なサードパーティ・コンポーネントやハードウェアで, いかに良く動作するかを評価するプロセスです. - コンピューター用語辞典

To miniaturize a testing device for an electronic part substrate suitable for testing the electronic part substrate while the electronic part substrate such as, for example, memory module is stored, provide a testing method therefor, and improve throughput of a test process.例文帳に追加

たとえばメモリモジュールなどの電子部品基板を収容した状態で、電子部品基板を試験するために適した電子部品基板の試験装置および試験方法であって、特に、装置の小型化と試験工程のスループットの向上とを図ることができる電子部品基板の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

This accelerated testing method of the stain of the coating film includes a deterioration process composed of an optical deterioration process for optically deteriorating the coating film by irradiation with light containing ultraviolet rays and an acid deterioration process for deteriorating the coating film by an acidic solution and a stain fixing process for fixing an artificial staining substance to the coating film deteriorated by light and an acid.例文帳に追加

紫外線含有光の照射により塗膜を光劣化させる光劣化工程及び酸性液により塗膜を酸劣化させる酸劣化工程よりなる劣化工程と、光劣化及び酸劣化した前記塗膜に人工汚れ物質を固着させる汚れ固着工程とを含む。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片1に、き裂2を形成するき裂形成工程と、試験片1に、き裂2が延びる方向に垂直な方向4に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

A semiconductor device comprises the semiconductor elements (203, 207), the scanning circuit (220) connectable to the semiconductor elements (203, 207) for testing the performance thereof, and the process monitor (PM) which is arranged in a path subjected to the testing by the scanning circuit (220).例文帳に追加

半導体素子(203,207)と、半導体素子に接続可能であり、半導体素子の機能を試験するためのスキャン回路(220)と、スキャン回路が試験を行うパス中に設けられるプロセスモニタ(PM)とを有する半導体装置が提供される。 - 特許庁

This is the sensitization development testing method for chemicals which includes (a) process to provide a test object for electroorganic reaction, (b) process to mix fluorescent cysteine derivative with the test object provided for electroorganic reaction, and (c) process to determine presence of bound substance by instrumental analysis.例文帳に追加

(a)被験物質を有機電解反応に供する工程;及び、(b)蛍光システイン誘導体と、有機電解反応に供した被検物質とを混合させる工程:及び(c)結合物の有無を機器分析により判定する工程:を有する化学物質の感作性発現検定方法。 - 特許庁

When the initial two properties are not within a predetermined ceiling, or when intensity distribution are not normal distributions, the arrangement for testing is adjusted, and this process is repeated.例文帳に追加

はじめの2つの特性が所定限度内にない場合、又は強度分布が正規分布でない場合には、試験用配置が調整され、この過程が反復される。 - 特許庁

The process of exchanging diagnostics information is coordinated or executed by SOAP modules 6a, 6b implemented in the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B respectively.例文帳に追加

診断情報交換処理は、遠隔試験装置4Aと被試験装置4Bのそれぞれに実装されているSOAPモジュール6a、6bにより調整又は実行される。 - 特許庁

To provide a server process testing system whose constitution can be easily changed and extended corresponding to the change or addition of a test item.例文帳に追加

試験項目の変更や追加等に対応してその構成を容易に変更および拡張することができるサーバプロセス試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

This tutorial provides an overview of the sample project, SynchronousSample, and illustrates deploying, executing, and testing a synchronous BPEL process using NetBeans IDE 6.0 with all the necessary runtimes. 例文帳に追加

このチュートリアルでは、サンプルプロジェクト SynchronousSample の概要を説明し、NetBeans IDE 6.0 と必要なすべての実行環境を使用して、同期 BPEL プロセスを配備、実行、およびテストする例を示します。 - NetBeans

To realize a logic test circuit testing a logic circuit in a chip and having less over-head by constituting a test circuit in a chip without introducing a new device process named FPGA.例文帳に追加

FPGAという新規デバイスプロセスの導入することなく、チップ内にテスト回路を構成して、チップ内のロジック回路をテストするオーバヘッドの少ないロジックテストを実現する。 - 特許庁

The locus of the testing puncture needle tip is recorded and saved in a guide line inserted through the 23G testing puncture needle, and the introducer is guided by the guide line, whereby the process of puncture using a thick puncture needle is omitted to guide the tip of the introducer in the vein through the same pathway as that for passing the 23G testing puncture needle.例文帳に追加

23G試験穿刺針を通じて挿入したガイドラインに試験穿刺針先端の軌跡を記録保存させ、前記ガイドラインにイントロデューサーを案内させることにより、太い穿刺針を使用する本穿刺の過程を省略し、23G試験穿刺針が通過したと同じ経路を通ってイントロデューサーの先端を静脈内に誘導させる。 - 特許庁

The durability testing method for inspecting durability of the tire includes a process for accelerating deterioration of the pneumatic tire and a process for performing drum durability traveling test by applying load on the pneumatic tire of which the deterioration is accelerated.例文帳に追加

空気入りタイヤの耐久性を調べるための耐久性試験方法であって、空気入りタイヤの劣化を促進させる工程と、劣化を促進させた空気入りタイヤに負荷をかけてドラム耐久走行テストを行う工程とを含む。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 11, a control part 10 forms a pattern file use frequency table in a pattern file use frequency table memory part 18 and determines the use frequencies of pattern files in the process of testing a preset number of semiconductors to be tested.例文帳に追加

半導体試験装置11において、制御部10は、パタンファイル使用頻度テーブル記憶部18に、パタンファイル使用頻度テーブルを作成し、予め設定された個数分の被試験対象の半導体を試験する過程で、パタンファイルの使用頻度を求める。 - 特許庁

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a battery sealing agent testing device and a battery sealing agent testing method wherein determination of presence or not of coating of the sealing agent to be applied to the inner wall in the vicinity of an opening part of a metallic exterior can and of quality decision of a coating plaque in a battery manufacturing process can be carried out exactly.例文帳に追加

電池製造過程において金属製外装缶の開口部付近の内壁に塗布される封口剤の塗布の有無、塗布斑の良否を的確に判定することができる電池封口剤検査装置および電池封口剤検査方法を提供する。 - 特許庁

The chip structure for a multiply integrated circuit is provided with chip-to-chip interface circuits for selective connection of internal circuits in an integrated circuit for testing an interface circuit having the ESD protection circuit and the input/output circuit for establishing communication with an external testing system during a test and a burn-in process.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのESD保護回路および入出力回路を有するインターフェース回路をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路を有する。 - 特許庁

To provide an electrical testing method for printed-wiring boards capable of providing an effect that resistance values which a 4-terminal inspection originally has are measured in an electrical testing process, ensuring high inspection efficiency, and performing a stable inspection at an inexpensive cost.例文帳に追加

電気検査工程において4端子検査が元々有する抵抗値を高精度で測定するという効果を発揮すると同時に、高い検査効率を確保し、安定した検査を安価で行うことができるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a probe card capable of performing a testing process of a plurality of semiconductor elements (for instance, 4 elements) with same performance as that when one element is tested to a plurality of semiconductor elements formed on a semiconductor substrate; and to provide a testing method thereof.例文帳に追加

本発明によれば、一つの半導体基板に形成された複数個の半導体素子に対し、1個測定の場合と同等の性能をもって、複数個(例えば4個)同時に試験処理を行うことができるプローブカード及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

Specifically, in the power supplying port determining process, first the minimum necessary number of the power supplying ports upon testing is determined based on the power consumption information, and the minimum necessary number of the power supply bumps are determined from among the plurality of power supply bumps as the power supplying ports upon testing.例文帳に追加

詳細には、電源供給口決定工程では、まず、消費電力情報に基づいて試験時の電源供給口の必要最小数が求められ、複数の電源バンプの中から必要最小数の電源バンプが試験時の電源供給口として決定される。 - 特許庁

To provide a method for testing to discover an improving means by reproducing surface stress corrosion cracking of a stainless steel used in a certain residual stress state used in a facility installed outdoor in a high temperature atmosphere of about 100°C in a process and to provide a testing apparatus therefor.例文帳に追加

屋外に設置され、かつ、プロセス上、100℃前後の高温雰囲気になる設備で用いられ、残留応力のある状態で使用されているステンレス鋼の外面応力腐食割れを再現し、その改善手段を見出すための試験方法とそのための試験装置を提供すること。 - 特許庁

Electron beam is irradiated on a substrate 7 mounted on a mounting table 38 installed in a chamber 31 of the charged particle beam device, and a prescribed process like testing is carried out at the inside of the device.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置のチャンバー31内の載置台38に載置された基板7には電子ビームが照射され、当該装置内にて検査等の所定の工程が実施される。 - 特許庁

In this case, the predetermined thickness distribution of the calibration layer on the calibration testing substrate corresponds to the flat thickness distribution of a layer on the multilayed substrate obtained by the same predetermined process condition and a set.例文帳に追加

この場合、較正試験基板上の較正層の所定の厚さ分布は同じ所定のプロセス条件・セットによって得られた多層基板上の層の平坦な厚さ分布に対応する。 - 特許庁

To provide a vapor-liquid two-phase flow simulation testing device capable of acquiring a flowing process in a steam generator or an IMR (Integrated Modular Reactor) wherein water is spontaneously circulated by buoyancy caused by generated steam.例文帳に追加

発生蒸気による浮力によって水が自然循環する蒸気発生器やIMRの流動過程を把握することができる気液二相流模擬試験装置を提供する。 - 特許庁

The method for testing water resistance of the cured thermosetting resin product includes a process for immersing the cured the thermosetting resin product 4 in water 3 in a high atmospheric pressure atmosphere.例文帳に追加

熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験方法であって、熱硬化性樹脂硬化物4を高気圧雰囲気中の水3に浸漬する工程を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.例文帳に追加

半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良(シュート等)を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To improve product yield by performing the optimization of temperature distribution on the surface of a metallic mold in a short time and fully excluding a testing shot process, when the metallic mold for casting is preheated.例文帳に追加

鋳造用金型を予熱する際の、金型表面の温度分布の最適化を短時間で行い、捨て打ち工程を完全に排除して、製品歩留まりの向上を図る。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor wafer and an integrated circuit which increases the efficiency of the utilization of a space for test structures in scribed lines formed in an integrated circuit process.例文帳に追加

集積回路プロセスにおいて形成されるスクライブライン内において、テスト構造のためのスペース利用の効率を増大させた、半導体ウエハおよび集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

A current adjustment unit 22 adjusts the compensation pulse currents I_SRC and I_SINK to be generated in the testing process after the calibration, according to the measured power supply voltage V_DD.例文帳に追加

電流調節部22は、測定された電源電圧V_DDに応じて、キャリブレーション後の試験工程において生成すべき補償パルス電流I_SRC、I_SINKを調節する。 - 特許庁

Until one or more selection references are satisfied, the process of selecting the profile model, selecting the optimization parameter group and testing the selected profile model and optimization parameter group is executed.例文帳に追加

1つ以上の選択基準が満たされるまで、プロファイル・モデルを選択し、最適化パラメータ群を選択し、選択したプロファイル・モデルと最適化パラメータ群をテストするというプロセスを実施する。 - 特許庁

To provide a pressure transient phenomenon testing device for precisely and meticulously grasping events about a process reaching fracture nucleus formation, pre-slip and accelerating fracture in dynamic fracture mechanics.例文帳に追加

動的破壊力学において、破壊核形成、前駆的すべり、加速的な破壊に至る過程を精密かつ、細かく事象をとらえる圧力過渡現象試験装置を提供する。 - 特許庁

This tutorial provides an overview of the sample project, AsynchronousSample, and illustrates deploying, executing and testing an asynchronous BPEL process using NetBeans IDE 6.0 with all the necessary runtimes. 例文帳に追加

このチュートリアルでは、サンプルプロジェクト AsynchronousSample の概要を示し、NetBeans IDE 6.0 および必要なすべての実行環境を使用して非同期 BPEL プロセスを配備、実行、およびテストする方法について説明します。 - NetBeans

In November 2011, this process was selected for the Japan Atomic Energy Agency Decontamination Technology Verification Testing Project and trial works began in December at two locations inside the prefecture. 例文帳に追加

2011 年11月には、独立行政法人日本原子力研究開発機構の除染技術実証試験事業に採択され、同年12月に県内2か所で試験工事を始めている。 - 経済産業省

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a packaging method of an electronic component and a board module, by which lifting between insulating resin and the electronic component or a substrate is made less likely to be generated, even in reflow process or heat cycle testing process, short circuiting or erosion can be prevented, and reliability can be improved.例文帳に追加

リフロー工程やヒートサイクル試験工程においても絶縁樹脂と電子部品又は基板との間で剥離が生じにくく、短絡又は腐食が防止でき、信頼性を高めることができる電子部品実装方法及び基板モジュールを提供する。 - 特許庁

The method for testing the function of suppressing increase in quantity of fat comprises (1) a first process of testing activity of a monoacylglycerol acyltransferase in a contact system of the monoacylglycerol acyltransferase with a material to be tested and (2) a process of evaluating the function of suppressing increase in quantity of the fat depending on difference obtained by comparing the activity tested by the first process with the activity in a control.例文帳に追加

脂肪量増加抑制能力の検定方法であって、(1)モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼと被験物質との接触系内における前記モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼの活性を測定する第一工程、及び(2)第一工程により測定された活性と対照における活性とを比較することにより得られる差異に基づき前記物質の脂肪量増加抑制能力を評価する第二工程、を有することを特徴とする脂肪量増加抑制能力の検定方法。 - 特許庁

By such configuration, the generation of particles which is an obstacle in a checking process of the magnetic disk etc., is averted in the spindle for testing the disk while the accuracy of rotation equal to that of the conventional air spindle is maintained.例文帳に追加

この構成により、本発明のディスク検査用スピンドルは、従来のエアスピンドルと同等の回転精度を維持しつつも、磁気ディスク等の検査工程で障害となるパーティクルの発生がない。 - 特許庁

例文

To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加

検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁




  
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