「欠陥のある」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

擬似欠陥あるいは真の欠陥のいずれを検出するかは、加算回数の異なる複数の画像の比較演算の組み合わせによって定める。例文帳に追加

In the method, which of a pseudo defect and a true defect to detect is determined by a combination of comparison operations on the images different in the number of additions. - 特許庁

欠陥のあるシリアル・データ・パターン・アナログ出力信号に変位クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥を選択的に位置決めする。例文帳に追加

A displaced crest factor emulation defect is selectively positioned at the defective serial data pattern analog output signal. - 特許庁

本発明の目的は、多層の被検体を検査する際に、対象の層のみの欠陥を検出し得る欠陥検査装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device capable of detecting a flaw only of an object layer at the time of inspection of a multilayered specimen. - 特許庁

本発明の目的は、欠陥の種類の判別ができ、かつ、検出特性にも優れた基板の欠陥検査装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device of a substrate that can discriminate a type of a flaw and is also excellent in detection characteristics. - 特許庁

電解質膜に欠陥部があると水素ガスが一方の面へと漏洩して、欠陥部近傍の検知膜の電気抵抗が変化する。例文帳に追加

If the electrolyte membrane has a flaw part, the hydrogen gas is leaked to one side of the electrolyte membrane, and the electric resistance of the detection membrane in the vicinity of the flaw part changes. - 特許庁

シリコンウェーハ基板の欠陥検査において、欠陥を分類するための効率的で、信頼性のある方法及びシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an efficient and reliable method and system for classifying defects in defect inspection of a silicon wafer substrate. - 特許庁

フォトマスク上の異物欠陥を複数のプローブを用いて除去するフォトマスクの欠陥修正方法である。例文帳に追加

The defect correction method for a photomask includes removing a foreign matter defect on a photomask by use of a plurality of probes. - 特許庁

欠陥がある場合とない場合の信号の弁別度が向上することで、欠陥分布画像の精度が向上する。例文帳に追加

The degree of discrimination of the signals between both cases that the flaw is present and that flaw is absent is enhanced to enhance the precision of a flaw distribution image. - 特許庁

リアルタイムデ—タを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデ—タの記録方法例文帳に追加

RECORDING MEDIUM TO STORE DEFECT CONTROL INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA, DEFECT CONTROL METHOD THEREOF, AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD - 特許庁

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法例文帳に追加

RECORDING MEDIUM STORED WITH DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL-TIME DATA, DEFECT MANAGING METHOD THEREFOR, AND RECORDING METHOD FOR REAL-TIME DATA - 特許庁

検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。例文帳に追加

This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously. - 特許庁

同一箇所を複数回スキャンして得られる画像あるいは画像信号を加算し、加算回数の異なる画像あるいは画像信号を比較することにより、擬似欠陥あるいは真の欠陥の欠陥位置を検出する。例文帳に追加

The method comprises: detecting a defective position of a pseudo defect or true defect by adding up images or image signals obtained by performing a number of scans on each location, and comparing the images or image signals which are different in the number of additions with each other. - 特許庁

極厚Ｈ形鋼の欠陥を極力なくす、あるいは欠陥を矯正可能な最小限度に留めて製造することのできる手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means which can manufacture an extra thick H shape steel by minimizing its defects or by suppressing the defects to the minimum limit. - 特許庁

多様な欠陥種の高感度検出と高感度化に伴い増加するノイズやNuisance欠陥の抑制が必要である。例文帳に追加

To detect various kinds of defects with high sensitivity, and to suppress noise or a Nuisance defect increased with an enhancement of sensitivity. - 特許庁

欠陥からの反射波を反射ノイズと区別することができ、欠陥判別性の良い円柱体表面検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a cylindrical body surface inspection device capable of distinguishing a reflected wave from a defect from a reflected noise and having excellent defect discriminability. - 特許庁

ベクトル量子化技法を使用して、メモリ内の欠陥のあるメモリ位置を特定する欠陥メモリ位置ビットマップを圧縮する。例文帳に追加

A defective memory position bitmap which specifies a defective memory position in a memory is compressed using the vector quantization method. - 特許庁

これにより、欠陥画素がある場合はその欠陥画素からの検出信号を補完して出力電圧Ｖｐに出力する。例文帳に追加

Thus, when there is a defective pixel, the detection signal from the defective pixel is complemented to output an output voltage Vp to the signal output lines. - 特許庁

一方、これらの領域間で欠陥数に差がある欠陥については、電子ビーム描画装置に起因するものと推測できる。例文帳に追加

On the other hand, defects varying in the number of defects between these areas can be assumed to be caused by the electron beam lithography system. - 特許庁

欠陥レビューのレポート作成に要する時間を短縮し、欠陥レビュー装置あるいは検査システムユーザの利便性を向上する。例文帳に追加

To improve convenience of a defect review device or an inspection system user by shortening the time required to create a report on defect review. - 特許庁

面板表面の凹凸欠陥の大きさを精度よく検出することができる欠陥検出光学系および検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To precisely detect a size of an uneven defect in a surface of a face plate. - 特許庁

保護膜に欠陥のあるデバイスと保護膜に欠陥のないデバイスを選別することができるデバイス検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a device inspection method which can discriminate between the device with defective protective film and the device with nondefective protective film. - 特許庁

ＦＲＯＭ１１２は、駆動方式別にＣＣＤ撮像素子１０１の画素欠陥に関する情報である画素欠陥情報を格納する。例文帳に追加

An FROM 112 stores pixel defect information being information about a pixel defect of the CCD image pickup element 101 for each different driving method. - 特許庁

よって、媒体に欠陥のないセクタを誤って欠陥セクタであると認定する可能性を低下させることができる。例文帳に追加

Consequently, a possibility of erroneously recognizing a sector having no defect in a medium as a defective sector can be reduced. - 特許庁

ＥＥＰＲＯＭ２３０には、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする補正テーブルが格納されている。例文帳に追加

An EEPROM 230 has stored a correction table taking the pixel with at least one photodetector being defective as a defective pixel. - 特許庁

精度良く半導体基板にある欠陥の画像を自動収集することができる欠陥画像自動収集方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an automatic defect image collection method for automatic collection of the images of defects in a semiconductor substrate with good precision. - 特許庁

サブ画素に欠陥があっても、自然画などを表示させたときに、当該欠陥のあるサブ画素を目立たなくする。例文帳に追加

To make sub-pixels having defects inconspicuous, even if the sub-pixels have defects, when a natural image, or the like, is displayed. - 特許庁

追加登録タイミング自体は欠陥補償の前でも後でも、欠陥検出以後なら基本的には任意である。例文帳に追加

Timing of additional registration itself is basically optional provided that it is after the defect detection even when it is before or after defect compensation. - 特許庁

鋼帯１を連続して搬送しながら、該鋼帯１の内部欠陥を超音波探傷装置で連続的に検査する内部欠陥検出装置である。例文帳に追加

The internal defect detecting apparatus continuously inspects an internal defect of a continuously fed steel strip 1 with its ultrasonic detector. - 特許庁

非接触状態で精度よくかつ高速に欠陥を測定することができる基板の欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a defect in a substrate and to provide an inspection apparatus for rapidly measuring a defect in a noncontact state with high accuracy. - 特許庁

欠陥画素が撮像画素３１０の場合、欠陥画素補正処理はメディアンフィルタ処理（処理「Ｍ」）である。例文帳に追加

When the defective pixel is an imaging pixel 310, the correction processing of a defective pixel is a median filtering process (processing "M"). - 特許庁

そして、各条件について、検査感度と欠陥数の平均的な関係を求め、かかる関係から外れる値（欠陥数）があるか否かを調べる。例文帳に追加

An average relation between the inspection sensitivity and the number of defects is obtained with respect to each condition to see if there is any value outside the relation (the number of defects). - 特許庁

一方で、サーボ信号記録領域に存在する突起やごみ等の欠陥が、データ記録領域に移動して欠陥を拡大するという問題がある。例文帳に追加

The magnetic disk device 100 is set in a read inhibition state when a servo signal defect is detected. - 特許庁

溝部を設けたＳｉＯ_２層（６２）上に銅メッキ層（６０）が形成された試料の欠陥を検出する欠陥検出方法である。例文帳に追加

The detection method is a defect detection method for detecting defects of the sample, where a upper-plated layer (60) is formed on an SiO_2 layer (62) provided with trench portions. - 特許庁

記録媒体の欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法例文帳に追加

DEFECT MANAGING METHOD FOR RECORDING MEDIUM AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD - 特許庁

その欠陥のうち、参照弁別線と近似線とに挟まれた領域の散乱光強度を示す一部の欠陥を選択し、レビューＳＥＭを用いて、その一部の欠陥が異物であるかＣＯＰであるかを判定する。例文帳に追加

Part of the flaw, which shows the intensity of the scattered light of the region held between the reference discrimination curve and the approximate curve, of the flaw is selected and a review SEM is used to decide whether part of the flaw is the contaminations or COP. - 特許庁

ライン欠陥がある場合であっても欠陥画素を精度良く抽出可能な画像処理装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide an image processing device and a method which can precisely extract defective pixels, even if there are line defects. - 特許庁

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。例文帳に追加

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists. - 特許庁

特に、暗い背景にある暗い欠陥および／または明るい背景にある明るい欠陥などの欠陥を複合構造の照らされた部分の画像を捕捉することによって識別することのできるように光源を設けることで、複合構造内の欠陥を識別するための改良されたシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an improved system for identifying defects in a complex structure, by providing a light source so that defects, such as dark defects at a dark background and/or bright defects at a bright background, can be identified by capturing an image at an illuminated part in the complex structure. - 特許庁

実害になる異物等の欠陥を非欠陥である配線のエッジラフネスなどとから分離して検出可能とする異物等の欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device of foreign matter or the like capable of separating a flaw such as foreign matter or the like becoming actual harm from the edge roughness or the like of wiring being a non-flaw to detect the same, and a flaw detection method. - 特許庁

対象物の形状、重量あるいは材質のバラツキがある場合でも対象物の欠陥の有無を精度良く検出することが可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw detector capable of precisely detecting the presence of the flaw of an object, even when there is uneveness in the shape, the weight or the material of the object, and to provide a flaw detection method. - 特許庁

デコーディング回路（４６０）は、欠陥の有るメモリセルと欠陥の無いメモリセルの各々の入出力指示子をデコードする。例文帳に追加

A decoding circuit (460) decodes input/output designators of the memory cells having defects and memory cells having no defect. - 特許庁

ｎ側電極は、低欠陥領域の表面の一部を覆うと共に、中央領域にある高欠陥領域の表面を断続的に覆い、両端部にある高欠陥領域の表面を覆わないような形状となっている。例文帳に追加

The n-side electrode has such a shape that covers a part of a surface of the low-defect region, intermittently covers a surface of the high-defect region in the central part, and does not cover surfaces of high-defect regions in both end parts. - 特許庁

算出した偏光（アルファ）の光を試料に照射して欠陥を検査する。例文帳に追加

Light of computed polarization (α) is irradiated to the sample to inspect defects. - 特許庁

算出した偏光（アルファ）の光を試料に照射して欠陥を検査する。例文帳に追加

Light of the calculated polarization (alpha) is irradiated to the sample to inspect defects. - 特許庁

欠陥画素置換方式及び映像表示装置に関し、映像入力部の構成単位である画素に欠陥がある場合に、欠陥画素の画素データを正常画素の画素データの荷重平均で置換する欠陥画素置換方式及び映像表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect pixel replacement system where pixel data of a defective pixel are replaced with a weight mean of pixel data of a normal pixel when there is a defect in a pixel being a configuration unit of a video input section and to provide a video display device. - 特許庁