「欠陥のある」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

被帯電部材の欠陥部があっても、欠陥部に電源のリミットが働くほど過剰な電流が流れてしまうことない帯電部材であるか否かを正確に評価することができる帯電部材評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide a charging member evaluation method capable of exactly evaluating whether a charging member can prevent such an excessive current that the limit of an electric source is actuated for a defective part from flowing even when there is the defective part in a member to be charged. - 特許庁

同一の欠陥について複数のカメラで異なるタイミングで検出されることがある検査システムにおいて、表示・出力する欠陥情報を適切に絞り込むこができるようにする例文帳に追加

To appropriately narrow down defect information displayed or output in an inspection system where an identical defect may be detected by two or more cameras under different timings. - 特許庁

各種工具のスローアウェイチップなどの工具チップであるワークを、効率良く正確に検査することができる工具欠陥検査装置と工具欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and method for inspecting the defect of tools capable of efficiently and accurately inspecting workpieces being tool chips such as slow away chips of various tools. - 特許庁

欠陥修正装置内の任意の位置にある塗布機構に対して液体容器を着脱することができる、液体容器着脱装置および当該液体容器着脱装置を備える欠陥修正装置を提供する。例文帳に追加

To provide a liquid container attaching and detaching apparatus capable of attaching and detaching a liquid container to and from an application mechanism located at an optional position inside a defect correction apparatus, and the defect correction apparatus equipped with the liquid container attaching and detaching apparatus. - 特許庁

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof. - 特許庁

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。例文帳に追加

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing. - 特許庁

欠陥画素データ作成装置10は座標メモリ24を有し、座標メモリ24には、固体撮像デバイス22に含まれていることのある欠陥画素の位置を示す位置情報が記憶される。例文帳に追加

The device 10 has a coordinate memory 24, which stores positional information denoting the position of a defective pixel included in a solid-state image pickup device 22. - 特許庁

溶接中に欠陥が発生すればリアルタイムで欠陥の発生を発見する等、溶接中にリアルタイムで品質を判定することが可能な技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technique by which the determination of the quality is attainable in real time during welding such that the occurrence of defect is discovered in real time when the defect is occurred during welding. - 特許庁

透明導電膜に存在する黒欠陥を、下地や周辺部位へのダメージ無く修正することが可能な黒欠陥修正方法を提供することが課題である。例文帳に追加

To provide a black defect correction method for correcting a black defect generated in a transparent conductive film without damaging a base and a peripheral region. - 特許庁

画像処理による擬似的な解像度の向上を実現し、検査対象であるワークに存在する欠陥を高精度に検出可能な欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection method that improves pseudo resolution by image processing and detects a defect in a workpiece to be inspected with high accuracy. - 特許庁

顧客保護等管理態勢について、態勢の不備が認められるなど、顧客説明管理態勢、顧客サポート等管理態勢、顧客情報管理態勢、外部委託管理態勢等に欠陥がある、または、重大な欠陥が認められる。例文帳に追加

The deficiency of the system may lead to, or has led to, an inappropriate incident or an unexpected loss that could threaten the ability of the financial institution to continue operating as such.  - 金融庁

ガラスまたは石英の凹凸からなる位相シフトマスクに対して高品質な欠陥修正を提供するためには、高い透過率で、位相制御性も良い欠陥修正技術が必要である。例文帳に追加

To provide a defect-correcting technique of high transmittance and satisfactory phase controllability, in order to provide a phase shift mask consisting of ruggedness of glass or quartz with high-quality defect correction. - 特許庁

擬似欠陥を低減する一方で、転写後に欠陥を生じさせるおそれのあるパターンを予め拾い出して検査する検査装置および検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus and method for reducing pseudo defects, and for previously selecting and inspecting patterns which can cause defects after transfer. - 特許庁

コンクリート表面３に欠陥部分（ひび割れや段差）３ａがある場合、ライト４Ａ，４Ｂの照射方向によって該欠陥部分３aに影が出来たり出来なかったりする。例文帳に追加

In a case that there exists a defect 3a (crack or step) at a concrete surface 3, generation or non-generation of a shadow at the defect 3a depends on an irradiation direction of lights 4A, 4B. - 特許庁

また、物理再フォーマットを行った後も、スペア領域１５中の欠陥クラスタに対して欠陥であることを認識して、そこを交替クラスタとして再割り当てしない（使用しない）ように制御することができる。例文帳に追加

Furthermore, even after physical reformatting is performed, a defective cluster, if any, in the spare area 15 can still be recognized as a defect and the control operation can be performed so that a replacement cluster is not re-allocated to the defective cluster (i.e., the defective cluster is not used). - 特許庁

検査感度が異なる複数の検査装置を用いて、半導体製造プロセスにおける欠陥数あるいは欠陥密度による品質管理を正しく行う。例文帳に追加

To properly perform quality control, based on the number or density of defects in a semiconductor manufacturing process by using a plurality of sets of inspection equipment which have different inspection sensitivity. - 特許庁

誤診等を引き起こすことがないように、放射線画像の画像欠陥を、適切に補正することができる画像撮影装置及び画像欠陥補正方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide an imaging device and an image defect correcting method, which can adequately correct an image defect in a radiological image so as not to cause a mistaken diagnosis or the like. - 特許庁

スケール５は、例えば継ぎ目である欠陥部１１を有していて、その欠陥部１１をセンサ６が検知している間は中間転写ベルト１０へ画像を形成しないようにする。例文帳に追加

The scale 5 has a defective part 11 being, for example, a joint, and image formation on the intermediate transfer belt 10 is avoided while the sensor 6 detects the defective part 11. - 特許庁

次に、欠陥判断部１５Ｃが上記標準偏差が基準標準偏差を超えているか否かを判別し、基準標準偏差以上であればセラミック素体部に内部クラックの欠陥があると判断する。例文帳に追加

Thirdly, a defect judgment part 15C discriminates whether the standard deviation exceeds basic standard deviation or not, and when it is more than the basic standard deviation, it judges that there is a defect of the inside crack on the ceramic element assembly part. - 特許庁

記録密度に関わらず、欠陥管理情報領域が互いに対向し、かつ、欠陥管理方法が固定である信頼性の高い情報記録媒体を提供すること。例文帳に追加

To provide an information recording medium with high reliability having a fixed defect management method wherein defect management information areas opposed to each other regardless of the recording density. - 特許庁

発泡体に内部欠陥としてボイドがあるか否かを検査者毎にばらつきなく非破壊でかつ内部欠陥の有無を容易に判断し得る発泡体内部検査装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and a method for inspecting nondestructively an inside of a foam body capable of judging the propriety of a void as an internal defect in the foam body, without generating dispersion in every inspection person, and capable of judging easily the presence of the internal defect. - 特許庁

欠陥候補検出部２０は、検査対象である光透過性フィルムＡを撮像し、得られた画像から光透過性フィルムＡの欠陥候補を検出する。例文帳に追加

The defect candidate detection part 20 images the optically transparent film A which is an inspection object, and detects a defect candidate of the optically transparent film A from the acquired image. - 特許庁

検査対象画像を参照画像と比較してその差異から欠陥を検出する比較検査において、感度調整が容易な欠陥検査方式及び装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for inspecting defects in which the sensitivity can be adjusted easily in a comparison inspection of comparing a test object image and a reference image with each other and detecting defects from a difference of the images. - 特許庁

タンク１内の気圧が減圧されると、溶接線２２に欠陥箇所２４がある場合、タンク１外部から空気が侵入するため、吹き付けられた石鹸水２３が泡立ち、欠陥箇所２４が正確かつ容易に発見，特定できる。例文帳に追加

In case the weld line 22 has a defective spot 24, the spot 24 can be discovered and specified accurately and easily when the pressure in the tank 1 is reduced, because outside air infiltrates into the tank 1 through the spot 24 and the sprayed soap-and-water solution 23 bubbles. - 特許庁

このような蛍光体材料は、外部から応力を付与して内部に欠陥をつくる欠陥生成工程がないため、特性ばらつきが少なく、ＥＬ素子に好適である。例文帳に追加

The phosphor material is suited for an EL element because of less variation of characteristic since there is no defect formation process in which stress is applied externally to form a defect inside of a phosphor material. - 特許庁

走査線５ｂ上に欠陥有機ＥＬ素子１３がある場合、コンデンサ３４ｂは欠陥有機ＥＬ素子１３等を介して切替スイッチ２２ａ側の接地点に短絡されるため充電されない。例文帳に追加

When there is a defective organic EL element 13 on a scanning line 5b, a capacitor 34b is short-circuited to a ground point on the side of a changeover switch 22a through the defective organic EL element 13 etc., and then not charged. - 特許庁

欠陥除去装置１は、真空発生装置１１を駆動して真空を発生させ、ノズル９から欠陥領域３３にある着色剤２７を硬化前に吸引する。例文帳に追加

The defect removing device 1 makes a vacuum generator 11 drive, to generate vacuum and sucks the coloring agents 27 in the defect regions 33 through the nozzle 9 before curing. - 特許庁

映像撮影中にリアルタイムの処理で重心画素とその周囲の画素から信号のパターンを判別し、周囲と比較して1画素だけ極端の大きいレベルや小さいレベルの画素を欠陥とみなし画素欠陥補正を行なう。例文帳に追加

A signal pattern is discriminated from a center of gravity pixel and surrounding pixels in real-time processing, during photographing of video and a pixel having an extremely large or small level, as compared with surrounding pixels, is regarded as a defect, and pixel defect correction is performed. - 特許庁

レーザ系の劣化によるメンテナンスの頻度を低減し、アルミニウム及びガラスのような損傷し易い材料であっても効率的な欠陥除去が可能であり、除去可能な欠陥を残すことが少ないクリーニング装置を提供する。例文帳に追加

To provide a cleaning device capable of reducing the frequency of maintenance due to deterioration of a laser system, capable of efficiently removing defect even if a material is liable to be damaged such as aluminum and glass. - 特許庁

欠陥箇所のフレームが特定可能な、又は保存画像の圧縮率が高い、或いはシステマティックな欠陥を抽出可能な高精度で低ダメージの走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope with high precision and low damage, enabling identification of a frame in a defective section, or having high compression ratio of a stored image, or enabling extraction of systematic defects. - 特許庁

構造欠陥のない積層セラミックコンデンサおよび構造欠陥の有る積層セラミックコンデンサについて、１ｋＨｚ以下の測定周波数たとえば１ｋＨｚの測定周波数でＱ値を測定する。例文帳に追加

A Q-value is measured at a measurement frequency of 1 kHz or lower, for example 1 kHz, for laminated ceramic capacitors with no structural defect and those with a structural defect. - 特許庁

従来通りの高い精度での欠陥検出を可能としながら、検査時にリアルタイムで欠陥検査の結果を知ることができる超音波探傷信号処理方法を提供する。例文帳に追加

To provide an ultrasonic flaw detection signal processing method capable of knowing the result of flaw inspection within a real time at a time of inspection while enabling flaw detection with high accuracy as is conventional. - 特許庁

アルミニウムを材料とする配線を有する電極基板及び電気光学装置の製造方法において、配線欠陥のない電極基板、表示欠陥がなく表示特性の良い電気光学装置を得る。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing electrode substrate having aluminum wiring and an electrooptic device by which an electrode substrate having no defective aluminum wiring and an electrooptic device having a defect-free high display-characteristic can be manufactured. - 特許庁

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。例文帳に追加

This recording medium stores information, showing whether linear replacement defect management for replacing defects on the recording medium with data in a margin area so as to record real-time data in a recording area. - 特許庁

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。例文帳に追加

In this recording medium, an information showing whether a linear substitution defect control substituting data on the excess area for a defect on the recording medium is used or not, is stored for recording the real time data in the recording area. - 特許庁

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method. - 特許庁

鋼板等の材料が搬送されている、或いは移動している場合でも、精度良く材料の表面欠陥及び表層欠陥を検出できるようにする。例文帳に追加

To allow accurate detection of surface defects and surface layer defects of a material even when the material such as a steel plate is being transported or moved. - 特許庁

シート状物に発生した周期性の凹凸状欠陥を安価な装置構成で比較的単純な信号処理によってリアルタイムに判定し、信頼性の高い周期性欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a reliable cyclic flaw checkup apparatus for sheet-shaped objects that is capable of determining on a real-time basis cyclic convexo-concave flaws having occurred on sheet-shaped objects with an inexpensive hardware configuration and by relatively simple signal processing. - 特許庁

そして、欠陥検出装置の指示に基づいてシリンダ１０が下方に駆動し、ローラ８が回転しながらアルミニウム板を押圧することで、欠陥部に対して深さ５〜５０μｍの圧痕を形成することができる。例文帳に追加

Based on an indication of a defect detector, the cylinder 10 is driven downward, and causes the roller 8 to press the aluminum sheet while rotating, forming the indentations of 5-50 mμ in depth with respect to defective parts. - 特許庁

表層の微細クラックおよび欠陥を除去する機械加工等を不要にし、クラックはおろか欠陥すらも残留しない、機械特性により優れたアルミニウム系合金部材を安価な工程で製造可能にする。例文帳に追加

To manufacture an aluminum based alloy member which eliminates the need for machining, or the like, for removing fine cracks and defects on the surface, does not remain the crack, let alone the defect and has more excellent mechanical characteristics by an inexpensive process. - 特許庁

フォトマスクに異物が付着していても、所定のパターンに太り、細りを引き起こすことなく、黒欠陥或いは白欠陥を発生させないフォトマスク、それを用いた露光方法を提供する。例文帳に追加

To provide a photomask that is free of generation of black defects or white defects, without causing thickening or thinning of a predetermined pattern, even if foreign matters are deposited on the photomask, and to provide an exposure method that uses the mask. - 特許庁

デジタル・カラー・イメージ・センサにおいて欠陥ピクセル（２５）の検知および修正を行うイメージ・センサ・チップ（２０）に実装される欠陥ピクセル修正（ＢＰＣ）アルゴリズムが提供される。例文帳に追加

A defective pixel correction (BPC) algorithm installed in an image sensor chip 20 for detecting and correcting a defective pixel 25 in a digital color image sensor is provided. - 特許庁

したがって、リブ欠け欠陥部３５ａに隣接する正常なリブ３５によってレーザ光αを遮られることなく、リブ欠け欠陥部３５ａの底まで加熱することができる。例文帳に追加

Therefore, a normal rib 35 adjacent to the rib failure defective portion 35a does not screen the laser beam α, so that the rib failure defective portion 35a can be heated down to the bottom. - 特許庁

寸法合わせが済んだ最終段階において欠陥を見出した場合であっても、アルミニウム鋳物に生じている欠陥を補修することができるようにしたい。例文帳に追加

To provide a method for repairing any defect of an aluminum casting even when a defect is found in a final stage in which the aluminum casting is finished to final dimension. - 特許庁

リトライ判断部１１が実行する処理には、信号処理部６からの信号に基づいて、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行う欠陥部検知処理と、前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測する時間計測処理と、前記時間計測結果と、前記記憶部に記憶される閾値と、に基づいて再読み出しを行うか否かを判断するリトライ判断処理と、が含まれる。例文帳に追加

The retry determining section 11 executes: determining whether the reproducing position is a defect part or not and detecting the defect part based on a signal of a signal processing section 6, measuring the time in which defects are successively detected when the defect is detected, and determining whether to perform re-reading based on the measured time measuring and a threshold stored in the storage. - 特許庁