「欠陥のある」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

電気検査等で検出された欠陥に対して、従来の修正装置での観察では認識が困難であった欠陥種を顕在化し、画素を正常化あるいは半黒点化できる電子回路パターンの欠陥修正装置の提供。例文帳に追加

To provide a defect correction device of an electronic circuit pattern, the correction device actualizing defect species which are difficult to be recognized by observation using a conventional correction device relative to defects detected by an electric inspection or the like, and normalizing a pixel or forming a semi-black point therefrom. - 特許庁

プラズマディスプレイパネル等のガラス基板に形成された蛍光体の印刷欠陥を、蛍光体塗布パターンに影響されず、高感度に自動的に検出し、また、パネルの製造ラインに容易に設置でき、低価格、高速度の欠陥検査を実現したパターン欠陥検査方法を提供することである。例文帳に追加

To detect automatically with high sensitivity a print defect of a phosphor formed on a glass substrate such as a plasma display panel without being influenced by a phosphor applied pattern, and to realize low-cost and high-speed defect inspection by being installed easily on a manufacture line of the panel. - 特許庁

鋼板の欠陥の有無を正確に検出し、鋼板に欠陥があっても鋼板の打抜き作業を中止させることなく連続的に行わせ、欠陥のある鋼板を自動的に選別して処理する鋼板打抜き装置を提供する。例文帳に追加

To provide a steel plate punching device which accurately detects the existence of a defect in the steel plate, continuously performs a steel plate punching operation without stopping the same even when there is a defect in the steel plate, automatically selects the steel plate having the defect and treats the same. - 特許庁

つまり、欠陥データと鋳造品の形状とを単純に重ね合わせて表示するのではなく、欠陥が近接していると特に問題が生じるであろう部位であると考えられる加工部と欠陥との間の関係に着目している。例文帳に追加

In other words, the defect data is not shown by simply being overlapped with the shape of the cast product, but the attention is payed to the relation between the defect and the machining portion to be especially considered to cause a problem if the defect exists near the machining portion. - 特許庁

カラーフィルタ基板の光透過欠陥部に遮光部を、もしくは異物等の高さのある欠陥をレーザーリペアで除去して遮光部を形成するカラーフィルタ欠陥の修正方法及びカラーフィルタ基板を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method for correcting a color filter, which forms a light shielding part in a light transmission defect part of a color filter substrate, or forms a light shielding part by removing a raised defect such as a foreign matter by laser repair, and to provide the color filter substrate. - 特許庁

レチクル各部において、その部分の画素位置による輝度値の変化度合いに応じた厳しさで、レチクル各部の欠陥を検出でき、ウエハ露光時に問題がある欠陥だけを、簡単な構成で、かつ、高速に検出できる欠陥検出装置及び方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method capable of detecting a defect at each part of a reticle with severity corresponding to the change degree of a brightness value due to the pixel position of each part of the reticle and capable of detecting only a defect becoming a problem at a time of the exposure of a wafer at a high speed with a simple constitution. - 特許庁

画素欠陥検出部２は、フレーム内の各画素の信号レベルを２つの閾値Ｔ１，Ｔ２と比較して、あるいは周辺画素との信号レベル差を閾値Ｔ３と比較することで、画素欠陥が白キズか黒キズかを識別した画素欠陥検出信号を生成する。例文帳に追加

A pixel defect detection part 2 compares the signal levels of respective pixels in a frame with two thresholds T1, T2 or compares signal level differences from peripheral pixels with a threshold T3, thereby to generate a pixel defect detection signal which identifies whether the pixel defect is a white flaw or a black flaw. - 特許庁

印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。例文帳に追加

To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter. - 特許庁

欠陥の１つである異物をほとんど検出することなく、ディスク基板をチャックしたときに残るチャック痕、疵や欠け等の外周欠陥を高精度に検出することができるようなディスクの周面欠陥検出方法および検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for detecting a peripheral surface of a disk capable of detecting highly accurately an outer peripheral defect such as a chuck impression, a flaw or a chip remaining when chucking a disk substrate, almost without detecting foreign matter which is one of defects. - 特許庁

ディスクに欠陥があっても、高ビットレートのデータを、リアルタイムで再生する。例文帳に追加

To reproduce data of a high bit rate in a real time even if defect exists in a disk. - 特許庁

コンクリート構造物中或いはコンクリート構造物背後の欠陥探査方法例文帳に追加

METHOD FOR SEARCHING DEFECT IN CONCRETE STRUCTURE OR BEHIND THE STRUCTURE - 特許庁

算出した偏光（アルファ）の光を試料に照射して欠陥を検査する。例文帳に追加

The light with the calculated polarization (alpha) is emitted on the sample to inspect a defect. - 特許庁

軽量化された鋳造アルミホイールを欠陥なく低価格で製造できる製造方法の提供。例文帳に追加

To provide the method capable of producing a cast aluminum wheel at a low cost without any defect. - 特許庁

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体例文帳に追加

RECORDING MEDIUM FOR STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA - 特許庁

成長欠陥（Ａｓ−ｇｒｏｗｎｎ欠陥）の一つであるＣＯＰ（Ｃｒｙｓｔａｌ Ｏｒｉｇｉｎａｔｅｄ Ｐａｒｔｉｃｌｅ）欠陥の密度が１０^4個／ｃｍ^3以下の単結晶シリコンまたは一方向凝固組織を有するシリコン鋳造体からなるプラズマエッチング用シリコン電極板。例文帳に追加

A plasma etching silicon electrode plate is made by a single crystal silicon or a casted silicon material having unilaterally solidified composition, with a COP(Crystal Originated Particle) defect density of 104 pcs/cm3 or less. - 特許庁

表示素子の実用化に際して致命的な欠陥となる黒ブツ欠陥または黒ブツ欠陥前駆体である金属核が表示素子の繰り返し駆動に伴い発生しても、これらを再溶解させることで消去することができる電気化学型表示素子用の電解液。例文帳に追加

To provide an electrolytic solution for an electrochemical display element, from which black dot defects or metal nuclei that are the precursors of the black dot defects, that become fatal defects in practical terms using the display element, are eliminated by making them redissolved, even when produced accompanying repetition of driving of the display element. - 特許庁

配線工程で重要な要素である、配線抵抗、断線及びショート欠陥、およびスルーホールのプロセスを低コストで、欠陥レベルを評価し、検出した欠陥箇所の探索効率を向上するための最適なＴＥＧ構造を提供する。例文帳に追加

To provide a TEG structure optimal for evaluating the defect level in the important components of an interconnection process, i.e., interconnect resistance, open circuit and short circuit defect, and through hole process, at a low cost and enhancing the location efficiency of a detected defect. - 特許庁

周区間分割信号生成手段１１０により光ディスク１０１の１周を複数の周区間に分割し、欠陥有無補正手段１１１は周区間単位で欠陥有無を決定し、欠陥有がある周区間において制御手段１５０は光スポットの位置制御をホールドする。例文帳に追加

Circumference of an optical disk 101 is divided into a plurality of circumferential sections by a circumferential section dividing signal generating means 110, a defect correcting means 111 decides whether a defect exists for each circumferential section, a control means 150 holds position control of the light spot in a circumferential section having a defect. - 特許庁

インサート成形により製造された転動装置部品に製品欠陥があるか否かを切断などの破壊を伴わずに精度よく検査することのできる転動装置部品の製品欠陥検査方法及び製品欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for inspecting a product defect of a rolling device component capable of accurately inspecting whether there is a product defect in the rolling device component manufactured by insert molding without being accompanied by breakdown such as cutting. - 特許庁

物体表面４を正反射方向Ａから捕らえたときに物体表面４の欠陥がない表面部分５と欠陥がある欠陥部分６とで結像状態の差が生じるように所定の像７が、像空間１５に形成される。例文帳に追加

A prescribed image 7 is formed in an image space 15 in such a way that a difference in an image-forming state occurs between a surface part 5 without defects and a defective part 6 with a defect in an object surface 4 at capturing of object surface 4 from the direction of regular reflection A. - 特許庁

導出した差分値Ｄが、予め設定された範囲に属する場合、当該検査対象の画素は欠陥画素でないと判定し、そうでない場合、当該検査対象の画素は、差分値Ｄに応じた欠陥グレードに属する欠陥画素であると判定する。例文帳に追加

In the case where the derived differential value D belongs to a preset range, the inspection target pixel is determined as a non-defective pixel, and in the case where the derived differential value D does not belong to the preset range, the inspection target pixel is determined to be a defective pixel that belongs to a defect grade according to the differential value D. - 特許庁

本発明のマスク黒欠陥修正手法は、原子間力顕微鏡によってマスクの黒欠陥部位置を把握し、前記黒欠陥位置上方に前記原子間力顕微鏡の探針を移動させ、前記探針と前記マスク黒欠陥部を両電極とし電解液を介在させた状態で電気化学的反応により前記黒欠陥を除去するものであって、更に前記原子間力顕微鏡によって前記黒欠陥の除去を確認するものである。例文帳に追加

The black defect correction technique of the mask comprises recognizing the position of a black defect section of the mask by an atomic force microscope (AFM), moving the probe of the AFM upward of the black defect position, and removing the black defect by electrochemical reaction in the state of interposing an electrolyte between the probe and the black defect section as both electrodes and further comprises confirming the removal of the black defect by the AFM. - 特許庁

ウェーハ上の欠陥の種類を判別するためのアルゴリズムによれば、複数の暗視野部検出器を含むウェーハ検査装置によって測定されたウェーハ上の欠陥のサイズがＣＯＰの最大サイズを表わす限界値よりも小さければ前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。例文帳に追加

According to algorithm for discriminating the kind of defect on a wafer, if the size of defect measured with a wafer inspection device containing a plurality of dark field part detectors is smaller than a limit value indicating the maximum size of COPs, the kind of defect is decided as being not particles. - 特許庁

被検査対象基板上に繰り返して形成される様々な回路パターン上に生じる欠陥または異物を、光学条件に依存せず、正常な回路パターンと弁別して欠陥を検出する欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a defect inspection method and apparatus therefore capable of detecting defects or contaminations on various circuit patterns to be repeatedly formed on inspection object substrates, discriminating from normal circuit patterns, without depending on optical conditions. - 特許庁

本発明は、レーザー透過式検出機、ＣＣＤカメラ、ならびにレーザー式反射検出機および／または接触式変位検出機により、シートの欠陥を検出することを特徴とするシート欠陥検出方法および当該欠陥検出後に当該シートを分別することを特徴とするシート分別方法である。例文帳に追加

The sheet is discriminated after detecting the defect. - 特許庁

更に、コンピュータ１０７上で得られた画像毎に輝度シェーディング補正を行うことで、微弱な欠陥を見落としなく高精度に検出し、更にまた、欠陥種別対応判定基準を設け、合否判定を行うと同時に、欠陥種別対応に詳細に定量評価を行えるようにしたものである。例文帳に追加

Brightness shading is corrected in each provided image on a CPU, a micro-defect is thereby detected highly accurately without missing it, and a determination reference corresponding to kinds of defects classified is further provided to determine the quality and to conduct detail quantitative evaluation corresponding to the kinds of defects classified. - 特許庁

パーシャルレスポンス信号処理方式でデータエラーが発生しない微小な媒体欠陥を検出する媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置を提供するものである。例文帳に追加

To provide a method and a system for detecting a medium defect by which detection is made for a minute medium defect that does not generate a data error in a partial response signal processing system and an information recording and reproducing device which utilizes the method and the system. - 特許庁

なお、欠陥画素であると検出された画素に割り振られた番号から次に同じ番号が割り振られるまでに検出された欠陥画素が存在しない場合は、当該同じ番号、あるいは、当該同じ番号よりも前の番号が割り振られた画素が欠陥画素ではないことを示す情報とともに、当該番号を欠陥画素情報に追加する。例文帳に追加

Also, when defective pixels are not detected until the next allocation of the same number as the number allocated to the pixel detected to be a defective pixel, with information indicating that a pixel to which the same number or a number allocated earlier than the same number is allocated is not a defective pixel, the number is added to the defective pixel information. - 特許庁

欠陥画素検出部１０５により欠陥画素が検出されると、メディアンフィルタ１０６は、フィルタ範囲設定部１０７で設定されるフィルタ範囲の画素の内の中間値の階調値と、欠陥画素の階調値との差が、階調レベルの閾値設定部１０８で設定される閾値以上ある場合には、その中間値で欠陥画素を置換する。例文帳に追加

Upon detection of a defective pixel by a defective pixel detection section 105, if the difference between a gradation value of a median value in pixels in a filter range preset by a filter range setting section 107 and a gradation value of the defective value is no less than a threshold value preset by threshold value setting section 108, a median filter 106 replaces the defective pixel with the median value. - 特許庁

数値化された各検査領域におけるパワースペクトラムの強度分布の傾きαが所定の範囲内に収まる領域を欠陥領域として抽出し、抽出した欠陥領域を統合して欠陥領域の大きさを算出して判定を行う（ステップ１０７〜１０９）例文帳に追加

A domain, where the inclination α of the intensity distribution of the power spectrum in each inspection domain expressed numerically lying within a prescribed range, is extracted as a defective domain, each extracted defective domain is integrated, the magnitude of the defective domain is calculated, and determination is performed (step 107-109). - 特許庁

コントラストの低い、あるいはサイズの小さい欠陥に対しても高い検出力を有するとともに、シミ欠陥として検出するための閾値を検出画像内の輝度統計データに基づいて自動的に決定し、さらに検出されたシミ欠陥の定量評価を可能にしたシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a detection method and a detection apparatus of stain defects that have high detection output also for a defect having a low contract or a small size, automatically determine a threshold for detection as the stain defects, based on statistical brightness data in a detected image, and further achieve the quantitative evaluation of the detected stain defects. - 特許庁

欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する（ステップＳＴ１〜ＳＴ６）。例文帳に追加

With respect to a difference absolute value between an average signal value of a block with a predetermined size including a defective pixel detection target pixel and a signal value of the defective pixel detection target pixel, it is determined whether or not the defective pixel detection target pixel is a defective pixel with a first threshold and a second threshold which is larger than the first threshold (steps ST 1 to ST 6). - 特許庁

ＣＣＤ型やＣＭＯＳ型などの撮像素子１３を用いてなる撮像装置（カメラ装置）において、レンズ１１が非合焦状態にあるときの撮像素子１３の輝度レベルを用いて欠陥検出回路２４で欠陥検出を行い、その検出した欠陥画素のアドレスをシステムコントローラ２６内に保持し、そのアドレス位置で欠陥補正を行うようにする。例文帳に追加

In the imaging apparatus (camera apparatus) employing the imaging element 13 of a CCD type or a CMOS type, a defect detection circuit 24 detects a defect by using a luminance level of the imaging element 13 when a lens 11 is in an out of focus state, a system controller 26 stores an address of the detected defective pixel and the defect is corrected at the address position. - 特許庁

さらに、欠陥判定部２２は、複数のオブジェクトパターン区分領域のうち欠陥候補領域として抽出されたオブジェクトパターン区分領域に存在する貫通孔についての孔情報と、欠陥候補領域に対応するマスターパターンの領域内に存在する貫通孔についての孔情報との比較結果に基づいて、各貫通孔が欠陥であるか否かを判定する。例文帳に追加

A defect judging part 22 judges whether the respective through-holes are defective or not based on comparison result between hole information concerning the through-hole which exists in the object pattern division area extracted as the defective candidate area among the plurality of object pattern division areas and hole information concerning the through-hole which exists in the master pattern area corresponding to the defective candidate area. - 特許庁

本発明は古くなった埋設配管の欠陥を検出する埋設配管欠陥箇所検出装置に係り、特に埋設配管の亀裂等の検査において特に穴を掘る必要もなく、例え配管が曲がっていても正確に欠陥個所を知ることができる埋設配管の欠陥箇所検出装置を提供するものである。例文帳に追加

To provide a defect position detecting device for a buried pipe detecting a defect of the old buried pipe and capable of accurately detecting a defect position even when the pipe is bent without particularly digging a hole in an inspection of the crack or the like of the buried pipe in particular. - 特許庁

この一時的欠陥管理領域には、最初の書き込みで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(1)、書き込みのリトライで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(2)、前記構造情報を含む最後のクラスタに含まれる欠陥領域リスト(3)の順に並べられている部分がある。例文帳に追加

The temporary defect management area includes a portion where a defective area list 1 constituted of clusters succeeded in first writing, a defective area list 2 constituted of clusters succeeded in writing retrial, and a defective area list 3 included in a last cluster including the structure information area are arrayed in order. - 特許庁

本発明に係る欠陥レビュー装置は、オペレータがウエハ１上の欠陥を観察する欠陥レビュー装置であって、ウエハ１を載置するステージ２と、ステージ２上のウエハ１の欠陥を観察する観察機構と、オペレータが不良と確認したＩＣチップにレーザーを照射して不良マークをつけるレーザー照射機構と、を具備するものである。例文帳に追加

This defect review device is for having an operator observe a defect on a wafer 1 and comprises: a stage 2 for mounting the wafer 1; an observation mechanism for observing the defect of the wafer 1 on the stage 2; and a laser irradiation mechanism for irradiating the IC chip confirmed as being defective by the operator with a laser and marking a defective mark. - 特許庁

或る基板群の欠陥分布を分類するために設定されたテンプレート１００と、基板群の欠陥分布がテンプレート１００に記述された欠陥分布パターンに該当するか否かを分類して得られたデータ群１０１，１０２とを用意する。例文帳に追加

A template 100 set for classifying the defect distribution of a certain substrate group and data groups 101 and 102 obtained by classifying whether or not the defect distribution of the substrate group is pertinent to a defect distribution pattern described in the template 100 are prepared. - 特許庁

基板パターンの何れか一辺が搬送方向と平行となっている基板の回折光観察において、合焦不良欠陥などの観察方向によって欠陥検出感度が不安定である欠陥に対して、欠陥検出感度を向上させるための基板検査装置および基板検査プログラムを提供すること。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device for enhancing flaw detecting sensitivity with respect to a flaw being unstable in flaw detecting sensitivity by an observation direction of a focus matching defective flaw or the like in the observation of the diffracted light of a substrate wherein any one side of a substrate pattern is parallel to a feed direction, and a substrate inspection program. - 特許庁

故障は、欠陥の物理現象が明らかになったものであるから、同じように故障自身も分布関数を持つと仮定して、半導体装置の歩留の算出と、欠陥分布関数と特性を同じくする故障分布関数とを用いて欠陥レベル式を導出することで、欠陥レベル推定する方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

A formula on a defect level is deduced by calculating the yield of the semiconductor device and using a fault distribution function having the same characteristics of those of a defect distribution function by assuming that faults themselves also have distribution functions, because the faults are the defects showing cleared-up physical phenomena. - 特許庁

欠陥ブロックと代替ブロックとの対応情報が欠陥ブロックの種別とともに登録された欠陥リストを記録媒体から取得しておき、該記録媒体から欠陥ブロックを読み出す必要がある場合は、その代替ブロックを読み出して再生要求元に転送するディスク再生装置を前提としている。例文帳に追加

The device for reproducing a disk acquires a defect list on which correspondence information on a defective block and an alternative block is registered with the classification of the defective block from a recording medium, and reads the alternative block and transfers it to the origin of a reproduction request when it is necessary to read the defective block from the recording medium. - 特許庁

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。例文帳に追加

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like. - 特許庁

その後、欠陥セクタ３０５であるトラックＴ４のｎ番目のセクタへの記録は行われず、この欠陥セクタ３０５の次のセクタであるトラックＴ４のｎ＋１番目のセクタへの記録が再開される。例文帳に追加

Then, recording on an nth sector of the track T4 which is a defective sector 305 is not performed, and recording is resumed from an (n+1)th sector of the track T4 which is a next sector of the defective sector 305. - 特許庁

光波長程度の周期を持ち無欠陥或いは欠陥のあるフォトニック構造体として使用し得る屈折率周期構造体、その応用機能素子、及びそれらの簡易な製造方法である。例文帳に追加

To provide a structure with refractive index period capable of being used as a photonic structural body without or with a defect having a period equal to that of an optical wavelength, its applied functional element and a simple method for manufacturing those. - 特許庁

光波長程度の周期を持ち無欠陥或いは欠陥のあるフォトニック構造体として使用し得る屈折率周期構造体の簡易な製造方法である。例文帳に追加

To provide a method for easily producing a periodic index structure having a period nearly equal to light wavelength and usable as a defect-free or defective photonic structure. - 特許庁