「欠陥のある」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

この方法により、被検査物の画像が、ある一定の周期的な濃淡を有し、その中に欠陥があるような場合でも、表面欠陥を検査することができる。例文帳に追加

This method allows surface defects to be inspected, even when an image of an object to be inspected includes constant, periodic variations in density, and there is a defect therein. - 特許庁

基板を製造する複数の工程の内どの工程に起因するキズあるいは汚れであるか、作業者の裁量に任せずに、迅速かつ正確な検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device capable of rapidly and accurately inspecting what process of a plurality of sample manufacturing processes a flaw or stain is caused in without relying on the discretion of a worker, and a flaw inspection method. - 特許庁

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil. - 特許庁

欠陥判定手段１２は、撮影手段２が撮影した画像中の画素の輝度が不均一である場合、その画像を撮影した時の被写界深度内に欠陥があると判定する。例文帳に追加

It is determined by a defect decision means 12 that the defect is in the depth of field when images are taken when luminance of pixels is uneven in the images taken by the photographing means 2. - 特許庁

第１及び第２ページバッファグループの各々のページバッファのうち少なくとも一つに欠陥がある時、欠陥があるページバッファを含むページバッファグループに対応するヒューズは切断される。例文帳に追加

When a defect exists in at least one buffer out of respective page buffers of the first and the second page buffer groups, a fuse corresponding to a page buffer group including a defective page buffer is cut off. - 特許庁

テープ２２を光学的に検査し、光学的な検査で欠陥があると判断された場合に、欠陥が金属の異物の付着であるか否かの確認（ベリファイ）のためにＸ線撮影を行う。例文帳に追加

When a tape 22 is inspected optically and a flaw is decided as being present by optical inspection, X-ray photographing is performed, in order to confirm (verify) whether the flaw is adhesion of metal foreign matters. - 特許庁

アクティブマトリクス型の液晶表示装置において、薄膜トランジスタの点欠陥や線欠陥を完全に排除するのは極めて困難であるのが現状である。例文帳に追加

To reduce a contact fail in a thin-film transistor causing a point defect and a line defect although it is extremely difficult to eliminate the point and line defects completely in the thin-film transistor in an active matrix type liquid crystal display. - 特許庁

注目画素が赤色成分画素又は青色成分画素でありその注目画素が画像の境界上にある場合でも欠陥画素の検出が可能である欠陥画素検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defective pixel detecting device capable of detecting a defective pixel even when a pixel of interest is a red component pixel or blue component pixel and the pixel of interest is present on the border of an image. - 特許庁

このように欠陥ドットである可能性があるドットを大きな階調でのみ表示に使用するので、低輝度で表示する場合に画素欠陥を目立ちにくくすることができる。例文帳に追加

Since in this way the dot being possibly a defective dot is used for display only in a large gray scale, the defective pixels are made inconspicuous in displaying with low luminance. - 特許庁

単一素子の探触子を使用したときよりも欠陥検出性を向上させながら、欠陥サイジングも可能であるタービンロータの翼植込み部の超音波検査方法および装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide an ultrasonic inspection method and a device for a turbine blade fitting section capable of improving defect detectability furthermore than the case where a search probe of a single element is used, and also performing defect sizing. - 特許庁

例えば、データの欠陥ある部分は、コピー動作の間に感知され、コピー対象データは変更され、データの感知された欠陥ある部分がダミーデータに代替される。例文帳に追加

For example, a defective portion of the data is detected during a copy operation, and the data to be copied is modified such that detected defective portions of the data are replaced with the dummy data. - 特許庁

アルミニウム合金欠陥検出装置、アルミニウム合金欠陥検出方法、アルミニウム合金部材の製造方法、およびアルミニウム合金連続鋳造棒の製造方法例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING FLAW IN ALUMINUM ALLOY, AND METHOD OF MANUFACTURING ALUMINUM ALLOY MEMBER AND ALUMINUM ALLOY CONTINUOUS CASTING ROD - 特許庁

イメージセンサ集積回路において使用される欠陥ピクセル検出及び補正メカニズム(110)は、フレーム間で一貫性のあるやり方で、現在のピクセルが欠陥ピクセルであるか否かを判定する。例文帳に追加

A defective pixel detection and correction mechanism (110) for use in an image sensor integrated circuit discriminates whether a present pixel is a defective pixel in a consistent manner from frame to frame. - 特許庁

ある態様では、洗浄工程後、溶解ステップ前に、精密部品の表面にある欠陥部位を光学的にカウントして、シリカ微粒子に含まれる不純物を検出する欠陥カウントステップを備えている。例文帳に追加

In one embodiment, the method includes a defect counting step of detecting impurities contained in the silica particles by optically counting defective parts on the surface of the precision component before the solving step after the cleaning process. - 特許庁

検査装置７は、塗膜に欠陥があることを検出すると、欠陥のある積層構造製品が製造されていることを示す警報信号ＡＳを出力する。例文帳に追加

The inspection device 7, upon detecting a defective coating film, outputs an alarm signal AS indicating that a defective laminated structure product is in production. - 特許庁

欠陥除去装置１は、Ｚ方向位置決め機構１７を制御し、ノズル９を欠陥領域３３にある着色剤２７に接触あるいは接近させる。例文帳に追加

The defect removing device 1 controls a Z-direction positioning mechanism 17 to bring the nozzle 9 into contact with or close to coloring agents 27 in the defect regions 33. - 特許庁

カラムスキップ処理回路３１は、フラッシュメモリ３上に欠陥カラムがある場合に当該欠陥カラムの位置をスキップしてシリアルデータを書き込むための制御を１ページ単位で行う。例文帳に追加

A column skip processing circuit 31, when a defective column lies on a flash memory 3, performs a control for skipping the position of the defective column and writing serial data every page. - 特許庁

多数の連続した欠陥領域が発生する可能性のある一回のみ書込み可能な光ディスク及び再書込み可能な光ディスクのようなディスク媒体中の欠陥領域の記録方法。例文帳に追加

This is a method of recording defective regions in a disk medium like a non-rewritable and rewritable optical disk where many successive defective regions may occur. - 特許庁

この第２の検査装置は、記憶装置に記憶された欠陥の有無情報を参照して、複数の被検査基板１４（１）〜１４（ｎ）のうち、欠陥の無い被検査基板で、検査を実施するものである。例文帳に追加

The second inspection device performs inspection on the substrate to be inspected having no defect among the plurality of substrates 14(1)-14(n) to be inspected on reference to the existence information of the defect stored in the storage device. - 特許庁

周囲の隣接する８画素中に欠陥画素がある場合でも、正確にリアルタイムに、若しくは、少ない処理回数で補正が可能な画素欠陥補正装置を提供する。例文帳に追加

To provide a pixel defect correction device capable of accurately correcting a defective pixel in exactly real time or a small number of processing times even when there is the defective pixel among eight peripheral adjacent pixels. - 特許庁

円形の透過パターン内の黒欠陥の修正の作業性が飛躍的に向上するとともに、修正精度においてもほぼ設計通りの修正が可能であるフォトマスクの欠陥修正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect correcting method of photomask by which the operability of correction of black defect in a circular transmission pattern is largely improved and the correction almost just as design can be performed in the precision of correction too. - 特許庁

ワーク収納部に欠陥が生じた場合、その欠陥収納部を無効収納部として登録し、この無効収納部を飛ばし、他の正常なワーク収納部を有効に使用できるターンテーブルの管理方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a turntable control method registering, if any, defective work storage parts as ineffective storage parts, skipping the ineffective storage parts, and making effective use of other normal work storage parts. - 特許庁

反射防止フィルムの製造において、異物などの欠陥とその周辺の膜厚の微小な変化による欠陥を正確に検出できる検査方法を提供するものである。例文帳に追加

To provide an inspection method enabling accurate detection of a defect by a foreign substance and a defect by a minute change in film thickness around the defect in manufacturing an antireflection film. - 特許庁

絶縁層や誘電体層の欠陥そのものを検査することなく、層間短絡不良に至る可能性のある欠陥の修復を、低コストで実現可能とすること。例文帳に追加

To enable defects that may lead to interlayer short circuits to be repaired at a low cost without checking defects themselves in an insulating layer or a dielectric layer. - 特許庁

半導体ウェーハの設計情報から、設定可能な検査情報であるウェーハパラメータと欠陥検査装置の感度パラメータとの少なくともいずれかを生成して欠陥検査のためのレシピに組み込む。例文帳に追加

At least either of a wafer parameter as a settable inspection information and a sensitivity parameter of a defect inspection device is generated from the design information of a semiconductor wafer, and incorporated into a recipe for defect inspection. - 特許庁

耐紫外線性のために水素分子を石英ガラス中に含有させても、構造欠陥をターミネートする効果があるのみで、構造欠陥の生成そのものを抑制することができない。例文帳に追加

To solve such a problem that even if hydrogen molecule is added to quartz glass for ultraviolet resistance, the addition has only a terminating effect on a structural defect but is incapable of suppressing the formation of structural defect. - 特許庁

固体撮像素子の欠陥画素検出方法において、注目画素の周囲の画素データの平均値と、注目画素の画素データとを比較することによって、注目画素が欠陥画素である否かを判定する。例文帳に追加

The defect pixel detection method for the solid-state image pickup element compares a mean value of pixel data of pixels around a target pixel with pixel data of the target pixel so as to discriminate whether or not the target pixel is defective. - 特許庁

凹凸欠陥の高さあるいは深さの絶対値評価を行うことができるようにするとともに、その検査時間の短縮を同時に実現できるようにし、さらに欠陥の凹凸判別を行えるようにする。例文帳に追加

To evaluate the absolute value of the height or the depth of an irregularity defect, to shorten simultaneously an inspection time, and to discriminate the defect irregularities. - 特許庁

欠陥観察装置であるＳＥＭ装置には、欠陥検査装置と当該ＳＥＭ装置との間の座標系のずれの、ウェハ上の観察位置に対する分布に関する情報（ずれ情報）が登録される。例文帳に追加

Information (offset information) about distribution of a coordinate system offset between a defect inspection apparatus and a SEM apparatus at an observation location on a wafer is registered in the SEM apparatus as a defect observation apparatus. - 特許庁

本発明による欠陥検出方法は、現存する人工建造物の少なくとも１つの画像を撮像し、その人工建造物における１以上の欠陥の存在を検出する方法である。例文帳に追加

In the failure detection method, at least one image in an existing man-made structure is imaged to detect the presence of at least one failure in the man-made structure. - 特許庁

ひとつの欠陥に複数の検査データに対する複数の分類情報を登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。例文帳に追加

A plurality of pieces of grouping information can be registered to a plurality of inspection data in one defect, and the grouping information of defects as an analyzing object can be selected arbitrarily. - 特許庁

基準電極と、前記膜の透過液側に設置される検知電極との間の電位差を連続的に測定し、当該電位差の変動により前記膜の欠陥を検出することを特徴とする膜欠陥検出方法である。例文帳に追加

The method for detecting membrane defect comprises continuously measuring a potential difference between a reference electrode and a detecting electrode set on the permeating liquid side of the membrane, and detecting a defect of the membrane by fluctuation of the potential difference. - 特許庁

この光学観察で高倍率モードでの観察が必要であると判断した場合、欠陥の位置を指示するマークを、基板の欠陥の付近に機械的手段を用いて凹部として形成する。例文帳に追加

When the observation in the high-magnification mode is judged to be necessary in this optical observation, the marks indicating the positions of the defects are formed as recessed parts by using mechanical means near the defects of the substrate. - 特許庁

本発明は、燃料電池材料の欠陥の検出する方法、特に燃料電池用の単セルの欠陥を検出する方法を効率的に行うことができる技術を提供するものである。例文帳に追加

To provide a technique capable of effectively performing a method for detecting defects of fuel cell materials, especially a method for detecting defects of a unit cell of a fuel cell. - 特許庁

その結果に基づいて洗浄加工によって除去できなかった欠陥が基板内部の欠陥であるのか、洗浄加工プロセスの問題によるものかを容易に判定することができるようになる。例文帳に追加

Based upon a result thereof, it can easily be determined whether a defect which cannot be removed through the cleaning processing is the defect in the substrate or caused owing to a problem of the cleaning processing process. - 特許庁

透過率が高く位相効果のあるテトラメトキシシラン等の電子ビームCVD膜６でハーフトーン型位相シフトマスクの白欠陥やレベンソン型位相シフトマスクの凹型の位相欠陥を位相が合うように修正する。例文帳に追加

A white defect in a halftone phase shift mask or a recessed phase defect in a Levenson type phase shift mask is corrected to match the phase by depositing an electron beam CVD film 6 having high transmittance and a high phase effect such as tetramethoxysilane or the like. - 特許庁

トンネルなどのコンクリートの健全性を、走行しながら非接触で検知し、その剥落危険度を総合的に判断するコンクリートの欠陥検査方法およびコンクリートの欠陥検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To contactlessly detect soundness of a concrete in a tunnel or the like under traveling to intergratingly judge a degree of risk of flaking. - 特許庁

ディスク基板そのものがうねりを持つ状態や、局所的なうねりが生じた試料の表面の欠陥を高精度に検査できるようにした表面欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for inspecting a surface defect, capable of highly accurately inspecting a state of a disk substrate itself with wave-like distortion and a defect on a surface of a sample caused with local wave-like distortion. - 特許庁

リユースのための品質検査、あるいは定期検査において微小クラックを検知したい場合にのみ、紫外線ランプなどの刺激エネルギーの照射により欠陥個所が蛍光を発し、容易に欠陥個所を発見できようになる。例文帳に追加

The damaged part emits fluorescence by the irradiation of stimulating energy such as light from an ultraviolet lamp to enable the damaged part to be easily found only when the fine crack is required to be detected in the quality inspection for the reuse or in a periodical inspection. - 特許庁

吸収膜４のパターン欠陥を修正した後、パターン欠陥の水平方向隣にある部分の吸収膜４のパターンの線幅を狭くする。例文帳に追加

The pattern defect of the absorbing film 4 is corrected, and then, the line width of the absorbing film 4 of a portion adjacent in a horizontal direction of the pattern defect is made narrow. - 特許庁

大型液晶ディスプレイの欠陥画素の修正が可能であり、さらに結像光学系の搭載も可能である液晶ディスプレイの欠陥画像修正方法および修正装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for correcting a defective pixel of a liquid crystal display that enable a defective pixel of a large-sized liquid crystal display to be corrected and enable an image-forming optical system to be mounted on a repair device. - 特許庁

大気圧下でプラズマを発生させる場合、高密度のプラズマによって発生するパーティクルは表示装置における表示部の点欠陥や線欠陥などの不良の原因となるものである。例文帳に追加

To suppress particle generation in generating plasma under atmospheric pressure to solve a problem that the generation of particles by high-density plasma causes such failures as point defects, line defects, or the like in the display part of a display device. - 特許庁

この発明の目的は、輝点欠陥等の様々な欠陥画素の修復をすることができる液晶表示装置の製造方法等を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method of producing a liquid crystal display device by which various kinds of defective pixels such as a bright spot defect can be repaired. - 特許庁

フェース部２の側方からフェース部２の内部に入射した第２検査光７ａ（８ａ）は、フェース部２の内部に欠陥Ｐ２があると、この内部欠陥Ｐ２の箇所で乱反射を起こして散乱光Ｐ２ａとなる。例文帳に追加

A second inspection light 7a (8a) incident inside a face part 2 from a side of the face part 2 becomes scattered light P2a having irregular reflection at a part of an interior defect P2 when there is one P2 inside the face part 2. - 特許庁

ひとつの欠陥に複数の検査データに対する複数の分類情報を登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。例文帳に追加

A plurality of pieces of classification information for a plurality of inspection data about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected. - 特許庁