「欠陥のある」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

本発明に係る欠陥検知システム１０は、検知対象である構造体２の表面に形成した発光膜１の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。例文帳に追加

The defect detecting system 10 detects the existence of a defect by detecting light emission of a light emitting film 1 formed on the surface of the structure 2, i.e., a detection target. - 特許庁

複合材料に対して悪影響を及ぼすことなく、しかも複合材料の内部欠陥を早期に発見すべく、その内部欠陥を引き起こす虞のある衝撃を監視するシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a system for monitoring an impact which has a possibility of causing internal defects, in order to discover the internal defects of a composite material at an early stage, without affecting the composite material. - 特許庁

転位及び他の材料欠陥は、軸方向に成長した材料中に伝播することがあるが、横方向に成長した材料中での欠陥の伝播及び発生は、なくらならないまでも実質的に減少する。例文帳に追加

Although dislocations and other material defects may propagate within the axially grown material, defect propagation and generation in the laterally grown material are substantially reduced, if not altogether eliminated. - 特許庁

従来の欠陥検出技術では電縫溶接部の欠陥を十分に検出できるまでには至っておらず、機械的特性の劣化した局部を含む電縫鋼管が製品に混入する場合があるという事態を防ぎ難い。例文帳に追加

To overcome problems in a conventional defect detection technique in which defects of electric resistance welded parts cannot be detected sufficiently, and mixing of an electric resistance welded pipe including a local part deteriorated in mechanical properties into a resultant product cannot be prevented in some cases. - 特許庁

構造体の内部欠陥の大きさと深さを定量的かつ高精度に測定・評価できる欠陥の大きさと深さ評価方法および装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method and device for evaluating size and depth of a defect wherein the size and depth of the internal defect of a structure are measured and evaluated quantitatively and accurately. - 特許庁

観察用マークＭ_３は、そのマークＭ_３から見て右方向に欠陥部分Ａの断面Ａ_０（試料加工部）があることが分かるように、方向線ｍ_３”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。例文帳に追加

As for the observation mark M_3, a direction line m_3" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 (sample processing part) of a defect part A exists in the right direction, viewing from the mark M_3. - 特許庁

微細な凹部があるか凹部があり得る検査面を凸欠陥のみを高精度に検出できるようにし、併せてディスクの凸欠陥によるマスタのダメージや磁気転写不良を回避して磁気転写できるようにする。例文帳に追加

To detect only the projected defect of an inspection surface, on which a fine recessed part is present or can be present, with high accuracy and to avoid the damage of a master or magnetic transfer defectiveness caused by the projected defect of a disk to enable magnetic transfer. - 特許庁

一方、加工用マークＭ_４は、そのマークＭ_４から見て左方向（ｙ方向）に欠陥部分Ａの断面Ａ_０があることが分かるように、方向線ｍ_４”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。例文帳に追加

On the other hand, as for the processing mark M_4, a direction line m_4" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 of the defect part A exists in the left direction (y-direction), viewing from the mark M_4. - 特許庁

（２）買主が落札商品を他の商品と交換してもらうことができる場合市場に流通している商品で引き渡した商品に欠陥がある場合等で、買主は欠陥のない商品との交換を主張できる。例文帳に追加

(II) Cases in which the buyer may request the goods received be exchanged for other goods If there are any defects in the delivered goods which are traded in the market, the buyer may demand the exchange of such goods for defect-free products.  - 経済産業省

金融円滑化管理態勢について、適切なリスク管理態勢の下、適切かつ積極的にリスクテイクを行い、金融仲介機能を積極的に発揮するための管理態勢に欠陥がある、または、重大な欠陥が認められる。例文帳に追加

The legal compliance system established by the management of the financial institution is defective or seriously defective, with violations of Laws involving the management itself being recognized, for example.  - 金融庁

電気的に機能を共有する画素構造である場合、他の機能を共有する画素も欠陥画素となる可能性が高いことを考慮して欠陥画素を検出する撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging device that detects defective pixels in an electrically function-sharing pixel structure while considering that the probability that a pixel sharing another function is a defective pixel is high. - 特許庁

また、配線を構成する金属膜が欠落した欠陥部においては、その表面に露出したガラスあるいはシリコンオキサイドとの間で界面反応を起こして強固に固着させて、欠陥部を修復する。例文帳に追加

Further, in a defective section lacking the metal film constituting the wire, an interfacial reaction between the metal film on the transfer member and glass or silicon oxide exposed on the surface is made to occur so as to recover the defective section by tightly bonding them. - 特許庁

続いて、不良チップを除いて、その不良チップに隣接するチップに欠陥があるか否かを、第１の欠陥検査処理よりも検査感度を上げて検査する（ステップＳ１６）。例文帳に追加

Next, whether chips adjacent to the defective chip have defects or not is inspected excluding the defective chip with inspection sensitivity higher than that of the first defect inspection processing (step S16). - 特許庁

正常画素検出部１０４は、Ａ／Ｄ変換器１０２からの信号を入力し、検査対象画素が正常画素か、欠陥画素の可能性があるかを判定し、判定結果を欠陥画素検出部１０５に送出する。例文帳に追加

A normal pixel detector 104 receives an input signal from the A/D converter 102, decides whether a pixel for inspection is a normal pixel or a possible defective pixel, and forwards the decision results to a defective pixel detector 105. - 特許庁

薄膜トランジスタの膜中に発生する欠陥を低減させると共に、基板面内における欠陥発生位置のバラつきを低減させることが可能な薄膜トランジスタ及びそれを用いた表示装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a thin-film transistor capable of reducing a defect generated in a film of the thin-film transistor and also reducing variations in a defect generation position in a substrate plane, and to provide a display device using the same. - 特許庁

イメージセンサ機能を有する半導体装置を用いて被写体を読み取る際、前記半導体装置に欠陥画素があると、欠陥画素の部分の映像が目立ってしまう。例文帳に追加

To solve the problem that a video at a defective pixel portion is made conspicuous if there is defective pixel in a semiconductor device in the case of reading an object by using the semiconductor device having an image sensor function. - 特許庁

シャドウマスクの欠陥検査で、カケの不良を人による官能検査方法から自動的に欠陥部を検出し、不良を除去する方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a method of automatically detecting defective portions to remove chip defects in place of an examining method based on human sensuality in defective examination of shadow masks. - 特許庁

液晶パネル用偏光板に起因して生じた輝点欠陥を、偏光子を劣化させず修復可能である遮光材料とこの遮光材料を用いた偏光板の輝点欠陥修復方法を提供する例文帳に追加

To provide a light shielding material capable of restoring a bright spot defect caused due to a polarizing plate for liquid crystal panels without deteriorating a polarizer, and a method for restoring the bright spot defect of the polarizing plate using the light shielding material. - 特許庁

本発明は、ガラス基板の製造工程で生じる連続性を有する欠陥と不連続である欠陥とを区別することで、ガラス基板の歩留まりを向上させることが可能となる。例文帳に追加

To improve a yield of a glass substrate by differentiating between a continuous defect and a discontinuous defect produced in manufacturing steps of the glass substrate. - 特許庁

画素の欠陥に起因する表示画像の欠陥を補償し、高密度小型化が可能であるとともに、製造コストを抑制できるアクティブマトリクス型液晶表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide an active matrix type liquid crystal display device which is capable of compensating the defect of a display picture caused by the defect of an pixel and capable of being made to be high density and capable of being miniaturized and also whose manufacturing cost can be suppressed. - 特許庁

酸化物半導体膜１４や絶縁膜１２，１８、あるいはこれらの界面における酸素空孔起因の欠陥（過剰電子ドナーを生成する欠陥）を制御できる。例文帳に追加

This way, defects caused by oxygen vacancy (defects of generating excessive electron donors) in the oxide semiconductor film 14, in the insulation films 12 and 18, or in the interface therebetween can be controlled. - 特許庁

複屈折欠陥のような光ディスクに反射光量の変化が生じにくい欠陥がある場合でも、安定したデータ再生が行える情報再生技術を提供すること。例文帳に追加

To provide information reproduction technology for stable data reproduction even when reflected light quantity is rarely changed in an optical disk such as birefringence defect. - 特許庁

画素欠陥補正における、事前の有無試験に伴う製造コストの上昇や、あるいは、経年変化や温度変化で欠陥となる画素に対する不適切な補正を防止する。例文帳に追加

To prevent increase in manufacturing cost accompanying image defect testing beforehand in pixel defect correction, or inappropriate corrections for a pixel becoming a defect through aging or temperature variation. - 特許庁

電解質膜に欠陥部があると酸素ガスが一方の面へと漏洩して、欠陥部近傍の検知膜が脱水素化して電気抵抗が変化する。例文帳に追加

If the electrolyte membrane has a flaw part, the oxygen gas is leaked to one side of the electrolyte membrane and the sensor membrane in the vicinity of the flaw part is dehydrogenated to be changed in its electric resistance. - 特許庁

本発明は、固体撮像素子の欠陥画素を検出し、補正すべき欠陥画素を効率的に選択することのできる撮像装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide an imaging device capable of detecting defective pixels of a solid-state imaging element and efficiently selecting the defective pixels to be corrected. - 特許庁

欠陥候補領域判定部４３は、作成されたヒストグラムに基づいて所定の閾値以上の画素値を有する画素がある場合には、これを欠陥候補領域として判定する。例文帳に追加

When there is a pixel having a pixel value equal to or higher than a predetermined threshold, on the basis of a created histogram, the defect candidate region decision part 43 decides the pixel as a defect candidate region. - 特許庁

導体パターン２０，２１の欠陥検出において、最外部パターン２２，２３，２６，２７での周期ピッチを用いた比較検査では、欠陥を検出できない場合がある。例文帳に追加

In defect detection of conductor patterns 20, 21, there is a case that defects cannot be detected by a comparative inspection, using a periodic pitch, in each outermost pattern 22, 23, 26, and 27. - 特許庁

異常欠陥のあるＩＣチップがプローブ検査工程で検出される不良チップから漏れることを防止できる半導体製造装置、欠陥レビュー装置及び半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor manufacturing device capable of preventing an IC chip with an abnormal defect from mis-detection in a probe inspection process, a defect review device and a manufacturing method for a semiconductor device. - 特許庁

試験体４に存在する欠陥の向きが不明である場合にも、欠陥の形状を評価することができる超音波探傷試験技術を提供する。例文帳に追加

To provide an ultrasonic flaw detection testing technique capable of evaluating a shape of a defect, even when a direction of the defect existing in a testing object 4 is unknown. - 特許庁

ユーザサイドで、Ｘ線平板検出器における新たな欠陥画素位置を検出して、更新し、その欠陥画素位置の画素値を補完できる技術を提供することである。例文帳に追加

To provide a technique for detecting the new defective pixel position of an X-ray plate detector at a user side, updating it, and complementing a pixel value at the defective pixel position. - 特許庁

画像読取装置２０で読取った画像パターンと予め記憶されている基準モジュール基板の基準パターン画像と比較対照することにより、モジュール基板の欠陥を検査する欠陥検査装置である。例文帳に追加

A defect inspection apparatus inspects the defect on a module board by comparing the image pattern picked up by an image pickup apparatus 20 with a reference pattern image of a reference module board previously stored. - 特許庁

この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。例文帳に追加

A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions. - 特許庁

変換方式フラグ１、４は欠陥セクターを登録する際の登録方法を示すフラグであり、欠陥セクターの登録状態を表わすビットである。例文帳に追加

Conversion system flags 1 and 4 are set for indicating a registration method at the time of registering a defective sector, and provided with bits indicating the registered state of the defective sector. - 特許庁

電位コントラスト欠陥を欠陥孔の配置状態によって分類、あるいは、設計情報を参照して、前工程における部品位置との相関関係に基づいて分類する。例文帳に追加

Potential contrast defects are classified according to the arrangement state of the defect holes, or are classified based on the correlation with a component position in a preprocess by referring to design information. - 特許庁

各撮像画素の強調差分値Ｄ´_iを所定の輝度差閾値Ｄ´_sと比較して強調差分値Ｄ´_iが輝度差閾値Ｄ´_s以上である撮像画素を欠陥部として検出する（欠陥部検出工程ＳＴ１５０）。例文帳に追加

The emphasis differential value D'_i of each captured pixel is compared with a prescribed luminance difference threshold D'_s, thus detecting the captured pixel in which the emphasis differential value D'_i is equal to or more than the luminance differential threshold D'_s as a defective section (defective section detection process ST150). - 特許庁

照合の結果、欠陥ロット番号を有する消耗品を使用して得られた測定結果を抽出して表示することが可能な分析装置、あるいは欠陥ロット番号を有する消耗品を識別することが可能な分析装置を提供する。例文帳に追加

The analyzer extracts and displays the measured result obtained using the consumable with the defect lot number, or discriminates the consumable with the defect lot number, as a result of the collation. - 特許庁

電極面へ印加する電圧を制御して薄状部材５を非接触の状態で搬送する搬送装置２と薄状部材５の欠陥を搬送中に検査する欠陥検査装置３とを備えた搬送検査装置１である。例文帳に追加

This conveyance inspection device 1 is equipped with this conveyance device 2 for conveying a thin member 5 in the noncontact state by controlling a voltage applied to an electrode surface, and a defect inspection device 3 for inspecting the defect of the thin member 5 during conveyance. - 特許庁

複屈折欠陥のような光ディスクに反射光量の変化が生じにくい欠陥がある場合でも、安定したデータ再生が行える情報再生技術を提供すること。例文帳に追加

To provide an information reproducing technology for stably reproducing information even when an optical disk has a defect such as a double refraction defect in which the amount of a reflected light is difficult to change. - 特許庁

半透過反射型の電気光学装置において、ある画素領域内で透明電極と金属反射膜との導通が生じた場合でも、線欠陥や面欠陥となることを防止する。例文帳に追加

To prevent a linear defect and a surface detect in a semitransmissive reflection type optoelectronic device, even if a transparent electrode and a metal reflecting film are electrically connected to each other in some pixel region. - 特許庁

平面表示装置の表示欠陥検出方法に関し、ＦＰＤの表示欠陥である階調不良を機械的に精度良く且つ短時間で検出する。例文帳に追加

To provide a display defects detection method for a flat-panel display device which can detect faulty gray scales, a type of display defects in an FPD, mechanically, with high precision, and in a short time. - 特許庁

不等板厚材の底面近傍に欠陥がある場合でも、検出される底面エコーに基づいて欠陥エコーゲートの終点を正確に設定できるようにする。例文帳に追加

To accurately set the end point of a defective echo gate, based on a detected bottom surface echo, even if there are defects near the bottom surface of unequal wide plural-layer materials. - 特許庁

偏光板の欠陥検査である、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥が見づらくならず、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。例文帳に追加

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nichols method for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision. - 特許庁

外周面に凹凸のある検出体であっても、確実に異物などの欠陥を自動的に検出することができる欠陥検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw detector capable of certainly and automatically detecting a flaw such as foreign matter even with respect to a detection target having unevenness on its outer peripheral surface. - 特許庁

ヘッドがディスク媒体上に存在する欠陥部分を通過しないように制御することで、後発欠陥の発生などの事態を未然に回避できるディスク記憶装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a disk storage device capable of avoiding a situation such as generation of a latter-coming defect beforehand by controlling a head so as not to be passed through a defective part existing on a disk medium. - 特許庁

表示面に輝点２が規則的に並んだＬＣＤパネル１等の表示面の画像を処理して欠陥を検出する欠陥検出方法である。例文帳に追加

In the defect detecting method, the defect is detected by processing an image on a display surface of an LCD panel 1 or the like where bright spots 2 are regularly arranged on the display surface. - 特許庁