「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND INFORMATION ON DEFECT MANAGEMENT例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁

METHOD OF SIMULATING POINT DEFECT AREA AND MINUTE DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の点欠陥領域と微小欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, WIRING AREA EXTRACTOR, DEFECT DETECTION METHOD, AND WIRING AREA EXTRACTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、配線領域抽出装置、欠陥検出方法および配線領域抽出方法 - 特許庁

Also, this optical disk corresponds to a defect management system, and a spare area and a defect control area are provided between the user data area and the read-out area.例文帳に追加

また、この光ディスクはディフェクト管理システムに対応しており、ユーザデータエリアとリードアウトエリアの間に、スペアエリアとディフェクト管理エリアが設けられている。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANAGING DEFECT OF DISK WITH TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION AREA AND DEFECTIVE MANAGEMENT AREA例文帳に追加

臨時欠陥管理情報領域と欠陥管理領域とが設けられたディスクの欠陥管理方法及び装置 - 特許庁

DEFECT AREA PROCESSING METHOD USING LINKING-TYPE INFORMATION例文帳に追加

リンキングタイプ情報を用いた欠陥領域処理方法 - 特許庁

A plurality of defective area lists (TDFL) and structure information (TDDS) are recorded in the temporary defect management area (TDMS) of the defect management area.例文帳に追加

当該欠陥管理領域の一時的欠陥管理領域(TDMS)には、複数の欠陥領域リスト(TDFL)と、構造情報(TDDS)とが記録されている。 - 特許庁

An image defect is detected by a defect detecting part 50 based on the image data to store defect information indicating the position of the image defect into a defect information memory area 44a.例文帳に追加

この画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。 - 特許庁

To provide an AIN layer of large area with small defect density.例文帳に追加

欠陥密度が小さく且つ大面積のＡｌＮ層を得る。 - 特許庁

The optical disk 1 includes a defect management area (DMS).例文帳に追加

光ディスクには、一時的欠陥管理領域(DMA)が存在する。 - 特許庁

Defect candidates having an area equal to or larger than a defect area determined values, based on the area of a defect having a minimum error size, are extracted from the defect candidates as actual defects selected corresponding to errors.例文帳に追加

そして、選別された各欠陥候補に対して、その面積がエラーとなる最小サイズの欠陥の面積に基づく欠陥面積判定値以上のものを真にエラーに対応する欠陥として抽出する。 - 特許庁

The defect within the selected section area is picked up by the imaging device, and a defect image is acquired.例文帳に追加

選択された部分領域内の欠陥を撮像装置で撮像し、欠陥画像を取得する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS SYSTEM, AND DEFECTIVE AREA DETECTION METHOD FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置、及び欠陥の自動分類のための欠陥位置検出方法 - 特許庁

The defect identification and defect classification of each area are done using the selected parameter.例文帳に追加

そして、選択されたパラメータを用いて、各領域の欠陥識別と欠陥分類とを実施する。 - 特許庁

This device for correcting the defect of the color filter corrects the defect of the color filter having a light transmission area and a light shielding area adjacent to the light transmission area.例文帳に追加

カラーフィルタ欠陥修正装置は、光透過領域および光透過領域に隣接する遮光領域を有するカラーフィルタの欠陥を修正する。 - 特許庁

A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21).例文帳に追加

欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する（ステップ２１）。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND METHOD OF ALLOCATING SPARE AREA例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法 - 特許庁

MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD AND UNRECORDED AREA RETRIEVAL METHOD例文帳に追加

媒体の欠陥検査方法、及び未記録領域検索方法 - 特許庁

At this time, size of the defect management area is also expanded simultaneously.例文帳に追加

このとき、同時にディフェクト管理エリアのサイズも拡張される。 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT AREA DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥領域検出方法 - 特許庁

The defect 3 as a light emitting area 3L emits a light.例文帳に追加

すなわち、欠点３が発光することとなる（発光域３Ｌ）。 - 特許庁

When detecting defect of the unit area in time of the update, update of the unit area is performed to the substitution unit area, and the unit area of the defect is replaced with the substitutional unit area.例文帳に追加

更新時に単位領域の不良を検出したとき、代替単位領域に対して当該単位領域の更新を行い、不良の単位領域を代替の単位領域に置き換える。 - 特許庁

Total area of defect removed portions to the whole area is 0.2% or less to the whole area of the polishing face P.例文帳に追加

欠点が除去された箇所の合計の面積は、研磨面Ｐの全面積に対して０．２％以下である。 - 特許庁

An inspection device detects the line unevenness area indicating a line unevenness defect in an objective image obtained from a substrate, and the point defect area indicating a point defect.例文帳に追加

ムラ検査装置では、基板から得られる対象画像において筋ムラ欠陥を示す筋ムラ領域、および、点欠陥を示す点欠陥領域が検出される。 - 特許庁

A processing unit detects a defect on a wafer surface, on the basis of image data, and stores the defect information in the defect information storage area.例文帳に追加

処理装置が、画像データに基づいて、ウエハ表面上の欠陥を検出し、欠陥の情報を、欠陥情報記憶部に記憶させる。 - 特許庁

The defect area presumption section 128 presumes the defect positions on a second recording layer based on the defect positions on the first recording layer specified by the defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126.例文帳に追加

欠陥領域推定部１２８は、欠陥判定部１２５及び欠陥位置取得部１２６によって特定された第１記録層の欠陥位置に基づいて第２記録層の欠陥領域を推定する。 - 特許庁

The header, the N defect entries and the anchor area arrayed in this order.例文帳に追加

ヘッダとＮ個の欠陥エントリとアンカとはこの順で配置される。 - 特許庁

To reproduce defect management information from a defect management area in time shorter than the time required by a conventional defect information reproducing method by eliminating the track jump of the program searching of the defect management area generated at the time of reproducing the defect management information from a plurality of adjacent defect management areas.例文帳に追加

近接する複数の欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する際に、発生していた欠陥管理領域の頭出しのトラックジャンプを削除し、従来の欠陥情報再生方法よりも短い時間で、欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する。 - 特許庁

When carrying out finalization, the defect management information is recorded in the determinative defect management area 13 prepared in the control information recording area.例文帳に追加

ファイナライズをするときには、ディフェクト管理情報を、制御情報記録エリア内に設けられた確定的ディフェクト管理エリア１３に記録する。 - 特許庁

At the time of finalizing, the defect management information is recorded in a deterministic defect management area 13 disposed in the control information recording area.例文帳に追加

ファイナライズをするときには、ディフェクト管理情報を、制御情報記録エリア内に設けられた確定的ディフェクト管理エリア１３に記録する。 - 特許庁

The defect list recording section 134 adds and resisters the recording position included in the defect areas presumed by the defect area presumption section 128 in the stored defect list as the defect positions required to check.例文帳に追加

欠陥リスト登録部１３４は、欠陥領域推定部１２８によって推定された欠陥領域に含まれる記録位置を、評価が必要な要評価欠陥位置として、記憶している欠陥リストに追加登録する。 - 特許庁

The method for handling the defect of the hard disk drive comprises a process of detecting a potential defect which can develop to a defect in the future and a process of alternating the potential defect to an alternate area.例文帳に追加

将来に欠陥に発展できる潜在的欠陥を検出する過程，及び潜在的欠陥を代替領域に代替する過程を含む欠陥処理方法である。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method with which a defect inspection is possible in all areas of a semiconductor wafer to eliminate an area where the defect inspection is impossible.例文帳に追加

半導体ウェハの全ての領域で欠陥検査が可能であり、欠陥検査が不可能な領域をなくすことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

In addition, a recording area can be changed according to the number of the update of the defect management area and an error status, etc. by providing, in the defect management area, a plurality of recording areas including an alternative area as an area in which defect management information is recorded.例文帳に追加

また、ディフェクトマネージメント領域においては、ディフェクトマネジメント情報を記録する領域として、交替領域を含む複数の記録領域を設けることで、ディフェクトマネジメント領域の更新回数、エラー状況などに応じて記録領域を変化させることができるようにする。 - 特許庁

The memory respectively stores primary defect information indicating a defect area on the disk including the protrusive defective part and the secondary defect information.例文帳に追加

メモリは、前記凸状欠陥部を含む前記ディスク上の欠陥エリアを示す主要ディフェクト情報及び前記補助的ディフェクト情報をそれぞれ記憶する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer in which oxygen deposit is stably formed in dependent of crystal position or device process, a method of producing the same, and a method for evaluating the defect area of a silicon wafer whose pulling-up conditions and the defect area are unknown.例文帳に追加

結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer and its manufacturing method capable of stably obtaining oxygen deposition without depending on a crystal position and a device process and to provide a method for evaluating the defect area of the silicon wafer whose pulling condition and the defect area are unknown.例文帳に追加

結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A temporary defect management area 14 is disposed between a control information recording area 12 and data area 11 of the write-once recording medium 10, and in the stage before finalizing the recording medium, defect management information is temporarily stored in the temporary defect management area.例文帳に追加

追記型記録媒体１０の制御情報記録エリア１２とデータエリア１１との間に一時的ディフェクト管理エリア１４を設け、記録媒体をファイナライズする前の段階では、一時的ディフェクト管理エリアにディフェクト管理情報を一時的に記録しておく。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for manufacturing an optical film which has no defect or little defect and has a large area with a continuous process.例文帳に追加

連続工程で、欠陥なく又は少なく、大面積に光学フィルムを製造可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

An information recording device 110 comprises: a defect list updating unit 122 which updates a defect list registering a defect address showing a position of a defect area exists in an user area; a recording unit 113 which records information in an information recording medium 130 based on the updated defect list.例文帳に追加

情報記録装置１１０は、ユーザ領域内に存在する欠陥領域の位置を示す欠陥アドレスが登録された欠陥リストを更新する欠陥リスト更新部１２２と、更新された欠陥リストに基づいて、情報記録媒体１３０に情報を記録する記録部１１３とを備えている。 - 特許庁

An image processing section 15 determines an inspection area based on the image for area thus picked up and detects a visual defect in the inspection area based on the inspection area thus determined and the image for defect thus picked up.例文帳に追加

画像処理部１５は、撮像された領域用画像に基づいて検査領域を決定し、決定した検査領域と撮像された欠陥用画像とに基づいて検査領域内の外観欠陥を検出する。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND MANAGEMENT INFORMATION THEREOF例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁

To obtain a substrate for semiconductor element having small defect density extending over a wide area.例文帳に追加

広範囲に亘って欠陥密度が小さい半導体素子用基板を得る。 - 特許庁

The write-once type recording medium 10 is provided with a definite defect management area 13 for recording definitely defect management information, a plurality of temporary defect management area 14A, 14B, 14C for recording temporarily defect management information.例文帳に追加

追記型記録媒体１０上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア１３と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃを設ける。 - 特許庁

To prevent a photometry mistake from being caused by clamp malfunctioning due to a defect in a shade area in an image area sensor.例文帳に追加

イメージエリアセンサにおいて遮光領域の異常によるクランプ誤動作を原因とする測光ミスを防止する。 - 特許庁