「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.例文帳に追加

また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁

A partial unevenness candidate area indicating a candidate of a partial unevenness defect, by binarizing the objective image with a prescribed threshold, in a partial unevenness detecting part 64.例文帳に追加

部分ムラ検出部６４では、対象画像を所定の閾値にて２値化することにより、部分ムラ欠陥の候補を示す部分ムラ候補領域が検出される。 - 特許庁

To provide a method for efficiently producing a zeolite film having no defect and a uniform thickness on a supporter having complicated shape or a supporter having a large area.例文帳に追加

複雑な形状の支持体や大面積の支持体に欠陥のない厚さが均一なゼオライト膜を効率よく製膜できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide the improved arm turn type gate device which is free of an operation defect due to icing even when installed in a cold area such as a ski slope.例文帳に追加

アームターン式ゲート装置をスキー場などの寒冷地に据付けて使用する場合でも、氷結に起因する動作不良を起こさないように改良する。 - 特許庁

To detect minute defect existing in a PMOS load transistor of an SRAM (Static Random Access Memory) memory cell without extremely increasing circuit area and at high speed.例文帳に追加

回路面積を極端に増大させることなく、かつ高速に、ＳＲＡＭメモリセルのＰＭＯＳ負荷トランジスタに存在する微小欠陥を検出すること。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory device having reduced area by decreasing the number of elements in a circuit for latching and comparing a defect column address to improve performance.例文帳に追加

欠陥カラムアドレスをラッチし比較するための回路の素子個数を減らして面積を減らし、性能を向上させられる不揮発性メモリ素子を提供する。 - 特許庁

To produce a large-size large-area and high-quality group-III nitride crystal having a practical size and having more reduced defect density compared to a conventional crystal.例文帳に追加

従来よりもより一層、欠陥密度が低減された、実用的な大きさの大型，大面積の高品質なＩＩＩ族窒化物結晶を作製する。 - 特許庁

To shorten the access time of a semiconductor memory having a redundant circuit for relieving the defect of a memory cell area.例文帳に追加

本発明は、メモリセル領域の不良を救済するための冗長回路を有する半導体メモリに関し、アクセス時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and its manufacturing method in which an occupied area of a defective address memory circuit is reduced and relieving defect can be surely performed.例文帳に追加

不良アドレス記憶回路の占有面積を低減してしかも、確実に不良救済を可能とした半導体記憶装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently use the area of a write-once type information recording medium, and to record and reproduce a temporary defect list with high reliability.例文帳に追加

追記型の情報記録媒体の領域を効率的に利用でき、高い信頼度で臨時欠陥リストを記録及び再生できるようにすること。 - 特許庁

To provide a clean production device capable of preventing dust from being generated in an assembly area, and thereby preventing a defect caused by adhesion of dust.例文帳に追加

組立エリアに塵埃（ゴミ）を生じさせることなく、これによって塵埃の付着に起因する不良を防止することのできる、クリーン生産装置を提供する。 - 特許庁

Blind members are not provided at both the ends of the pattern region CP in a Y direction, but a defect-free area PF of one illumination beam IB is provided.例文帳に追加

パターン領域ＣＰのＹ方向の両端には、ブラインド部材を設けず、照明ビームＩＢ１本分の欠陥フリー領域ＰＦを設けている。 - 特許庁

A MPU (Micro Processing Unit) 18 included in a magnetic disk 1 writes predetermined system information on an area for executing defect management on a magnetic disk 25.例文帳に追加

磁気ディスク装置１が備えるＭＰＵ１８が、磁気ディスク２５上において欠陥管理を実行する領域に所定のシステム情報を書き込む。 - 特許庁

Namely, a defect detection reliability judging part 112e calculates the average value of outputs (dark electric charge level) of 64×64 pixels at a center part of an image pickup area.例文帳に追加

すなわち、欠陥検出信頼性判定部１１２ｅは、「撮像エリアの中央部６４×６４画素の出力（暗電荷レベル）の平均値を求める。 - 特許庁

The orientation defect of a liquid crystal layer 42 is hardly generated by a fact that the liquid crystal composite 41 is not uniformly filled in the liquid crystal sealing area B.例文帳に追加

液晶組成物41が液晶封止領域Ｂ内に均一に注入されないことによる液晶層42の配向不良が生じにくくなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of relieving a locally caused memory cell defect while reducing a layout area.例文帳に追加

レイアウト面積を縮小しつつ、局所的に発生する不良メモリセルの救済を図ることが可能な半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To suppress a difference in dimension between patterns formed on resist films on all the area of a substrate and a microscopic region and to reduce a defect in the patterns, which is generated in a developing process.例文帳に追加

レジスト膜に形成されたパターンの基板全域及び微小領域における寸法差を抑制し、現像工程で生じる欠陥を低減する。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

In the unit test recording area where a defect exists, no reproducing signal can be obtained corresponding to the power setting value; however, such signal can be obtained in the unit test recording area as a saving area.例文帳に追加

テスト記録領域にディフェクトが検出された時、外乱により正常な記録が行われなかった時は、パワー設定値をパワー設定記憶部１４の退避メモリ領域に書き込み、テスト記録領域に該パワー設定値に基づく記録パワーでテスト信号の記録を行う。 - 特許庁

The pixel defect inspection method includes a step of accumulating a charge by applying to a light emitting layer 23 a voltage less than the voltage at which the light emitting layer 23 emits light for each pixel area 11, a step of measuring the accumulated charge amount, and a step of judging an existence of a defect at the pixel area 11 from the measured charge amount.例文帳に追加

画素領域１１それぞれについて、発光層２３が発光する電圧以下の電圧を発光層２３に印加して電荷を蓄積する工程と、蓄積された電荷量を測定する工程と、測定した電荷量から画素領域１１における欠陥の有無を判断する工程と、を備える。 - 特許庁

The opaque substance 6 is disposed corresponding to the pixel area with the bright spot defect formed on the thin film transistor panel after completing a liquid crystal panel, or the opaque substance 6 is disposed corresponding to the pixel area with the bright spot defect formed on the liquid crystal display panel after forming a liquid crystal panel.例文帳に追加

また、液晶パネルを完成する前に、薄膜トランジスタパネル上にブライトスポット欠陥が形成された画素領域に対応して不透明物質６を配置し、又は、液晶パネルを形成した後、液晶ディスプレイパネル上にブライトスポット欠陥が形成された画素領域に対応して不透明物質６を配置する。 - 特許庁

In a processing section 2, a defect D in a workpiece W0 is detected, by using the image generated by the CCD 10 to generate a projection image 50, by setting an image data brighter than an ambience to an area RP corresponding to an area R, including the defect, provided to the projecting section 11, and projected.例文帳に追加

処理部２では、ＣＣＤ１０により生成された画像を用いてワークＷ０の欠陥Ｄを検出し、その欠陥を含む領域Ｒに対応する領域ＲＰに周囲より明るい画像データが設定された投影用画像５０を生成し、これを投影部１１に与えて投影させる。 - 特許庁

To efficiently manage an address and capacity of a defective area without requiring any special managing means for managing the defective area irrelevantly to an initial defect or a succeeding defect when the defective areas wherein the adequacy of recorded data can not be guaranteed are dispersed on a recording medium.例文帳に追加

記録したデータの正当性が保証できない不良領域が記録媒体内に散在するような状況において、初期不良または後発不良に関わらず、不良領域を管理するための特別な管理手段を必要とせず、不良領域のアドレスや容量を効率的に管理することを可能とする。 - 特許庁

The defect in the inspected image is detected locally in the defect detecting part 53, by comparing a picture element value included in a local area with a corresponding picture element value of the reference image, while moving two-dimensionally the local area of the inspected image after position-corrected from a corresponding position of the reference image.例文帳に追加

欠陥検出部５３では、位置補正後の被検査画像の局所領域を、参照画像の対応する位置から２次元的に移動しつつ局所領域に含まれる画素値と参照画像の対応する画素値とを比較することにより、被検査画像中の欠陥が局所的に検出される。 - 特許庁

A control computation part 102 generates an image Qb wherein an area corresponding to the area where the false defect of an image Qb is easy to be generated is not indicated in the image Qa from the images Qa and Qc.例文帳に追加

制御演算部１０２では、画像Ｑａと画像Ｑｃとから、画像Ｑａのうち、画像Ｑｂの疑似欠陥が発生しやすい領域に相当する領域の画像が表示されない画像Ｑｂを生成する。 - 特許庁

This recording medium stores information, showing whether linear replacement defect management for replacing defects on the recording medium with data in a margin area so as to record real-time data in a recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

The light level value of each pixel in the 2nd chip area is compared with that of the corresponding pixel in the 1st chip area to decide whether or not there is a defect according to whether or not those light level values have a specific difference.例文帳に追加

そして、第２チップ領域における各ピクセルのライトレベル値を第１チップ領域における対応する各ピクセルのライトレベル値と比較し、そのライトレベル値に所定の差があるか否かによって欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

The effective contact area of the rough area 35 with the resist is extremely small, which prevents peeling of the resist, gives preferable separating property, and prevents a pattern defect and degradation in the pattern accuracy.例文帳に追加

このことにより、粗面領域３５の実効的なレジストとの接触面積はごく僅かとなり、レジスト剥離を防止でき良好な離間性が実現でき、パターン欠陥を防ぎパターン精度の悪化を防止することができる。 - 特許庁

The inspection processing part 17 extracts a data of the sheet film from the acquired image data, determines further the effective area of the inspection object, and conducts finally the defect inspection, the dimension inspection and the like, within the effective area.例文帳に追加

検査処理部１７は、取得した画像データから枚葉フィルムのデータを抽出し、更に検査対象とする有効領域を決定し、最後に、この有効領域に対して欠陥検査、寸法検査等を行っている。 - 特許庁

To provide an optical disk in which a temporary defect management area is prevented from being consumed rapidly while the principle of reading a plurality of defective area lists onto a memory in a predetermined arranging order is maintained.例文帳に追加

所定の順序に並べられた形で、複数欠陥領域リストをメモリ上に読み出すとの原則を貫きつつも、一時的欠陥管理領域の消耗を早めることがない光ディスクを提供する。 - 特許庁

To inspect an element over the entire area without excluding its external frame part and separation part from the inspection area even if the circuit pattern of an IC is present in the background of a defect such as foreign matter.例文帳に追加

異物などの欠陥の背景にＩＣの回路パターンがあっても、エレメントの外枠部や分離部を検査領域から除外せずに全域にわたって検査できる外観検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In a substrate defect checkup system or a substrate defect checkup method by which a substrate is mounted, conveyed to an examination area for examining the substrate, and photographed by irradiating the examination area with examining light to check up any defect in the substrate, the substrate is reformed into a curved shape and subjected to the examination using a plurality of optical checkup units arranged along the curved shape.例文帳に追加

本発明は、基板を載置し前記基板を検査する検査領域に搬送し、前記検査領域に検査光を照射して前記基板を撮像し前記基板の欠陥を検査する基板欠陥検査システムまたは基板欠陥検査方法において、前記基板を湾曲形状に矯正し、前記湾曲形状に沿って配置され複数の光学検査ユニットで前記検査を行うことを特徴とする。 - 特許庁

In the write once medium, defect alternative and data rewriting are realized without preparing a fixed alternative area, by using a selected area such as an additional writing point in the main data area as an alternative destination area, allowing judgment of recorded/unrecorded of an address of writing request object by means of continuously recorded range information, and integrally mixing the alternative management information for the defect alternative and data rewriting.例文帳に追加

ライトワンスメディアにおいて、主データ領域内で追記ポイント等、選択した領域を交替先領域として用いること、また書込要求等の対象のアドレスについて連続記録範囲情報によって記録済／未記録を判断できるようにすること、さらに欠陥交替およびデータ書換のための交替管理情報を統合して混在させるようにすることで、固定の交替領域を設けなくとも、欠陥交替およびデータ書換を可能とする。 - 特許庁

After the semiconductor chip is mounted an each device area followed by bonding using a bonding wire 6, a visual inspection such as on discontinuity of the bonding wire 6, is performed and a defect mark FM is posted onto the surface of the semiconductor chip 4 having a assembly-related defect.例文帳に追加

各々のデバイス領域に半導体チップ４を搭載して、ボンディングワイヤ６によるボンディング後、ボンディングワイヤ６の断線などの外観検査を行い、組み立て不良がある半導体チップ４の表面に不良マークＦＭを貼り付ける。 - 特許庁

To obtain a screen printing plate which reduces a blur defect or a thin-spot defect in an edge portion of a printed pattern and forms the printed pattern having a high dimensional accuracy and little nonuniformity in the area, and a manufacturing method of an electronic component.例文帳に追加

印刷パターンのエッジ部分におけるにじみ不良やかすれ不良の発生を抑制し、寸法精度が高く面積ばらつきの少ない印刷パターンを形成することができるスクリーン印刷版及び電子部品の製造方法を得る。 - 特許庁

By this manner, the maximum moving distance in the local area is made short by correcting the total positional shift, in the defect detector 1, and the defect on a substrate 9 is efficiently detected taking the local positional shift into account.例文帳に追加

このように、欠陥検出装置１では全体的な位置ずれを補正することにより局所領域の最大移動距離を小さくすることができ、局所的な位置ずれを考慮した基板９上の欠陥検出を効率よく行うことができる。 - 特許庁

To actualize an electronic display inspecting device which can accurately detect an inspection area, easily detect a linear defect, and easily correct the tilt of an electronic display display surface even if the electronic display has the linear defect.例文帳に追加

電子ディスプレイにライン状欠陥があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状欠陥を容易に検出し、電子ディスプレイ表示面の傾きも容易に補正することのできる電子ディスプレイ検査装置の実現を目的とする。 - 特許庁

To shorten transfer time of relief information for relieving defect of redundant memory, and disconnect period of an electric fuse while suppressing increase of a circuit area in a semiconductor device in which a defect cell in a chip contains a self-repairable system.例文帳に追加

チップ内の不良セルが自己修復可能なシステムを含む半導体装置において、回路面積の増加を抑制しつつ、冗長メモリの不良を救済するための救済情報の転送時間、および電気ヒューズの切断時間を短縮する。 - 特許庁

A bearing washer is used in which roughness of a surface as an ultrasonically inspected surface is 0.4 μmRa or less, and every defect existing in an inspected volume X, total cross section of the bearing washer 1, is 0.2 mm or smaller in square root length of defect area.例文帳に追加

超音波被検査面となる面の表面粗さが０．４μｍＲａ以下であり、その軌道輪１の全断面全てである被検体積Ｘ内に存在する欠陥が、全て欠陥面積の平方根長さで０．２mm以下である軌道輪を使用する。 - 特許庁

A determination value line 344C that indicates a defect degree determination value line set in a determination condition setting area 390 is displayed on a profile region 344, and a determination value line 346C that indicates a defect degree determination value is displayed on a profile region 346.例文帳に追加

プロファイル領域３４４には、判定条件設定エリア３９０において設定される欠陥度判定値を示す判定値ライン３４４Ｃが表示され、プロファイル領域３４６には、欠陥度判定値を示す判定値ライン３４６Ｃが表示される。 - 特許庁

Even when a defect has occurred in an optical disk 9 as recording medium to reduce the recording-possible area and also the recording of data which are not recorded yet on the optical disk 9 has failured, the area capable of recording the optical disk 9 is increased and data which is not recorded yet is recorded in the recordable area.例文帳に追加

記録媒体としての光ディスク９に欠陥が発生して記録可能領域が減少したために未記録データの光ディスク９への記録が失敗した場合でも、光ディスク９の記録可能領域を増加させてこの記録可能領域に未記録データを記録させる。 - 特許庁

The read or write time of a prescribed quantity of data is measured and is compared with a limit time, and a pertinent area is decided to be defective when the access time exceeds the limit time, and the area is registered in a defect list so that the area cannot be used.例文帳に追加

規定量のデータの読み出しあるいは書き込み時間を計測し、制限時間と比較することにより、アクセス時間が制限時間を超えた場合に該当領域を不良と判定し、ディフェクトリストに登録することにより、該当領域を未使用にすることを可能にする。 - 特許庁

To improve detection accuracy of defect in which attenuation quantity of signal amplitude due to an attached finger print or the like is comparatively small and an amplitude level in a defective area is varied.例文帳に追加

指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥の検出精度を高める。 - 特許庁

To appropriately perform defect control even when spare area on an information recording medium is expanded or reduced, in a write once type recording medium being recordable only once.例文帳に追加

１回のみ記録可能な追記型記録媒体において、情報記録媒体上のスペアエリアを拡張、または縮小しても適切にディフェクト管理を実行可能とする。 - 特許庁

To provide an omnidirectional flaw detection probe capable of executing flaw detection inspection of a defect in a wide area of a specimen, in a short time, by the single probe.例文帳に追加

本発明の目的は、単一のプローブで、被検体の広い領域における欠陥の探傷検査を短時間で実施することができる探傷プローブを提供することである。 - 特許庁