「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten the time required in defect formation with respect to unwanted carbon nanotubes, and to manufacture an integrated circuit using the carbon nanotube, even if the area size of the wafer is large, in a short period of time.例文帳に追加

不要カーボンナノチューブに対する欠陥生成に要する時間を短縮でき、大面積ウェハであってもカーボンナノチューブを利用した集積回路を短時間で形成する。 - 特許庁

To prevent a defect in display due to foreign matter by easily removing the foreign matter of the display area of a liquid crystal display panel without disassembling a liquid crystal display module.例文帳に追加

液晶表示モジュールを分解することなく、簡単に異物を液晶表示パネルの表示領域外に除去でき、異物による表示不良を防ぐようにする。 - 特許庁

The image of the resist pattern is picked up only with the light of a visible wavelength area from an exposed metal part by a CCD camera 4, the image of high contrast is provided, and a defect inspection is performed.例文帳に追加

金属露出部分からの可視波長域の光のみによりレジストパターン像をＣＣＤカメラ４により撮像し、高いコントラストの画像を得て欠陥検査を行う。 - 特許庁

To reduce deterioration in image quality even under a status in which deterioration in image quality occurs owing to pixel defect in an OB pixel area without changing a conventional circuit configuration.例文帳に追加

従来の回路構成を変えることなく、ＯＢ画素領域の画素欠陥によって画質劣化が起きるような状況下においても、画質劣化を軽減する。 - 特許庁

Defect candidate data, which is image data of an object to be inspected, development data, which is image data of master data, and inspection area data are inputted to a mismatch counting circuit 132.例文帳に追加

不一致計数回路１３２には，検査対象の画像データである欠陥候補データと，マスターデータの画像データである展開データと，検査領域データとが入力される。 - 特許庁

As for a liquid crystal panel constituting the liquid crystal display device, phase difference plates 15A and 15B in an area of a pixel 50 having a bright point defect are removed with laser light.例文帳に追加

液晶表示装置を構成する液晶パネルにおいて、輝点欠陥を有する画素５０の領域の位相差板１５Ａ，１５Ｂをレーザ光により除去する。 - 特許庁

A sorting means sorts defect kinds on the basis of the maximum value, minimum value and area value of feature data merged by the feature data merging means 108.例文帳に追加

分類手段１０９は、特徴データ統合手段１０８により統合された特徴データの最大値、最小値、面積値に基づいて、欠陥種類を分類する。 - 特許庁

The bonding position of a wire (301) to an electrode (113) provided on the upper surface of a semiconductor laminated structure is deviated from the upper side of the dislocation (crystal defect) concentrated area (X) of a substrate.例文帳に追加

半導体積層構造上面に設けた電極（１１３）へのワイヤー（３０１）のボンディング位置を、基板の転位（結晶欠陥）集中領域（Ｘ）の上方から外す。 - 特許庁

The defect position and the area which is subject to stress are compared with each other and the defects are classified into classes based on the form and the result of a photoelasticity stress measurement.例文帳に追加

欠陥の位置および応力を受けた領域の位置を互いに比較し、欠陥をその形状および光弾性応力測定の結果に基づいてクラスに分類する。 - 特許庁

To provide a light emitting element which has neither a bonding defect nor a void generated on the side of an electrode having small area when bump-bonded to a mounting substrate etc., and a method of making the light emitting element.例文帳に追加

実装基板等とのバンプ接合時に面積の小さな電極側で接合不良やボイドが生じることのない発光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A repair method repairs the bright spot defect in a pixel area (10a) when manufacturing an electrooptical device sandwiching an electrooptical substance (50) between a pair of substrates (10, 20).例文帳に追加

一対の基板（１０、２０）間に電気光学物質（５０）を挟持してなる電気光学装置の製造の際、その画素領域（１０ａ）における輝点不良をリペアする。 - 特許庁

Thus, since a contact area is widened and contact resistance is reduced, stable conductivity is secured and a contact defect can be eliminated.例文帳に追加

このような構成により、接触面積が広くなり、接触抵抗が小さくなるため、安定した導通性が確保されるとともに、接触不良を無くすことができる。 - 特許庁

When the A mobile station 3 is located in a reception defect area A1, the A mobile station 3 captures the receiving status signal of a B mobile station 8 via a longitudinal voice/signal line 14.例文帳に追加

Ａ移動局３が受信不良エリアＡ１にあれば、Ａ移動局３は前後音声・信号ライン１４を介してＢ移動局８の受信状態信号を取り込む。 - 特許庁

To provide a device for integrating and manufacturing transistor(TR) segments to be highly effected by defect to a small processing area and spatially mounting the respective TRs onto a substrate.例文帳に追加

不良の影響を強く受けるトランジスタ部分を、小さな処理面積上に集積して製造し、各トランジスタを離間して基板上に移載する装置を提供する。 - 特許庁

In the hollow panel 10, a mass per unit area is made partially different, so that a sound insulation defect can be prevented from being caused by coincidence effects at a specific frequency.例文帳に追加

この中空パネル１０は、面密度を部分的に異ならせることによって、特定周波数におけるコインシデンス効果による遮音欠損を防止するものである。 - 特許庁

Thereafter, it is judged in which area the defect exists from the result of the numerical analysis and thus, this process is used as a means for automatically judge the suitability to this casting plan.例文帳に追加

その後、数値解析の結果から欠陥の存在があらかじめ設定したどちらの領域にあるかを判定し、その方案の適正を自動判定させる手法。 - 特許庁

Thereby, even if the A mobile station 3 in the preceding car 2 is located within the receiving defect area A1, the communication of a high quality level is reliably continued without being interrupted.例文帳に追加

よって前車両２のＡ移動局３が受信不良エリアＡ１にあっても通信が途絶えることなく、確実に品質レベルの高い通信を継続することができる。 - 特許庁

To restrain an organic layer from being formed in an area shifted from a predetermined region on a substrate, and manufacture an organic EL display device with high luminance and less pixel defect.例文帳に追加

有機層が基板上の所定領域からずれたエリアに形成されるのを抑制し、輝度が高く画素欠陥の少ない有機ＥＬ表示装置を製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory with which single bit defect can be relieved efficiently without increasing chip area and power consumption.例文帳に追加

本発明は、チップ面積及び消費電力を増大させること無く単ビット不良を効率的に救済する半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The defect between the coating layer and the workpiece body appears as an area darker or brighter than its periphery, with oblique incidence illumination by the illumination part 2B.例文帳に追加

また、照明部２Ｂによる斜め入射照明により、コーティング層とワーク本体との間の色彩欠陥が、周囲より暗い領域または明るい領域として現れる。 - 特許庁

To suppress generation of lamination defects and the enlargement of area of lamination defect which are generated by continuing the supply of electric power, in a silicon carbide bipolar semiconductor device.例文帳に追加

炭化珪素バイポーラ型半導体装置において、通電を続けることにより生じる積層欠陥の発生および積層欠陥の面積拡大を抑制すること。 - 特許庁

To rearrange data by a simple method without managing servo signal defects, and to prevent data from being lost by rearranging the data before the defect of a servo signal part spreads to a data recording area.例文帳に追加

トラック本数、ヘッド本数が増大するに従って、サーボ信号の欠陥位置管理は複雑な計算と管理のためのメモリ消費量が増大する傾向にある。 - 特許庁

To make it possible to prevent an aperture ratio from decreasing, in particular, even if a crack occurs in a pixel electrode and to prevent a pixel defect area from being produced in a liquid crystal display.例文帳に追加

液晶表示装置において、 画素電極にクラックが発生するにしても開口率が特に低下せず画素欠陥領域を生じないようにできるものとする。 - 特許庁

In the image exposure data, the defect or distortion of images is corrected by using the dark image offset data provided from the dark image and the reference data provided from the reference area.例文帳に追加

このとき、前記画像露光データは、暗画像から得られた暗画像オフセットデータと、基準領域から得られた基準データとを用いて、画像の欠陥や乱れが補正される。 - 特許庁

For original image data (323) as a target, a shadow side (or highlight side) clipping value is calculated on the basis of a tolerable number of pixels of black defect in a local area (321) (or a tolerable number of pixels of halation in the local area (322)).例文帳に追加

原画像データ３２３を対象として、局所領域内の黒つぶれ許容画素数３２１（または局所領域内の白飛び許容画素数３２２）に基づき、シャドー側（またはハイライト側）のクリップ値を算出する。 - 特許庁

When gap servo is executed in the area of a recording surface on which gap servo is to be started by a gap servo control system 35, if a defect is detected in the area by a camera 33, control is executed not to execute gap servo.例文帳に追加

ギャップサーボ制御システム３５によりギャップサーボが開始されるべき記録面上の領域でギャップサーボが実行される場合、カメラ３３によりその領域に欠陥が検出された場合は、ギャップサーボを実行しないように制御される。 - 特許庁

To prevent a display device from decreasing in yield or reliability owing to a defect in contacting of a contact plug connecting mutually different wiring layers to each other in a peripheral driving circuit area which is narrower in wiring width than a display area of the display device.例文帳に追加

表示装置における表示領域よりも配線幅の狭い周辺駆動回路領域において、互いに異なる配線層間を接続するコンタクトプラグの接触不良による歩留りや信頼性の低下を防止する。 - 特許庁

To prevent the generation of a waste area or an image defect regardless of the combination of the size of a gained image or the image size of an area of concern with the maximum output size of an outputting film in a medical image output device.例文帳に追加

医用画像出力装置において、取得されれた画像サイズや関心領域の画像のサイズ、出力用フィルムの最大出力サイズの組合わせに拘わらず、無駄な領域や画像欠落などが生じないようにする。 - 特許庁

The seeping of the sealing material toward the display area Dd in joining substrates is suppressed with the parallel detouring part 7a, and a malfunction of display defect production caused by access of the seeping to the display area Dd is prevented.例文帳に追加

この平行迂回部分７ａにより、基板接合時におけるシール材料の表示領域Ｄd に向かう沁み出しが抑制され、沁み出しが表示領域Ｄd に進入して表示不良を発生させる不具合が防止される。 - 特許庁

As to a 1st PLL circuit for producing a wobble synchronizing clock synchronized with the wobble signal period, the constitution to hold the oscillating frequency is adopted on the header area (and defect area), etc., where the appropriate wobble signal is not to be obtained.例文帳に追加

ウォブル信号周期に同期したウォブル同期クロックを生成する第１ＰＬＬ回路について、適正なウォブル信号が得られないとされるヘッダ領域（及びディフェクト領域）などでは、その発振周波数をホールドする構成を採る。 - 特許庁

Defect information for each cluster consisting of continuous 4ECC blocks is stored in an area from BPO to BP9209 in the first half out of area from first byte position BPO to 18420th byte position BP18419.例文帳に追加

１番目のバイト位置ＢＰ０から１８４２０番目のバイト位置ＢＰ１８４１９までのうち、前半分のＢＰ０からＢＰ９２０９までのエリアには、連続する４ＥＣＣブロックからなるクラスタ毎の欠陥情報が格納される。 - 特許庁

A glass plate G is sucked and fixed to a table 2 after a defect is detected on the surface of the glass plate G by a detecting means 4, and the position of the defect D detected by the detecting means 4 and its surrounding area are polished by a polishing pad 34 having a smaller outer form size than that of the glass plate G, so that the defect D is removed without an entire polishing to be made.例文帳に追加

検出手段４によりガラス板Ｇ表面の欠陥を検出した後にガラス板Ｇをテーブル２へ吸着固定し、ガラス板Ｇの外形サイズよりも小さい外形サイズの研磨パッド３４により検出手段４により検出された欠陥Ｄの位置とその周囲を研磨することにより、全面研磨せずとも欠陥Ｄを除去する。 - 特許庁

The optical disk comprises: a recording area which has the data recorded in one or more physical clusters; a defective area in which a defect occurs before or during recording the data in the optical disk capable of recording and/or reproducing the data; and a recording end area having information indicating the end of recording recorded before the defective area.例文帳に追加

光ディスクは、少なくとも１つの物理的クラスタにデータが記録される記録領域と、データを記録及び／または再生できる光ディスクにおいて、データ記録前または使用中に欠陥が生じた欠陥領域と、前記欠陥領域前に記録の終了を示す情報が記録された記録終了領域と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a reticle defect inspection method and a reticle defect inspection device capable of calibrating the offset and gain of a sensor amplifier using a product reticle even though black and white regions each sufficiently wider than a TDI sensor imaging area do not exist in the product reticle.例文帳に追加

製品レチクルにＴＤＩセンサ撮像面積に比して充分な広さの黒領域及び白領域が存在しなくても、製品レチクルを用いてセンサアンプのオフセット及びゲインの調整が可能なレチクル欠陥検査方法及びレチクル欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

By employing the functions of the pixel detection circuit 113 and the defect correction circuit 114 in a composite way, the designation of a marking pixel is made possible in addition to defect correction and additional functions such as marking of the optional pixel with respect to the image signal and area designation are realized.例文帳に追加

このような画素検出回路１１３および欠陥補正回路１１４の機能を複合的に用いて、欠陥補正だけでなく、マーキング用の画素指定を可能とし、画像信号に対する任意画素のマーキングや領域指定等の付加機能を実現する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a silicon single crystal, by which the silicon single crystal, characterized in that the variation of the crystal defect distribution in the radial direction is small over the whole crystal length and the whole surface of a cut surface cut in the radial direction has one kind of crystal defect area, can be easily manufactured.例文帳に追加

結晶全長にわたって径方向の結晶欠陥分布の変化が小さく、径方向の切断面の全面が１種類の結晶欠陥領域であるシリコン単結晶を容易に製造できるシリコン単結晶製造方法を提供する。 - 特許庁

When a defect sector is detected in an area where the predetermined system information is written, the MPU 18 executes sector slip processing to allocate address information sequentially from a next sector of the defect sector without allocating any address information to the defective sector.例文帳に追加

また、ＭＰＵ１８が、上記所定のシステム情報が書き込まれる領域において欠陥セクタが検出された場合に、欠陥セクタへのアドレス情報の割り当てをせずに、欠陥セクタの次のセクタから順次アドレス情報を割り当てるセクタスリップ処理を実行する。 - 特許庁

To solve the serious problems that the laser repairing method which corrects a defect and a residual defect of a photomask can hardly implement the uniform film deposition of large area and moreover, Cr particles generated at the time of laser transpiration restick to the surface of the substrate.例文帳に追加

フォトマスクの欠損欠陥、残留欠陥を修正するレーザリペア方法では、それぞれ大面積の均一な成膜が困難であり、またレーザ蒸散時に発生するＣｒが微粒子となり基板上に再付着すること大きな問題となっている。 - 特許庁

When presence of defect in the read objective storage area is determined by the defect discriminating circuit 2 at the reading access to the memory section 1, the data written into the scan flip-flop SFF 5 are outputted from a selection circuit 7 as the read data of the memory section 1.例文帳に追加

メモリ部１への読み出しアクセスの際に、欠陥判定回路２において読み出し対象の記憶領域に欠陥があると判定されると、選択回路７からは、スキャンフリップフロップＳＦＦ５に書き込まれたデータがメモリ部１の読み出しデータとして出力される。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether defect managing area(DMA) information is to be normally generated or updated after reinitialization while a defect list is removed without detection through disk recording/reproducing device and to provide a test device for performing the method.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開示する。 - 特許庁

A write once type recording medium (100) has a data area (108) for recording recording data, and shared areas (104, 105) for temporarily recording defect management information (120) including save data as recording data that are to be recorded or have been recorded in a place where a defect exists in the data area, and a saved address and a saving address of the save data.例文帳に追加

追記型記録媒体（１００）は、記録データを記録するデータエリア（１０８）と、データエリアにおけるディフェクトが存在する場所に記録すべき又は記録された記録データである退避データと、退避データの退避元アドレス及び退避先アドレスを含んでなるディフェクト管理情報（１２０）と、を一時的に記録する共用エリア（１０４、１０５）とを備える。 - 特許庁

The information recording medium has a 1st spare area 102 including spare sectors to substitute for bad sectors, a defect management information area 101 for managing the substitution of the spare sectors for the bad sectors, and a volume space 100a where user data can be recorded.例文帳に追加

情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第１スペア領域１０２と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域１０１と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間１００ａとを備えている。 - 特許庁

The non-adhesion area 5 includes areas other than the external shape of the flexible printed boards 10, so when cream solder is printed on the flexible printed boards 10 using a metal mask, the metal mask is not stuck on the non-adhesion area 5 to cause no printing defect.例文帳に追加

非粘着領域５がフレキシブルプリント基板１０の外形以外の領域を包含するので、フレキシブルプリント基板１０にメタルマスクを用いてクリームハンダが印刷される際、非粘着領域５にメタルマスクが粘着して印刷不良を招くことがない。 - 特許庁

A focus is adjusted on the basis of output signals from focus adjustment areas 61', 62', 63', 64', 65', 66' and 67 being parts of a photographing area of an image pickup element 400 and consisting of pixels without defect in the photographing area of the image pickup element 400.例文帳に追加

撮像素子４００の撮像領域の一部であって且つ該撮像領域４００の欠陥のない画素からなるピント調節領域６１’，６２’，６３，６４’，６５，６６’，６７からの出力信号に基づいて前記ピントの調節をする。 - 特許庁

To provide a dater recorder and a data recording method which can stably reproduce data recorded in a user data area by suppressing DC components and low-frequency components even in areas other than the user data are and a defect area.例文帳に追加

ユーザデータ領域以外の領域や、ディフェクト領域においても直流成分及び低周波成分を抑制することで、ユーザデータ領域に記録されたデータを安定に再生することができるデータ記録装置およびデータ記録方法を提供する。 - 特許庁