「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

It is preferred to use a wafer composed of a defect-free area as a raw material because a defect-free layer can be stably secured on a wafer surface layer.例文帳に追加

無欠陥領域からなるウェーハを素材として用いることとすれば、ウェーハ表層部に無欠陥層を安定して確保できるので望ましい。 - 特許庁

Furthermore, an area where the impedance shows the minimum value is sought based on the impedance thus obtained, and the area is specified as the location of the defect.例文帳に追加

そして、得られたインピーダンスに基づいてインピーダンスの最小値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。 - 特許庁

Namely, a striped peculiar area S is formed of the area having concentrated crystal defect, and its stripe width d is about 50 μm.例文帳に追加

即ち、ストライプ状の特異領域Ｓは、結晶欠陥集中領域で構成されており、そのストライプ幅ｄは約５０μｍである。 - 特許庁

Alternative recording is allowed in a spare area during data recording by forming a defect 12 in a data area of an optical disk 10 for evaluation.例文帳に追加

評価用光ディスク１０のデータ領域に欠陥１２を形成し、データ記録時にスペア領域に代替記録されるようにする。 - 特許庁

A remaining defect detecting section 22 acquires height information relating to the height of the glass substrate 2 in the area of the defect, deciding presence/absence of the remaining defect to be further corrected after the correction of the defect on the basis of the height information.例文帳に追加

残存欠陥検出部２２は、欠陥の範囲におけるガラス基板２の高さに関する高さ情報を取得し、欠陥の修正後にさらに修正すべき残存欠陥が存在するか否かを、高さ情報に基づいて判断する。 - 特許庁

On the write-once-type recording medium 10, there are provided: a definite defect management area 13 to definitely record therein defect management information; and a plurality of temporary defect management areas 14A, 14B, and 14C to temporarily record therein the defect management information.例文帳に追加

追記型記録媒体１０上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア１３と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃを設ける。 - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

Moreover, a status information recording area 15 is provided on the recording medium 10, and status information for indicating the temporary defect management area in which there is the defect management information recorded at last is recorded there.例文帳に追加

さらに、記録媒体１０上にステータス情報記録エリア１５を設け、そこに、最後に記録したディフェクト管理情報が存在する一時的ディフェクト管理エリアを示すステータス情報を記録する。 - 特許庁

An information recording medium has a volume space 6 in which user data are recorded, a spare area 7 including a substitute area by which a defective area included in the volume space 6 is substituted and a defect management information area 4b in which defect management information 10 for the management of a defective area is recorded.例文帳に追加

情報記録媒体１は、ユーザデータが記録されるボリューム空間６と、ボリューム空間６に含まれる欠陥領域の代わりに使用され得る交替領域を含むスペア領域７と、欠陥領域を管理するための欠陥管理情報１０が記録される欠陥管理情報領域４ｂとを備えている。 - 特許庁

A disk recording/reproducing drive 1020 records the information on the information recording medium including: a volume space for recording user data; a spare area containing a substitute area usable instead of a defective area; and a defect management information area for recording the defect management information.例文帳に追加

ディスク記録再生ドライブ１０２０は、ユーザデータが記録されるボリューム空間と、欠陥領域の代わりに使用され得る交替領域を含むスペア領域と、欠陥管理情報が記録される欠陥管理情報領域とを備えた情報記録媒体に情報を記録する。 - 特許庁

A disk recording and reproducing drive 1020 records the information on the information recording medium including a volume apace for recording user data, a spare area containing a substitute area usable instead of a defective area, and a defect management information area for recording the defect management information.例文帳に追加

ディスク記録再生ドライブ１０２０は、ユーザデータが記録されるボリューム空間と、欠陥領域の代わりに使用され得る交替領域を含むスペア領域と、欠陥管理情報が記録される欠陥管理情報領域とを備えた情報記録媒体に情報を記録する。 - 特許庁

Then, by setting an AV data area as a specific area and by setting a PC data area as a defect management area, the continuity of data recorded in the AV data area is achieved, and the reliability of data recorded in the PC data area is ensured.例文帳に追加

そこで、ＡＶデータ領域を特定領域、ＰＣデータ領域を欠陥管理領域とすることにより、ＡＶデータ領域に記録される情報はデータの連続性が確保され、ＰＣデータ領域に記録される情報はデータの信頼性が確保されることとなる。 - 特許庁

The information recording medium 100 is provided with a data area 102 for recoding user data, and at least one defect management area 104 (105, 108, 109) for recording a defect list 112 to manage N pieces of defect areas (N is an integer satisfying N≥0).例文帳に追加

情報記録媒体１００は、ユーザデータを記録するデータ領域１０２と、Ｎ個の欠陥領域（Ｎ≧０を満たす整数）を管理する欠陥リスト１１２を記録する少なくとも１つの欠陥管理領域１０４（１０５、１０８、１０９）とを備える。 - 特許庁

An alternate area is determined in consideration of the location of an area where the defect occurs, whether the defect occurs at the beginning of the area, whether the recording medium is rewritable or not, and so that data is arranged in the order of reading.例文帳に追加

ディフェクトが発生した領域の位置、その領域内でディフェクトが発生した箇所が先頭であるか否か、記録媒体が再書き込み可能であるか否かなどを考慮し、かつ、データが読み出される順で配置されるように、交替先が決定される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which defect detection can be performed in a short period oftime and the circuit area is small.例文帳に追加

不良検出が短時間で行なえる回路面積の小さな半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

INFORMATION-RECORDING/REPRODUCING DEVICE, PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND METHOD FOR MANAGING DEFECT AREA例文帳に追加

情報記録再生装置とプログラムとコンピュータ読み取り可能な記録媒体と欠陥領域管理方法 - 特許庁

To determine optimum recording conditions even if a defect exists in an OPC area or a jitter value varies depending on the position of an OPC area.例文帳に追加

ＯＰＣ領域にディフェクトやこのＯＰＣ領域の位置によってジッタ値がばらついていた場合でも、最適記録条件を決定できる。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device, a pixel defect inspection device and a pixel defect correction method that can properly correct a defect of a remarkable area in an image screen and satisfy a requirement for effective utilization of a defect correction performance so as to obtain an excellent image.例文帳に追加

画面での目立つ領域の欠陥補正を的確に行い、かつ欠陥補正能力の有効利用という要求を満足させて良好な画像を得ることのできる固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法の提供。 - 特許庁

To provide a defect marker and a defect marking method for films with improved accuracy in recognizing the location of a defect in a marking area, thus capable of preventing reduction of yield and reducing man-hours required for a visual inspection.例文帳に追加

マーキングエリアでの欠陥部分の位置の認識精度を向上させることで歩留りを下げることなく、かつ、目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供する。 - 特許庁

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3).例文帳に追加

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。 - 特許庁

The defect removing equipment 20 stops running of the printed matter 10 at a position where the position of detection of the defect and the position indicated by the mark 13 coincide with each other, and performs cutting and pasting of an area of removal including the defect.例文帳に追加

欠陥除去装置２０は、欠陥検出位置とマーク１３が示す位置とが一致する位置で印刷物１０の走行を停止させ、欠陥を含む除去領域の切断及び貼り合わせを行う。 - 特許庁

A defect determining part 17c in a defect detecting part 17 divides a development image into a front area E1 and a rear area E2 on the basis of the length of the specimen, and the number of foreign bodies in the respective areas E1, E2 is detected.例文帳に追加

欠品検出部１７の不良判断部１７ｃは、展開画像を被検査物の長さに基づき前方エリアＥ１と後方エリアＥ２に２分割し、各エリアＥ１，Ｅ２での異物の個数を検出する。 - 特許庁

For example, if there is a defect increasing in the same manner from an average value in both of the area lithographed under the safe condition and the area lithographed under the acceleration condition, it is assumed that the defect depends on the process.例文帳に追加

例えば、安全条件で描画した領域と加速条件で描画した領域の双方において、平均値から同じように数が増加する欠陥があれば、この欠陥はプロセスに依存するものと推測できる。 - 特許庁

In this recording medium, an information showing whether a linear substitution defect control substituting data on the excess area for a defect on the recording medium is used or not, is stored for recording the real time data in the recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

To add defect relieving functions to a plurality of semiconductor memory circuits, respectively by suppressing increment of circuit area without spoiling the defect relieving function.例文帳に追加

欠陥救済機能を損なうことなく、回路面積の増加を抑制して、複数の半導体記憶回路に欠陥救済機能をそれぞれ付加することができるようにする。 - 特許庁

To favorably detect inner defects in the entire area of a glass substrate including an inner defect near the main surface, the defect giving a large influence on pattern transfer to a transfer material.例文帳に追加

被転写体へのパターン転写に影響の大きな主表面近傍の内部欠陥を含む、ガラス基板の全ての領域の内部欠陥を良好に検出できること。 - 特許庁

A CPU 10 detects a defective area in the recording area of an optical disk 4, secures an alternative area having the same size as that of the detected defective area for the defective area from the free area of the recording area, and records defect alternating information composed of the addresses and sizes of the alternative and defective areas on the optical disk 4.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、光ディスク４の記録領域の欠陥領域を検出し、その検出された欠陥領域に対するその欠陥領域と同サイズの代替領域を記録領域の空き領域から確保し、代替領域と欠陥領域のアドレス及びサイズの欠陥代替情報を光ディスク４に記録する。 - 特許庁

This optical recording medium can record and reproduce data by means of a laser beam and has a defect management prevent flag that is previously recorded in the prescribed area of a read-in area to show whether a defect management or the alternation processing is needed or not.例文帳に追加

レーザ光を用いてデータの記録、再生を行なえる光学的記録媒体たる光ディスクであって、予めリードイン領域の所定の領域に、ディフェクトマネージメント若しくは交替処理が必要であるか否かを示すディフェクマネージメントプリベントフラグ（Defect Management Prevent Flag）が記録されてなる光ディスク。 - 特許庁

The inspection standard determining apparatus 1 determines the inspection standard which is used for determining as to whether a defect candidate area of a sample is a defect, by using the appearance feature quantity of the defect candidate area, based on the psychological measurement curve obtained, by digitizing the response of the inspector M to a stimulation consisting of the feature quantity.例文帳に追加

検査基準決定装置１は、試料の欠陥候補領域が有する外観的特徴量により欠陥であるかどうかを判定する検査基準を、その特徴量からなる刺激に対する検査員Ｍの応答を数値化した心理測定曲線、に基づいて決定する。 - 特許庁

By comparing an integral value by each prescribed block of a shade area with a reference value, a defect of the shade area is detected when there exists a block whose integral value is the reference value or over so as to set a photometric frame of a light receiving area on the basis of the position of the block whose defect is detected.例文帳に追加

遮光領域の所定ブロック毎の積分値と基準値を比較し、積分値が基準値以上のブロックがあった時に遮光領域の異常を検出し、異常が検出されたブロックの位置に基づいて受光領域の測光枠を設定する。 - 特許庁

To eliminate a disk discrimination information area in a disk, by using defect address information recorded in a defect information area of the disk to discriminate the disk, with respect to disk discrimination information which has been conventionally recorded in a management area of the disk.例文帳に追加

ディスクの管理領域に従来記録されていたディスク識別情報について、ディスクの欠陥情報領域に記録されている欠陥アドレス情報を利用することによってディスク識別を行ってディスク内でディスク識別情報領域を無くすること。 - 特許庁

To provide a recording medium having spare area for defect management and its management information, a method of allotting spare area, and a method of managing defects.例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体、余裕空間割当方法及び欠陥管理方法を提供する。 - 特許庁

The optical information recording/reproducing device registers the predetermined area in the second layer corresponding to the defect position of the first layer, as the defective area.例文帳に追加

また、光情報記録媒体は、第１の層の欠陥の位置と対応する第２の層における所定の領域を欠陥領域として登録する。 - 特許庁

The correcting device corrects a pattern defect of the display in which an electronic circuit pattern having the pattern defect on a surface of a substrate is formed, and is equipped with a plasma irradiation means of irradiating an area of the pattern defect locally with plasma to correct the pattern defect.例文帳に追加

基板の表面にパターン欠陥を有する電子回路パターンが形成された表示装置の前記パターン欠陥を修正する修正装置であって、 前記パターン欠陥の領域に局所的なプラズマの照射によって前記パターン欠陥を修正するプラズマ照射手段を備えてなる。 - 特許庁

Thereby, the device can cope with increment of the defect management information accompanied with increment of the spare area.例文帳に追加

これにより、スペアエリアの増大に伴うディフェクト管理情報の増大に対しても対処することができる。 - 特許庁

At the time, the area 16a of a low defect density is formed on a groove upper surface other than the intermediate part of the widthwise direction of the groove.例文帳に追加

この時、溝の幅方向の中間部以外の溝上面に欠陥密度の低い領域16ａができる。 - 特許庁

To specify a process of generating a defect, or to detect the defect, even in an area that is not formed with a repeeated pattern on a wafer surface, when detecting the defect appearing on the semiconductor wafer surface by visual inspection.例文帳に追加

外観検査により半導体ウエハの表面に現れる欠陥を検出する際に、欠陥を生じた工程を特定する、或いはウエハ表面に繰り返しパターンが成形されていない領域においても欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for manufacturing a single crystal which enable efficient manufacturing of a silicon single crystal having a defect-free area by easing conditions for manufacturing the silicon single crystal having the defect-free area.例文帳に追加

無欠陥領域を有するシリコン単結晶を製造するための諸条件を緩和することで、無欠陥領域を有するシリコン単結晶を高い効率で製造することができる単結晶製造装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a production history management system capable of analyzing a defect including information about an installation site of an appliance and properly grasping an area of the installation sites affected by the defect.例文帳に追加

機器の設置先情報も含めた不具合の解析や、当該不具合により影響を受ける設置先の範囲を的確に把握することが可能な製造履歴管理システムを提供する。 - 特許庁

Defect information for each ECC block only for a cluster in which it is detected in the first half that defect exists is stored in an area form BP9210 to BP18419 of the latter half.例文帳に追加

後半分のＢＰ９２１０からＢＰ１８４１９までのエリアには、前半分のエリアで欠陥ありとされたクラスタについてのみの、ＥＣＣブロック毎の欠陥情報が格納される。 - 特許庁

When a defect exists in the area to be inspected, the scattered light 7 generated by the defect is collected by means of a Schwarzs child optical system 8 and an enlarged image is formed on a two-dimensional image detector 9.例文帳に追加

被検査領域中に欠陥があると、それにより発生する散乱光７を、シュバルツシルト光学系８で捕集し、２次元画像検出器９の上に拡大結像する。 - 特許庁

A defect correction device 1 is a defect correction device for repairing defects on a substrate and is provided with a laser output mechanism 10 capable of varying the cross-sectional area of the irradiating laser.例文帳に追加

本発明の欠陥修正装置１は、基板上の欠陥部を修復する欠陥修正装置であって、照射するレーザの断面積を可変なレーザ出力機構１０を有している。 - 特許庁

To ascertain concrete conditions required for obtaining a defect-free crystal stably with good reproducibility and to produce a silicon ingot having a wide defect-free area stably with good reproducibility.例文帳に追加

無欠陥結晶を安定かつ再現性よく得るために必要な具体的条件を突き止め、広範囲に無欠陥領域を備えるシリコンインゴットを安定かつ再現性よく製造する。 - 特許庁

A data region is divided into a plurality of partial areas (UDA1, UDA2) (step 303), and defect management information including a defect management method is set for each partial area (step 305).例文帳に追加

データ領域を複数の部分領域（ＵＤＡ１、ＵＤＡ２）に分割し（ステップ３０３）、部分領域毎に欠陥管理方式を含む欠陥管理情報を設定する（ステップ３０５）。 - 特許庁

An area occupied by the defect repairing circuit is narrowed while conventional repairing efficiency is maintained.例文帳に追加

このメモリ装置は、従来の修復効率を維持したまま、欠陥修復用回路が占める面積を狭くすることができる。 - 特許庁