「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

In this system and method, upon the detection of a defect, the printer is enabled to skip the defect area, or alternatively an image influenced by the defect is reprinted.例文帳に追加

本発明のシステムおよび方法において、欠陥が検出された場合、プリンタをイネーブルして欠陥領域をスキップさせるか、欠陥の影響を受けた画像を再印刷する。 - 特許庁

An image processor 12 detects a defect on the basis of a defect image which is obtained by picking up an image of a glass substrate 2 by an imaging section 11, and recognizes a position and an area of the defect.例文帳に追加

撮像部１１がガラス基板２を撮像した欠陥画像に基づき画像処理部１２は欠陥を検出し、欠陥の位置および範囲を認識する。 - 特許庁

By this defect classifier, a plurality of defect factors are specified from image data in an inspection area on a substrate to acquire coordinate values of representative points of the respective defect factors.例文帳に追加

欠陥分類装置では、基板上の検査領域の画像データから複数の欠陥要素が特定され、各欠陥要素の代表点の座標値が取得される。 - 特許庁

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.例文帳に追加

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁

A crosstalk defect can be detected in the checked display area 21; a gradation defect can be detected in the stepped gradation display area 22, and a flicker deviation can be detected in the half-tone display area 23.例文帳に追加

市松表示領域２１ではクロストーク不良を検出でき、段階階調表示領域２２では階調不良を検出でき、中間階調表示領域２３でフリッカズレを検出できる。 - 特許庁

Further, the recording medium 10 is provided with a status information recording area 15, status information indicating the temporary defect management area in which finally recorded defect management information exists is recorded in the area 15.例文帳に追加

さらに、記録媒体１０上にステータス情報記録エリア１５を設け、そこに、最後に記録したディフェクト管理情報が存在する一時的ディフェクト管理エリアを示すステータス情報を記録する。 - 特許庁

Picture elements of an inspection area are divided into segments, a distribution of defect levels found in every of the segments is displayed on a monitor by a hue circle having 256 of gradations in response to the defect levels such as the defect level 0 : blue, defect level 128 : green, and defect level 255 : red.例文帳に追加

検査領域の画素をセグメントで分けて、各セグメント毎に求めた欠陥レベルの分布を、欠陥レベル０：青〜欠陥レベル１２８：緑〜欠陥レベル２５５：赤というように欠陥レベルに応じた256階調の色相環でモニタに表示される。 - 特許庁

In the event of positional slippage, an area where no defect pixel data are present is estimated for the visible image from an area where detect pixel data are present, and this position is also taken as defect pixel data.例文帳に追加

位置ずれが生じ可視画像に対して欠陥画素データが存在しない領域を、存在する領域から推測し、その位置も欠陥画素データとする。 - 特許庁

Moreover, the defect area is so small that there is little effect on the battery capacity.例文帳に追加

さらに、欠陥の面積は小さいので、電池容量にはほとんど影響が無い。 - 特許庁

The void 35 is related to the high-defect area 15e of the gallium nitride substrate 15, and each high-defect area 17e in the gallium nitride film 17 is related to one of high-defect areas 15e of the gallium nitride substrate 15.例文帳に追加

ボイド３５は、窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅに関連づけられており、窒化ガリウム膜１７の各高欠陥エリア１７ｅは窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅの一つに関連づけられている。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method by which necessary and sufficient defect inspection advantageous in time and cost is performed by performing the inspection while dividing a mask defect into an area where the influence of a mask defect on the operation is large and an area where the influence is small when inspection sensitivity is adjusted.例文帳に追加

検査感度調整の際にマスク欠陥がデバイスの動作への影響が大きな領域と小さな領域とに分離して検査を行うことにより時間的、コスト的に有利な必要十分な欠陥検査ができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

At least one defect management work area is assigned in order along a predetermined direction, and the latest defect list and the latest DDS are located in a recorded defect management work area contiguous to the boundary of a recorded defect management working area and an unrecorded defect management work area in order of the latest defect list and the latest DDS along this predetermined direction.例文帳に追加

本発明の追記型情報記録媒体には、少なくとも１つの欠陥管理作業領域が所定の方向に沿って順に割り付けられており、最新の欠陥リストと最新のＤＤＳとは、この所定の方向に沿って、最新の欠陥リスト、最新のＤＤＳの順に、記録済み欠陥管理作業領域と未記録欠陥管理作業領域との境界に隣接する記録済み欠陥管理作業領域に配置されている。 - 特許庁

To detect a defect of a TFT driving circuit provided outside an active area along with the active area formed on a substrate.例文帳に追加

基板上に形成されたアクティブエリアと共にアクティブエリア外に設けられたＴＦＴ駆動回路の欠陥を検出する。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGING AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DISK DEFECT MANAGEMETN AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報の検出方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THIS例文帳に追加

ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking-type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an element employing a semiconductor film of low defect density over a large area.例文帳に追加

大面積にわたって低欠陥密度の半導体膜を用いた素子を提供する - 特許庁

To provide a recording medium storing linking type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

The data structure on the recording medium includes a temporary defect management area storing a data block.例文帳に追加

記録媒体上のデータ構造は、データブロックを格納する仮欠陥管理領域を含む。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

To prevent a high-resistance defect and an open defect of a via while reducing an element or a wiring arrangement area.例文帳に追加

本発明によれば、素子や配線の配置面積を縮小しつつ、ビアの高抵抗不良およびオープン不良が発生しないようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection device for detecting a defect with a simple method by setting a proper mask area.例文帳に追加

本発明は、適正なマスク領域を設定し、簡易な手法にて欠陥の検出を行う欠陥検出装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a correction device for removing a defect by estimating, in the event of positional slippage between a visible image and a defect image, the position of the defect from the defect image also in an area where a defect pixel corresponding to the visible image cannot be acquired, and compensating the visible image.例文帳に追加

可視画像と欠陥画像に位置ずれが生じた場合、可視画像に対応する欠陥画素が取得できない領域においても、欠陥画像から欠陥の位置を推測し、可視画像を補うことにより、欠陥を除去する補正装置を提供する。 - 特許庁

A defect determination means 19b recognizes as the absence area an area other than the the area of the content extracted by the content area extracting means 18, and determines the presence of the defect, based on whether the unnecessary object exists in the recognized absence area or not.例文帳に追加

欠陥判別手段１９ｂは、内容物領域抽出手段１８が抽出した内容物の領域以外の領域を不存在領域として認識し、この認識した不存在領域内に不用物が存在するか否かにより欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

This information storage medium is provided with a user area (UA) for storing user data, a defect management area (DMA) for storing defective information related to the defects on the user area and an overwrite management area (DMA) for storing overwrite information related to the frequency of overwrites with respect to the defect management area.例文帳に追加

ユーザデータを格納するためのユーザエリア（ＵＡ）と、前記ユーザエリア上の欠陥に関する欠陥情報を格納するための欠陥管理エリア（ＤＭＡ）と、前記欠陥管理エリアに対するオーバーライト回数に関するオーバーライト情報を格納するためのオーバーライト管理エリア（ＤＭＡ）とを備えている。 - 特許庁

Before the recording medium is finalized, updated defect management information is recorded in any of the plurality of temporary defect management area for each update of defect management information.例文帳に追加

記録媒体１０をファイナライズする前は、ディフェクト管理情報が更新される度に、更新されたディフェクト管理情報を複数の一時的ディフェクト管理エリアのいずれかに記録する。 - 特許庁

The implantable prosthesis 20 for an anatomical defect, such as a tissue or muscle defect, promotes tissue or muscle growth into the prosthesis and subsequently strengthens the area of the defect.例文帳に追加

プロテーゼ内への組織または筋肉の成長を促進し、その後に欠損領域を補強する組織または筋肉の欠損などの解剖学的欠損用の植込み型プロテーゼ２０。 - 特許庁

An implantable prosthesis (20) for an anatomical defect, such as a tissue or muscle defect, that promotes tissue or muscle growth into the prosthesis and subsequently strengthens the area of the defect.例文帳に追加

プロテーゼ内への組織または筋肉の成長を促進し、その後に欠損領域を補強する組織または筋肉の欠損などの解剖学的欠損用の植込み型プロテーゼ（２０）。 - 特許庁

A defect detecting algorithm is applied to the image data to extract a defect pixel by a defect extracting part 40, which is stored as a black flaw position in a second area of the first storing part 20.例文帳に追加

該画像データに欠陥抽出部４０で欠陥検出アルゴリズムを適用して欠陥画素の抽出を行い、黒きず位置として第１記憶部２０の第２領域に格納する。 - 特許庁

To provide a pattern defect detector and a pattern defect detecting method capable of detecting a pattern defect without generating detection missing, and allowing the detection without lowering a detection speed, and without separating a defective area.例文帳に追加

パターンの欠陥を漏れなく検出し、検出速度を低下させず、欠陥領域を分離させずに検出可能なパターン欠陥検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

The liquid crystal display thin film transistor panel having a plurality of pixels and including a defect pixel area with a bright spot defect present in at least one of the plurality of the pixels by defect is provided with an opaque substance 6 in the defect pixel area on a thin film transistor panel.例文帳に追加

複数の画素を有すると共に、不良により複数の画素の少なくとも１つにブライトスポット欠陥が存在する不良画素領域を含む液晶ディスプレイ薄膜トランジスタパネルを提供し、薄膜トランジスタパネル上の不良画素領域内に不透明物質６が設けられる。 - 特許庁

The method for managing the defect area comprises appropriately determining an alternate area in case of the occurrence of a defect without previous division of the area to a data area and a spare like heretofore, transferring the data to be recorded thereto and separately managing the information of the position alternated with the defect position information.例文帳に追加

そのために本発明の欠陥領域管理方法は、従来のように予めデータ領域とスペア領域とに分けておかずに、欠陥が発生したときに適宜交替領域を決めてそこに記録するデータを移すと共に、欠陥位置情報と交替した位置の情報を別途管理するようにした。 - 特許庁

Thus, it is possible to seek again a target position by avoiding a servo data defect area, and to avoid the repeated occurrence of the seek error caused by the servo data defect area.例文帳に追加

これにより、サーボ・データ欠陥領域を避けてターゲット位置に再シークすることができ、サーボ・データ欠陥領域によりシーク・エラーが繰り返し発生することを避けることができる。 - 特許庁

Defect information obtained by means of an inspection device 102 and review information obtained by means of a reviewing device 103 are stored in a defect data area 111 and a review data area 112 as individual items.例文帳に追加

検査装置１０２による欠陥情報を欠陥データ領域１１１に、レビュー装置１０３によるレビュー情報をレビューデータ領域１１２に個別の項目で記憶する。 - 特許庁

Thus, an image pickup area is sectioned by the area setting key 21, and the priority of the defect correction is attached by the priority-setting key 22.例文帳に追加

撮像領域を領域設定キー２１で区分し、その欠陥補正の優先順位を優先順位設定キー２２でつける。 - 特許庁

The defect management information 10 includes state information which shows whether the defective area is substituted by the substitute area or not.例文帳に追加

欠陥管理情報１０は、欠陥領域が交替領域に交替されているか否かを示す状態情報を含む。 - 特許庁

Prior to correction of defect, a stage 2 moves a substrate 1 two-dimensionally to a position where the defect are put in the visual field area of an objective 14.例文帳に追加

欠陥の修正が行われる前に、ステージ２は、欠陥が対物レンズ１４の視野領域に入る位置に基板１を二次元移動する。 - 特許庁

Also, the level of a defect is set by the detection level setting key 20 and the defect is corrected in the priority order of the area and in the order of level of the defects.例文帳に追加

また、検出レベル設定キー２０で欠陥のレベルを設定し、領域の優先順で、且つ欠陥のレベル順に欠陥を補正する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction.例文帳に追加

本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

To provide a defect area management method for managing the defect area of an optical recording medium by which an error generated by containing the defective blocks contained in a spare area in a user area after formatting is prevented while maintaing compatibility with an existing system.例文帳に追加

既存の方式と互換性を維持しながら、フォーマッティング後、スペア領域の欠陥ブロックがユーザー領域に含まれて発生していたエラーを防止できるようにした、光記録媒体の欠陥領域を管理する欠陥領域管理方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

A space 17 is provided in the prescribed area of the SiO_2 substrate layer 12 while being made to face the dotted defect 16.例文帳に追加

点状欠陥１６に面してSiO_2基板層１２の所定の範囲に空間１７を設ける。 - 特許庁

METHOD OF ALLOTTING SPARE AREA AND METHOD OF MANAGING DEFECT FOR DISK RECORDING AND/OR REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

ディスクの記録及び／または再生装置のための余裕空間割当方法と欠陥管理方法 - 特許庁