「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

When a disk area on a fixed disk device used by a file using an application program is damaged physically, the file brought into an abnormal termination by a file operation to the disk area is renamed to express clearly the abnormal termination, and the area including the defect sector is isolated.例文帳に追加

本発明は、アプリケーションプログラムを使用しているファイルが使用する固定ディスク装置上のディスク領域が物理的に破損した場合、ディスク領域のファイル操作で異常終了したファイルを異常終了したことが明示できるファイル名に変更し、不良セクタを含む領域を隔離することを特徴とする。 - 特許庁

When detecting the impossibility of using a trial recording area for obtaining optimal recording/reproducing conditions in the combination of a recording medium with a recorder, trial recording is carried out in a data recording area, and management information including an address pointer indicating the position of the trial recording is recorded in a defect management area.例文帳に追加

記録媒体と記録装置の組み合わせで最適な記録再生条件を求めるための試し記録領域が使用不能と検出された場合に、データ記録領域内に試し記録を行い、試し記録が行われた位置を示すアドレスポインタを含む管理情報を欠陥管理領域に記録するようにする。 - 特許庁

To provide a color filter efficiently applying coloring material to a specified area by an ink jet method, including a light shielding area having sufficient light shielding property and a transmission area having no color mixture, free from the defect of a pixel or the unevenness of a color tone and having high contrast, and also to provide its manufacture method, and an electrooptical device and electronic equipment.例文帳に追加

インクジェット法により所定領域に色材を効率的に付与し、しかも、十分な遮光性を有する遮光領域と、混色がない透過領域とを含み、画素欠陥や色調むらのないコントラストの高いカラーフィルタ、およびその製造方法、電気光学装置および電子機器を提供することにある。 - 特許庁

In the image-recorded recording medium in which image files each composed of an image data area IA and photographing information area PA are recorded, pixel defect information (X1, Y1) to (X8, Y8) which are inherent to image pickup elements of the digital camera used in photographing is recorded in the area PA.例文帳に追加

画像データ領域ＩＡ及び撮影情報領域ＰＡからなる画像ファイルが記録されてなる画像記録済み記録媒体において、撮影で使用したデジタルカメラの撮像素子固有の画素欠陥情報Ｘ１，Ｙ１〜Ｘ８，Ｙ８が、撮影情報領域ＰＡに記録されてなる画像記録済み記録媒体である。 - 特許庁

In a first step, an area ratio of defect parts (h1-h8) present on an upper face of the ceramics substrate to the upper face of the substrate is measured in a state before the film is formed.例文帳に追加

第１の工程として、膜を形成する前の状態で、セラミックス基板の上面に存在する欠陥部分（ｈ１〜ｈ８）の面積が、基板上面に占める割合を測定する。 - 特許庁

When a track having a defect is detected in the certification of a normal skipping system, operation is switched to scanning having a skipping rate lower than the normal skipping rate in an area in the vicinity thereof.例文帳に追加

通常の飛ばし方式サーティファイで欠陥が存在するトラックを検出したとき、その近傍領域で通常の飛ばし率よりも飛ばし率を下げた走査に切り替える。 - 特許庁

The defect-inspecting device inspects defects on the surface of the band body 1, by irradiating slit light onto an irradiated area 400 crossing the moving band body 1 in the width direction.例文帳に追加

移動する帯状体１を幅方向に横切る照射領域４００に帯状光を照射し帯状体１の表面の疵を検査する疵検査装置が提供される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting a shape defect of patterned media, enabling inspection of the whole area throughout the total number of patterned media manufactured in the order of one sheet per a few seconds.例文帳に追加

数秒／枚程度で生産されるパターンドメディアを全面を全数に亘って検査することを可能にするパターンドメディアの形状欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of correcting a defect without giving damage to a transparent conductive film 43 and a colored pixel 42 of a color filter, even when a corrected area is large.例文帳に追加

修正する面積が大きくても、カラーフィルタの透明導電膜４３や着色画素４２にダメージを与えず欠陥を修正することのできる修正方法を提供する。 - 特許庁

A range detected as the defect by image processing is defined by a marking pattern M by the projected image in the area RP among a surface of the workpiece W0 with regard to the projection.例文帳に追加

この投影により、ワークＷ０の表面のうち、画像処理により欠陥として検出された範囲が、領域ＲＰの投影像によるマーキングパターンＭにより明示される。 - 特許庁

To provide an image forming device which can suppress disorder and a transfer defect of a transfer image due to unstableness of a contact area for a photoreceptor drum 1 and a paper conveyance belt 10.例文帳に追加

感光体ドラム１と紙搬送ベルト１０との接触領域の不安定化に起因する転写像の乱れや転写不良を抑えることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

(B) Then, the concentration in the processing area AD is gradation-corrected with the ratio (150/100) of the most frequent value and the maximum value, the influence of shape variation is removed, and then a defect is inspected.例文帳に追加

（Ｂ）：そして、最頻値と最大値との比（１５０／１００）で処理エリアＡＤ内の濃度を階調補正し、形状変化の影響を除去した上で欠陥検査を行う。 - 特許庁

The obtained image signal is compared with the calculated calculation value for the image signal to determine the presence of a defect in the to-be-inspected area on the EUV mask (step S106).例文帳に追加

そして、取得した画素信号と、数値計算により求めた画素信号の計算値とを比較することで、ＥＵＶマスク上の被検査領域の欠陥の有無を判定する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

To provide a semiconductor element employing a semiconductor film of low defect density over a large area in which the effect of absorption and scattering of light by a substrate is eliminated.例文帳に追加

大面積にわたって低欠陥密度の半導体膜を用いた半導体素子であって、基板による光の吸収および散乱の影響を排除した半導体素子を提供する - 特許庁

To provide a fine pattern correction device which can correct the defect of a fine pattern in a short period of time, and is low in its price, small in its installation area and high in its correction quality.例文帳に追加

微細パターンの欠陥を短時間で修正することができ、装置価格が低く、装置設置面積が小さく、修正の品質が高い微細パターン修正装置を提供する。 - 特許庁

Then defect inspection of the deleted white skipped area is conducted by irradiation with light of normal intensity.例文帳に追加

強い光を照射し、白飛びを起こした部分を画像データから削除して欠陥検査を行い、次に通常の強度の光を照射して白飛びして削除された部分の欠陥検査を行う。 - 特許庁

In this defect checking device, first an electron beam is applied to the wafer having the mirror polished surface to obtain image data, and the image data is stored in a first area of a first storing part 20 of an image data processor 12.例文帳に追加

欠陥検査装置において、まず、鏡面研磨面のウエハに電子ビームを照射して画像データを得、画像データ処理装置１２の第１記憶部２０の第１領域に記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device that suppresses an increase in chip area and reduces a leak current in a low-power (power-down) state due to a short circuit between a bit line and a word line due to a cross defect.例文帳に追加

チップ面積の増大を抑止し、クロス不良によるビット線とワード線間の短絡による、低電力（パワーダウン）時のリーク電流を削減する半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To provide a disk drive capable of automatically detecting and restoring an unreadable state even when a DMA (Defect Management Area) becomes unreadable after the recording operation due to a scratch, dirt, etc., of the disk.例文帳に追加

ディスクの傷や汚れ等によりＤＭＡが記録後に読み取れなくなった場合でも、自動的に読取不能を検出して修復することができるディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk drive achieving reliable alternative processing by writing the defect management information only in the area high in recording quality having a predetermined level or higher.例文帳に追加

欠陥管理情報を記録品位が所定値以上の高品位な候補領域にのみ書き込むことで信頼性の高い代替処理を可能とする光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To detect a flat-faced defect in a wide flaw detection area without moving a relative position between a transmission probe and a reception probe.例文帳に追加

送信用探触子と受信用探触子との相対位置を動かすことなく広い探傷領域で平坦面状の欠陥を検出することができる超音波レール探傷装置を提供する。 - 特許庁

Also, since the etching hole corresponding to the transmission part is arranged with a large area, a rubbing defect can be prevented as compared with the conventional case and there is the advantage of improving transmission characteristics.例文帳に追加

また、透過部に対応するエッチングホールが大きい面積で設けられたために、従来と比べてラビングの不良が防止できるので、透過の特性が改善できる長所がある。 - 特許庁

A defect judging part 22 judges whether the respective through-holes are defective or not based on comparison result between hole information concerning the through-hole which exists in the object pattern division area extracted as the defective candidate area among the plurality of object pattern division areas and hole information concerning the through-hole which exists in the master pattern area corresponding to the defective candidate area.例文帳に追加

さらに、欠陥判定部２２は、複数のオブジェクトパターン区分領域のうち欠陥候補領域として抽出されたオブジェクトパターン区分領域に存在する貫通孔についての孔情報と、欠陥候補領域に対応するマスターパターンの領域内に存在する貫通孔についての孔情報との比較結果に基づいて、各貫通孔が欠陥であるか否かを判定する。 - 特許庁

The information recording medium includes: a first spare area 102 including a spare sector in substitution for a defective sector; a defect management information area 101 for managing the substitution of the defective sector by the spare sector; and a volume space 100a in which user data can be recorded.例文帳に追加

情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第１スペア領域１０２と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域１０１と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間１００ａとを備えている。 - 特許庁

In the circuit pattern inspection system, when a semiconductor wafer having a plurality of chip areas (dies) having the same circuit pattern is inspected, a detection image for each chip area is displayed on a monitor, and a circuit pattern defect is inspected based on the detection image for each chip area.例文帳に追加

回路パターン検査装置では、同一の回路パターンを有する複数のチップ領域（ダイ）を有する半導体ウエハを検査するとき、チップ領域毎の検出用画像をモニタに表示し、チップ領域毎の検出用画像から、回路パターンの欠陥を検査する。 - 特許庁

An area to be excluded from an object of the defect judgment is determined on the picture image, based on the reference picture images and on the positions and number associated with the reference picture images while judging the existence of defects, based on density values of pixels outside the determined area.例文帳に追加

基準画像、該基準画像に対応付けられた位置及び個数に基づいて、２次元画像上で欠陥判別の対象から除外されるべき領域を特定し、その特定された領域外における画素の濃度値に基づいて欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device capable of surely forming display indicating information to be used for defect analysis or traceability management in a space-saving area other than a transistor forming area on a substrate even when the device is miniaturized and capable of improving yield in manufacturing.例文帳に追加

不良解析やトレーサビリティ管理に用いる情報を示す表示を、装置の小型化を図っても確実に基板に対し、省スペースにてトランジスタ形成領域外に形成でき、製造時の歩留まりを向上させることができる電気光学装置を提供する。 - 特許庁

A comparison value is extracted from digital data inside the inspection standard area and the inspection objective area by a comparison value extracting means 19 and an existence of a defect is detected by a comparing part 20 on the basis of this comparison value and a predetermined threshold value.例文帳に追加

そして、比較値抽出手段１９によって検査基準領域内および検査対象領域内におけるデジタルデータから比較値が抽出されると、比較手段２０によって、その比較値と所定の閾値とに基づいて、欠陥の有無が検出される。 - 特許庁

When an ultrasonic wave is incident from a flange side on a certain inspection area of a joined part of a lead column body and the flange, if a reflected echo from the joint part is greater than a predetermined threshold, it is judged that a joint defect is detected in the inspection area.例文帳に追加

鉛柱体とフランジの接合部の所定の検査領域に、フランジ側から超音波を入射した場合の、接合部からの反射エコーの大きさが所定のしきい値より大きい場合に、当該検査領域に接合欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁

In order to check on an obvious or latent defect on a semiconductor wafer 10, a wafer is compared with a wafer by limiting a specific comparison area 22 selectable by a user instead of comparing a wafer with a wafer across the whole area of the semiconductor wafer 10.例文帳に追加

半導体ウェーハ１０の顕在または潜在するディフェクトを調査するために、半導体ウェーハ１０全面におけるウェーハ対ウェーハ比較に代えて、利用者により選択可能な所定の比較領域２２に限定してウェーハ対ウェーハ比較を実施する。 - 特許庁

Consequently, the foreign matter G can be removed out of the display area A of the liquid crystal display panel 3 without disassembling the liquid crystal display panel 3 and a display defect caused by the foreign matter G can be prevented.例文帳に追加

このため、液晶表示モジュール１を分解しなくても、簡単に異物Ｇを液晶表示パネル３の表示領域Ａの外部に除去でき、異物Ｇによる表示不良を防ぐことができる。 - 特許庁

When current-carrying is performed in a wiring part of the semiconductor circuit chip, the defect section such as void has a smaller sectional area than that of a normal section, and hence the current density becomes large enough to generate heat.例文帳に追加

これにより、半導体回路チップの配線部分に通電を行ったとき、ボイド等の欠損部分は、正常部分と比較して、断面積が小さいために電流密度が大きくなるので発熱する。 - 特許庁

To provide a differential amplification sense amplifier circuit for detecting a defective characteristic margin of a memory cell due to a crystal defect etc. without an increase in the area of a memory cell region in a test of an SRAM.例文帳に追加

ＳＲＡＭの検査において、メモリセル領域の面積増加なく、結晶欠陥等によるメモリセルの特性マージン不良を初期検査で検出するための差動増幅型センスアンプ回路を提供する。 - 特許庁

To provide a Ge light receiving element having high photosensitivity and low dark current characteristics, and to provide a method for manufacturing the same by establishing a method for forming a Ge of a large area and low defect density on an Si substrate.例文帳に追加

Si基板上に大面積且つ低欠陥密度のGeを形成する手法を確立し、高い受光感度と低暗電流特性を有するGe受光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device suppressing the occurrence of a defect due to the easing of distortion even when an area in which a diffraction grating does not exist is formed between lasers , and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

回折格子が存在しない領域をレーザ間に設ける場合であっても歪み緩和による欠陥の発生を抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

If the trial write area has a defect, the defective region (or information reproduced from the defective region) is avoided in the OPC operation to eliminate the influence of the defective part.例文帳に追加

また、試し書き領域に欠陥がある場合は、ＯＰＣ動作においてその欠陥領域（又は欠陥領域から再生された情報）が回避されるようにして、欠陥部分の影響が出ないようにする。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting and restoring a defective area which are capable of detecting a position where a defect occurs in the disk drive to improve restoration capability.例文帳に追加

ディスクドライブで欠陥が発生した位置を検知して復旧能力を向上させることの可能な欠陥領域の検出／復旧方法および装置、それを利用したディスクドライブを提供する。 - 特許庁

As a result, the difference in densities is reduced for the conductor electrodes, minimizing a gap difference between the substrates in the sealer area 16 so that the display defect ratio can be reduced.例文帳に追加

こうすると導線電極密度差が小さくなり、封止シール領域１６で基板間のギャップ差が少なくなるので、液晶表示素子としての表示不良率を少なくすることができる。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory device in which the occurrence of a defect in data writing is suppressed and whose area can be decreased, or a semiconductor device including the nonvolatile memory device.例文帳に追加

データの書き込み不良を抑えつつ、面積を小さく抑えることができる不揮発性の記憶装置、または当該不揮発性の記憶装置を用いた半導体装置の提供を目的の一とする。 - 特許庁

Thus, this improves the insulation and lowers the probability of occurrence of short circuit at the crossing parts of the rescue wiring and the signal lines to improve the probability of correction of the defect in the display area.例文帳に追加

これにより絶縁性を向上しレスキュー配線と信号線の交差部での短絡の発生確率を低下させ、表示領域の欠陥の修正が可能となる確率を向上できる。 - 特許庁

Then, dots corresponding to a nozzle of a discharge defect and dots (prohibition dot) corresponding to an arrangement position in which the liquid body has a fear of running over outside the partition area are eliminated by priority as prohibition dots.例文帳に追加

この際、吐出異常のノズルに対応するドットや、液状体が区画領域外にはみ出す虞のある配置位置に対応するドット（禁則ドット）は、禁則ドットとして優先的に消去される。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus whereby a user can detect occurrence of defective settings of a processing object area set by each image processing by having only to view output paper (image output) and particularize in which processing the defect takes place.例文帳に追加

出力用紙（画像出力）を目視するのみで画像処理毎に設定された処理対象領域の設定不具合の発生を検出し、かつどの処理で異常が発生しているか特定する。 - 特許庁

To provide a photo diode which has a shallow pinning layer of high integration and a high concentration, reduces a defect on a surface, and is superior in a quantum efficiency effect per unit area, and a method for manufacturing it.例文帳に追加

高集積、高濃度で浅いピン止め層を有し、表面における欠陥を低減し、単位面積当りの量子効率効果にも優れたフォトダイオード及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

In particular, when the grown single crystal is cut into a c-cut wafer to form a light emitting device, the single crystal free from any defect area that is grown from the seed crystal having a regular hexagonal cross section is used.例文帳に追加

特に育成した単結晶をｃカットウェハーに切り出して発光素子を形成する場合は正六角形断面の種結晶から育成した欠陥領域のない単結晶を使用する。 - 特許庁

To form crystal in defect-free area in good yield by changing pulling velocity V and temperature gradient G of a single crystal grown by the Czochralski process according to dopant concentration and keeping V/G value in crystal interface within a prescribed range in the radial direction of the crystal.例文帳に追加

ＣＺ法によるシリコン単結晶の育成において、結晶中のドーパント濃度が変化した場合でも、無欠陥領域の結晶を、歩留良く製造する方法を提供する。 - 特許庁