「Area Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize an efficient and quick defect substitution method in a nonvolatile memory and a volatile memory including a defective area.例文帳に追加

不良領域を含む不揮発性メモリ及び揮発性メモリにおいて、効率的かつ高速な不良代替方式の実現を目的とする。 - 特許庁

To provide an array sensor having an excellent yield, capable of obtaining a measurement value no having a defect at all in the whole measurement area.例文帳に追加

全ての測定領域において全く欠陥のない測定値を得ることができると共に、歩留りのよいアレイセンサを提供する。 - 特許庁

To reduce processing manhours due to crosstalk occurrence, to suppress area increase and power consumption increase and to reduce a product defect incidence rate.例文帳に追加

クロストーク発生による処理工数を削減し、面積増大・消費電力増大を抑制し、また、製品不良発生率を低減する。 - 特許庁

To provide a beryllium foil with a large area which has small defect density though it has thickness of around 10 μm and is excellent in vacuum airtightness.例文帳に追加

厚さ１０μｍ程度でありながら欠陥密度が小さく、真空気密性に優れた大面積のベリリウム箔を提供する。 - 特許庁

Consequently, a defect is prevented from being caused owing to substrate proximity caused by sealing pressure in the liquid crystal injection port area (a).例文帳に追加

よって、液晶注入口領域ａにおける封着圧による基板近接が生じて、不良になるのを防止することができる。 - 特許庁

The tape polishing apparatus employs a polishing head 16 having a base area A_total larger than a size of a protrusion defect 12 of a rib 11.例文帳に追加

このテープ研磨装置では、リブ１１の突起欠陥部１２のサイズよりも大きな底面積Ａ_totalを有する研磨ヘッド１６を使用する。 - 特許庁

METHOD OF SEPARATING FILM WITH WIDE AREA AND LOW DEFECT DENSITY FOR GROWING LED AND LASER DIODE, AND A METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ＬＥＤ及びレーザダイオードの成長のため大面積で低欠陥密度の膜を分離する方法及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit of memory mixed mounted type capable of relieving defect of a memory while suppressing the increase of a circuit area.例文帳に追加

回路面積の増大を抑制しつつメモリの欠陥を救済することができるメモリ混載型の半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In each arithmetic processing part 41-43, the photographic data are image-processed for 100 lines to perform specifying a detection range, elicitation by binarization of the image data with a defect threshold, bleb processing for taking, the elicited defect images, when they are vertically and laterally continued, as a mass of bleb, and defect determination and defect kind determination based on the area of bleb.例文帳に追加

各演算処理部４１〜４３で１００ライン毎に画像処理して、検出範囲の特定、欠陥しきい値による画像データの２値化による顕在化、顕在化された欠陥画像が上下左右で連続しているときにこれを１かたまりのブレブとするブレブ処理、ブレブの面積に基づく欠陥判別及び欠陥種別判別を行う。 - 特許庁

To provide a disk storage and a method for managing a sector group of the disk storage which can efficiently register defect sectors caused by a large defect area existing across a plurality of tracks and which can prevent a size of a defect management table from becoming too large.例文帳に追加

この発明は、複数のトラックに跨る巨大な不良領域に起因する欠陥セクタを効率よく登録でき、欠陥管理テーブルのサイズが大きくなりすぎることを防止可能なディスク記憶装置およびディスク記憶装置のセクタ群管理方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The disconnection and appearance defect of a wiring pattern in a printed circuit board 1 enabling multiple semiconductor devices 5 to be mounted are checked, and then a defect recognition mark 2 that can be identified by image recognition is added to a semiconductor device mount area corresponding to the defect location on the printed circuit board 1.例文帳に追加

複数の半導体素子５が搭載可能なプリント基板１の配線パターンの断線および外観不良のチェックを行い、プリント基板１の不良箇所に対応して該当する半導体素子搭載領域に画像認識などによって識別可能な不良認識マーク２を付与する。 - 特許庁

To provide a defect correction method of a color filter which prevents ultraviolet burn at a normal portion upon correction by ultraviolet curing ink for correction for a defect portion of the color filter and that stably hardens a portion where the ink for correction is overlapped with a normal area around the defect portion.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥部の紫外線硬化性修正用インクによる修正時における正常な部分の紫外線焼けを防ぐとともに、該欠陥部周辺の正常な領域と該修正用インクの重なり部分も安定的に硬化させるカラーフィルタの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

This system is provided with a gap correcting means 103 for correcting a gap portion of a displayed image in the STN liquid crystal display by minimum filter processing, and a defect detecting means 104 for detecting the point defect portion in the STN liquid crystal display to be area-emphasis- processed in the detected point defect portion.例文帳に追加

ミニマムフィルタ処理によってＳＴＮ液晶ディスプレイの表示画像のギャップ部分を補正するギャップ補正手段１０３と、ＳＴＮ液晶ディスプレイの点欠陥部分を検出し、検出された点欠陥部分に面積強調処理を施す欠陥検出手段１０４とを設ける。 - 特許庁

The defect position identifying means identifies the position of the strip-shaped defect which extends in the same direction of the first area 40a, based on brightness in the first area 40a and the brightness in the second areas 40b, when the search window 43 is set inside the cell image.例文帳に追加

欠陥位置特定手段は、探索窓４３がセル画像内に定められたときの第１の領域４０ａ内の明度と第２の領域４０ｂ内の明度とに基づいて、第１の領域４０ａと同じ方向に延伸する帯状の欠陥の位置を特定する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a single crystal, by which a value of V/G having a desired defect area and/or a desired defect-free area can be determined more precisely when the single crystal is pulled by controlling the value of V/G, and a desired quality single crystal can be pulled more exactly.例文帳に追加

Ｖ／Ｇ値を制御して単結晶を引上げる際に、より正確に所望欠陥領域及び／又は所望無欠陥領域を有するＶ／Ｇ値を決定することができ、より確実に所望品質の単結晶を引上げることができる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the recording stop period in which recording data is not performed, either or both of defect inspection of a recording scheduled area and reading inspection of an already recorded area are performed by the microcomputer of the optical disk drive 7, defect of the disk is avoided and a recording state can be held appropriately.例文帳に追加

データの記録を行わない記録停止期間において、光ディスクドライブ７のマイクロコンピュータにより、記録予定エリアの欠陥検査と記録済みエリアの読取り検査との一方または両方を行い、ディスク上の欠陥を回避し、記録状態を適正に保てるようにする。 - 特許庁

To provide an imaging condition determination method for finding an area where the luminance difference becomes maximum in unit patterns of a periodic pattern, and to provide a defect inspection method that uses the same, and a defect inspecting device.例文帳に追加

周期性パターンの単位パターンにおいて輝度差が最大となる領域を求めるための周期性パターンの撮像条件決定方法、これを用いた欠陥検査方法、および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The device is also characterized by heightening defect discrimination accuracy by combining the frequency component information with the intensity/ratio/differential value of leakage flux signals having different magnetization conditions and the length/width/area or the like of the defect signals.例文帳に追加

また、周波数成分情報と、磁化条件の異なる漏洩磁束信号の強度・比・差分値、欠陥信号の長さ・幅・面積等とを組み合わせることで、欠陥の弁別精度を上げることができる。 - 特許庁

The one defect is able to be imaged from a plurality of directions, because the plurality of defect imaging parts 3 are provided to image the same film face (imaging area R) from the directions different each other.例文帳に追加

また、複数の欠陥撮像部３を有し、それぞれが相異なる方向から略同一のフィルム面（撮像領域Ｒ）を撮像するため、１つの欠陥に対し、複数の方向から撮像することができる。 - 特許庁

It is preferable that the defect determination means (18) determines the extracted defects into the dross defect and other defects based on at least one of area of the defects, image luminance of the defects, and forms of the defects.例文帳に追加

該欠陥判定手段（１８）は、抽出された欠陥を、該欠陥の面積、該欠陥の画像輝度、および該欠陥の形態のうちの少なくとも１つに基づいて、ドロス欠陥とその他の欠陥に判定することが好ましい。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of liquid crystal display panel capable of detecting a defect in sealing material which forms a disposition area on a mother substrate and reduces the influence to peripheral cells due to the defect in sealing material.例文帳に追加

マザー基板上の配置領域を形成するシール材の欠陥を検出し、シール材の欠陥による周囲のセルへの影響を低減することができる液晶表示パネルの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a luminance point defect inspection method capable of improving the efficiency of an inspection by preferentially forming an inspection unit area necessary for inspecting the existence of a luminance point defect on an image to be inspected.例文帳に追加

検査対象画像における輝点欠陥の有無の検査に必要な検査単位領域を優先的に形成することによって、検査効率を向上させることができる輝点欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

When presence of defect in the write-in objective storage area is determined by a defect determination circuit 2 at the writing access to the memory section 1, the write data to the memory section 1 are written into the scan flip-flop SFF 5.例文帳に追加

メモリ部１への書き込みアクセスの際に、欠陥判定回路２において書き込み対象の記憶領域に欠陥があると判定されると、メモリ部１への書き込みデータはスキャンフリップフロップＳＦＦ５に書き込まれる。 - 特許庁

The information recording medium is provided on which when a spare area for a replacement block for replacing a defect block created in a predetermined area of the information recording medium is enlarged or newly allocated during use of a disk, defect status information of the block within the enlarged or newly allocated spare area is changed and recorded.例文帳に追加

情報記録媒体の所定の部分に発生した欠陥ブロックを代替する代替ブロックのためのスペア領域が、ディスクの使用中に拡張されるか、または新たに割り当てられた場合に、拡張されるか、または新たに割り当てられたスペア領域内にあるブロックの欠陥状態情報が変更されて記録される情報記録媒体。 - 特許庁

An EEPROM 118 is managed by dividing into two storage areas such as first and second, only read is performed for the first storage area in which the initial defect data is stored and the defect data detected by a detect data detecting part 112c are written in the second storage area separate from the first storage area.例文帳に追加

ＥＥＰＲＯＭ１１８は第１および第２の２つの記憶領域に分けて管理されており、初期欠陥データが記憶されている第１の記憶領域については読出しのみが行なわれ、欠陥データ検出部１１２ｃによって検出された欠陥データは第１の記憶領域とは別の第２の記憶領域に書き込まれる。 - 特許庁

To prevent occurrence of sealing defect by preventing deterioration of the sealing seal material and minimize reduction of light-emitting area and deterioration of light-emitting quality.例文帳に追加

封止用シール材が劣化しないようにして封止不良の発生を防止し、発光面積の減少や発光品位の劣化を低減する。 - 特許庁

To obtain fail pattern data in a spare area on a must repair line without spending much time in the process of the defect relief and analysis processing of a memory.例文帳に追加

メモリの不良救済解析処理の過程において、マストリペアライン上のスペア領域のフェイルパターンデータを時間を掛けることなく取得する。 - 特許庁

In a visual inspection step 32, a display part 8 displays a defect detected as a non-inspection area by a visual inspection operator in the automatic inspection.例文帳に追加

目視検査工程３２では、表示部８は、目視検査作業者に自動検査での非検査領域と検出された欠陥とを表示する。 - 特許庁

The defect on the surface of the coating layer appears on an image as an area darker than its periphery, with coaxial epi-illumination by the illumination part 2A.例文帳に追加

照明部２Ａによる同軸落射照明により、コーティング層の表面の欠陥が画像上に周囲より暗い領域として現れる。 - 特許庁

A flat silicon-on-insulator(SOI) substrate having no transition defect containing an SOI region with a pattern and a bulk area is formed.例文帳に追加

パターン付きのＳＯＩ領域およびバルク領域を含み、遷移欠陥のない平坦なシリコン・オン・インシュレータ（ＳＯＩ）基板を形成する方法。 - 特許庁

Then, a signal showing the signal intensity of the acquired image which is equal to or more than the detection threshold is determined as the defect in the desired inspection area.例文帳に追加

そして、取得された所望検査領域の像の信号強度が前記検出しきい値以上を示す信号を欠陥として判定する。 - 特許庁

Ar^+ ions are injected from an opening of a mask 50 to introduce a fine grating defect etc., in a desired area in the surface of the SOI layer 12.例文帳に追加

マスク５０の開口部からＡｒ^+イオンを注入してＳＯＩ層１２面内の所望領域に微細な格子欠陥等を導入する。 - 特許庁

To deal with the problem of a defect caused by enlargement of area or an increment of faults in processing steps in a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路構成の、面積を大きくすることによる欠陥や製造過程で生じる不良個所の増大に対応すること - 特許庁

The controller generates secondary defect information indicating a range of a peripheral area of the protrusive defective part detected by the detection module.例文帳に追加

コントローラは、前記検出モジュールにより検出された凸状欠陥部の周辺エリアの範囲を示す補助的ディフェクト情報を作成する。 - 特許庁

To accurately inspect an irregular defect throughout the whole area of a fluorescent screen by correcting degradation of luminance in the periphery of the fluorescent screen of a CRT panel.例文帳に追加

ＣＲＴパネルの蛍光面の周辺での輝度の低下を補正し、蛍光面全域にわたって精度良く、ムラ状の欠陥を検査する。 - 特許庁

To reduce a cost for radiographing the specific area, and to obtain a stable image causing no defect of an image of a boundary part of lens units.例文帳に追加

一定面積を撮影するためのコストが低く、かつレンズユニットの境界部の画像欠落がなく安定した画像を得ることができる。 - 特許庁

Consequently, even if each domain area showing the defect in each image is small, the domain area showing the detect part in the synthesized image becomes larger by overlapping the two images.例文帳に追加

よって各画像において欠陥を示す領域の面積が小さくても、２つの画像を２つの画像を重ね合わせることによって、合成後の画像において欠陥部を示す領域の面積は大きくなる。 - 特許庁

To prevent degradation of display quality due to a defect area or a non-effective area at the screen end, when an image which is converted from 2D to 3D by using a principle of monocular eye stereoscopy is displayed.例文帳に追加

単眼立体視の原理を利用して２Ｄから３Ｄに変換された画像を表示する際に、画面端部での欠損領域や無効領域に起因する表示品位の低下を抑止する。 - 特許庁

A concentration distribution generation method and a process simulator perform a defect amount calculation procedure to calculate a defect amount Q_I per unit area of defects introduced to a semiconductor substrate by ion implantation and a defect position calculation procedure to calculate a position d_I to position by condensing a defect concentration distribution in an ion implantation concentration distribution by the ion implantation with a computer and treat the defect concentration distribution like a delta function.例文帳に追加

上記課題は、コンピュータが、イオン注入によって半導体基板に導入される欠陥の単位面積当たりの欠陥量Ｑ_Ｉを算出する欠陥量算出手順と、前記イオン注入によるイオン注入濃度分布において欠陥濃度分布を凝集させて位置付ける位置ｄ_Ｉを算出する欠陥位置算出手順とを実行し、前記欠陥濃度分布をデルタ関数的に扱うことにより達成される。 - 特許庁

An unused area management table part 11 of the recording and reproducing device 1 generates an unused area management table 12 including logical addresses of an unused continuous area by using an area management table 9 including local addresses of a used area of a removable hard disk 4 and a defect management block 10 including a list of logical addresses of replaced sectors.例文帳に追加

記録再生装置１の未使用領域管理テーブル作成部１１は、着脱可能のハードディスク４における使用領域の論理アドレス情報を含む領域管理テーブル９と、交替されたセクタの論理アドレスのリストを含む欠陥管理ブロック１０とを用いて、未使用の連続領域の論理アドレスを含む未使用領域管理テーブル１２を作成する。 - 特許庁

To provide a defect correction method and a defect correcting device for correcting a disconnected defective portion in a wiring line thinner than 10 μm by an easy method without contaminating a TFT substrate nor damaging the nearby area of the defective portion.例文帳に追加

ＴＦＴ基板を汚染することなく、欠陥部の近傍にダメージを与えることなく、簡単な方法で１０μｍよりも細い配線の断線欠陥部を修正することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray detector with a large area which does not degree by suppressing a minimum structural defect latently produced during forming an amorphous-selenium (a-Se) semiconductor thick film and a variation in the defect to a charge capture center.例文帳に追加

アモルファス・セレン（ａ−Ｓｅ）半導体厚膜形成時に潜在的に生成される構造欠陥と、欠陥の電荷捕獲中心への変化を最低限に抑えて、感度が劣化しない大面積Ｘ線検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an optical recording medium which has no or less defect to the outermost periphery of a recording area, as a defect does not arise or being hardly generated even if a cleaning fluid permeates a protective layer which comprises inorganic materials.例文帳に追加

洗浄液が無機材料からなる保護層へ浸透しても欠陥が生じないか又は生じにくくなり、記録領域の最外周まで欠陥が無いか又は少ない光記録媒体の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage in which increasing circuit area can be prevented while being provided with a burn-in test function by which initial defect can be screened surely.例文帳に追加

初期不良を確実にスクリーニングし得るバーイン試験機能を備えながら、回路面積の増大を防止し得る半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The θ-type alumina has a large specific area, the carried noble metal has no defect of being stabilized in an oxidized state, and is easily reduced to a metal state.例文帳に追加

θ型アルミナは比表面積が大きく、担持されている貴金属は酸化状態で安定化されるような不具合がなくメタル状態へと還元されやすい。 - 特許庁