「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

There are hardly contains crystallized grain boundaries or defects in the amorphous layer 42_2, and also hardly defects in the passivation coat 42_3 formed over the amorphous layer so that the presence of such passive coat 42_3 restrains whiskers from occurring.例文帳に追加

アモルファス層４２_２は結晶粒界や欠陥がほとんどなく、その上に形成される不動態被膜４２_３も欠陥がほとんどなく、このような不動態被膜４２_３の存在によってウイスカの発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a phase difference defect inspection device which easily discriminates and detects the residual defect of a phase shifter and the surface flaw defect of a glass substrate from another defects, such as foreign matter (light shielding) defects.例文帳に追加

位相シフターの残存欠陥及びガラス基板の表面傷欠陥を異物（遮光）欠陥等の他の欠陥と区別して検出することを簡便に行なう位相差欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a system for predicting number-of-defects countermeasure man-hour, which supports quality management of a software development project (PJ), predicts the number of remaining defects in each defect sort and predicts total defect countermeasure man-hour in each defect attribute.例文帳に追加

ソフトウェア開発プロジェクト（ＰＪ）の品質管理を支援し、残不良数を不良の種類毎に予測し、その不良属性毎の総不良対策工数を予測する不良数・対策工数予測システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for optically inspecting defects of magnetic disks and capable of accurately determining the positions of fine defects, even by illuminating a region which is wider than an inspection region with illumination light having a Gaussian distribution.例文帳に追加

ガウシアン分布を有する照明光で検査領域よりも広い領域を照明しても微細な欠陥の位置をより正確に求めることが可能にする光学式の磁気ディスク欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photographic element which is used in determining the position of linear defects on the photographic element, has a useful imaging width and in which the linear defects align in the longitudinal direction of the photographic element.例文帳に追加

本発明は、写真要素上の線形欠陥の位置を決めるために使用され、有用なイメージング幅を有し、線形欠陥は写真要素の長手方向に整列する写真要素を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for relieving defective surface stresses in a semiconductor substrate, without newly generating thermal distortion and defects on the semiconductor substrate, and for reducing crystal defects.例文帳に追加

半導体基板上に新たな熱歪みや欠陥を発生させることなく半導体基板中の欠陥性表面応力を緩和し、結晶欠陥の低減を実現する欠陥性表面応力の緩和方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of forming a spacer which has excellent functions as a spacer such as uniformity and strength and which is hardly damaged by rubbing or the like, and to provide a liquid crystal device having no display defects caused by defects of the spacer.例文帳に追加

均一性、強度などのスペーサーとしての機能に優れ、且つ、ラビング等でダメージを受け難いスペーサーの形成方法及びスペーサーの欠陥に起因する表示欠陥がない液晶素子を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a single crystal by the Czochralski method, by which a single crystal free of crystal defects such as COP (crystal-originated particle: hollow type defects) or dislocation clusters can be produced efficiently in a high yield.例文帳に追加

ＣＯＰ（空洞型欠陥）や転位クラスターなどの結晶欠陥が存在しない単結晶を、効率よく、高い歩留りで製造することができる、チョクラルスキー法による単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for growing, at a high speed, a single crystal SiC scarcely generating micropipe (microvoid) defects, interface defects or the like and having high purity, extremely high quality and high performance.例文帳に追加

マイクロパイプ欠陥や界面欠陥等の発生が少ないとともに、純度も高くて非常に高品質、高性能な単結晶ＳｉＣを高速度に成長させることができる単結晶ＳｉＣの育成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for predicting and evaluating defects of an injection- molded article wherein the defects of the molded article are predicted and quality of filling behavior of a molten material into a mold is evaluated based on a result on flow analysis of the molten material.例文帳に追加

溶融材料の流動解析結果に基づいて、成形品の欠陥を予測し、溶融材料の型内への充填挙動の良否を評価する射出成形品の欠陥予測・評価方法を提供する。 - 特許庁

The methods and devices provide injectable formulations for filling critical size defects, as well as for accelerating the rate of and enhancing the quality of bone formation in non-critical size defects.例文帳に追加

方法およびデバイスは、危険な大きさの欠損を充填するため、ならびに危険でない大きさの欠損における骨形成の速度を加速し、そしてその質を増強するための、注射用処方物を提供する。 - 特許庁

Thus, the discharge defects of the nozzle is eliminated in a short period of time by cleaning usually, and also the discharge defects of the nozzle, that are not recovered by cleaning, is more appropriately dealt with.例文帳に追加

これにより、通常はクリーニングにより短時間でノズルの吐出不良を解消することができると共にクリーニングによって回復しないノズルの吐出不良に対してより適切に対処することができる。 - 特許庁

To obtain a laminating apparatus which prevents lack and transfer of a conductor when a green sheet is outer-shape-punched and laminated, and which can form a laminate of the green sheet, without disconnection defects or short-circuit defects.例文帳に追加

グリーンシートの外形打抜き及び積層時の導体の欠落及び転写を防止し、断線不良及びショート不良のないグリーンシートの積層体を形成することのできるグリーンシート積層装置を提供することにある。 - 特許庁

To solve the problem of conventional measuring method which is not able to fully detect fine defects or enormous defects using conventional adjustment of an amplifier, in detecting a defect in a wall of a conduit using a leakage flux pig.例文帳に追加

漏洩磁束ピグを用いて導管の管壁の欠陥を検知するに当り、従来の増幅器の調整では導管管壁の微小欠陥や巨大欠陥を十分な検出感度で検出することができない。 - 特許庁

To provide a liquid crystal device which can suppress display defects due to defects in the alignment of liquid crystal caused by an alignment film abnormality without using any complicated alignment film forming method like a rotary oblique vapor-depositing method.例文帳に追加

回転斜方蒸着法のような複雑な配向膜形成方法を用いることなく、配向膜異常による液晶の配向不良に起因する表示不良の発生を抑制し得る液晶装置の提供。 - 特許庁

To provide a process for producing an electrophotographic photoreceptor which makes it possible obtain good image printing quality by coating application formation of a layer which is free of coating application defects to be the cause for image printing defects and is uniform over the entire surface of a conductive substrate.例文帳に追加

印字不良の原因となる塗布欠陥がなく、導電性基体全面にわたり均一な層を塗布形成し良好な印字品質が得られる電子写真感光体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.例文帳に追加

高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting defects appropriately detecting defects on the surface of a band body such as a thin steel plate to be inspected for a defect, by accurately specifying the position of the edge of the band body.例文帳に追加

疵の検査対象である薄鋼板等の帯状体のエッジの位置を精度良く特定して帯状体表面の疵を適切に検出する疵検査装置及び疵検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for moderating or preventing defects in the conventional methods of gene expression and defects in the conventional methods for promoting the gene expression in mammalian animal cells (especially in human cells).例文帳に追加

従来の遺伝子発現方法の欠点、および哺乳動物細胞（特にヒト細胞）における遺伝子発現を促進するための従来の方法の欠点を緩和するかまたは防止するための方法を提供すること。 - 特許庁

To produce a coated steel plate which has a beautiful coating film having a targeted thickness, free of bubble defects, streaky defects, and roll marks, and excellent in appearance quality, by coating a steel plate with a roll coater.例文帳に追加

ロールコータを用いて鋼板を塗装する際に、目標膜厚を有するとともに、気泡欠陥、筋状欠陥及びロール目を生じず外観品質が優れた美麗な塗膜を有する塗装鋼板を製造する。 - 特許庁

For example, when the potential for generation of reload defects is low, a low speed is selected to promote the preservation and prolongation of the toner lifetime; and when the potential for generation of reload defects is high, a high speed is selected and the potential for generation of the reload defect is reduced.例文帳に追加

例えば、リロード欠陥発生蓋然性が低い場合は低速を選定してトナー寿命の確保乃至延長を促進し、高い場合は高速を選定してリロード欠陥発生蓋然性を抑える。 - 特許庁

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3).例文帳に追加

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。 - 特許庁

Furthermore, polarization is enabled except the coaxially flexible piezoelectric member 2 in parts containing defects, and it can be detected before an external electrode 4 is formed that defects exist in the tube 3 of a defined length.例文帳に追加

さらに、欠陥が含まれる部分の同軸状可撓性圧電体２を除いて分極できると共に、外側電極４を形成する前に、欠陥が一定長さの圧電体チューブ３に存在することも検出できる。 - 特許庁

Furthermore, polarization is enabled except the coaxially flexible piezoelectric member 2 in parts containing defects, and it can be detected before an external electrode is formed that defects exist in the tube 3 of a defined length.例文帳に追加

さらに、欠陥が含まれる部分の同軸状可撓性圧電体２を除いて分極できると共に、外側電極を形成する前に、欠陥が一定長さの圧電体チューブ３に存在することも検出できる。 - 特許庁

Thus, the plurality of residual defect signals are utilized, to identify the defects of interest in the copy of the standard and to report defects contained in one or more defect signals in the residual defect signals.例文帳に追加

こうして、複数の残りの欠陥信号を利用して、標準のコピーの中の関心の欠陥を識別すし、また当該残りの欠陥信号のうちの１つ又はそれより多い欠陥信号に含まれる欠陥を報告する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an SOI (Silicon On Insulator) substrate in which crystal defects of a single crystal semiconductor layer are reduced even when a single crystal semiconductor substrate in which crystal defects exist is used.例文帳に追加

結晶欠陥が存在する単結晶半導体基板を用いたとしても単結晶半導体層の結晶欠陥が低減されたＳＯＩ基板の作製方法を提供することを目的の一とする。 - 特許庁

To provide methods for wafer probers and semiconductr devices that locate contact defects or appearance defects quickly in chips having bump electrodes in semiconductor wafers and the associated semiconductor testing equipment.例文帳に追加

半導体ウェハにおけるバンプ電極を有するチップに関し、プロービングに起因する接触系不良または外観不良を速やかに特定できるウェハプローバ及び半導体装置の製造方法、半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor nanocrystal having neutral defects or negatively-charged defects on a surface, and such a size that wave function density of excited electrons is increased at the surface is used as a recording material.例文帳に追加

表面に中性欠陥または負に荷電した欠陥を有すると共に、励起状態の電子の波動関数の密度が表面で増大する大きさを有する半導体ナノ結晶を記録材料として用いる。 - 特許庁

In the examination method for magnetically detecting defects of materials by applying magnetic field or magnetic flux to a material under examination, the defects are examined by superimposing the magnetic field or magnetic flux.例文帳に追加

被検査材に磁界もしくは磁束を印加して材質の欠陥を磁気的に検出する検査法において、前記磁界或いは磁束を重畳させて欠陥を検出することを特徴とする欠陥検査法。 - 特許庁

To provide a battery separator made of high-strength, high-elasticity nonwoven fabric which has good charge/discharge characteristics and is almost free from defects such as inner short circuiting defects at time of battery assembly and can be made uniform and thinner.例文帳に追加

充放電特性が良好で、かつ電池構成時の内部短絡不良等の不具合も発生しにくい、均一で薄型化が可能な高強度、高弾性率の不織布からなる電池セパレータを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor package which can suppress generation of defects when they are mounted on a printed board, etc., and which can be easily checked for defects, if any, and also provide a method for manufacturing it.例文帳に追加

プリント基板等への実装の際に不良の発生を抑制することができ、不良が発生した場合でもその確認を容易に行うことができる半導体パッケージ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A defect inspecting device 12 is arranged on a steel plate, defects are detected, defects are cut and worked by a cutting tool, an ultrasonic cutting tool or a milling cutting tool, a rolling is performed by a rolling machine 13 and working traces are erased.例文帳に追加

鋼板上に疵検査装置１２を配置して疵を検知し、切削工具、超音波切削工具あるいはフライス加工工具により疵を切削加工し、圧延機１３により圧延して加工痕を消去する。 - 特許庁

The magnetic recording/playback device 100 inspects defects of the servo information by the on-track control, and sets a shifting amount for shifting the on-track position of the on-track control according to the information of the inspected defects.例文帳に追加

そして、磁気記録再生装置１００は、オントラック制御によりサーボ情報の欠陥を検査し、検査した欠陥の欠陥情報に応じて、オントラック制御のオントラック位置をシフトさせるシフト量を設定する。 - 特許庁

(III) How long can the Vendor would be responsible for bugs deemed to be product defects? Where a license agreement contains a special clause which stipulates a shorter warranty period for bugs deemed to be product defects, a question arises about whether the license is valid. 例文帳に追加

（３）瑕疵に該当するバグについてベンダーの責任を問える期間ライセンス契約中に瑕疵に該当するバグについて、ベンダーの担保責任期間を短くする特約がある場合、その効力が問題となる。 - 経済産業省

To reduce BOX layer penetration defects in contact hole etching by preventing defects from being generated on the silicide as to a method for forming a contact hole on the silicide of a semiconductor element in a thin-film SOI structure.例文帳に追加

薄膜ＳＯＩ構造を有する半導体素子におけるシリサイド上へのコンタクトホール形成方法において，シリサイド上に生じる欠損の発生を防ぎ，コンタクトホールエッチング時のＢＯＸ層突き抜け不良を低減する。 - 特許庁

To form an image having excellent image quality and to reduce the occurrence of defects such as wrinkles and flaws on a releasing layer.例文帳に追加

画質に優れた画像を形成し、且つ離型層におけるシワやキズ等の欠陥の発生を軽減する。 - 特許庁

To manufacture an sheet having an irregular surface with a high quality without defects such as lowering in accuracy of its pattern structure and poor peeling.例文帳に追加

パターン構造の精度低下や剥離不良などの欠陥のない、高品質な凹凸状シートを製造する。 - 特許庁

To provide a detection method, which after forming a plated layer on a sample, is capable of immediately detecting defects thereof.例文帳に追加

試料にメッキ層を形成した後直ちにその欠陥を検出することができる検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide elevator equipment whose known defects are eliminated and which can avoid the malfunction of a safety brake.例文帳に追加

知られているエレベータ設備の欠点をなくし、安全ブレーキの誤作動を回避できるエレベータ設備を提供する。 - 特許庁

To improve accuracy in discriminating between foreign matter and crystal defects or between foreign matter and scratches existing on the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の表面上に存在する異物と結晶欠陥、或いは異物とスクラッチの判別精度の向上。 - 特許庁

To reduce warpage of a thin printed wiring board for mounting semiconductor elements, and reduce defects of solder resist exfoliation.例文帳に追加

半導体素子実装用の薄板厚の印刷配線板の反りを低減し、ソルダーレジスト剥がれ不良を低減する。 - 特許庁

To provide an inspection method for surely easily detecting defects of a metallic separator for a fuel cell.例文帳に追加

燃料電池用の金属セパレータの欠陥を確実かつ簡便に検出するための検査方法を提供する。 - 特許庁

To identify defects of a first sealing part region in a widely-known pressure measurement transducer.例文帳に追加

公知の圧力測定変換器において、第１の封止部の領域の欠陥を識別できるようにすること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a film for reducing even such surface defects that the height is very low and the major axis is large.例文帳に追加

非常に高さが低く長径の大きい表面欠点をも低減できるフィルムの製造方法の提供。 - 特許庁

To improve defects which a conventional paper-making raw material composition has, particularly yield and straining property.例文帳に追加

従来の製紙原料組成物がもつ欠点、特に歩留り性及びろ水性を向上させることを目的とする。 - 特許庁