「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(458ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a skin diagnostic apparatus and a wrinkle measuring method which enable a non-contact type three-dimensional profile measurement and a quick and accurate measurement.例文帳に追加

その目的は、非接触式の三次元形状測定を可能とし、かつ短時間、高精度の測定を可能とする肌診断装置およびシワ測定方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for measuring a mount position of an imaging device with high definition by using a registration measurement device for a standard television signal image pickup device only with addition of a very small scale circuit.例文帳に追加

わずかの回路追加により、標準テレビジョン信号撮像装置用のレジストレーション測定器を用いた、高精細度の撮像素子の取付け位置測定方法を提供する。 - 特許庁

This method/system is designed to correct uncertainty, by measuring the uncertainty of itself induced by an environment, and by conducting spontaneously regulation based on a measured value.例文帳に追加

システム及び方法は、環境に誘発されたそれ自体の不確定性を測定し、その測定値に基づいて自発的に調節することにより、不確定性を補正するように設計される。 - 特許庁

To provide the image processing method and device capable of making restriction of an installation position of the device small, executing a high-speed operation, and measuring a speed and a length of a moving object with high accuracy.例文帳に追加

装置の設置位置の制約が小さく、高速作動が可能で、高精度に移動物体の速度や長さを測定することのできる画像処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an internal impedance measuring method of a storage battery in which an instrumentation condition in the respective storage batteries constituting the storage battery group is not changed, and influence of external disturbances of noises or the like is little.例文帳に追加

蓄電池群を構成する各蓄電池における計測条件が変化することがなく、ノイズ等の外乱の影響が少ない蓄電池の内部インピーダンス測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for measuring roundness, hardly affected by a temperature change, capable of automatically recording measurement results, showing the measurement results in a graph, and reporting quality tendency.例文帳に追加

温度変化の影響を受け難く、測定結果を自動記録し、測定結果をグラフに示し、品質の傾向を知ることのできる真円度測定装置及び測定方法の提供。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

To provide a crack depth measuring method and device using an ultrasonic TOFD process, enabling the depth of any crack in an examination object to be readily and accurately measured in an extremely simple configuration.例文帳に追加

きわめて簡易な構成で、被検体のクラック深さを、容易かつ正確に測定することができる超音波ＴＯＦＤ法を用いたクラック深さ測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

In the preload setting method for the double row tapered roller bearing, inner diameters d1 and d2 of inner rings 2 and 3 and an outer diameter d3 of an outer ring 5 of the double row tapered roller bearing 10 are measured in a measuring process.例文帳に追加

この複列円すいころ軸受の予圧設定方法は、測定工程で、複列円すいころ軸受１０の内輪２,３の内径ｄ１,ｄ２と外輪５の外径ｄ３を測定する。 - 特許庁

To provide a device for measuring eccentricity and a method capable of detecting the paraxial curvature center of an aspheric lens and observing a ring belt-shaped mark with a small-sized simple device constitution.例文帳に追加

小型かつ簡単な装置構成で、非球面レンズの近軸曲率中心の検出及び輪帯状マークの観察ができる偏心測定装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for controlling the quality of a steel plate on-line capable of adjusting the measuring precision of an on-line sensor without bringing about the lowering of yield and operation efficiency.例文帳に追加

歩留・操業能率の低下を招くことなく、オンラインセンサの測定精度調整を行うことができる、鋼板のオンライン品質管理方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a fluorescent flaw detection method and its device capable of accurately detecting the size and the position of a flaw on an object by accurately measuring the three-dimensional shape of the object.例文帳に追加

被検体の３次元形状を正確に計測することで、被検体上の傷の大きさおよび位置を高精度に検出できる蛍光探傷方法と装置を提供する。 - 特許庁

The method also includes a step of thereafter leaving this solid electrolyte capacitor to stand for 0.5-10 min at 100-150°C, a step of then measuring the leakage current, and removing the capacitor having the value of a specified value or more as a defective part.例文帳に追加

その後に、この固体電解コンデンサを１００〜１５０℃で、０．５〜１０分放置し、その後に漏れ電流を測定して、その値が規定値以上のものを不良品として排除する。 - 特許庁

To provide a lithographic apparatus having a position measurement system and a measuring method to measure the position of the first part of the lithographic apparatus, with respect to the position of the second part of the lithographic apparatus.例文帳に追加

位置測定システムを備えるリソグラフィ装置、およびリソグラフィ装置の第１部分の位置を該リソグラフィ装置の第２部分の位置に対して測定する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an equipment and a method for measuring the Abbe number, i.e., the chromatic aberration or chromatic aberration parameter, of a medium of a radial GRIN lens easily and accurately.例文帳に追加

簡単に精度よくラジアル型ＧＲＩＮレンズの媒質の色収差または色収差パラメータであるアッベ数の値を測定することができる測定機および測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method and an evaluator for easily measuring comprehensive EMC performance of a cable by simulating a mounting form of the cable varying from product to product.例文帳に追加

製品ごとに異なるケーブルの実装形態を模擬し、ケーブルの総合的なＥＭＣ性能を容易に測定することができる評価方法および装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a method, apparatus and system for measuring an obstacle, capable of improving accuracy of distance information, reducing its circuit scale and shortening its processing time.例文帳に追加

距離情報の精度を向上させるとともに回路規模削減・処理時間短縮が可能な障害物計測方法、障害物計測装置及び障害物計測システムを提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine that accurately measures a position of a bench mark using the entire area of a bench-mark profile, and a method for measuring a bench mark of a material testing machine.例文帳に追加

標線のプロファイルの全域を利用して標線の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の標線測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming a plated film having a uniform profile on a substrate in a process for electroplating a semiconductor, by measuring a thickness of an electroconductive seed layer formed on the substrate in real time.例文帳に追加

半導体の電気メッキ処理において、基板状に形成される導電性シード層の厚さをリアルタイムに測定し、基板状に均一なプロファイルを作り出す方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for analyzing the purchasing action of a customer at the time of purchasing merchandise in a market from purchase data, and for measuring the customer's values for the specified market.例文帳に追加

市場の商品を購入する際の顧客の購買行動を購入データから分析し、特定した市場に対しての顧客価値を測定する新規な方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thermometer anomaly detecting method and device capable of speedily detecting anomalies in a radiation thermometer used for measuring temperature such as the temperature of gases in a furnace.例文帳に追加

炉内ガス温度などの温度計測に用いられる放射温度計の異常を迅速に検知することができる温度計の異常検知方法および異常検知装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method and device for shaft inclination of a rotating machine, which enable nondestructive measurement of the inclination of its rotating shaft, even when the rotating shaft is covered with a housing, or the like.例文帳に追加

回転軸がハウジング等で覆われている場合であっても、回転軸の傾きを非破壊で測定可能とする回転機械の軸傾き測定方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating the hydration degree of a sample for simply measuring the hydration swelling properties of the sample inclusive of slag in an inexpensive facility, and an evaluation device of the hydration degree.例文帳に追加

スラグをはじめとする試料の水和膨張性を、安価な設備で簡易に測定するための、試料の水和度を評価する方法及び水和度の評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide breakage facture preventing mechanism, capable of preventing damages to a probe needle or the shortening of the life time thereof regardless of the contact direction of the probe needle and a measuring object, and to provide a control method thereof.例文帳に追加

触針と測定対象の接触方向によらず、触針破損や寿命短縮を防止できるような破損防止機構およびその制御方法を提供すること。 - 特許庁

The method for manufacturing the molding comprises the steps of designing a mold member for molding an optical element (step S2), manufacturing the member (step S3), actually molding the optical element (step S5), and measuring the shape of the optical element (step S6).例文帳に追加

光学素子を成形する型部材を設計（ステップＳ２）、製作し（ステップＳ３）、実際に光学素子を成形して（ステップＳ５）、その光学素子の形状を測定する（ステップＳ６）。 - 特許庁

To provide a measuring method by which a measured value of backlash between a drive gear and an intermediate gear in the process of assembling an electric power steering device becomes identical with a measured value of backlash in their product stages.例文帳に追加

電動パワーステアリング装置の組立過程での、駆動ギヤと中間ギヤのバックラッシ測定値が製品段階におけるバックラッシュ測定値と同じとなる測定方法を供給する。 - 特許庁

To provide a measuring method for advanced glycosylation end products (AGE) having high lot fluctuations, high background reaction, a superior kit safety, and a superior safety of solid components in particular.例文帳に追加

高いロット間変動、高いバックグラウンド反応およびキット安定性に優れ、特に固相成分の安定性に優れた前進性グリコシル化終末産物（ＡＧＥ）の測定法を提供する。 - 特許庁

To provide an amount-of-moisture measurement method and an amount-of-moisture measuring apparatus of high-temperature gas that can continuously measure the amount of moisture in high-temperature corrosive gas.例文帳に追加

高温腐食性ガス中の水分量を連続的に測定することができる高温ガスの水分量測定方法および高温ガスの水分量測定装置を提供する。 - 特許庁

The measuring method measures the size and shape of a subject on the basis of a preset measurement procedure by referring to subject data and a preset measurement condition.例文帳に追加

被測定物データおよび予め設定された測定条件を参照しながら、予め設定された測定手順に基づいて、被測定物の寸法や形状を測定する測定方法。 - 特許庁

To provide a method for detecting and quantitatively measuring CK (cytokeratin) 20 mRNA by rapidly amplifying and detecting the mRNA of CK20 gene at a definite temperature and by one step operation.例文帳に追加

一定温度、一段階操作で、迅速にＣＫ２０遺伝子のｍＲＮＡを増幅、検出することを特徴とする、ＣＫ２０ｍＲＮＡの検出および定量方法の提供。 - 特許庁

To develop a method capable of measuring the distribution of the grain size of a subclass of a small particle LDL within a range of measurement precision of the distribution of the grain size by conventional dynamic light scattering methods.例文帳に追加

従来の動的光散乱法による粒度分布の測定精度の範囲内で小粒子ＬＤＬのサブクラスの粒度分布を測定することができる方法を開発すること。 - 特許庁

To provide a method for measuring a live load of a bridge which can reduce variation in measurement accuracy, can apply to bridges having a variety of structure formats, and can extend its measurement range.例文帳に追加

測定精度のばらつきを削減でき、また、種々の構造形式の橋梁に適用でき、しかも、測定範囲を拡大できる橋梁の活荷重測定方法を提供すること。 - 特許庁

The present invention provides a method of measuring the false positive substance itself, and endotoxin based on the limulus reaction, using the means for removing the false positive substance, or the like.例文帳に追加

本発明は、上記偽陽性物質自体と、当該偽陽性物質の排除手段を用いた、リムルス反応に基づくエンドトキシンの測定方法等を提供する発明である。 - 特許庁

IMPLEMENT FOR MEASURING THICKNESS OF COATING FILM SUCH AS RESIN WAX, COATING, ETC., APPLIED ONTO GENERAL FLOOR, DEGREE OF STAIN, ETC., AND METHOD FOR MAINTAINING ESTHETIC APPEARANCE OF FLOOR SURFACE BY USING THE SAME例文帳に追加

一般的な床上に塗布された樹脂ワックスや塗料等の塗膜厚、汚れ具合等を測定するための用具及びそれらを用いて床面の美観を維持管理するための方法 - 特許庁

This vacuum degree measuring instrument is provided with a vacuum gauge 17 directly or indirectly connected to a vent hole 23 provided in the surface of the covering material in the atmospheric pressure method.例文帳に追加

真空度測定装置が、大気圧工法で被覆材１３の表面に設けられたガス抜き孔２３に、直接的あるいは間接的に連結された真空計１７を具備すること。 - 特許庁

A wrist tip shaft 11 of a work robot 10 includes a work tool 20 and a position measuring unit 30 which performs a position measurement using the light-section method.例文帳に追加

作業ロボット１０の手首先端軸１１には、作業用ツール２０が設けられるとともに、光切断法により位置計測を行う位置計測ユニット３０が設けられている。 - 特許庁

To provide a method of analyzing impurities in a silicon material capable of analyzing 100 ppb or less of As or the like in measuring limit consid ered to be detecting limit heretofore.例文帳に追加

本発明は、従来検出限界とされた測定限界が１００ｐｐｂ以下のＡｓ等の分析を可能とする珪素材料中の不純物分析方法を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a liquid ejector and its control method which are applied to a thermal line printer, for example, and miniaturizes the arrangement for measuring the temperature.例文帳に追加

本発明は、液体吐出装置、液体吐出装置の制御方法に関し、例えばサーマル方式のラインプリンタに適用して、従来に比して温度測定に関する構成を小型化する。 - 特許庁

To provide an object identification method and an object identification device, which allow identification of the type of a measurement object, even if only a part of the measurement object exists within a measuring range.例文帳に追加

測定範囲内に測定対象が一部しか存在していない場合でも測定対象の種類を識別することのできる物体識別方法と物体識別装置とを提供する。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing deterioration of a battery pack, even under floating charge, highly accurately measuring a deterioration diagnosis of each storage battery of the battery pack without interrupting the charging.例文帳に追加

浮動充電中においても、充電を中断することなく組電池の個々の蓄電池の劣化診断を短時間に精度良く計測する組電池の劣化診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring bit error rate by which the bit error rate of a particular layer can be accurately measured by extracting a measured layer TS (transport stream) from a hierarchically multiplexed TS to measure the bit error rate.例文帳に追加

階層多重ＴＳから計測階層ＴＳを抽出してビットエラーレートを計測することにより、特定階層のビットエラーレートの計測を正確に行うことができるようにする。 - 特許庁

This manufacturing method has a thin film forming process of forming a lamination film constituting the thin film magnetic head on a substrate, and an inspection process of measuring the size of a predetermined portion of the lamination film.例文帳に追加

薄膜磁気ヘッドを構成する積層膜を基板上に形成する膜形成工程と、積層膜の予め定めた箇所についての寸法を計測する検査工程とを有する。 - 特許庁

A derivation section 232 derives the plurality of amplification factors used for amplification processing in the radio unit 12 while changing a derivation method in accordance with the RSSI measured by the measuring section 230.例文帳に追加

導出部２３２は、無線部１２での増幅処理で使用される複数の増幅率を測定部２３０で測定したＲＳＳＩに応じて、導出方法を変えながら導出する。 - 特許庁

To provide an electrooptic apparatus substrate and examination method therefor which can implement an examination without requiring bringing a probe into contact thereto from the outside and with satisfactory measuring accuracy.例文帳に追加

外部からのプローブを接触される等の必要がなく、十分な測定精度の得られる検査を実現できる電気光学装置用基板及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a straightness measuring method where scanning movement errors of a displacement meter and a table do not affect the value of straightness of a work measured by using the displacement meter on a work table of a machine tool.例文帳に追加

工作機械のワークテーブル上で変位計を用いて測定した加工ワークの真直度の値に、変位計やテーブルの走査運動誤差が影響しない真直度の測定方法。 - 特許庁