「Microscopes」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The alternative technology for the device for measuring the remaining life is composed of the electron microscopes 1, 2 for imaging the polished surface of the reference life measurement subject and the computers 6, 8.例文帳に追加

基準寿命計測対象物体の研磨表面を撮影する電子顕微鏡１，２と、計算器６，８とから構成される。 - 特許庁

The detector has improved radiation hardness and it therefore suitable for the detection and imaging of accelerated electrons such as in electron microscopes.例文帳に追加

検出器は改善された放射線耐性を有し、したがってそれは電子顕微鏡のような加速電子の検出および撮像に適する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a number of cantilevers for scanning probe microscopes, without dimensional variations from a single sheet of semiconductor substrate.例文帳に追加

１枚の半導体基板から寸法上のばらつきがない多数の走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーを作製する方法を提供すること。 - 特許庁

The terminals Ti collect operating history information, that indicates the history of operations, from the microscopes Mi and transmit the information to the server S.例文帳に追加

生徒用端末Ｔｉは、生徒用顕微鏡Ｍｉから操作の履歴を示す操作履歴情報を収集し、操作履歴情報収集サーバＳに送信する。 - 特許庁

To enable combination with a suitable drive mechanism and a relatively small structural size for a microscope, relating to an afocal zoom system for being used for microscopes.例文帳に追加

顕微鏡に使用するための無限焦点ズーム系に関し、適切な駆動メカニズムと組み合わせ、比較的小さい顕微鏡用構成サイズを可能とする。 - 特許庁

The cantilever 10 for scanning-type probe microscopes can be manufactured substantially in similar process, even if an Si single-crystal wafer is used, instead of the SOI wafer 100.例文帳に追加

ＳＯＩウエハ１００の代わりにＳｉ単結晶ウエハを用いてもほぼ同様の工程で走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー１０を作製できる。 - 特許庁

As a result, even when the shape and size of the hole disposed on the stage of the microscope is different, one main body part 3 for the microscopes can be used in common.例文帳に追加

従って、顕微鏡のステージに設けられている孔のサイズや形が違っても、それら顕微鏡に１台の本体部３を共用することができる。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 integrated with the shafts by each of the optical microscopes further has a moving mechanism 150 for moving the X-Y stage 130.例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡１００は、ＸＹステージ１３０を移動させるための移動機構１５０を更に有している。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope integrated with shafts by each of optical microscopes formed by combining the existing optical microscope and the scanning probe microscope.例文帳に追加

既存の光学顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせて構成された光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an operation microscope for moving microscope units for an assistant between a usage position and the non-usage position, regardless of the number of operation microscopes.例文帳に追加

手術用顕微鏡の数に拘わらず助手用顕微鏡ユニットを使用位置と不使用位置に移動可能にできる手術用顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a cantilever for scanning-type probe microscopes where PZT cannot deteriorate in a manufacturing process, and thickness can be thinned.例文帳に追加

製作工程においてＰＺＴが劣化することなく、かつ、厚さを薄くすることが可能である走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーを提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic probe for magnetic force microscopes having an L10-type ordered Fe-Pt alloy film having no degradation in magnetic characteristics and high spatial resolution.例文帳に追加

磁気特性の劣化のないＬｌ_0型ＦｅＰｔ規則合金膜を有し、高い空間分解能をもつ磁気力顕微鏡用の磁性探針を提供する。 - 特許庁

Namely, the illuminant 10 has a speed of response and an emission intensity enough for application to scanning electron microscopes and mass spectrometers.例文帳に追加

すなわち、この発光体１０は、走査型電子顕微鏡や質量分析装置への適応に十分な応答速度及び発光強度を有している。 - 特許庁

The cantilever 10 for scanning-type probe microscopes is manufactured by an SOI wafer 100, while a probe 12 and a support 13 are integrated at one end and the other end of the lever 11, respectively.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー１０は、レバー１１の一端に探針１２、他端に支持体１３が一体に形成され、ＳＯＩウエハ１００から作製される。 - 特許庁

To provide a microscope which is applicable to various kinds of microscopes or observation methods, and is capable of conducting focusing precisely and efficiently.例文帳に追加

各種の顕微鏡あるいは観察方法に対して適用することができ、精密に効率良く焦点合わせを行うことのできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To store various other devices which are not used such as an eyepiece and a micrometer together with a microscope main body and further, to compactly and efficiently arrange and store microscopes in nonuse.例文帳に追加

使用していない他の接眼レンズ、マイクロメータ等の諸機器を顕微鏡本体と共に保管でき、また、不使用時ではコンパクトに効率的に整列させて保管収納できる。 - 特許庁

Electron Microscopes (EMs) function exactly as their optical counterparts except that they use an electron beam instead of light to image the specimen. 例文帳に追加

電子顕微鏡(EM)は、試料を「結像する」ための光の代わりに電子ビームを使うことを除けば、その光学的な対応機器(光学顕微鏡)と同じように機能する。 - 科学技術論文動詞集

A pair of optical microscopes are arranged on the upside and on the downside of the optical element 10, and the recessed parts 11a, 12a are detected by each microscope, and the eccentricity amount of the recessed parts 11a, 12a is calculated.例文帳に追加

一対の光学顕微鏡を光学素子１０の上方及び下方に配置し、各顕微鏡にて凹部１１ａ，１２ａを検出し、凹部１１ａ，１２ａの偏心量を算出する。 - 特許庁

To provide a means of maintaining a relative position between a precisely predetermined laser link and a slitlamp microscope for easier installation and replacement of a laser link for various slitlamp microscopes.例文帳に追加

本発明は様々な細隙灯顕微鏡１、１３のケーシング２、１４へレーザリンク３を定められた通り確実に結合、位置設定させる検眼機器用アダプタ４、１５に関する。 - 特許庁

To provide a method for forming micro apertures having a uniform aperture diameter by a simple method, in a method for manufacturing probes for scanning near-field microscopes.例文帳に追加

本発明の課題は、走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法において、簡便な方法で均一な開口径を有する微小開口を形成する方法を提供することである。 - 特許庁

The microscopes and the calculation device 2 are configured to execute data acquisition and/or data processing based on a value set in each of the plurality of adjustable parameters.例文帳に追加

顕微鏡及び計算装置２は、複数の調整可能パラメータの各々にそれぞれ設定された値に基づいて、データ取得及び／又はデータ処理を実行するように構成されている。 - 特許庁

To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.例文帳に追加

微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for coating uniform metal particles, which highly efficiently induce surface-enhanced Raman scattering, with satisfactory reproducibility in the manufacture of a probe for scattering-type near-field microscopes.例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡用のプローブ作製において、表面増強ラマン散乱を効率良く誘起する均一な金属粒子を、再現性よくコーティングする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is universally usable, provides the advantages of various known scanning microscopes, does not require a position adjusting cost or reduces the position adjusting cost and can be post installed.例文帳に追加

普遍的に使用可能で、公知の種々の走査顕微鏡の利点を提供し、位置調整コストを要せずに、或いは位置調整コストを少なくして後付け可能な走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An optical system 15 for microscopes for detecting an index previously applied to the measuring surface d1 of the object to be inspected by the telecentric object lens 7 and performing projection to the light-receiving part 11 by the object lens 10 is formed.例文帳に追加

また被検体測定面ｄ１に予め施した指標をテレセントリック対物レンズ７で検出して対物レンズ１０で受光部１１に投影する顕微鏡用光学系１５を形成する。 - 特許庁

In an investigation conducted in 1934 over the area from China to Japan, the sand grain sizes were concentrated in the range of 0.001 mm to 0.5 mm (note that optical microscopes used could not measure minute grain sizes). 例文帳に追加

1934年に中国から日本にかけて行われた調査では、粒の大きさは0.001mm-0.5mmのものが多かったという（光学顕微鏡による調査のため微小な粒子は観測できない点に注意）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In order to solve above problems, a high-powered microscope apparatus is provided with a prescribed pattern which is formed on the stage or a sample support member for microscopes, a recognizing means which recognizes the prescribed pattern, and a moving means which moves the sample support member for the microscopes to a prescribed position, based on positional information being recognized by the recognizing means.例文帳に追加

本発明によれば、上記課題を解決するために、顕微鏡用試料保持材やステージに形成された所定のパターンと、この所定のパターンを認識する認識手段と、この認識手段によって認識された位置情報に基づいて、上記顕微鏡用試料保持材を所定位置に移動させる移動手段とを備えていることを特徴とする高倍率顕微観測装置を提供される。 - 特許庁

To provide a sample holder and a sample measurement method can easily fix and measure samples, without contaminating or degrading each measured side of the samples in measurement of scanning probe microscopes.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定において、試料の被測定面の表裏を汚染や劣化させることがなく、容易に試料を固定し、測定することのできる試料ホルダと試料の測定方法を提供する。 - 特許庁

The optoelectronic image magnifying system allows for small objects or features of small objects to be observed in which historically compound microscopes or specialized optical viewing systems have been required to observe the small objects.例文帳に追加

この光電子工学的像拡大システムは、観測するのに歴史的な複式顕微鏡または特殊な光学的観察システムを必要としたような小さい物体または物体の小さい特徴を観測することができる。 - 特許庁

To provide a probe for scanning magnetic force microscopes and its manufacturing method, having observable resolution for the magnetic recording medium with a memory density of 1,200 kFCI or larger, together with a ferromagnetic alloy coating method for carbon nanotubes.例文帳に追加

1200kFCI以上の記録密度の磁気記録媒体を観察可能な分解能を有する走査型磁気力顕微鏡用探針及びその製造方法、並びにカーボンナノチューブ用強磁性合金成膜方法の提供。 - 特許庁

To provide an inverted microscope into which various auxiliary apparatus applicable to inverted microscopes for industrial applications having vertical illumination can be built and which are low in terms of a cost and is excellent in operability.例文帳に追加

落射照明を備えた工業用途の倒立型顕微鏡にも適用可能な種々の補助装置を簡単に組み込むことができ、コスト的に安価で、操作性にも優れた倒立型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

There may be microscopes involved, bringing us ever closer to the heart of the matter; but even microbiology is objective, adding to knowledge by putting space between an object and its observer. 例文帳に追加

顕微鏡を使って、さらに一層、物質の核心近くまで迫ることはあるだろうが、微生物学でさえ、客観的なものであり、対象と観察者との間にスペースを置くことによって知識を拡大していくのである。 - Tanaka Corpus

There may be microscopes involved, bringing us ever closer to the heart of the matter; but even microbiology is objective, adding to knowledge by putting space between an object and its observer.例文帳に追加

顕微鏡を使って、さらに一層、物質の核心近くまで迫ることはあるだろうが、微生物学でさえ、客観的なものであり、対象と観察者との間にスペースを置くことによって知識を拡大していくのである。 - Tatoeba例文

Small piece samples or film-like samples, which had previously been difficult to be fixed, can be easily fixed on a sample stage of scanning probe microscopes, by providing the sample holder can fix samples by a fixing plate held with a support holder.例文帳に追加

試料を、支持ホルダに保持された固定板にて固定できる試料ホルダを提供することで、従来固定が困難だった小片の試料やフィルム状の試料も走査型プローブ顕微鏡の試料ステージに容易に固定できる。 - 特許庁

The server S computes evaluation values which indicate efficiency of the operations of the microscopes Mi based on the accumulated operating history information and transmits the values to the terminal TT.例文帳に追加

教師用端末ＴＴからの指示に従って、操作履歴情報収集サーバＳは、蓄積された操作履歴情報に基づいて生徒用顕微鏡Ｍｉの操作の効率を示す評価値を計算し、教師用端末ＴＴに送信する。 - 特許庁

To provide a method and to obtain a reagent for the quick and low-cost detection of microorganisms in a solid or a solid-containing specimen as well as a liquid specimen without using expensive instruments and microscopes.例文帳に追加

高価な機器や顕微鏡を必要とすることなく、かつ、液体試料だけでなく、固体または固体を含む試料にも適用できる迅速かつ安価な微生物の検出方法および微生物検出用試薬を提供すること。 - 特許庁

To provide a high-luminance electron source, using transition metal carbide and having superior mass productivity and being easy to obtain which is used in electron-beam apparatuses, vacuum tubes, and especially, in electron-optical apparatuses, such as, electron microscopes and electron lithographic apparatuses.例文帳に追加

電子線及び電子ビーム機器や真空管、特に、電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される、量産性に優れ入手の容易な遷移金属炭化物を用いた高輝度電子源を提供する。 - 特許庁

A belt-like work W is carried and moved, the work mark on the belt-like work W is detected by the alignment microscopes of two alignment units AU, the alignment of the mask M and the work W is performed, and a mask pattern is exposed on the work W.例文帳に追加

帯状ワークＷを搬送移動して、帯状ワーク上のワークマークＷＡＭを、２台のアライメントユニットＡＵのアライメント顕微鏡により検出しマスクＭとワークＷの位置合わせを行ってマスクパターンをワークＷ上に露光する。 - 特許庁

In the probe 1 for scattering-type near-field microscopes, a part or the whole of the probe is coated with metal 7 having the particle size of a radius of curvature between 10-50 nm, which prevent adhesion to one another at least due to the interaction of an evanescent field.例文帳に追加

散乱型近接場用プローブ1において、少なくともエバネッセント場の相互作用に起因するプローブの一部または全部が、互いに癒着することのない曲率半径10nm以上50nm以下の粒径を持つ金属7でコーティングされるようにした。 - 特許庁

To provide a probe for probe scanning microscopes, which has a sharp tip and an improved electrical property, and to provide its manufacturing method which includes producing a planar field-effect transistor and forming a conductive carbon nanotube thereon.例文帳に追加

平面型電界効果トランジスタを製作し、その上に導電体の炭素ナノチューブを形成することによって、鋭いチップを形成すると共に電気的特性もまた向上させた探針走査型顕微鏡の探針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

When the work mark exists inside the visual field of at least either of the two alignment microscopes, the work W is rotated and moved so as to make the other work mark enter inside the visual field of the other microscope.例文帳に追加

そして、２個のアライメント顕微鏡のうちの少なくとも一つの顕微鏡の視野内にワークマークＷＡＭが入っている場合には他方の顕微鏡の視野内に他方のワークマークＷＡＭが入るようにワークＷを回転・移動させる。 - 特許庁

To provide a smoke exposure testing module which enables the efficient and easy recovery of cells in an amount sufficient for performing highly precise observation with microscopes and various biological measurements without damaging the exposed cells.例文帳に追加

曝露された細胞に損傷を与えることなく、顕微鏡での高精度の観察、及び様々な生物学的測定を行うのに十分な量の細胞を効率的かつ容易に回収することができる煙曝露試験用モジュールを提供する。 - 特許庁

This stereomicroscope inclines the body tubes of the microscope incorporating coaxial vertical illumination in order to obtain the stereoscopic images at the same angle of both opposite surfaces and binocularly views the images formed by receiving the halation images created by both with the each other's microscopes.例文帳に追加

立体像を得るために、同軸落射照明を取り入れた顕微鏡の鏡筒を双方対面の同角度で傾け双方でつくられるハレーション像を、相互の顕微鏡で受像し互いに受像した像を双眼で見る立体顕微鏡。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 integrated with the shafts by each of the optical microscopes has the existing scanning probe microscope 110 for optically observing a sample and a scanning probe microscope unit 140 for observing the sample by using a probe.例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を光学的に観察するための既知の光学顕微鏡１１０と、プローブ（探針）を用いて試料を観察するための走査型プローブ顕微鏡ユニット１４０とを有している。 - 特許庁

The peripheral equipment can include controls such as foot switches or other similar controls (not limited to them), surgical instruments such as surgical microscopes (not limited to them) and training surgical cutting machines and other tools.例文帳に追加

周辺機器は、フットスイッチ又はその他の同様の制御装置（ただしこれに限定されない）など制御装置、手術用顕微鏡（ただしこれに限定されない）など手術器具及び訓練用の手術用切断具などその他の訓練用の手術器具を含みうる。 - 特許庁