| 意味 | 例文 |
NONDEFECTIVEを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 161件
The computed nondefective rates PY (1) to PY (m) are extrapolated and the nondefective rate PY (0), a systematic nondefective rate in the horizontal direction, is computed.例文帳に追加
計算した良品率PY(1)〜PY(m)を外挿して良品率PY(0)、即ち、横方向のシステマティック良品率を算出する。 - 特許庁
NONDEFECTIVE/DEFECTIVE INSPECTION METHOD FOR DELAYED SYNCHRONOUS LOOP CIRCUIT, AND NONDEFECTIVE/DEFECTIVE INSPECTION CIRCUIT OF DELAYED SYNCHRONOUS LOOP CIRCUIT例文帳に追加
遅延同期ループ回路の良否検査方法及び遅延同期ループ回路の良否検査回路 - 特許庁
On the other hand, in the step S4, when the echo waveform exceeding the envelope of the nondefective sample data does not exist, it is determined to be nondefective (step S6).例文帳に追加
一方、ステップS4において良品サンプルデータの包絡線を越えるエコー波形が存在しない場合には良品判定とする(ステップS6)。 - 特許庁
To detect whether one pixel section is nondefective or not, without being affected by other pixel sections, and to consistently determine whether the pixel section is nondefective or not, even if noise is applied.例文帳に追加
一つの画素部の良否を他の画素部の影響を受けずに検出し、且つノイズが印加された場合でも安定して画素部の良否を判定する。 - 特許庁
A nondefective generation rate, that is a ratio of a frequency of tablets 5 having the nondefective allowance limit value or more, is displayed further, corresponding to the frequency distribution (S240).例文帳に追加
さらに、度数分布に対応させ、良品許容限界値以上の錠剤5の度数の割合である良品発生率を表示する(S240)。 - 特許庁
METHOD OF SETTING NONDEFECTIVE DETERMINATION REFERENCE AND METHOD OF DETERMINING DETERMINATION PROCESSING PRECISION IN INSPECTION DEVICE, AND DEVICE FOR SETTING NONDEFECTIVE DETERMINATION REFERENCE AND DEVICE FOR DETERMINING DETERMINATION PROCESSING ACCURACY例文帳に追加
検査装置における良品判定基準設定方法及び判定処理精度判定方法並びに、良品判定基準設定装置及び判定処理精度判定装置 - 特許庁
The server 12 does not acquire the detail information on the errors from the nondefective printers 13.例文帳に追加
サーバ12は、エラーがないプリンタ13からエラーに関する詳細情報を取得しない。 - 特許庁
To prevent a nondefective semiconductor chip from being mounted on a defective die pad of a frame.例文帳に追加
フレームの不良ダイパッド上に半導体チップの良品を搭載することを防止する。 - 特許庁
NONDEFECTIVE POLYSILICON MOLDING AND METHOD FOR TESTING POLYSILICON MOLDING WITHOUT CONTAMINATION NOR DESTRUCTION例文帳に追加
ポリシリコン成形体の汚染および破壊のない試験法および欠陥のないポリシリコン成形体 - 特許庁
To provide a multichip type semiconductor device capable of conducting individually nondefective determination tests for each chip, and capable of shortening a time required for the desired nondefective determination test.例文帳に追加
各チップに対して個別に良品判定テストを行うことができ、かつ、所望する良品判定テストに要する時間を短縮することができるマルチチップ型半導体装置を提供する。 - 特許庁
A secondary reflection region, constituted of pixels having a color in the secondary reflection color range is specified from inside the nondefective image, and the specified secondary reflecting region is removed from the nondefective image.例文帳に追加
良品画像の中から二次反射色範囲内の色をもつ画素で構成される二次反射領域を特定し、特定された二次反射領域を良品画像から除去する。 - 特許庁
To reduce the amount of using a replacement area by reducing the amount of replacing a nondefective area as much as possible when the nondefective area is replaced together with a defective area.例文帳に追加
欠陥領域と共に非欠陥領域も併せて交替処理する際に非欠陥領域の交替する量を極力減らすようにして交替領域の使用量を抑える。 - 特許庁
THIN FILM MAGNETIC HEAD, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SHIPPING-INSPECTION/MAKING-NONDEFECTIVE-PRODUCTS METHOD OF THIN FILM MAGNETIC HEAD例文帳に追加
薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法、ならびに薄膜ヘッドの出荷検査・良品化方法 - 特許庁
Color space (color histogram) mapping is performed by using each pixel color in a soldered domain in a nondefective image as a nondefective point, and the prescribed number of defective points are mapped in the defective color range in the color space.例文帳に追加
そして、良品画像における半田領域の各画素の色を良点として色空間(色ヒストグラム)マッピングするとともに、その色空間の不良色範囲内に所定数の不良点をマッピングする。 - 特許庁
Excitation force is increased and a sharpened waveform is obtained, when a nondefective portion is excited by an impulse hammer.例文帳に追加
欠陥がない箇所をインパルスハンマで加振すると、加振力は大きくなり、鋭くとがった波形が得られる。 - 特許庁
The retrieval page which is nondefective is registered on the server, so the stability of the operation of the server is improved.例文帳に追加
サーバに欠陥を持たない検索ページが登録されるため、サーバの運用の安定性が向上する。 - 特許庁
The sorter 10 sorts a semiconductor device 20 into a nondefective or a defective on the basis of a detecting signal from the detecting device 30 for detecting whether it is a nondefective or a defective by inspecting the semiconductor device 20.例文帳に追加
半導体デバイス20を検査して良品であるか不良品であるかを検出する検出装置30からの検出信号に基づき、分類装置10は半導体デバイス20を良品と不良品とに分類する。 - 特許庁
An X-ray inspection image memory 11 stores X-ray inspection image data output from an X-ray area sensor 6, and a reference nondefective image memory 12 stores reference nondefective image data for determining existence of foreign matter.例文帳に追加
X線検査画像メモリ11がX線エリアセンサ6から出力されたX線検査画像データを記憶し、基準良品画像メモリ12が異物の有無を判定するための基準良品画像データを記憶する。 - 特許庁
The coating (c) is a precise and nondefective amorphous inorganic compound film comprising Si and O as main components.例文帳に追加
被覆膜(c)は、緻密で欠陥のないSiとOとを主成分とする非晶質の無機化合物膜である。 - 特許庁
To provide a semiconductor inspection device which can accurately determine whether a semiconductor device is nondefective.例文帳に追加
半導体装置が良品であるか否かを精度良く判断することができる半導体検査装置を提供する。 - 特許庁
The informations are re-arrayed on the one-dimensional map in the vertical direction, and a systematic nondefective rate in the vertical direction is computed similarly.例文帳に追加
また、縦方向の1次元マップに再配列して、同様に縦方向のシステマティック良品率を算出する。 - 特許庁
Then, it is determined whether an echo waveform exceeding an envelope of the nondefective sample data exists or not (step S4).例文帳に追加
そして、次に良品サンプルデータの包絡線を越えるエコー波形が存在するかどうかを判定する(ステップS4)。 - 特許庁
A color range for separating the color of the nondefective point from the color of the defective point is determined based on a frequency distribution of the defective points and the nondefective points in the color space, and the color range is set as a color condition (color parameter) used for substrate inspection.例文帳に追加
この色空間における良点と不良点の度数分布に基づいて良点の色と不良点の色とを分離するための色範囲を求め、その色範囲を基板検査で用いられる色条件(色パラメータ)として設定する。 - 特許庁
Then the device selects the nondefective and defective work substrates by removing the defective work substrates from the tray and, at the same time, a work substrate replenishing device replenishes the vacant housing spaces formed in the tray when the defective work substrates are removed from the tray with discriminated nondefective work substrates.例文帳に追加
不良判定品をトレーから排除することにより良・不良の選別を行なうとともに、不良判定品除去後のトレーにおける空き収容部に、ワーク基板補充装置により良判定品を補充する。 - 特許庁
In the expanded binary data, luminance data at addresses of nondefective pixels are zero, and luminance data at addresses of defective pixels are 255.例文帳に追加
伸長された2値データは、欠陥がない画素アドレスの輝度データはゼロになり、欠陥画素アドレスの輝度データは255になる。 - 特許庁
Consequently, the second potential signal is kept in the middle potential, without being affected by whether the pixel section is nondefective or not, and based on the second potential signal and the first potential signal output from the pixel section, the pixel section is correctly determined to be nondefective or not.例文帳に追加
したがって、第2電位信号が画素部の不具合の有無に影響されず中間電位に維持されており、この第2電位信号と画素部から出力された第1電位信号とに基づいて画素部の良否を正確に判定できる。 - 特許庁
To accurately sort a nondefective product and a defective product in a method for probe-testing a semiconductor device formed on a semiconductor substrate.例文帳に追加
半導体基板上に形成した半導体装置のプローブテスト方法に関し、良品と不良品とを正確に選別する。 - 特許庁
Then, the parameter used for substrate inspection is generated by using the nondefective image, after removing the secondary reflecting region as a teaching image.例文帳に追加
そして、二次反射領域除去後の良品画像を教師画像として、基板検査で用いられるパラメータを生成する。 - 特許庁
This method minimizes the damage to a nondefective portion compared to removing a residue 25 by irradiation with a lower power laser beam.例文帳に追加
したがって、低パワーのレーザ光を照射して残渣25を除去する場合に比べ、正常部分に与えるダメージが小さくて済む。 - 特許庁
Binarized standard image information relative to nondefective printed matter 1a is included in the image processing part 12 among them.例文帳に追加
このうち、画像処理部12内には、良品印刷物1aについての2値化された基準画像情報が内蔵されている。 - 特許庁
To provide a device inspection method which can discriminate between the device with defective protective film and the device with nondefective protective film.例文帳に追加
保護膜に欠陥のあるデバイスと保護膜に欠陥のないデバイスを選別することができるデバイス検査方法を提供すること。 - 特許庁
A result measured by the measuring part is inputted into a control part, and nondefective sample data is compared with the measurement result (step S3).例文帳に追加
そして、計測部で計測された結果が制御部に入力され、良品サンプルデータと計測結果とを比較する(ステップS3)。 - 特許庁
The i (i=1 to m) chips continuing on the one-dimensional map are regarded as one integrated circuit, and a nondefective rate PY (i) is computed.例文帳に追加
1次元マップ上の連続するi(i=1〜m)個のチップを1つの集積回路と見なし、良品率PY(i)を計算する。 - 特許庁
To provide a pickup device capable of securely picking up only a nondefective chip without picking up a defective chip.例文帳に追加
この発明は不良チップをピックアップせず、良品チップだけを確実にピックアップできるピックアップ装置を提供することにある。 - 特許庁
In the step S4, when the echo waveform exceeding the envelope of the nondefective sample data exists, it is determined to be defective (step S5).例文帳に追加
ステップS4において、良品サンプルデータの包絡線を越えるエコー波形が存在する場合には不良判定とする(ステップS5)。 - 特許庁
To provide a visual inspection apparatus capable of reducing the possibility of incorrect decision of defective items of objects to be inspected as nondefective items.例文帳に追加
検査対象物の不良品が誤って良品と判定される可能性を低減可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for controlling a filling process for an injection molding machine, in which injection speed is varied at every shot in a pressure controlling process in low pressure injection molding and such a fault is removed that a nondefective can not be molded and the nondefective can be always molded.例文帳に追加
低圧射出成形において圧力制御工程で射出速度がショット毎にばらつき、良品が成形できなかったという欠点を取除き、常に良品が成形できる射出成形機の充填工程制御方法を提供すること。 - 特許庁
If the notch 20 is formed, only the portion of 3a is dislodged and the nondefective article is not resulted even if the peeling of the insulating film 3 occurs.例文帳に追加
切り欠き20を形成すれば絶縁膜3の剥離が生じても、3aの部分だけが脱落するだけで、不良品とはならない。 - 特許庁
To recognize defective marks on semiconductor chips at the same time and to securely apply die bonding to nondefective semiconductor chips for a short time.例文帳に追加
半導体チップにおける不良マークの認識を一括して行い、短時間で確実に良品の半導体チップをダイボンディングする。 - 特許庁
The bright field illumination is reflected by the defect in the composite structure differently from a nondefective portion out of the composite structure.例文帳に追加
明視野照明は、複合構造における欠陥によって、複合構造のうち欠陥のない部分とは異なるように反射される。 - 特許庁
To provide an inspection device for classifying minute objects conveyed in a plurality of rows into a nondefective product and a defective product highly accurately at high speed with a simple structure.例文帳に追加
簡単な構造で、複列で搬送される微小物体を高速かつ高精度にて良品と不良品とに分別する。 - 特許庁
To provide a continuous furnace capable of isolating a defective member to be heated from a nondefective member to be heated, without deteriorating its state.例文帳に追加
不良品の被加熱部材をその状態を悪化させることなく、良品の被加熱部材から分離することが可能な連続炉を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method for a photoelectric conversion device which prevents a drop in yield in a nondefective inspection after the photoelectric conversion device is assembled in a package.例文帳に追加
パッケージに組み立てた後の良品検査で歩留まりが低下することを防止する光電変換装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
The control/image processor generates difference data by subtracting magnetic field distribution data of a nondefective from magnetic field distribution data acquired by the fluxmeter.例文帳に追加
制御・画像処理装置は、磁束計によって取得された磁場分布データから良品の磁場分布データを減算し、差分データを生成する。 - 特許庁
A nondefective/defective discrimination section 9 reads the fail/pass signal written in the defect analysis memory 8 to discriminate the propriety of the tested sample 2.例文帳に追加
良/不良判定部9は、不良解析メモリ8に書き込まれたフェイル/パス信号を読み出して被試験試料12の良/不良を判定する。 - 特許庁
To contrive discrimination of a nondefective and a defective of moldings, especially enhancement of precision of a technique discriminating short shot by utilizing the monitoring value of an injection molding machine.例文帳に追加
射出成形機のモニター値を利用して、成形品の良否判別、特にショートショットを判別する手法の精度向上を図ること。 - 特許庁
When picking up, only the position of a nondefective semiconductor chip is recognized by the camera 12 for recognizing chips according to the map coordinate and it is picked up thereafter.例文帳に追加
ピックアップ時には、マップ座標に基づいて、良品の半導体チップの位置だけをチップ認識用カメラ12によって認識してピックアップする。 - 特許庁
A color image of a nondefective printed board is acquired, and the acquired color image is divided into each pattern region by color difference and registered (S4).例文帳に追加
良品のプリント基板のカラー画像を取得し、この取得したカラー画像を色の差異により各パターン領域に分割し、登録する(S4)。 - 特許庁
To inexpensively provide a thermosensitive transfer image receiving sheet, with which a highly dense and nondefective high quality image can be obtained.例文帳に追加
高濃度で画像欠陥のない高画質な画像を得ることができる感熱転写受像シートを低コストで提供することを目的とする。 - 特許庁
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