「Point defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Thereupon, the presence or absence of the foreign substance aggregation defect X is inspected by lighting inspection; and if the foreign substance aggregation defect X is detected, vibrations are applied by an oscillator 30 to the foreign substance aggregation defect point, so as to thereby disperse the aggregated granular foreign substances (x).例文帳に追加

そこで、点灯検査により異物凝集欠陥Ｘの有無を有無を検査し、異物凝集欠陥Ｘが検出された場合には、加振装置３０により異物凝集欠陥箇所に振動を付与することで、凝集した粒状異物ｘを分散させるようにする。 - 特許庁

A reflectance of light may be increased in the point defect in the case that the distance L is selected, and the optical resonator resonating light between the two point defects 14 and the optical reflector reflecting light with the two point defects 14 can be used.例文帳に追加

距離Lの選択によっては、点欠陥１４における光の反射率が増大し、２個の点欠陥１４間で光が共振する光共振器や、２個の点欠陥１４で光を反射する光反射器として用いることができる。 - 特許庁

A state plane including the defect ratio and the covering rate is set in an evaluation arithmetic means 4, and the quality of the inspection target is specified as a coordinate point on the basis of the defect rate and the covering rate after the measurement.例文帳に追加

そして、評価演算手段４において、不良比率と網羅率を含む状態平面を設定し、計測後の不良率及び網羅率に基づき検査対象の品質を座標点として特定する。 - 特許庁

Thereby, by preventing that the demerit point defect disappears subsequently to make a laser repair impossible or the like, inspection and correction efficiency is improved.例文帳に追加

これにより、後発的に滅点欠陥が消滅してレーザリペアなどが不可能となる等を防止して検査・修正効率の向上を図る。 - 特許庁

To provide a mammography screen being non-sensitive to a point defect or a scratch and having a top-coat causing screen structure noise to be lowered.例文帳に追加

点欠陥又は引っ掻き傷に対して敏感でなく、低いスクリーン−構造ノイズに導くトップコートを有するマンモグラフィスクリーンを提供する。 - 特許庁

To provide a method for marking defective point of component which does not result in deterioration of manufacturing yield due to generation of secondary defect and ensures excellent flexibility.例文帳に追加

二次不良の発生による歩留まり低下のおそれがなく、汎用性にも優れた部品不良箇所マーキング方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a reticle repair method which can exactly and easily detect the end point of repair processing in repair processing of the pattern defect of a reticle.例文帳に追加

レチクルのパターン欠陥を修正加工する際に的確且つ容易に修正加工の終点を検出できるレチクルリペア方法を提供する。 - 特許庁

where the basis for the appeal on a point of law is the argument that the law was violated in respect of procedure, a statement of the facts constituting the defect. 例文帳に追加

法律抗告について，手続に関して法令違反があったという主張を根拠とする場合は，瑕疵を構成する事実の陳述 - 特許庁

By this update, whenever a question is sent from a student's terminal, a defect point stored correlation to a portion of the educational material is accumulated.例文帳に追加

この更新により、受講者端末から質問がある度に、教材箇所と関連付けて記憶した不具合点数が累積されていく。 - 特許庁

An array of holes 20 arranged two-dimensionally and having a point defect in the center without a hole is formed in an upper Bragg reflector 15.例文帳に追加

上部ブラッグ反射鏡１５には、円孔（空孔）が存在しない点欠陥を中央部に有する２次元円孔配列２０が形成される。 - 特許庁

The defect removing device 1 moves the nozzle 9 of the water column laser illumination device 7 to the position of an illumination point 57 in the defective region 55.例文帳に追加

欠陥除去装置１は、欠陥領域５５内の照射点５７の位置に水柱レーザ照射装置７のノズル９を移動させる。 - 特許庁

To provide a spherical valve eliminating its defect while making the most of a strong point of the spherical valve of which the center of the spherical valve body is decentered.例文帳に追加

球形弁体の中心を偏心させたスフェリカルバルブの長所を活かしながら、その欠点を取り除いたスフェリカルバルブを提供する。 - 特許庁

To precisely detect a point defect portion in an STN liquid crystal display in a short time.例文帳に追加

ＳＴＮ液晶ディスプレイの点欠陥部分を精確且つ短時間で検出するＳＴＮ液晶ディスプレイ検査システム、その処理方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing mold press lens having high optical performance by preventing the appearance defect of the optical device comprising a high temperature vitreous material havng ≥50°C transition point Tg.例文帳に追加

Tgが550℃以上となる高温硝材からなる光学素子の外観不良を防止し、光学性能の高いモールドプレスレンズの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal device wherein a white point defect can be corrected without fail by surely short-circuiting a defective switching element.例文帳に追加

動作不良の生じたスイッチング素子を確実に短絡させ、白点欠陥を確実に修正することができる液晶装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate adhesion defect due to generation of bubbles in an optical fiber crossing point when resin films are laminated together, and to improve flexibility as a wiring sheet.例文帳に追加

樹脂フィルムを貼り合わせる際の光ファイバクロス点での気泡発生による接着不良をなくし、また、配線シートとしての柔軟性を向上させる。 - 特許庁

To correct a point defect while decreasing an impedance of an auxiliary capacitance signal trunk line, and to suppress increase in the area of a non-display region.例文帳に追加

補助容量信号幹線のインピーダンスを低下させながらも点欠陥の修正が可能であり、しかも、非表示領域の面積増加を抑制する。 - 特許庁

This allows the magnetic head to move on the track TR from the point Pst avoiding the defect Def while enabling continued recording of data.例文帳に追加

これにより、磁気ヘッドは地点Ｐstより軌跡ＴＲ上を移動していき、ディフェクトＤefを回避できると共に、データの継続した記録が可能となる。 - 特許庁

In the correction data generating process, luminance data of the point defect pixel is eliminated (S7) from the luminance data by use of the position data before the correction data is generated.例文帳に追加

前記補正データ生成工程において、補正データを生成する前に輝度データの中から位置データを利用して点欠陥画素の輝度データを除く（Ｓ７）。 - 特許庁

To detect a defect smaller than a magnetic head size and a recorded bit length, and a defective point which is magnetically changeable as thermal fluctuation, etc., and causes medium noise.例文帳に追加

磁気ヘッドサイズや記録ビットサイズよりも小さな欠陥や熱揺らぎ等の磁気的に変動しやすく、媒体ノイズの原因となる欠陥箇所を検出する。 - 特許庁

An annealing temperature (e.g. 300 to 500≤) for activating the N-type defect layer is set at a lower temperature than the melting point (700≤) of the anode electrode 8 of aluminum.例文帳に追加

このｎ型欠陥層の活性化のためのアニール温度（例えば300℃〜500℃）は、アルミニウムのアノード電極８の融点（700℃）よりも低い温度で十分である。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which enables temporary generation of stable air bubbles in a liquid crystal layer upon repair of point defect or the like.例文帳に追加

点欠陥修復等の際、液晶層に安定した気泡を一時的に発生させることができる液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electrooptical device wherein existence of point defect or the like can be easily determined by full lighting inspection before cutting short circuit lines.例文帳に追加

短絡配線を切断する前に全点灯検査により点欠陥等の有無を容易に判断できるようにした電気光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an antiglare film provided with proper antiglare performance and high contrast and having extremely small point defect.例文帳に追加

適度な防眩性と高いコントラストを備える防眩フィルムにあって、点欠陥が極めて少ない防眩フィルムの製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The height of the defect being machined by electron beam or gas ion beam etching is measured with one probe in the independently actuatable probes to detect an end point.例文帳に追加

独立に駆動できる探針のうち1本の探針で、電子ビームまたはガスイオンビームエッチングで加工中の欠陥の高さを測定して終点検出を行う。 - 特許庁

To provide a merchandise label with which temperature management of merchandise can be exactly performed and a point of generation of a defect can be judged and a temperature management method.例文帳に追加

商品の温度管理を正確に行うことができるとともに、不良の発生箇所を判断できる商品ラベル及び温度管理方法を提供する。 - 特許庁

Here, a perfect crystal means a parallel-sided slab of defect-free crystalline material, which produces an ideal point diffraction pattern when illuminated by a plane wave. 例文帳に追加

ここで、「完全結晶」とは欠陥がない結晶性の平行平板を意味し、これは平面波で照らされるとき理想的な「点状の」回折図形を作る。 - 科学技術論文動詞集

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for masking a CCD defect from an examination target by including a means for automatically specifying a CCD defective pixel in a panel picture quality examination apparatus for examining a point defect corresponding to one pixel of a plasma display or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の１画素相当の点欠陥を検査するパネル画質検査装置における ＣＣＤ 欠陥画素を自動特定する手段を有し、ＣＣＤ 欠陥を検査対象からマスクする方法を提供する。 - 特許庁

To manufacture a radiation image conversion panel capable of restraining a point defect from being generated, and capable of obtaining an image of high grade reduced in a defect.例文帳に追加

点欠陥などの発生を抑制し、欠陥が少ない高品位な画像が得られる放射線像変換パネルを製造することができる放射線像変換パネルの製造方法および放射線像変換パネル製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a general searching method for automatically searching for a defective point in a short time as a defect-searching method for locating a defective point of a mounting substrate where an IC and electronic components are mounted.例文帳に追加

ＩＣ及び電子部品が実装された実装基板の不良箇所を特定する不良探索方法において、自動的且つ短時間に不良探索を行う汎用的な探索手法及び探索装置を提供する。 - 特許庁

While the main surface of the semiconductor wafer is scanned by a light beam, the intensity of scattered light from the respective measurement points by the light beam is measured, the measurement point with the intensity of scattered light set above a predetermined threshold value is distinguished as a crystal defect measurement point, and thus the defect measurement is carried out.例文帳に追加

半導体ウェーハの主表面を光ビームにて走査しつつ、該光ビームによる個々の測定点からの散乱光強度を測定し、該散乱光強度が予め定められた閾値以上となっている測定点を結晶欠陥測定点として識別することにより欠陥測定を行なう。 - 特許庁

A controller (20) performs processing (20-2) in which an off-track occurrence point is detected when off-track is caused and defect determination processing (20-1) in which continuous off-track in the same point is detected and it is determined as defect (dust, scratch), in read operation, detection conditions of off-track detection processing (22-1) are relaxed.例文帳に追加

コントローラ（２０）が、オフトラック発生時に、オフトラック発生箇所を検出する処理（２０−２）と、同一箇所でオフトラックが連続したことを検出し、欠陥（ごみ、傷）と判断する欠陥判断処理（２０−１）を実行し、リード動作の場合は、オフトラック検出処理（２２−１）の検出条件を緩和する。 - 特許庁

A defect correcting device applying the correction material to the defective point of a panel substrate to correct the defective point is provided with an application head for applying the correction material to the defective point and a shielding mechanism inserting a shielding member between the application head and the panel substrate so that the shielding member can be retreated.例文帳に追加

パネル基板の欠陥箇所に修正材料を塗布して修正する修正装置において、修正材料を欠陥箇所へ塗布するための塗布ヘッドと、塗布ヘッドとパネル基板との間に遮蔽部材を退避可能に挿入する遮蔽機構を備えることを特徴とする。 - 特許庁

To prevent a connection defect when a semiconductor package is mounted on a printed board by precisely measuring the height at a measurement point of a fine component at a high speed with high precision and specially detecting a height defect of a bump electrode of the semiconductor package and the curvature of the package.例文帳に追加

微小部品の計測点の高さ測定を高精度且つ高速に行い、特に半導体パッケージのバンプ電極の高さ不良及びパッケージの反りを検出して、プリント基板に実装したときの接続不良を未然に防止する。 - 特許庁

To provide a defect correction device of an electronic circuit pattern, the correction device actualizing defect species which are difficult to be recognized by observation using a conventional correction device relative to defects detected by an electric inspection or the like, and normalizing a pixel or forming a semi-black point therefrom.例文帳に追加

電気検査等で検出された欠陥に対して、従来の修正装置での観察では認識が困難であった欠陥種を顕在化し、画素を正常化あるいは半黒点化できる電子回路パターンの欠陥修正装置の提供。 - 特許庁

To obtain an image forming apparatus capable of adjusting a distance from an exposure point to a transfer point and restraining the defect of image quality (density variation) associated with the speed variation of a photoreceptor, and an image quality adjusting method for the image forming apparatus.例文帳に追加

露光点から転写点までの距離を調整可能として、感光体の速度変動にともなう画質ディフェクト（濃度変動）を抑制可能な画像形成装置と、この画像形成装置における画質調整方法を得る。 - 特許庁

To provide an illumination unit that widely spreads a range of outgoing light to the front side of a light guide plate while using an LED having such a defect as point-lighting, and is improved in performance effect by utilizing the point-lighting.例文帳に追加

点光りという欠点を有したＬＥＤを用いながらも、導光板の正面への出射光範囲を広く拡散させるとともに、点光りを有効利用して演出効果を高めるようにしたイルミネーションユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a single crystal silicon in an ingot or wafer form, which contains an axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, and to provide a method of producing the same.例文帳に追加

空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない軸対称領域を含んで成りインゴットまたはウエハ形態の単結晶シリコン、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

It is set so that a carbon is added to a region of an external base layer 51, and a formation of a point defect is prevented as occurring at the time of a boron injection for the external base.例文帳に追加

外部ベース層５１の領域にカーボンを添加し、外部ベース用ボロン注入時に発生する点欠陥生成を防止するように設定したものである。 - 特許庁

To suppress the intrusion of garbage such as decomposed matter and by-products causing a black point defect during film deposition; and to prevent the reduction of a vapor deposition rate.例文帳に追加

暗点欠陥の原因となる分解物質や副生成物などのゴミが成膜中に混入することを抑制し、さらに蒸着レートの低下を防ぐことを目的とする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a silicon single crystal ingot which method does not allow point defect clusters to occur in the drawing direction of the ingot and can draw the ingot comprising a perfect region substantially over its entire length and diameter.例文帳に追加

インゴットの引上げ方向に点欠陥の凝集体が発生せず、ほぼ全長及び全径にわたりパーフェクト領域となるシリコン単結晶インゴットを引上げる。 - 特許庁

After the positions of the reference patterns 3a, 3b, 3c are recorded, a process region 4 including the defect is determined and the extent of the process region 4 and a reference point 5 are recorded.例文帳に追加

参照パターン３ａ，３ｂ，３ｃの位置を記録した後、欠陥を含む加工領域４を設定し、加工領域４範囲及び基準点５を記録する。 - 特許庁

By the transfer of the optical axis, the projected inspection image is transferred and the visibility of a point defect etc. is improved by an afterimage effect resulting from the transfer of the inspection image.例文帳に追加

この光軸の移動によって、投影された検査画像が移動され、検査画像の移動による残像効果によって点欠陥等の視認性が向上する。 - 特許庁

To provide a sun visor having no defect from a view point of attaching/detaching facility, storing facility, simplicity, bulking properties, storing performance, and easy manufacturing method.例文帳に追加

サンバイザーにおいて、取りつけ、取り外しの容易性、収納容易性、簡便性、嵩低さ、収納性、簡単な製法の観点から欠点の無いサンバイザーを提供すること． - 特許庁