「Point defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

After that, in order to recover point defect leading to a cause of TED which is generated with the ion implantation of indium, anneal by RTA treatment is performed at a primary temperature.例文帳に追加

その後、インジウムのイオン注入で発生したＴＥＤの原因となる点欠陥を回復させるため、第１の温度でＲＴＡ処理によるアニールを行う。 - 特許庁

It is judged whether the defect point reaches a predetermined threshold value, and the corresponding portion of the educational material is transmitted to a terminal 25 of a system administrator, based on the result of the judgement.例文帳に追加

この不具合点数が所定の閾値に達したかが判定され、その判定の結果に基づき、該当教材箇所をシステム管理者端末２５に送信する。 - 特許庁

When the granular foreign substances (x) of transparent or translucent synthetic resins are mixed into the liquid crystal layer 19 in a manufacturing process, a number of pieces of the granular foreign substances (x) aggregate and generates an aggregation defect X, and there is the possibility that this defect is a bright point defect to transmit light at all times, regardless of the orientation state of the liquid crystal.例文帳に追加

製造工程にて液晶層１９中に透明または半透明な合成樹脂の粒状異物ｘが混入すると、その粒状異物ｘが多数個凝集して異物凝集欠陥Ｘが生じ、そこが液晶の配向状態とは無関係に光を常時透過する輝点欠陥となる可能性がある。 - 特許庁

In a surface defect inspecting apparatus for optically inspecting the surface of an object 11, a condensing point of laser beam is formed in the vicinity of the surface of the object and scanned on the surface of the object in a concentric circular state and a change in the quantity of light generated by a surface defect is detected to judge the surface defect by a signal processor 21.例文帳に追加

対象物１１表面を光学的に検査する表面欠陥検査装置であって、対象物表面近傍にレーザ光による集光点を形成し、集光点を対象物１１表面で同心円状に走査し、表面の欠陥によって発生する光量変化を検出して信号処理装置２１によって欠陥判定を行なう。 - 特許庁

To provide an electrooptical device capable of preventing the occurrence of a point defect and line defect due to the disconnection of an upper electrode material by preventing the deformation of an element portion and a holding capacitor portion due to a heat treatment process, and to provide electronic equipment.例文帳に追加

熱処理工程による素子部分および保持容量部分の変形を防止することにより、上電極材料の断線に起因する点欠陥や線欠陥が発生することを防止可能な電気光学装置および電子機器を提供すること。 - 特許庁

Consequently, the surface layer is heated at a temperature equal to or higher than 1,350°C and lower than the fusion point, so that the dislocation in the STI region is prevented to reduce or eliminate the polishing damage, the local unevenness defect of the wafer surface caused by polishing or a microcrystal defect.例文帳に追加

これにより、表層が１３５０℃以上融点未満で加熱されるので、ＳＴＩ領域の転位発生を防ぎ、研磨ダメージやウェーハ表面の研磨起因の局所的な凹凸欠陥あるいは微小結晶欠陥を低減または消滅できる。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing an internal defect in a large cast structure that can accurately detect the presence or absence of an internal defect in a cast article that is an initiation point of a fatigue crack, and to provide a method for extending the useful life of a large cast structure based on the diagnosis.例文帳に追加

疲労亀裂の発生起点となる鋳物内部欠陥の有無を精度よく検出することができる大型鋳造構造体の内部欠陥診断方法と、その診断結果に基づく大型鋳造構造体の使用寿命延長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lock mechanism which can overcome the defect of restrictions on a space enabling arrangement and solve the problem that an unlocking operation cannot be easily performed because a power point and a point of action are positioned on the same side of a pivotally provided portion in the lock mechanism.例文帳に追加

配置可能な空間が制限される欠点や、ロック機構において力点及び作用点が枢設部の同じ側に位置することによる、容易に解錠操作をすることができないといった問題を解決できるロック機構を提供する。 - 特許庁

To provide a light guide body which is constituted so as to widely diffuse an emitted light range to the front face of the light guide body and to raise a rendering effect by effectively utilizing point light even while using an LED having a defect that it performs the point light.例文帳に追加

点光りするという欠点を有したＬＥＤを用いながらも、導光体の正面への出射光範囲を広く拡散させるとともに、点光りを有効利用して演出効果を高めるようにした導光体を提供する。 - 特許庁

To provide a broadcast television lens apparatus for facilitating the analysis of a cause to a problematic operation by detecting a state of a lens moving part and recording the state at a point of time when the occurrence of a fault or a defect is discriminated.例文帳に追加

レンズ可動部の状態を検出して、異常や故障が発生したと判断した時点で、この状態の記録行い、問題動作の原因解析を容易にする。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that can avoid increase of the circuit scale and suppress the reduction of using efficiency and the reduction of processing speed when a defect of a point and line of a display panel is detected.例文帳に追加

表示パネルの点・線欠陥を検出する場合に、回路規模の増大を回避し、利用効率の低下及び処理速度の低下を抑制し得る画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a structure capable of ensuring excellent display performance by preventing the occurrence of, for example, point defect and capable of improving long-term reliability, in a display device using an organic light-emitting element.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

Defect in a graphite, i.e., poor shock resistance, is overcome and the melting point is 3000-3500°C and further, the merit that it is difficult to erode with molten aluminum can be fully utilized.例文帳に追加

対衝撃性に劣るというグラファイトの欠点を克服し、融点が３，０００〜３，５００℃あること、更に溶融アルミに侵食され難い利点を最大限に活用することができる。 - 特許庁

To provide a method for growing a silicon single crystal which is capable of growing a silicon single crystal which contains a region wherein dislocation clusters are produced and is reduced in the density of the LPD (light point defect) having a size of 0.09 μm or more.例文帳に追加

転位クラスター発生領域を含み、０．０９μｍ以上のＬＰＤ密度が少ないシリコン単結晶を育成できるシリコン単結晶の育成方法を提供する。 - 特許庁

In addition, a PS part 81 which serves both for the spilling prevention of the conductor fragments and rise prevention of the conductor is arranged on the upper layer side of the laser irradiation part for putting the point defect on the defensive.例文帳に追加

また、点欠陥を守勢するためのレーザ照射部の上層側に、導体破片の飛び散り防止用および導体の盛り上がり防止用を兼ねたＰＳ部８１を配置する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus and a method which appropriately correct the position error of a feature point or the defect of image data even if the object has a large fluctuation.例文帳に追加

対象物体が大きな変動を有する場合であっても特徴点の位置の誤りや画像データの欠損を適切に補正する画像処理装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A smooth image is prepared from an original image obtained from the solid state imaging apparatus driven in a dark imaging state and the smooth image is subtracted from the original image to prepare a point defect image.例文帳に追加

暗時撮像状態で駆動した固体撮像装置より得られた元画像より平滑画像を作成し、元画像からこの平滑画像を減算し点欠陥画像の作成を行う。 - 特許庁

To detect a defect by using a three-point bending testing device of wood and a laminated veneer material, and to measure simultaneously a bending Young's modulus and a shear modulus.例文帳に追加

木材および単板積層材の３点曲げ試験装置を使って、欠点の検出を可能とし、曲げヤング率とせん断弾性率を同時に測定することを可能とすること。 - 特許庁

To provide a structure for a display device using an organic light- emitting element with which a superb display performance is secured with generation of point defect or the like suppressed and a long-term reliability is enhanced.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁

To provide an oil-based ink composition for a ball-point pen capable of suppressing discharge defect of the ink as much as possible while imparting a thick handwriting density, suppressing handwriting defect such as blurring, dropping of intermittent ink, splitting of handwriting line and thinning of handwriting in continuous handwriting as much as possible.例文帳に追加

筆跡濃度が濃いものとしながら、インキが吐出不良を極力抑制し得、筆跡かすれ、線飛びインキのボタ落ち、筆跡の線割れ、連続筆記中に筆跡が薄くなるという筆跡の不良を極力抑制したボールペン用油性インキ組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature fuse which is improved in reliability and safety by preventing a defect in blowout of a low-melting-point fusible alloy between a pair of lead conductors when the low-melting-point fusible alloy blows out as the ambient temperature of a temperature fuse rises.例文帳に追加

温度ヒューズの周囲の温度上昇によって低融点可溶合金が溶断する際に、一対のリード導体間の低融点可溶合金の溶断不良を防止し得る構成とし、信頼性、安全性を向上させた温度ヒューズを提供することにある。 - 特許庁

The wafer comprises a first axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, wherein the first axially symmetric region includes the central axis or has a width of at least about 15 mm.例文帳に追加

空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない第一軸対称領域を、ウエハが含んで成り、該第一軸対称領域は、中心軸を含んで成るかまたは少なくとも約１５ｍｍの幅を有する。 - 特許庁

A linear defect structure is made by eliminating one lattice row from a plurality of linear lattice row groups in a slab type two dimensional photonic crystal, the lattice point row adjacent to a linear defect is so moved to make the width narrower than the linear defect width equivalent to one row of lattice of points, or a structure arranged on the lattice points is deformed and the waveguide width becomes 0.7W.例文帳に追加

スラブ型２次元フォトニック結晶における複数の直線状の格子列群から１列格子列を除いて線欠陥構造とし、格子点１列分の線欠陥幅よりも狭くなるように、線欠陥に近接する格子点列を移動させ、または、格子点上に配置された構造体を変形させ、導波路幅を０.７Ｗとした構造である。 - 特許庁

To realize a manufacturing process of a semiconductor which is free from defect/failure and inner contamination of production installation due to fragment of film peeling of the oxide film of a high melting point metal formed in the wafer rear surface of a semiconductor in a semiconductor device wherein the oxide film of a high melting point metal is used.例文帳に追加

高融点金属の酸化膜を使用する半導体装置において、半導体のウエハ裏面に形成された高融点金属の酸化膜の膜剥離した破片による欠陥不良および生産設備内部汚染がない半導体の製造工程を実現する。 - 特許庁

Consequently, even if there is such a defect that film thickness is thin at one point of some light emitting element, there is a little influence on the sum of resistance values of the resistance bodies and light emitting elements, thus currents which should flow to other light emitting elements never gather at one point on the light emitting element.例文帳に追加

このようにすれば、ある発光素子のどこか一点にでも膜厚が薄い等の欠陥がある場合でも、抵抗体と発光素子との抵抗値の総和には殆ど影響がないので、他の発光素子に流れるべき電流が当該発光素子上の一点に集まることはない。 - 特許庁

For the chip 30 which is decided as a defect based on the decision result, it is decided whether saving is to be applies to the defective point, and saving is applied if it is possible.例文帳に追加

その判定の結果、故障が発生していると判定されたチップ３０に関しては、その故障箇所に関して救済を実施するか否かを判定し、救済が可能であれば救済を実施する。 - 特許庁

Then respective pixel outputs in the point defect image are measured, the output values are distributed in accordance with previously determined classes, and the output values are accumulatively counted in each class to prepare the frequency distribution of pixel outputs.例文帳に追加

次に点欠陥画像の各画素出力を測定し、あらかじめ定めた階級に従って、その出力値を割り振り、階級毎に累積カウントしてゆき、画素出力の度数分布を作成する。 - 特許庁

When the human and the animal approaches the slot waveguide 12, a radio wave which is matched by an impedance of the atmosphere and is emitted into a space generates a matching defect and returns to a radar installation point (the monitoring place) 11 as a reflected wave.例文帳に追加

人畜がスロット導波管１２に近接すると、大気のインピーダンスで整合され空間に放射されている電波が整合不良を生じ、反射波として、レーダ設置点（監視所）１１に戻る。 - 特許庁

Based on a potential contrast difference of the secondary electron images obtained by the irradiation with the charged particle beams selected depending on PN property of the sample, a failure point of leakage generated due to a defect inside the semiconductor device is detected.例文帳に追加

試料のPN特性に応じて選択した荷電粒子ビーム照射によって得られた二次電子像の電位コントラスト差から、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク不良箇所を検出する。 - 特許庁

To provide a structure in which an excellent display performance is secured by controlling generation of a point defect or the like and a long term reliability can be improved in a display device using an organic light emitting element.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

By installing the metal covered layer, invasion of the low melting point metal into a joining interface in joining the electric contact with the electrode rod can be inhibited, and generation of joint defect and peeling-off can be prevented.例文帳に追加

金属被覆層を設けたことで、電気接点を電極棒に接合する際に接合界面に低融点金属が侵入するのを阻止でき、接合不良や剥離が生ずるのを防止できる。 - 特許庁

The width of the current aperture of the current narrowing layer 14 is not larger than the diameter (D) of a circle drawn by connecting the center of the holes that are nearest the point defect, wherein the diameter D of the circle is 10.6λ or smaller.例文帳に追加

電流狭窄層１４の電流開口の幅が、点欠陥に最も近接する円孔中心を結ぶ円の直径（Ｄ）以下であり、円の直径Ｄが１０．６λ以下である。 - 特許庁

To provide a highly reliable circuit board etc., on which a defect in contact with a semiconductor chip is suppressed even when lead-free solder having a higher fusion point than before is used.例文帳に追加

従来より融点が高い鉛フリー半田を使用した場合においても、半導体チップとの間における接触不良の発生が抑えられた信頼性の高い回路基板等を提供する。 - 特許庁

When the defective part is a defective part generating a point defect by charge interference with a pixel electrode 20 in an adjacent pixel region, the defective part is further electrically cut from the drain wiring 5.例文帳に追加

不良箇所が隣接する画素領域の画素電極２０と電荷干渉して点欠陥を生じる不良箇所である場合には、さらに不良箇所をドレイン配線５から電気的に切断する。 - 特許庁

By positively suppressing at the point where the defect is unnecessary, the properties of the thin film transistor 100 which has good on/off ratio of a drain current and is superior in reproducibility/reliability is acquired.例文帳に追加

欠陥が不要な箇所では積極的に抑制することにより、ドレイン電流の良好なオンオフ比を有し且つ再現性・信頼性に優れた薄膜トランジスタ１００の特性を実現する。 - 特許庁

To provide an acoustic reproducing apparatus for utilizing an ultrasonic wave to reproduce an audible tone with strong directivity that solves a defect that a distance from an ultrasonic wave generating element to a reproduction point of the audible tone is too long.例文帳に追加

超音波を利用して指向性の強い可聴音を再生する音響再生装置において、超音波発生素子から可聴が再生されるまでの距離が長すぎる欠点を解消する。 - 特許庁

A haze region is formed at least in a part of the main surface of the semiconductor wafer, and when the defect measurement is carried out in the haze region, the threshold value Vref2 of the scattered light intensity for distinguishing the crystal defect measurement point is set higher than the average scattered light intensity level of the entire haze region.例文帳に追加

半導体ウェーハは、主表面の少なくとも一部にヘイズ領域が形成されているものであり、該ヘイズ領域における欠陥測定を行なう際に、結晶欠陥測定点を識別するための散乱光強度の閾値Ｖref２を、ヘイズ領域全体の平均的な散乱光強度レベルよりも高く設定する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional photonic crystal operated by a plurality of designed wave lengths with which a photonic band gap wavelength band is controlled to a desired wavelength without varying a lattice period or an optical element having a point defect resonator structure and a line defect waveguide structure in the inside.例文帳に追加

複数の設計波長で動作する３次元フォトニック結晶において、格子周期を変化させることなくフォトニックバンドギャップ波長帯域を所望の波長に制御することができる３次元フォトニック結晶、もしくはその内部に点欠陥共振器構造や線欠陥導波路構造を備えた光学素子を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a phosphor formed on the back plate of a plasma display panel in which even a micro defect, e.g. a point defect, of a phosphor can be detected with high accuracy and highly reliable inspection can be ensured by processing detected information optimally, and a method for manufacturing the back plate of a plasma display panel employing the inspection apparatus.例文帳に追加

蛍光体の点欠点等の微小な欠点まで高精度に検出可能で、検出情報を最適に処理して信頼性の高い検査が可能なプラズマディスプレイパネル背面板に形成された蛍光体の検査装置、およびその検査装置を用いたプラズマディスプレイパネル背面板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission system capable of easily avoiding a defect of detecting an Alarm by each Alarm detection point in a state that line setting is finished and a signal is intentionally interrupted.例文帳に追加

回線の設定が終了し、かつ、信号を意図的に切断している状態でＡｌａｒｍ検出ポイント毎にＡｌａｒｍを検出してしまう不具合を容易に解消することのできる伝送装置を提供する。 - 特許庁

By performing (b)-(e) operations (unit thinning process), the thickness of the slab 11 is reduced by about 0.11 nm, which varies the resonance wavelength of the point defect resonator 13 to shorter wavelength by 0.39 nm (if designed for 1.55 μm band).例文帳に追加

(b)〜(e)の操作（単位減厚工程）を行うことにより、スラブ１１の厚さは約0.11nm減少し、それにより点状欠陥共振器１３の共振波長は0.39nm（1.55μm帯用に設計された場合）だけ短波長側に変化する。 - 特許庁

Therefore, even when the integrated circuit module is made thin, there is no influence of the electric connection between the USB metal contact point and the USB metal female connector of the computer, so that there is not problems of ineffective connection and a connection defect.例文帳に追加

従って、集積回路モジュールの厚みを薄くしても、USB金属コンタクトポイントとコンピューターのUSBポートメスコネクタとの電気的接続に対して影響を受けないのて、接続無効や接続不良による問題がない。 - 特許庁

The core region 11 comprises a periodic structural defect in which the high refractive index region is removed in at least one grid point in the two-dimensional periodic structure in the center of the cross section.例文帳に追加

コア領域１１は、断面の中央部における二次元周期構造のうちの少なくとも１つの格子点において高屈折率領域が取り除かれた周期構造欠陥によって形成されている。 - 特許庁

To establish a simple method for accurately evaluating influencing factors such as change in MHF point, cooling water temperature, and a steel plate component, and to achieve high speed casting without causing crack defect of a slab.例文帳に追加

ＭＨＦ点変化、冷却水水温、鋼板成分等の影響因子をより簡便、高精度に評価することを可能とする方法を確立し、鋳片の割れ欠陥の発生無しに高速鋳造を達成することにある。 - 特許庁