| 意味 | 例文 |
Point defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 288件
To provide an image reading apparatus for easily realizing a secured cross point voltage to a prescribed voltage level or over and avoiding a defect of sampling of ringing noise by controlling the generated position of the ringing noise so as to arrange the ringing noise at a position with a timing margin.例文帳に追加
クロスポイントの電圧を所定の電圧レベル以上に確保することを容易に実現すると共にリンギングノイズの発生ヶ所をコントロールしてタイミング的に余裕度のある位置にリンギングノイズを配することでリンギングノイズをサンプリングしてしまう不具合を回避することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁
To provide a solder material enabling the reflow (in particular air reflow), low in a melting point, and lead-free, wherein while making the most of the characteristics of a Sn-Zn based-soldering material, the defect thereof is dissolved, and oxidation resistance and alteration resistance together with soldering property are improved.例文帳に追加
Sn−Zn系はんだ材料のもつ特長を生かしつつ、その欠点を解消し、はんだ付け性と共に耐酸化性と耐変質性を向上させたリフロー(特にエアーリフロー)が可能な低融点の無鉛のはんだ材料及びはんだペースト、並びにその製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for evaluating an annealing wafer solving the controversial point of a conventional technique and being capable of simply evaluating the annealing wafer, particularly the thickness of a non-defect layer formed on the surface of the annealing wafer accurately, and to provide the method for assuring the quality of the annealing wafer utilizing the evaluating method.例文帳に追加
従来技術の問題点を解消し、アニールウエーハ、特に、その表面に作られる無欠陥層の厚さを簡便に精度よく評価することのできるアニールウエーハの評価方法及びこの評価方法を利用したアニールウエーハの品質保証方法を提供する。 - 特許庁
Besides a bonding pad 11 to bond an electrical source lead, a ground lead, or a signal lead, a non-bonding pad used only to check a structure defect of its chip 10, i.e., a plurality of test pads 12 are connected to a required circuit point in the IC chip.例文帳に追加
電源線、接地線及び信号線のいずれかにボンディングするためのボンディングパッド11の他に、そのチップ10の構造不良を検査するためにのみ使用される非ボンディングパッド、すなわちテストパッド12を、ICチップ中の所要の回路ポイントに接続して複数設ける。 - 特許庁
If an object 12 to be examined does not have the defect and is normal, a light attenuated by the plate 18 from the illuminator 14 arrive at the unit 16 through an examining point of the object 12, and hence the light is detected in the intensity attenuated by the plate 18 by the unit 16.例文帳に追加
被検査物12に欠点がなく正常な場合には、照明装置14から拡散板18によって減衰された光が、被検査物12の検査点を通過して撮像装置16に到達するために、撮像装置16では、拡散板18によって減衰された強度で検出される。 - 特許庁
To provide a holding method which can prevent defects in contact with such as supporting member when handling a silicon wafer, especially, a split caused from crack growth that is with a contact defect apt to occur as a stating point in a wafer which is with a {110} surface as a main surface; and to provide a holding jig.例文帳に追加
シリコンウェーハをハンドリングする際の支持部材などとの接触傷の発生と、特に、{110}面を主表面とするウェーハにおいて生じやすい接触傷を起点としたクラック伸展に起因する割れを防止できる保持方法および保持治具を提供する。 - 特許庁
The image processing apparatus 201 records a value of an average density for photographing at an optimum exposure in a photographing point where the camera apparatus 101 is set up so as to obtain the image with a few out-of-focus and a few exposure defect, and achieves an iris control to the camera apparatus 101 referring to the value.例文帳に追加
また、画像処理装置201は、ピンぼけや露出不良の少ない画像を得るため、カメラ装置101が設置される撮影ポイントにおいて最適露出で撮影するための平均濃度の値を記録し、この値を参照してカメラ装置101に対しアイリス制御を行う構成とした。 - 特許庁
To attain an optimum signal generating time by avoiding defect caused by a propagation time in a circuit generating a local output clock signal for controlling a point of time at which data is sent out from a sending out delay mechanism in an output side of a memory field to a data path.例文帳に追加
メモリセルフィールド出力側における送出遅延機構からデータ路へデータを送出する時点を制御するために局所的な出力クロック信号を生成する回路において、伝播時間に起因する欠点を回避し、最適な信号生成時間を達成できるようにする。 - 特許庁
A defect data acquiring section 17 monitors a defective position in broadcast data and, when the defective position in the broadcast data is detected, acquires substitute data determined based on a playback position at a present point of time, the defective position of in the broadcast data and information on the substitute data.例文帳に追加
欠損データ取得部17が、放送データの欠損した位置を監視すると共に、放送データが欠損した位置を検知した場合に、その欠損位置を再生するまでに、現時点の再生位置、放送データの欠損位置及び代替データの情報に基づいて決定された代替データを取得する。 - 特許庁
In the write once medium, defect alternative and data rewriting are realized without preparing a fixed alternative area, by using a selected area such as an additional writing point in the main data area as an alternative destination area, allowing judgment of recorded/unrecorded of an address of writing request object by means of continuously recorded range information, and integrally mixing the alternative management information for the defect alternative and data rewriting.例文帳に追加
ライトワンスメディアにおいて、主データ領域内で追記ポイント等、選択した領域を交替先領域として用いること、また書込要求等の対象のアドレスについて連続記録範囲情報によって記録済/未記録を判断できるようにすること、さらに欠陥交替およびデータ書換のための交替管理情報を統合して混在させるようにすることで、固定の交替領域を設けなくとも、欠陥交替およびデータ書換を可能とする。 - 特許庁
(4) The statement of the grounds for the appeal on a point of law must contain 1. a declaration as to the extent to which the court order is being appealed and the extent the modification or reversal thereof is requested; 2. an indication of the legal rule breached; 3. where the basis for the appeal on a point of law is the argument that the law in respect of procedure was breached, a statement of the facts constituting the defect. 例文帳に追加
(4) 法律審判請求理由の陳述は,次のものを含まなければならない。 1. 裁判所命令に対する審判請求の範囲及び要求する変更又は破棄の範囲についての申立2. 違反が生じた法規範の表示3. 法律審判請求の基礎が,手続に関する法律についての違反があるという主張であるときは,その不備を構成している事実についての陳述 - 特許庁
To reliably repair the defect of an organic EL element caused by an electrode short circuit that cannot be detected by emission of light produced from a defective point when a voltage is applied to the organic EL element in which a contact is arranged on an electrode deposition region, and to improve the yield of an organic EL display apparatus.例文帳に追加
コンタクトを電極成膜領域に配置する有機EL素子において、有機EL素子に電圧を印加したときに、不良個所から発生する発光では検出ができない電極ショートに起因する有機EL素子の不良を確実にリペアし、有機EL表示装置の歩留まりを向上させる。 - 特許庁
A holding means holds a processed surface of a substrate downward, a film is formed by spraying a gas supplied from a gas supplying means through a gas introduction means on the laser irradiation point with radiating the laser beam on the processed surface downward from the substrate, and corrects the clear defect of the pattern film on the substrate.例文帳に追加
保持手段で基板の加工面を下向きに保持し、基板の下方から基板の加工面に対してレーザ光を照射するとともに、ガス供給手段から供給されるガスをガス導入手段を通じて基板のレーザ照射部に吹き付けて、基板上に膜を形成し、基板上のパターン膜の白欠陥を修正する。 - 特許庁
To provide a method and a device of inspecting a semiconductor device by charged particle beams and focused ion beams, for detecting, from a potential contrast difference of secondary electron images, a failure point such as leakage due to a defect in the semiconductor device, which cannot be detected merely through appearance shape observation in conventional semiconductor analysis.例文帳に追加
従来の半導体解析において外観形状観察だけでは検出することが不可能な、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク等の不良箇所を、二次電子像の電位コントラスト差から検出する、荷電粒子ビームおよび集束イオンビームによる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁
A judging unit 16 judges that a universal design is achieved in the presence of at least one appeal point in a region defined by the emphasis level and the comparison value in the UD achievement level map and in the absence of any serious defect that would bring down the evaluation of the product to be evaluated equal to or less than a prescribed value.例文帳に追加
判定部16は、UD達成度マップにおいて重視度と比較値とにより規定される領域内に少なくとも1個の訴求ポイントが存在し、かつ評価対象の商品における評価値が規定値以下になる重欠点が存在しない場合にユニバーサルデザインが達成されていると判定する。 - 特許庁
To provide an image forming method capable of forming a fog-free high-quality image by providing a CMB developing carrier capable of eliminating an image defect by a brush mark and carrier-over being a weak point of the CMB developing carrier, having stable charging imparting performance to a toner and capable of restraining environmental dependency.例文帳に追加
CMB現像用キャリアの欠点であるブラシマークやキャリアオーバーによる画像欠陥を解消し、トナーに対する安定した帯電付与性を有し、環境依存性を抑制したCMB現像用キャリアを提供し、カブリのない高品質の画像を形成できる画像の形成方法を提供しようとするものである。 - 特許庁
To provide a technique in an image processing apparatus synchronization system wherein a plurality of image processing apparatuses transceive apparatus information with each other so as to synchronize the apparatus information, and a proper image processing apparatus automatically acts like a delivery server on the occurrence of a defect such as a fault in an image processing apparatus acting like a primary delivery server at a point.例文帳に追加
複数の画像処理装置間で機器情報を送受信して、機器情報の同期を行う画像処理装置同期システムにおいて、拠点のプライマリ配付サーバとなる画像処理装置で故障等の不具合が発生した場合は、適切な画像処理装置が自動的に配付サーバの代行をする。 - 特許庁
To provide a yaen capable of unconditionally overcoming the defect of a using range so as to solve the problems wherein a conventional yaen cannot be used when a squid gets on the yaen and requires to draw the squid to the point at 45° view by an angler to allow the squid to escape sometimes, and therefor the invention of the yaen solving the problems is required.例文帳に追加
これまでのヤエンはイカが乗った時点では使用出来ず釣人現認45°の時点まで引寄せねばならなかった、そのためイカに逃げられることが多かった、その欠点を克服出来るヤエンを考案することが必要であり課題であった、こヽにその欠点使用範囲を無條件で克服出来るヤエンを提供する。 - 特許庁
To provide a superior at-load tap switch which is simplified in configuration by suppressing consideration into electrical insulation to a minimum, which can monitor the switching operation state of a changeover switch during the operation of a transformer, and thereby which can accurately detect the sign of abnormality of the changeover switch due to defective point, and the cause for the defect.例文帳に追加
電気的絶縁への配慮を最小限に抑えて構成の簡略化を図ると共に、変圧器運転中に切換開閉器の切換動作状態を監視可能として、切換開閉器の故障箇所および故障原因による異常兆候を的確に検出することができる優れた負荷時タップ切換器を提供する。 - 特許庁
Further, the surface temperature of the semiconductor wafer W supported in point contact is relatively slow in temperature falling speed and the surface temperature is thereby held above an annealing temperature Ta for the time ta, so that the crystal defect introduced in the semiconductor wafer W during the impurity implantation can be recovered.例文帳に追加
さらに、点接触にて支持された半導体ウェハーWの表面温度の降温速度は比較的小さく、その結果表面温度がアニール温度Ta以上に時間ta維持されることとなり、不純物注入時に半導体ウェハーWに導入された結晶欠陥の回復をも行うことができる。 - 特許庁
To provide a system for partitioning and focusing a laser beam onto a plurality of focal points to simultaneously photoalter a corneal tissue at a plurality of locations in a laser system for speedily and safely photoalter subsurface of the corneal tissue by excluding the defect of conventional technology using a single focal point.例文帳に追加
本発明は単一焦点を使用した従来技術の欠点を排除して角膜の下層組織を迅速かつ安全に光線変形させるレーザシステムであって、複数の位置で角膜組織を同時に光線変形させるよう複数の焦点にレーザビームを分割し、集束させるシステムを提供する。 - 特許庁
In a focus control holding state during defect signal detection, a difference between a bias voltage value for giving a central point of an S-shaped curve indicating the error level of a focus error signal which can perform most stable focus control and a bias voltage value during normal recording/reproducing is added to the output of a servo filter 95.例文帳に追加
ディフェクト信号検出時のフォーカス制御ホールド状態において、最も安定したフォーカス制御が可能となるフォーカスエラー信号の誤差レベルを示すS字カーブの中心点を与えるバイアス電圧値と通常の記録再生時におけるバイアス電圧値との差分をサーボフィルタ95の出力に加算する制御を行う。 - 特許庁
Even if radiation dose to detector volumes 22B and 22C is reduced by defects on the encoder disk or a point defect 26 due to seaming, etc. existing in the optical path inside the encoder, the optical encoder can normally operate based on signals from other detector volumes 22A, 22D and 22F.例文帳に追加
エンコーダ・ディスク上の欠陥や、エンコーダ内部の光路中に存する汚れ等による点欠陥26により、検出器領域22Bおよび22Cへの入射光量が減じられても、他の検出器領域22A、22D、および22Fからの信号に基づき、光学式エンコーダは正常に作動することができる。 - 特許庁
The defect inspecting device focuses a plurality of beams on a sample, scans simultaneously the plurality of the beams over a sufficiently longer distance than the maximum interval of the beams, and preferably detects secondary electrons from the plurality of the beams by magnifying the secondary electrons emitted from each scanning point by a magnifying optical system.例文帳に追加
欠陥検査装置は、複数のビームを試料上に合焦させ、該ビームの最大間隔より十分大きい距離にわたって、複数のビームを同時に走査し、各走査点から放出された二次電子を拡大光学系で拡大してそれぞれの複数のビームからの二次電子を検出する装置であることが好ましい。 - 特許庁
The defect detection method of matrix structure 100 which has structure of grid-like crossing a plurality of gate lines 4a, 4b, 4c and 4d arranged in X-axis direction and a plurality of data lines 3a and 3b arranged in Y-axis direction, which detects point-like defects 11 as linear defects.例文帳に追加
X軸方向に配置された複数のゲート線4a,4b,4c,4dと、Y軸方向に配置された複数のデータ線3a,3bとが格子状に交差している構造を有してなるマトリクス構造100の欠陥検出方法であって、点状欠陥11を線状の欠陥にして検出することを特徴とする。 - 特許庁
To provide an antiglare film having no point defect due to a coarse particle and having satisfactory production yield, to provide an anti-reflection film nearly free from reflection of external light, having excellent black tightness, excellent film thickness uniformity and low reflectance, to provide a polarizing plate including the antiglare film and to provide an image display.例文帳に追加
本発明は、粗大粒子による点欠陥がなく生産収率のよい防眩フィルム、外光の映り込みが少なく、黒締まりに優れると共に、膜厚均一性に優れ、反射率が非常に低い反射防止フィルム、防眩フィルムを具備した偏光板、および画像表示装置を提供する。 - 特許庁
A metal oxide and ceramic as a substance having higher thermal conductivity than that of the metal oxide are packed into a cover-fitted crucible having an opening part, and vapor deposition is performed, so as to suppress the intrusion of garbage causing a black point defect during film deposition, and further, the reduction of a vapor deposition rate can be prevented.例文帳に追加
開口部を有する蓋付きの坩堝内に金属酸化物と金属酸化物よりも熱伝導率の高い物質であるセラミックスとを充填して蒸着を行うことで、成膜中に暗点欠陥の原因となるゴミが混入することを抑制し、さらに蒸着レートの低下を防ぐことができる。 - 特許庁
To provide an image quality inspection apparatus that can easily eliminate moire caused by an unemission part such as a barrier and an electrode or the like in a display device such as a plasma display device without using a high definition CCD camera and a high-speed image processor so as to detect a pixel defect such as a black point (unemitted pixel) or the like at a high-speed.例文帳に追加
プラズマディスプレイ等の表示装置において、隔壁・電極等の未発光部分により発生するモアレ現象を、高精細CCDカメラや、高速画像処理装置を用いることなく容易に除去し、黒点(未発光画素)等の画素欠陥の検出を、高速に行うことのできる画質検査装置の実現。 - 特許庁
To provide refractory particles suitable as casting sand, which are composed of a spherical mullite sintered compact or a spherical mullite-corundum sintered compact in which the high melting point properties of mullite are not impaired, and having no burn-on defect even in the environments of the contact with high temperature molten metal and high pressure, having excellent heat resisting properties, and further having low thermal expansion.例文帳に追加
ムライトが持つ高融点特性を損なうことなく、高温の溶湯との接触・高圧力の環境下においても焼着欠陥を起こさない、耐熱特性に優れ、更に、熱膨張の小さい球状ムライト質焼結体又は球状ムライト・コランダム質焼結体からなる、鋳物砂として好適な耐火粒子を提供する。 - 特許庁
The ink for correcting the minute defect in colored pattern contains monomer having at least a colorant, a dispersing agent, and a reactive functional group and a solvent, wherein the solvent contains 40-100 wt.% of a solvent (A) having boiling point of 160-250°C and specific evaporation rate of 40 or less based on the total amount of solvent.例文帳に追加
少なくとも、着色剤と、分散剤と、反応性官能基を有するモノマーと、溶剤を含有し、前記溶剤が、沸点が160℃〜250℃で、且つ比蒸発速度が40以下の溶剤(A)を溶剤全量に対して40重量%〜100重量%の範囲で含有することを特徴とする、微小着色パターン欠陥修正用インキ。 - 特許庁
Sensors 22-1-22-3 sense a motion of each actuator, each robot controller 20 transmits the motion to the multi-point connector 10, where ranking is made, the result is sequentially transmitted to the server 11 without crosstalk, the server 11 monitors the motion, transmits data to correct a defect as required, and each robot controller 20 rebuilds up its own program.例文帳に追加
各アクチュエータの動きは各々のセンサ22−1〜22−3により検出されロボット制御装置10を介して多地点接続装置10へ送られ、順位付けが行われ、混信しないように順次サーバ11へ送られ、サーバ11で監視され、必要に応じて不具合修正のデータを送出し、自己のプログラムを再構築する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing an SOI substrate which efficiently removes an ion implantation defect layer present in an ion-implantation layer near a flaked face flaked by an ion-implantation flaking method, obtains film thickness uniformity between substrates and in the surface of the substrate, and is also applied to the SOI substrate which uses low melting point material for a handle wafer.例文帳に追加
イオン注入剥離法によって剥離した剥離面近傍のイオン注入層に存在するイオン注入欠陥層を効率的に除去し、かつ基板間・基板面内の膜厚均一性を取ることができ、またハンドルウェーハに低融点材料を用いたSOI基板にも適用することのできるSOI基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
The system capable of constructing this plan drawing-up support system dispensing with construction of a massive database, and easily operated, is provided by providing three or more participators, and by setting roles of an operator A for making the decision, an operator B for analyzing the plan to point out a defect, and an operator C determining offense and defense of the both.例文帳に追加
3名以上の参画者を設け、意思決定を行う操作者A、計画を分析して欠点を指摘する操作者B、両者の攻防を判定する操作者Cの役割を設定することによって、膨大なデータベース構築を必要とせず、かつ操作が容易に計画立案支援システムの構築が可能となるシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a laminating composition for an auxiliary fixing body capable of minimizing a tensile stress peak during splicing, as there is possibility of big loss caused even by a trivial defect or the weak point of a process for exchanging a flying reel in a coating device due to high speed and large acceleration mass in the range of tons, and also to provide an adhesive tape.例文帳に追加
コーティング装置におけるフライングリール交換は、高速度と、トン範囲の大きな被加速質量とのために、このプロセスの周辺的な欠陥または弱点でさえも大きな損失をもたらす可能性があり、スプライシング中の引張応力のピークの最小化が出来る固定補助体用のラミネーティング組成物、接着テープを提供。 - 特許庁
A substrate surface 2 is irradiated with an electron beam 1 and has intensity for generating dislocation inside the substrate, and a range that is longer than the depth from the substrate surface 2 at the interface of two parts having different temperatures, in which a crystal defect begins to be generated in the depthwise direction of the substrate; and cracks with dislocation as a starting point are generated and form a cleavage plane 5, and the substrate is divided.例文帳に追加
基板表面2に、その強さが基板の内部に転位を生じさせる強さであり、またその飛程が基板の深さ方向において結晶欠陥が生じ始める、温度が異なる2つの部分の界面の基板表面2からの深さよりも長い電子ビーム1を照射し、転位を起点としたクラックを発生させて劈開面5を形成し、基板を分割する。 - 特許庁
The inspection device of the display device includes a pattern control part for controlling a pixel control part for controlling the state of a pixel disposed in the display device, and making the display device display an image pattern having a discrete point string, an imaging part for acquiring image information by imaging the image pattern, and an inspection part for inspecting a defect based on the image information.例文帳に追加
表示デバイスに設けられた画素の状態を制御する画素制御部を制御して前記表示デバイスに離散的な点列となるような画像パターンを表示させるパターン制御部と、前記画像パターンを撮像して画像情報を取得する撮像部と、前記画像情報に基づいて欠陥の検査を行う検査部と、を備えたことを特徴とする表示デバイスの検査装置が提供される。 - 特許庁
To provide an image forming device and its cleaning method capable of preventing an image defect such as a black point or void on a formed image by preventing the driving torque of a toner image carrier from being increased and abnormal sound such as chatter sound or jitter on the formed image from occurring and removing toner powder and the paste of label paper or the like which are electrostatically and physically firmly stuck.例文帳に追加
トナー像担持体の駆動トルクの増大、ビビリ音等の異音の発生、或は形成画像上のジッタの発生を防止すると共に、静電気的及び物理的に強く付着したトナー粉やラベル紙のノリ等を除去することにより、形成画像上に黒点や白抜けといった画像欠陥が生じるのを防止することができる、画像形成装置及びそのクリーニング方法を提供することを課題とするものである。 - 特許庁
The method for detecting and classifying pixel defects of the TFT array substrate includes a signal acquiring step for acquiring a detection signal from a plurality of detection signal acquiring points in one pixel and a signal processing step for dividing one pixel into a plurality of regions and performing defect judgement in the pixel using the divided region as one unit by using the detection signal in the detection signal acquiring point existing in each divided division processing region.例文帳に追加
TFTアレイ基板のピクセル欠陥を検出し分類する方法であり、1ピクセル内の複数の検出信号取得点から検出信号を取得する信号取得工程と、1ピクセルを複数の領域に分割し、分割した各分割処理領域内に存在する検出信号取得点の検出信号を用いて、分割領域を単位としてピクセル内の欠陥判定を行う信号処理工程とを備える。 - 特許庁
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