「Point defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Each of the photonic crystals 10a, 10b has a two-dimensional periodical structure of a refractive index and is designed so as to have transmission characteristics transmitting only light with a specified wavelength region, for example by introducing a point defect.例文帳に追加

各フォトニック結晶１０ａ，１０ｂは、２次元の屈折率周期構造を有し、例えば点欠陥を導入することによって所定の波長域の光のみを透過する透過特性を有するように設計してある。 - 特許庁

To provide a final defect marking apparatus which can rapidly and reliably implements the final defect marking on a film carrier tape for mounting electronic components with defect marking based on the results of various quality inspections for defects such as disconnection, short circuit, chipping and projections in a previous step before shipping at a point and by a method designated by a user.例文帳に追加

前行程で電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良である断線、短絡、欠け、突起などの各種の品質検査の結果に基づいて不良表示を行った電子部品実装用フィルムキャリアテープについて、出荷前に電子部品実装用フィルムキャリアテープ上に、ユーザの指定する箇所ならびに指定する方法で、最終的に不良表示を迅速かつ確実に施すことの可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの最終不良マーキング装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that proper normalization cannot be performed to cause a defect in gradations if a color gamut of a print image and a color gamut of color data supplied to the printer are normalized with a black point as reference when a color value of the black point of the color gamut in the print image printed by the printer is not the darkest value.例文帳に追加

印刷装置で印刷された印刷画像における色域の黒点の色彩値が最暗でない場合に、そのような黒点を基準にこの印刷画像の色域とこの印刷装置に供給される色データの色域とを規格化すると、適切な規格化を行うことができず、階調性に不具合が発生する。 - 特許庁

An ultrasonic beam B is emitted toward an artificial defect 200 formed in a position corresponding to a point of inspection object 300 in advance, and a driving electric signal S3 in which a difference in delay time is set based on the reflected wave R is prepared.例文帳に追加

事前に、検査対象箇所３００に対応した位置に形成した人工欠陥２００に向けて超音波ビームＢを発し、その反射波Ｒに基づいて遅延時間の差を設定した駆動用電気信号Ｓ３を用意する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of semiconductor device including a polishing step for preventing generation of a defect of insulating film after the polishing process, controlling the polishing of a stopper film and readily detecting the final point of the polishing process.例文帳に追加

研磨後の絶縁膜の欠陥の発生を防止し、ストッパー膜に対する研磨を抑制し、研磨の終点の検出を容易に行なうことを可能とする研磨工程を備える半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a temper rolling method which can reduce a length of a stretch rate defect portion by making a stretch rate of a following steel sheet reach a set stretch rate in a short period of time after a welding point of a precedent steel sheet and the following steel sheet passes through a mill.例文帳に追加

先行鋼板と後行鋼板の溶接点通過後に、後行鋼板の伸び率を設定伸び率まで短時間で到達させて、伸び率不良部の長さを低減することが可能な調質圧延方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, there is not a risk that the low-melting-point fusible alloy 2 between the pair of lead conductors 1, 1 has a defect in blowout due to a rise in ambient temperature of the temperature fuse or is unevenly distributed on the lead conductor 1 to one side along the width.例文帳に追加

このため、温度ヒューズの周囲の温度上昇によって一対のリード導体１、１間の低融点可溶合金２が溶断不良する虞がなく、リード導体１上において幅方向一方に偏在する虞がない。 - 特許庁

To enable a local residual level difference and point defect resistance to be enhanced, and conditioning to be performed when abrasive grains are accumulated for the buffing of a polishing target film which has been chemicomechanically polished.例文帳に追加

化学的機械研磨が行なわれた被研磨膜に対してバフ研磨を行なう際に、局所的な残存段差及び点欠陥耐性を向上させると共に、研磨砥粒が蓄積されたときにコンディショニングを行なえるようにする。 - 特許庁

Furthermore, by operating the element drive transistor in its saturation region, a dark point defect due to characteristics fluctuation of the element drive transistor is detected based on the cathode current and the emission luminance when the EL element is made an emission level.例文帳に追加

また素子駆動トランジスタをその飽和領域で動作させてＥＬ素子を発光レベルとしたときのカソード電流や発光輝度に基づくことで素子駆動トランジスタの特性ばらつきに起因した暗点欠陥を検出する。 - 特許庁

In the method, a stain defect enhancing filter enhances the stain defects, surrounded by luminance comparison pixels S1-S32, based on the average of luminance differences between an object pixel O and two luminance comparison pixels which are set on point-symmetry positions.例文帳に追加

本発明のシミ欠陥強調フィルタは、点対称位置でセットとされた２つの輝度比較画素の対象画素Ｏに対する輝度差の平均値などに基いて、輝度比較画素Ｓ１〜Ｓ３２で囲まれたシミ欠陥を強調する。 - 特許庁

To provide the configuration of a semiconductor device for suppressing any influence due to defect factor impurity such as carbon, nitride or oxygen in a semiconductor device including point defects for adjusting a reverse recovery time and a method for manufacturing this semiconductor device.例文帳に追加

逆回復時間を調整するための点欠陥を含む半導体デバイスにおいて、炭素，窒素または酸素などの欠陥要因不純物による影響を抑えるための半導体デバイスの構成とその製造方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, defect/failure and generation of inner contamination of production installation caused by fragment of film peeling of the oxide film 107 of a high melting point metal formed in the rear of the semiconductor wafer 101 can be prevented.例文帳に追加

これにより、半導体ウエハ１０１の裏面に形成された高融点金属の酸化膜１０７が膜剥離を起こして膜剥離した破片による欠陥不良および生産設備内部汚染を発生することを防止することができる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of suppressing generation of local peeling of colored film resulting from development processes and thus, generation rate of failures such as point defect is reduced and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

現像工程に起因して着色膜の局所的な剥がれが発生するのを抑制し、これにより、点欠陥等の不良の発生率を低減することができる液晶表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Even in the case when each measuring point m is irradiated with the light cast thereon in superposition from the LED elements L in a plurality, a defect in the operation of a single one of the LED elements L can be detected and therefore accurate determination of the nonuniformity in the quantity of light becomes possible.例文帳に追加

各測定点ｍに複数のＬＥＤ素子Ｌからの光が重畳して照射される場合であっても単一のＬＥＤ素子Ｌの動作不良を検出できるので正確な光量むら判定が可能になる。 - 特許庁

To provide a digital data receiving apparatus for solving a problematical point of occurrence of frozen image or sound or like defect due to occurrence of discontinuous intervals in switched TS data caused by system switching executed when a phase difference exists between received signal systems.例文帳に追加

受信した各信号系統間に位相差がある場合に系統切替を行うと、切り替えたＴＳデータに不連続区間が生じ、画像、音声にフリーズ等が生じるという問題点を解決したデジタルデータ受信装置の実現。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a branched tube by which an inner face protrusion as a defect of a low melting point metal filling method excellent in workability is easily removed and the branched tube having an uniform branching property and high quantity is manufactured at a low cost.例文帳に追加

加工性に優れた低融点金属充填加工法の欠点である内面突起を容易に除去し、分岐特性の均一な高品質の分岐管を安価に製造することのできる分岐管の製造方法を提供する。 - 特許庁

The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。 - 特許庁

In the process of the increase, the power of the laser light source of the 1st microscope 21A is gradually decreased to make electrons (current) based upon internal photoelectron effect flow, thus obtaining an abnormal point based upon an actual crystal defect, etc.例文帳に追加

この上げていく過程で、同時に、第１マイクロスコープ２１Ａのレーザ光源のパワーをゆっくり下げていき、内部光電子効果に基づく電子（電流）が流れるようにして、実際の結晶欠陥等に基づく異常点を得る。 - 特許庁

Number 1 shows a substrate 2, shows SiO_2 layer, 3 shows a Si layer, 4 and 5 show lattice point rows, a stands for lattice constant and W stands for the distance between centers of adjacent lattices of both sides interposing a lattice defect therebetween in a case where a row of lattice is simply eliminated.例文帳に追加

１は基板、２はＳｉＯ_２層、３はＳｉ層、４、５は格子点列、ａは格子定数、Ｗは単純に格子を１列抜いた場合の欠陥を挟んだ両側の最近接格子の中心間距離である。 - 特許庁

To provide a coating liquid for forming an underlayer having high stability, a photoreceptor for electronic photography of high performance and long life hardly generating image defect such as black point or colored point capable of forming high quality images under various living environment, image forming device using the photoreceptor, and an electronic photograph cartridge using the photoreceptor.例文帳に追加

高い安定性を有する下引き層形成用塗布液、様々な使用環境下でも高い画質の画像を形成することが可能で、しかも黒点や色点などの画像欠陥が発現し難い高性能で長寿命の電子写真感光体、該感光体を用いた画像形成装置、および前記感光体を用いた電子写真カートリッジを提供する。 - 特許庁

Since the first grooves 1a and the second grooves 1b are not made to cross directly, a crack 104 exceeding the limit rarely occurs at each cross point 2, and the chip 10b obtained by this cleaving method rarely has damages such as a corner defect at the corner 3.例文帳に追加

第一溝１ａと第二溝１ｂとを直接交差させないことで、交差部２に過剰なクラック１０４が導入されにくく、本発明劈開方法を用いて得られたチップ１０ｂは、角部３に欠けなどの損傷が生じにくい。 - 特許庁

To provide a four-point contact ball bearing capable of preventing the occurrence of a lubrication defect and extending a life time thereby, even when loaded in the condition of zero offset quantity to the center in a shaft direction of a track groove.例文帳に追加

軌道溝の軸方向の中心に対するオフセット量が零の状態で荷重が加えられたときでも、潤滑不良が発生するのを防止することができ、よって長寿命化を図ることができる４点接触玉軸受を提供する。 - 特許庁

To provide a monochrome condenser for a neutron beam which can eliminate the defect of the difficulty in curved surface control based on conventional mechanical methods, enables point light-gathering in mm size and can generate high-intensity neutron beams at low costs.例文帳に追加

従来の機械的方法に基づく曲面制御の困難という欠点を解消し、mmサイズの点集光を可能とし、低コストで高輝度中性子ビームを創成することができる中性子線の単色集光装置を提供する。 - 特許庁

According to the method, impurity pile up on the Si/SiO2 interface which can not be represented by a conventional Fair model can be represented without solving the diffusion equation related to point defect (i.e., without using a conventional pair diffusion model).例文帳に追加

この方法によれば，従来のＦａｉｒモデルでは表せなかったＳｉ／ＳｉＯ_２界面における不純物パイルアップを，点欠陥に関連した拡散方程式を解くことなく（すなわち従来のペア拡散モデルを用いず）表すことが可能となる。 - 特許庁

To provide a charging unit that maintains the cleanability of a charging member, hardly pollutes the charging member even when the charging member and a charging member clean-up member are stored in a contact state, and suppresses the occurrence of density unevenness or an image quality defect such as a color point.例文帳に追加

帯電部材のクリーニング性を維持しつつ、帯電部材と帯電部材清掃部材とを接した状態で保管した場合でも、帯電部材を汚染しにくく、濃度むら、色点等の画質欠陥の発生を抑制する帯電装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which can manufacture a poly crystalline silicon TFT array substrate high in reliability without generating defective displays, such as point defect by preventing the deviation of patterning resulting from thermal expansion or shrinkage of a glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板の熱膨張あるいは収縮に起因したパターニングのずれを防止し、点欠陥等の表示不良を生じることのない信頼性の高い多結晶シリコンＴＦＴアレイ基板を製造可能な製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To eliminate a defect in a photoreceptor mounted directly with a negative charge type single layer photosensitive layer on a conductive substrate, and to form an image of high quality without generating a fog and a black point.例文帳に追加

負帯電型単層感光層を導電性基体上に直接設けた感光体における欠点を解消し、カブリや黒点の発生がなく、高品質の画像を形成しうる負帯電単層型電子写真感光体を提供するにある。 - 特許庁

Thus, when oscillating the rail segment, only by the side edge comes into point contact with the sliding projection on the rack side, plate, the operating defect of the pendulum type rail segment caused by slide friction resistance is prevented and the attitude of the commodity can be smoothly controlled.例文帳に追加

これにより、レールセグメントが揺動する際には、その側縁がラック側板の摺動突起と点接触するだけで、その摺動摩擦抵抗による振り子式レールセグメントの動作不良を防止して円滑な商品の姿勢制御が行える。 - 特許庁

When an inspection result indicating that a chip has a defect in electrical characteristics is repeated ten times continuously, whether the cause is due to adhesion or attachment of an insulating substance on the probe head or not is judged by conducting a needle-point test using the test pattern T.例文帳に追加

チップの電気的特性が不良であるという検査結果が、１０回連続して得られた時には、その原因がプローブ先端への絶縁物の固着や付着にあるかどうかを、テストパターンＴを使用した針先テストを行って判断する。 - 特許庁

To obtain the manufacturing method for a master for heat sensitive stencil printing, in which the lowering of the smoothness of the surface of a film is small when master raw textiles are reeled-up in a roll, no defect such as white point or the like develops in a printed image, the printed image excellent in image quality can be obtained.例文帳に追加

マスタ原反をロール状に巻き取ったときのフィルム表面の平滑度の低下が小さく、印刷画像に白点等の欠点が発生しない、画質の優れた印刷画像が得られる感熱孔版印刷用マスタの製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element using ferroelectric liquid crystal, wherein the display element is excellent in orientation stability, such that a mono-domain orientation of ferroelectric liquid crystal can be obtained without formation of orientation defects such as zigzag defect, hairpin defect and double domain, and the orientation can be maintained even when the temperature is raised to a phase transfer point or higher.例文帳に追加

本発明は、強誘電性液晶を用いた液晶表示素子において、ジグザグ欠陥、へアピン欠陥やダブルドメイン等の配向欠陥が形成されることなく強誘電性液晶のモノドメイン配向を得ることができ、相転移点以上に昇温してもその配向を維持することができる配向安定性に優れた液晶表示素子を提供することを主目的とする。 - 特許庁

Even if a short-circuit defect between the pixel electrode and auxiliary capacity line occurs, no bright point is displayed nearly throughout a period wherein the potential of the auxiliary capacity line is equal to the common potential Vcom to improve the display quality of the display device.例文帳に追加

よって、画素電極と補助容量線との短絡不良が生じる場合であっても、補助容量線の電位が共通電位Ｖｃｏｍと同一であるほとんどの期間において輝点が表示されず、表示装置の表示品位を高めることができる。 - 特許庁

To provide management method of an etching liquid, by which a removal defect of a transparent conductive film caused by overlooking a time point for supplement or exchange of the etching liquid is not generated when a dummy substrate is subjected to acid treatment in regeneration of a color filter or dummy substrate; and to provide a glass substrate-regenerating device.例文帳に追加

カラーフィルタ又はダミー基板の再生にて、ダミー基板を酸処理に投入した場合、エッチング液の補充或いは更新の適切な時点を見過ごし、透明導電膜の除去不良を発生させないエッチング液の管理方法、ガラス基板再生装置。 - 特許庁

The transmitted light transmitted through the sample 1 is compared with the light intensity of transmitted light transmitted through a normal part, to thereby detect a defect 12 in the sample 1 from the scanning quantity of the measuring device 4 from the scanning base point where decline of the light intensity of the transmitted light is seen.例文帳に追加

試料１を透過した透過光を、正常部を透過した透過光の光強度と比較して、透過光の光強度の低下が見られる時の走査基点からの測定器４の走査量から試料１における欠陥１２を検出する。 - 特許庁

The method includes a step of filtering the ultrasonic response signal from each measurement point and generating a plurality of filtered response signals for respective measurement points where each filtered response signal corresponds to a specific type defect.例文帳に追加

本方法は、各測定箇所からの超音波応答信号をフィルタリングし、各測定箇所に対して複数のフィルタリング済み応答信号を生成する段階であって、各フィルタリング済み応答信号は特定種類の欠陥に対応するという段階を含み得る。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a composite substrate preventing a light emission abnormal point by processing only a part of a defect caused by foreign matter such as dust or dirt involved by dielectric printing or the like after baking, and having a high yield; and to provide the composite substrate and an EL element.例文帳に追加

誘電体印刷などにより巻込まれた塵、埃等の異物により生じた欠陥を、焼成後にその部分だけ処理することによって、発光異常点を防ぎ、歩留まりのよい複合基板の製造方法、複合基板、およびＥＬ素子を提供する。 - 特許庁

In the product inspection, comparison check is carried out by driving an actually manufactured liquid crystal display device 10 where the point-like defect is corrected, and displaying the actually corrected pixel part and the pseudo-corrected pixel part by the simulation on the screen of the liquid crystal display device 10 at the same time.例文帳に追加

製品検査においては、実際に製造され点状欠陥が修正された液晶表示装置を駆動し、液晶表示装置の画面に実際の修正画素部と、シミュレーションによる擬似的な修正画素部とを同時に表示し、比較検査を行う。 - 特許庁

To obtain an ink composition which has especially high discharge stability, excellent hue, color development, weather resistance, water resistance, ozone resistance and no defect in terms of image quality in water-based ink advantageous from the view point of handleability, odorlessness, safety, etc., and to provide a method for inkjet recording.例文帳に追加

取扱い性や無臭性、安全性等の観点から有利な水性インクにおいて、特に吐出安定性が高く、色相や発色性、耐候性、耐水性、耐オゾン性に優れ、画質面での欠点がないインク組成物及びインクジェット記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a coating liquid for forming under coating layer which has high stability, to provide an electrophotographic photosensitive body which can form a high-quality image even in various usage environments, moreover, hardly discloses an image defect such as black point and color point and has a high performance, and to provide an image forming apparatus and an electrophotographic cartridge using the electrophotographic photosensitive body.例文帳に追加

高い安定性を有する下引き層を形成するための塗布液の製造方法、様々な使用環境下でも高い画質の画像を形成することが可能で、しかも黒点や色点などの画像欠陥が発現し難い高性能の電子写真感光体、および、該電子写真感光体を用いた画像形成装置及び電子写真カートリッジを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a coating liquid for forming under coating layer which has high stability, to provide an electrophotographic photosensitive body which can form a high-quality image even in various usage environments, moreover, hardly discloses an image defect such as black point and color point and has a high performance, and to provide an image forming apparatus and an electrophotographic cartridge using the electrophotographic photosensitive body.例文帳に追加

高い安定性を有する下引き層を形成するための塗布液の製造方法、様々な使用環境下でも高い画質の画像を形成することが可能で、しかも黒点や色点などの画像欠陥が発現し難い高性能の電子写真感光体、および、該電子写真感光体を用いた画像形成装置及び電子写真カートリッジを提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for manufacturing a mask blank substrate comprising a substrate having two main surfaces opposing to each other includes: a step of polishing the two main surfaces of the substrate; and a step of correcting a surface defect present on the main surface of the substrate by bringing flame at a burning temperature equal to or higher than the softening point of the substrate into contact with the surface defect.例文帳に追加

対向する２つの主表面を有する基板からなるマスクブランク用基板の製造方法であって、前記基板の２つの主表面を研磨する工程と、前記基板の主表面に存在する表面欠陥に対して、前記基板の軟化点以上の燃焼温度の火炎を接触させて前記表面欠陥を修正する工程とを有することを特徴とするマスクブランク用基板の製造方法である。 - 特許庁

An element drive transistor for controlling a drive current to supply to an EL element is operated in its linear region and a demerit point defect due to short circuit of the EL element is detected based on the emission luminance or a cathode current when the EL element is made an emission level.例文帳に追加

ＥＬ素子に供給する駆動電流を制御するための素子駆動トランジスタをその線形領域で動作させ、ＥＬ素子を発光レベルとしたときの発光輝度又はカソード電流に基づくことで、ＥＬ素子のショートに起因した滅点欠陥を検出する。 - 特許庁

When a point defect is found by array inspection, a laser cut section 61 is set up in the bridge 66 between a first sub-pixel pattern 6A-1 of a small right triangular one positioned at a corner of a pixel electrode 6, and a second sub-pixel pattern 6A-2 of a large area.例文帳に追加

アレイ検査により点欠陥が発見された際には、画素電極６の一隅に位置する小さな直角三角形状の第１のサブピクセルパターン６Ａ-１と、大面積の第２のサブピクセルパターン６Ａ-２との間にて、ブリッジ部６６にレーザーカット部６１が設けられる。 - 特許庁

To provide a toner in which the occurrence of a belt-like or stripe-like image defect is suppressed in a fixed image to be formed while a sufficient mold releasability is obtained by using a release agent of a low melting point, and in which the satisfactory fixed image can be obtained; and to provide an image forming method using the same.例文帳に追加

低融点の離型剤を用いて十分な離型性が得られながら、形成される定着画像において帯状やスジ状の画像欠陥の発生が抑制され、良好な定着画像を得ることができるトナーおよび画像形成方法の提供。 - 特許庁

To provide a highly accurate drift correction method with which a photomask is scarcely damaged, by solving problems associated with the conventional photomask correction method using a one-point-drift correction such as occurrence of a scan damage on a place other than a place with a defect on the photomask, inability to open any pin hole in the case of a fine pattern, and so on.例文帳に追加

ワンポイントドリフト補正を用いた従来のフォトマスク修正方法の抱えるフォトマスク上の欠陥以外の箇所にスキャンダメージが生じる、微細パターンの場合にピンホールを開けることができないといった問題を解決し、ダメージの少ない、精度のよいドリフト補正方法を提供する。 - 特許庁