「Spectrometer」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

In an ion mobility spectrometer, a linearity of a flying route of an ion is improved at a non-linear drift region by a reinforced electric field caused by extensions of guard rings to the non-linear drift region.例文帳に追加

非直線ドリフト領域への保護リングの延長による強化電界によって、非直線ドリフト領域でのイオンの飛行経路の直進性を改良したイオン移動度分光計。 - 特許庁

To provide an optical spectrometer with a superior measuring accuracy in particular for light in an ultraviolet region, and in particular for light in a far ultraviolet region and a vacuum ultraviolet region, and to provide a spectroscope being employed in the spectral metering device.例文帳に追加

特に紫外領域の光、特に遠紫外、真空紫外領域に於て、測定精度の優れた分光測定装置及び既装置に用いられる分光器を提供する。 - 特許庁

The spectrometer includes an RF circuit and an antenna 10 required for communicating with a guidedly connected reading device in a conventional remote measuring method.例文帳に追加

さらに、上記の移植可能な装置は誘導的に連結する読取装置に対して従来的な遠隔測定法により通信するために必要なＲＦ回路およびアンテナ（１０）を備えている。 - 特許庁

Further, the drug sensitivity test is conducted for the substance relating to the metabolism of synthesis substance by comparing a result of the mass spectrometer of the case where the chemical is added with the result of the case where the chemical is not added.例文帳に追加

さらに、合成基質の代謝に関連する物質について、薬剤添加と無添加の場合との質量分析結果を比較して、薬剤感受性試験を行う。 - 特許庁

This spectrometer includes an incident fiber 10, two parabolic mirrors 20, 28, a plane diffraction grating 22, two plane mirrors 24, 26, an outgoing slit 30 and a photo detector 32.例文帳に追加

この分光器は、入射ファイバ１０、２つの放物面鏡２０、２８、平面回折格子２２、２つの平面鏡２４、２６、出射スリット３０、光検出器３２を含んで構成されている。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry apparatus capable of restraining contamination of a mass spectrometer from being generated, and capable of preventing detection sensitivity from getting worse, when measuring an unknown concentration of liquid sample.例文帳に追加

濃度不明の液体試料を測定する場合に、質量分析計の汚染の発生を抑制し、検出感度の低下を防止することができる質量分析装置を実現する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer that allows replacement of a filament to be simply be completed in a short time and also allows the center of the filament to be always arranged at the center of a converging magnet.例文帳に追加

簡単に、短時間でフイラメントの交換作業が完了し、かつフイラメント中心を収束磁石の中心に常に配置することができる質量分析計を提供する。 - 特許庁

To enhance a time resolution when executing scanning in one or both of the first stage quadrupole and the third stage quadrupole, in a triple quadrupole mass spectrometer.例文帳に追加

３連四重極型質量分析装置において、第１段四重極又は第３段四重極の一方又は両方でスキャンが実行される際の時間分解能を向上させる。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer, with an ion source which is excellent in the coaxiality of an air sending passage with a liquid sending pipe by guiding the liquid sending pipe to the center axis of the air sending passage precisely.例文帳に追加

送液管を精度よく送気流路の軸中心に導くようにして、送気流路と送液管との同軸性に優れたイオン源を備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vacuum analyzing device capable of evacuating an ion source and a gas evacuation pipe into sufficient high vacuum in a short time without lowering the degree of vacuum of a mass spectrometer.例文帳に追加

質量分析室の真空度を低下させることなく、短時間で十分な真空度までイオン源及びガス供給管を排気することができる質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope prevented from unnecessarily restricting the flexibility in a set magnification of an image focused by an electron beam spectrally diffracted by an electron spectrometer.例文帳に追加

電子分光器により分光された電子ビームにより結像される像の設定倍率の自由度に不必要な制限が加わらない透過型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a TEG for stress evaluation which is capable of accurately measuring and evaluating residual stresses in substrates due to anodic bonding of them by using a microscopic Raman spectrometer.例文帳に追加

陽極接合によって生じた基材の残留応力を、顕微ラマン分光装置を用いて正確に測定及び評価することができる応力評価用ＴＥＧを提供する。 - 特許庁

To provide a multi-spectral two-dimensional imaging spectrometer capable of acquiring separated two-dimensional images of a spectrum at the same time in real time while keeping the spatial perfectness of images.例文帳に追加

本発明は、画像の空間的な完全さを維持しながら実時間で同時にスペクトルの分離した二次元画像を取得する多重スペクトル二次元結像分光計を提供する。 - 特許庁

This laser ablation mass spectrometer 1 of the present invention includes a sample stage 10, a laser irradiation part 20, a pneumatic conveying system 30, an ion source 40 and an analytical part 50.例文帳に追加

本発明にかかるレーザーアブレーション質量分析装置１は、試料ステージ１０と、レーザー照射部２０と、気流搬送系３０と、イオン源４０と、分析部５０とを備えている。 - 特許庁

An analysis result by the reflectron type mass spectrometer 13 is reported to an analysis part 21, and is referred to for identifying ions detected by the position sensing type ion detector 11.例文帳に追加

リフレクトロン型質量分析器１３による分析結果は、解析部２１に通知され、位置感知型イオン検出器１１により検出されたイオンの同定のために参照される。 - 特許庁

To provide a parallel magnetic field type Rutherford back-scattering analyzer capable of distinguish the number of cyclotron circulations of scattered ions without providing unnecessary devices in the inside of a superconductive spectrometer.例文帳に追加

超伝導スペクトロメータ内部に余計な装置を設けることなしに，散乱イオンのサイクロトロン周回数を判別することが可能な平行磁場型ラザフォード散乱装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid chromatograph mass spectrometer capable of raising ionization efficiency of an ionization interface without lowering the flow rate of a liquid sample to be transmitted from a liquid chromatograph.例文帳に追加

液体クロマトグラフから送出される液体試料の流量を低くすることなく、イオン化インターフェイスのイオン化効率を高めることができる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The content and the structure of a molecule can be directly determined by allowing another analytical test device such as a mass spectrometer to pass through the eluate after elution.例文帳に追加

溶出に続いて、溶出物に質量分光計のような他の分析試験装置を通過させることによって、分子の含量及び構造を直接決定することが可能である。 - 特許庁

In an ion source 5 for a mass spectrometer which is equipped with a filament 52 and a grid 51 and ionizes gas, the grid has a cylindrical profile and the filament is inserted in this grid.例文帳に追加

フィラメント５２及びグリッド５１を備えてガスをイオン化する質量分析計用のイオン源５においては、グリッドが筒状の輪郭を有し、このグリッド内にフィラメントが挿設されている。 - 特許庁

The gas in the vacuum vessel taken into the mass spectrometer, electrons are added therein to particles in the gas and counting values for negative ions of particles, e.g. specific radicals which are ionized are measured.例文帳に追加

この質量分析装置において、真空容器内のガスを取り込み、そのガス中の粒子に電子を付加し、粒子例えば特定のラジカルがイオン化された負イオンの計数値を測定する。 - 特許庁

By this, because mass analysis time of the ions accumulated in the linear ion trap is shortened, ion utilization rate is improved, and as a result, the detection sensitivity of the mass spectrometer is improved.例文帳に追加

これにより、リニアイオントラップに蓄積されたイオンの質量分析時間が短縮されるため、イオン利用率が向上し、その結果、質量分析装置の検出感度が向上する。 - 特許庁

If the magnetic material used in the EELS spectrometer suffers from hysteresis, greater nonlinearity can be expected (particularly at the beginning of each scan of the energy-loss spectrum). 例文帳に追加

もし、EELS分光器に使われる磁性材料がヒステリシス(履歴現象)を被る(蒙る)と、より大きな非線形性が期待される(特に、エネルギー損失スペクトルの個々のスキャンの始まりにおいて)。 - 科学技術論文動詞集

The WDM signal monitor is provided with both a spectrometer in which a plurality of photodiodes are arranged in a prescribed direction to disperse the wavelengths of optical signals in a prescribed direction and receive each dispersed optical signal with every couple of elements of the photodiodes and a power operation means for determining the total power of the optical signals on the basis of output of the photodiodes of the spectrometer which receives the optical signals.例文帳に追加

本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散し、分散した各光信号をフォトダイオード１素子おきに受光する分光器と、光信号を受光する分光器のフォトダイオードの出力によって光信号のトータルパワーを求めるパワー演算手段とを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁

There are provided an ionizing part 1 for ionizing a sample, an ion transport system 3 which uses a high-frequency field of the multipole of at least quadrupole field, an ion incident part 4 which makes ions passing through the transport system incident on the mass spectrometer part, a mass spectrometer part 5 which separates and analyzes ions by mass-to-charge ratio of ions, and a detecting part 6 to detect ions analyzed for mass.例文帳に追加

試料をイオン化するイオン化部１と、４重極場以上２の多重極の高周波場を用いるイオン輸送系３と、前記輸送系を通過したイオンを質量分析部に入射させるイオン入射部４と、イオンの質量対電荷比によってイオンを分離分析する質量分析部５と、質量分析されたイオンを検出する検出部６とを備える。 - 特許庁

The WDM signal monitor is provided with both a spectrometer in which a plurality of photodiodes are arranged in a prescribed direction to disperse the wavelengths of optical signals in a prescribed direction and receive each optical signal with two elements of the photodiodes and an operation part for computing at least either the wavelengths or optical power of the optical signals on the basis of measurement data of the two elements as a group outputted from the spectrometer.例文帳に追加

本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散して、各光信号あたり２素子のフォトダイオードで受光する分光器と、分光器からの出力される２素子を組とした測定データから、光信号の波長または光パワーの少なくとも一方を演算する演算部とを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁

To reduce lowering of detecting accuracy caused by sputter particles adhering again to a specimen and remaining gas in a specimen compartment adhering to the sputter particles, in a secondary ion mass spectrometer to detect only a desired element in the specimen by irradiating the specimen with a primary ion beam and analyzing a secondary ion generated by the irradiation by a mass spectrometer.例文帳に追加

試料３５に１次イオンビーム３２を照射し、それによって発生した２次イオン３６を質量分析計４０で分析して、試料３５中の所望とする元素のみを検出するようにした２次イオン質量分析装置において、スパッタ粒子の試料３５への再付着や、試料室内の残留ガスのスパッタ粒子への付着などによる検出精度の低下を低減する。 - 特許庁

The collected sample is dissolved into an acid solvent to generate sample solution 4, and the sample solution 4 is introduced into an inductively coupled plasma emission spectrometer 10 or an inductively coupled plasma mass spectrometer, to thereby perform concentration analysis of the sample in the sample solution 4, namely, a prescribed element such as lead or cadmium included in the electroless nickel plating 2.例文帳に追加

そして、その採取した試料を酸の溶剤に溶解させて試料溶液４を生成し、その試料溶液４を誘導結合プラズマ発光分析装置１０若しくは誘導結合プラズマ質量分析装置に導入することによって試料溶液４中の試料、すなわち無電解ニッケルめっき２に含まれる鉛及びカドミウム等の所定元素の濃度分析を行う。 - 特許庁

The ion implanting device 101 comprises an ion source 11 which generates and extracts ion beam IB, a mass spectrometer 12 having a magnet, an ion beam convergence part such as an electrostatic lens and Q lens (four-pole lens), and an ion beam emittance measuring mechanism 15 between the ion source 11 and the mass spectrometer 121, preferably at the rear stage of the electrostatic lens 141.例文帳に追加

イオン注入装置１０１は、イオンビームＩＢを発生、引き出すイオン源１１、マグネット（電磁石）を有する質量分析器１２、イオンビームを加速する加速器１３、静電レンズ、Ｑレンズ（４極レンズ）等のビーム収束部１４、そして、イオン源１１と質量分析器１２１の間、好ましくは静電レンズ１４１の後段にイオンビームエミッタンス測定機構１５が設けられる。 - 特許庁

The ionizing chamber 31 connected to a mass spectrometer 32 is maintained in a vacuum state of approximately 10-6-10-3 Torr by a vacuum pump 33, and the dioxins in the ionizing chamber 31 are selectively ionized by pulse laser light 35 (wavelengths of 200-400 nm) emitted from a laser 34 for ionization, and the ionized dioxins are determined by the mass spectrometer 32.例文帳に追加

質量分析計３２に通じるイオン化室３１は、真空ポンプ３３により約１０^-6torr〜約１０^-3torrの真空状態に保たれており、イオン化用レーザ３４から放出されたパルスレーザ光３５（波長２００〜４００ｎｍ）によって、イオン化室３１の中のダイオキシン類は選択的にイオン化され、イオン化したダイオキシン類は質量分析計３２によって定量される。 - 特許庁

This method is a method in which a film is extracted with an extrapure water, and then the extracted liquid is measured using an ion chromatography, an in-liquid particle counter, a combined induction plasma-mass spectrometer, and an atomic absorption photometer.例文帳に追加

フィルムを超純水で抽出し、その抽出液をイオンクロマトグラフ、液中パーティクルカウンター、結合誘導プラズマ−質量分析計、原子吸光分光光度計により測定する方法である。 - 特許庁

To provide a gas analyzing apparatus using a mass spectrometer for precisely measuring even the constituent of ultra-low concentration that is superb in quantitative properties in spite of inexpensive and simple configuration.例文帳に追加

安価で構成が簡単でありながらも、定量性に優れ超低濃度の成分をも高感度、高精度で測定することのできる、質量分析計を用いたガス分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ion source for a mass spectrometer, wherein an inner chamber is easily attached to and detached from a base chamber, the stability of an ionizing current, an emission current, and ionization efficiency is excellent, and reproducibility is excellent.例文帳に追加

ベースチャンバーとインナーチャンバーとの着脱が容易で、しかも、イオン化電流、エミッション電流、イオン化効率等の安定性、再現性に優れた質量分析装置用イオン源を提供する。 - 特許庁

In this liquid chromatograph mass spectrometry apparatus, the mass spectrometer starts measurement by a sample injection signal from an autosampler, and judges whether a peak exceeding a reference peak M is measured during the measurement or not.例文帳に追加

液体クロマトグラフ質量分析装置において、質量分析計はオートサンプラのサンプル注入信号により、測定を開始し、測定中に基準ピークＭを超えるピークが測定されたか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry using a multiple circuiting flight time mass spectrometer in which a proper calibration can be performed and measuring errors can be reduced.例文帳に追加

本発明は，適切にキャリブレーションを行うことができ，測定誤差を少なくできる多重周回飛行時間型質量分析計を用いた質量分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an interface for an inductively coupled plasma mass spectrometer capable of performing stable measurement longer than conventional especially for a sample including a matrix of a high fusing point.例文帳に追加

特に高融点のマトリックスを含むサンプルに対して、従来よりも長時間にわたり安定した測定を実現可能とする、誘導結合プラズマ質量分析装置のための改良されたインターフェースの提供。 - 特許庁

A window 15 is formed in a production gas feed pipe 12 to feed a combustible production gas, produced in a gasifying furnace, to a burner 11, and a photodetector 16 connected to a Raman spectrometer 17 is positioned facing the window.例文帳に追加

ガス化炉で生成された可燃性生成ガスをバーナ１１に供給する生成ガス供給管１２に、窓１５を設け、ラマン分光計１７に接続された光検出器１６を対向させる。 - 特許庁

To provide a three-dimensional ion scattering spectroscopy and a spectrometer wherein it is possible to carry out a detailed structural analysis in a shorter time than before and to suppress the radiation damage given to the sample.例文帳に追加

従来に比べて短時間で詳細な構造の解析を行うことができ、試料に与える照射損傷も抑制することのできる３次元イオン散乱分光法及び分光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tandem TOFMS (time of flight mass spectrometer) capable of imparting a desired mass resolution to a first MS (mass analyzer) when using the TOFMS of which the flight distance is shorter than the flight distance to give desired mass resolution for the first MS.例文帳に追加

第１MSに所望する質量分解能を与える飛行距離よりも短い飛行距離のTOFMSを用いて、所望する質量分解能を与えることが可能なタンデムTOFMSを提供する。 - 特許庁

To reconfigure a mass spectrum of which not only the mass resolution is high but also the peak strength precision is high, on the basis of a time-of-flight mass spectrum obtained by a multiplex circular time-of-flight type mass spectrometer.例文帳に追加

多重周回飛行時間型質量分析装置で得られた飛行時間スペクトルに基づいて、質量分解能が高いのみならずピーク強度の精度も高いマススペクトルを再構成する。 - 特許庁

To identify a sample using a simple device, by ionizing the sample immediately by irradiating the sample with a laser, and by introducing the ionized sample to a mass spectrometer.例文帳に追加

本願発明の課題は、試料にレーザーを照射することにより、直ちに試料をイオン化し、該イオン化した試料を質量分析器に導き、試料の同定をより簡便な装置により達成することである。 - 特許庁

To suppress a diffusion phenomenon of a metal element induced by oxygen ion beam irradiation as primary ion used for analysis, concerning a depth direction analysis method of the metal element and a secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加

金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer including an electron capture dissociation reactor low in efficiencies of electron injection and ion injection and capable of obtaining an electron capture dissociation spectrum at high speed.例文帳に追加

電子の導入効率およびイオンの導入効率が低く、高速の電子捕獲解離スペクトルを取得することが可能な電子捕獲解離反応装置を備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

In the analysis method using a mass spectrometer, screening is carried out at high speed, by using the step (201) of acquiring a mass spectrum and a step (202) of determining whether intrinsic m/z ions exists.例文帳に追加

質量分析装置を用いた分析方法において、質量スペクトルを取得するステップ（２０１）と、固有のｍ／ｚのイオンが存在するか判定するステップ（２０２）を用いて高速でスクリーニングを行う。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope capable of nearly maximizing ion trapping efficiency, mass resolution, and CID efficiency simultaneously, constructed by non-axially combining an ion trap with a time-of-flight mass spectrometer.例文帳に追加

イオン捕捉効率、質量分解能、及び、ＣＩＤ効率を同時にほぼ最大にし得る、イオントラップと飛行時間型質量分析計を非同軸に結合した質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer and a mass spectrometry method having higher sensitivity than a guide method and a peak value recording method, and having no relation with a sampling period, without requiring improvement ion transmittance.例文帳に追加

イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。 - 特許庁