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an TEMの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 111



例文

An object can be magnified up to 1000000 times by a TEM. 例文帳に追加

物体はTEMによって100万倍にまで拡大できる。 - 科学技術論文動詞集

In a TEM, a thin specimen is illuminated with an electron beam of uniform current density. 例文帳に追加

TEMでは、薄い試料が均一な電流密度の電子ビームで照らされる。 - 科学技術論文動詞集

An analytical TEM allows one to identify what chemical elements are present. 例文帳に追加

分析TEMは、どんな化学元素が存在しているか同定することを可能にする。 - 科学技術論文動詞集

A series of images was taken with an FE-TEM under various defocus conditions. 例文帳に追加

一連の像は、FE-TEMで様々なデフォーカス条件のもと、取得された。 - 科学技術論文動詞集

例文

Thereafter, the method includes a step S2 of processing t=0, a step S3 of processing t=t+Δt, then a step S4 of obtaining an output torque Tem, and then a step S5 of judging Tem≤Tmech of the obtained output torque Tem and the input torque Tmech.例文帳に追加

その後、ステップS2でt=0,ステップS3でt=t+Δtの処理を行なった後、ステップS4で出力トルクTemを求めた後、求めた出力トルクTemと入力トルクTmechとを、ステップS5において、Tem≦Tmechかを判別する。 - 特許庁


例文

To provide an excellent TEM sample, an observation method of TEM and a TEM sample structure.例文帳に追加

優れたTEM試料の作製方法、TEM観察方法及びTEM試料構造を提供することを課題とする。 - 特許庁

A modern TEM equipped with an omega filter performs energy-filtering transmission electron microscopy. 例文帳に追加

オメガフィルタを装備した近代のTEMは、エネルギーフィルタ透過電子顕微鏡法を成し(やり)遂げる。 - 科学技術論文動詞集

The new TEM has been substantially modified to incorporate a monochromator and an omega filter. 例文帳に追加

新型TEMは、モノクロメータとオメガフィルタを搭載するよう本質的に改造された。 - 科学技術論文動詞集

A TEM equipped with an energy filter allows image formation with electrons that have undergone selected energy losses in the specimen. 例文帳に追加

エネルギーフィルタを備え付けたTEMは、試料の中で選択されたエネルギー損失を受けた電子による像形成を可能にする。 - 科学技術論文動詞集

例文

The capability of holography in a TEM derives from a highly coherent beam produced by an FEG. 例文帳に追加

TEMにおけるホログラフィーの能力(ができるという性質)は、FEGによって作られる高干渉性のビームに由来する。 - 科学技術論文動詞集

例文

An important feature of this TEM/CCD integrated system is that the CCD camera can run at a 100% duty cycle. 例文帳に追加

このTEM/CCD統合システムの1つの重要な特徴は、CCDカメラが100%のデューティサイクル(装荷率)で作動することである。 - 科学技術論文動詞集

He assisted our study in developing an energy filter for the present 200 kV TEM. 例文帳に追加

彼は、今回の200kV-TEM用のエネルギーフィルタの開発においてわれわれの研究を(補助的に)助けてくれた。 - 科学技術論文動詞集

With this structure, an element distribution image can be photographed similarly to a normal TEM image.例文帳に追加

これによって元素分布像を通常のTEM像と同様に写真撮影をすることが可能となる。 - 特許庁

The bandpass filter part 4 has a plurality of resonators 40 each composed of an TEM line.例文帳に追加

バンドパスフィルタ部4は、それぞれTEM線路よりなる複数の共振器40を有している。 - 特許庁

To measure the presence of an objective element by a TEM-EDX, in a thermoplastic resin.例文帳に追加

熱可塑性樹脂において、対象元素の有無をTEM−EDXで測定できる方法の提供。 - 特許庁

An RF trap is connected to each of the plurality of TEM mode tuning capacitors.例文帳に追加

複数のTEMモード同調キャパシタのそれぞれに、RFトラップが接続される。 - 特許庁

To provide a technology capable of reducing an observation time of a TEM sample.例文帳に追加

TEM試料の観察時間を短縮することのできる技術を提供する。 - 特許庁

Endothelial cell proliferation, migration and ductule forming are inhibited by administrating an antibody specific to a tumor endothelium marker (TEM), and angioplastic forming and tumor growth are inhibited by administrating a TEM specific antibody and an antibody composition useful for such a method, wherein the disease relating to angioplasty (containing cancer, polycystic kidney, diabetic retinopathy, rheumatoid arthritis and psoriasis) is treated.例文帳に追加

腫瘍内皮マーカー(TEM)に特異的な抗体を投与することにより、内皮細胞増殖、遊走、及び細管形成を阻害する方法、又TEM特異的抗体と、このような方法に有用な抗体組成物とを投与することにより、血管形成及び腫瘍成長を阻害する方法であり、血管形成関連の疾患(癌、多発性嚢胞腎、糖尿病網膜症、慢性関節リウマチ、及び乾癬を含む)を治療する。 - 特許庁

The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).例文帳に追加

その露出させた面に対し、TEMにより電子線を照射して、その強誘電体膜のTEM像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う(ステップS2)。 - 特許庁

In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加

また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、X線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁

The silver fine powder is formed of silver particles which have an average particle diameter D_TEM of 3 to 20 nm or an X-ray crystal grain size D_X of 1 to 20 nm, and have hexylamine (C_6H_13-NH_2) adsorbed on their surfaces.例文帳に追加

ヘキシルアミン(C_6H_13−NH_2)を表面に吸着させた平均粒子径D_TEM:3〜20nmまたはX線結晶粒径D_X:1〜20nmの銀粒子からなる銀微粉。 - 特許庁

To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

To simplify steps through collecting a sample piece for a TEM or SEM observation from an original sample up to molding it and setting an observation holder, and carry out the steps consistently in a sample treatment chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of photographing an element distribution image, similarly with a TEM image on a TEM image photographing film.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、TEM像撮影用フィルム上にTEM像と同様に元素分布像を撮影する事が可能な透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide silver particles which are as extremely fine as 3 to 7 nm in mean particle diameter D_TEM and are extremely satisfactory in dispersibility in liquid and are adequate for drawing of fine wiring by an ink jet method in particular.例文帳に追加

平均粒子径D_TEMが3〜7nmと極めて微細であり、かつ液中分散性が極めて良好な銀粒子であって、特にインクジェット法による微細配線の描画に好適な銀粒子を提供する。 - 特許庁

A sample for TEM observation employing fringes of equal thickness is obtained even in hexagonal system or orthorhombic system by setting the incident direction of an electron beam normal to face M or A.例文帳に追加

電子線の入射方向をM面あるいはA面に垂直方向とする事により、六方晶や斜方晶においても等厚干渉縞を用いたTEM観察用試料を得る。 - 特許庁

To provide a sample setting method capable of setting a sample for a transmission electron microscope (TEM) in a sample holder without fixing it to an auxiliary plate and facilitated in fixing of insertion length of the TEM sample.例文帳に追加

透過電子顕微鏡(TEM)用試料を、補助板などに装着固定することなく試料ホルダーへの装着を行うことが出来、かつTEM試料の挿入長を一定にすることが容易な試料装着方法を提供する。 - 特許庁

Comparing the phase plate with the Zernike phase plate, it has an advantage that for electrons that are scattered over a large angle, no electrons are absorbed or scattered by a foil, resulting in higher resolution performance of the TEM.例文帳に追加

本発明の位相板をゼルニケ位相板と比較すると、大きな角度で散乱される電子がホイルによって吸収又は散乱されない結果、TEMがより高解像度となる、という利点がある。 - 特許庁

The silver fine powder is composed of silver particles having 3 to 20 nm average particle diameter D_TEM or 1 to 20 nm X-ray grain diameter D_X and coated with an organic protective material composed of 6 to 12 C primary amine B.例文帳に追加

炭素数6〜12の1級アミンBで構成される有機保護材に被覆された平均粒子径D_TEM:3〜20nmまたはX線結晶粒径D_X:1〜20nmの銀粒子からなる銀微粉。 - 特許庁

To realize a TEM resonator type RF coil with an excellent operation characteristic, a shield to be used for adjusting the RF coil and a magnetic resonance imaging instrument using the TEM resonator type RF coil.例文帳に追加

動作特性の良いTEMレゾネータ型のRFコイル、そのようなRFコイルを調整するのに用いるシールド、および、そのようなTEMレゾネータ型のRFコイルを用いる磁気共鳴撮像装置を実現する。 - 特許庁

To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加

気体イオンビーム装置とFIBとSEMを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁

The silver fine powder is formed of silver particles which have an average particle diameter D_TEM of 3-20 nm or X-ray grain sizes D_X of 1-20 nm and are covered with the organic protective material constituted by a 6-12C primary amine B.例文帳に追加

炭素数6〜12の1級アミンBで構成される有機保護材に被覆された平均粒子径D_TEM:3〜20nmまたはX線結晶粒径D_X:1〜20nmの銀粒子からなる銀微粉。 - 特許庁

One piece of the optimal TEM image for each testpiece tilted angle is selected by visual judgement of an operator, and the three-dimensional image construction circuit 16 constructs a three-dimensional image based on the selected TEM image.例文帳に追加

各試料傾斜角度につき1枚の最適なTEM像がオペレーターの目視判断によって選択され、3次元像構築回路16は、その選択されたTEM像に基づいて3次元像を構築する。 - 特許庁

The silver powder obtained by the reduction treatment has an average particle size D_TEM of preferably 50 nm or smaller, and is coated with the organic protective agent.例文帳に追加

還元処理で得られる銀粒子粉末は平均粒径D_TEMが好ましくは50nm以下であり、粒子表面には前記の有機保護剤が被着している。 - 特許庁

To make compactness by mounting all of the parts of an intake sys tem from an air cleaner to an intake port of an engine.例文帳に追加

エアクリーナからエンジンの吸気ポートまでの吸気系のすべての部品を装着してコンパクト化する。 - 特許庁

A Fourier transform part 42 executes Fourier transform of a TEM image and an image read by a magnification reading part 41.例文帳に追加

フーリエ変換部42は、TEM像と倍率読み込み部41により読み込まれた画像のフーリエ変換を行う。 - 特許庁

The metallic nickel particulates produced thereby have an average particle diameter of 1-50 nm based on TEM observation.例文帳に追加

この方法により生成される金属ニッケル微粒子は、TEM観察に基づく平均粒子径が1nm〜50nmの範囲内にあることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can always project TEM image correctly on a light-receiving face of a TV detector without monitoring by a fluorescent screen.例文帳に追加

蛍光板でモニターしなくても、TV検出器の受光面にTEM像を常に正しく投影可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a simple and high-accuracy drift correction mechanism in a cross-section processing and an TEM sample processing with the use of a focused ion beam device.例文帳に追加

集束イオンビーム装置を使った断面加工やTEM試料加工における簡便且つ高精度なドリフト補正機構の実現する。 - 特許庁

To provide an inexpensive stage of a small sized device capable of preparing a sample for a TEM and a sample for a SEM quickly in response to requirement.例文帳に追加

TEM用試料、SEM用試料を必要に応じて迅速に作成可能であり、装置も小型で、低コストのステージを提供することである。 - 特許庁

This corrector corrects chromatic aberration in a particle lens used for an SEM/TEM.例文帳に追加

本発明は、SEM又はTEMに使用されるもののような、粒子レンズにおける色収差の補正用の補正器を記載する。 - 特許庁

The TEM sample 3 is attached to an end part of the second surface side in the attaching table 1a out of the attaching face 2a.例文帳に追加

TEM試料3は、取付面2aのうち取付台1aの第2表面側の端部に取り付けられている。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer mountable on a SEM, a TEM or the like, and measuring a plurality of elements simultaneously with high sensitivity and high resolution.例文帳に追加

SEM、TEMなどにも取り付け可能で、複数の元素を高感度、高分解能で同時に測定可能なX線分析装置を提供する。 - 特許庁

An average particle diameter obtained from the TEM photograph of the pulverulent body is 5 to 200 nm, preferably 10 to 100 nm.例文帳に追加

この粉体のTEM写真から求まる平均粒子径は5〜200nm、好ましくは10〜100nmである。 - 特許庁

To provide a technique capable of transferring surely a TEM sample to a fixing block by a probe of a manipulator, while observation-confirming a cut-separated condition by an SIM image, in a method for cutting out and preparing the TEM sample from a sample main body by an FIB device.例文帳に追加

試料本体からTEM試料をFIB装置によって切り出して作成する方法において、切り離し状態をSIM像で観察確認しながら、マニピュレータのプローブによって確実に固定台まで移送できる手法を提示する。 - 特許庁

This magnetic recording medium has a magnetic layer on a base and this magnetic layer contains the hexagonal system ferrite powder of 10 to 40 nm in an average grain size and 100.0 to 125% in the percentage ratio (SBET/STEM) of an arithmetic specific surface area (STEM) and BET specific surface area (SBET).例文帳に追加

支持体上に磁性層を有する磁気記録媒体において、磁性層は平均板径が10〜40nm、かつ算術比表面積(S_TEM)とBET比表面積(S_BET)との比(S_BET/S_TEM)の百分率が100.0〜125%である六方晶系フェライト粉末を含有することを特徴とする磁気記録媒体。 - 特許庁

This preparing method of the TEM sample is mainly characterized by lowering an accelerating voltage of FIB in order to reduce the thickness of an amorphous layer formed on the side of the membrane part used for the TEM observation by receiving damage of the FIB.例文帳に追加

本発明のTEM試料の作製方法は、FIBのダメージを受けてTEM観察に用いる薄膜部の側面に形成される非晶質層の厚さを削減するためにFIBの加速電圧を低くすることを主な特徴とする。 - 特許庁

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample.例文帳に追加

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。 - 特許庁

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、X線回折法によるパターン解析により金属Si及びSi化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

例文

Further, a polyolefin resin in which the difference (Tem-Tim) between an extrapolation melting starting temperature Tim and an extrapolation melting finishing temperature Tem obtained by a DSC is 35°C or higher is used as the one side surfaces of the films and a strong welded portion 16 and a weak welded portion 17 with different heatseal strength each other are formed in the easily removable seal portion 11.例文帳に追加

また、上記フィルムの一方側表面として、DSCにより求められた補外融解開始温度Timと補外融解終了温度Temとの差(Tem−Tim)が35℃以上であるポリオレフィン系樹脂を用い、易剥離シール部11中に、互いにヒートシール強さが異なる強融着部16と弱融着部17とを形成する。 - 特許庁

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