「an TEM」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To enhance stability of a TEM sample contacting on an attaching face, and to reduce an influence affected by a characteristic X-ray from the attaching table resulting from a scattered electron beam.例文帳に追加

取付面上に接触されたＴＥＭ試料の安定性が高く、散乱電子線に起因する取付台からの特性Ｘ線による影響も少ないＴＥＭ試料取付台を得る。 - 特許庁

To provide a high-frequency module which can convert an electromagnetic wave of a TE mode into an electromagnetic wave in a balanced TEM mode without adjustment, and can be easily miniaturized.例文帳に追加

ＴＥモードの電磁波を平衡型のＴＥＭモードの電磁波に無調整で変換して出力でき、しかも小形化の容易な高周波モジュールを提供する。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

1. In the case of an identification beacon installed pursuant to the prescription under subitem (a) 2, or in the case where it is located in juxtaposition with another aerodrome, etc., it shall be installed in the location prescribed under sub-tem (a) 1 in order to verify the identity of said aerodrome, etc. 例文帳に追加

（一）　イ（二）により設置するもの又は隣接して他の空港等がある場合に当該空港等の同一性を確認するためイ（一）の位置に設置するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder.例文帳に追加

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。 - 特許庁

This improved TEM comprises a correction system completely placed between an objective system lens and the phase plate, and uses lenses of the corrector to form a magnified image of a diffraction plane on the phase plate.例文帳に追加

改善されたＴＥＭは、対物系のレンズ及び位相板の間に完全に置かれた補正系を具備すると共に、位相板における回折平面の拡大された像を形成するために補正器のレンズを使用する。 - 特許庁

To provide an antenna device consisting of a slot antenna using a parallel flat plate type conductor capable of transmitting and receiving electromagnetic waves of horizontally polarized type using such a slot shape as excited by TEM waves transmitted between parallel flat plates.例文帳に追加

平行平板状導体を用いたスロットアンテナにおいて、平行平板の間を伝わるＴＥＭ波により励振されるようなスロット形状を用いて、水平偏波の電磁波の送受ができるアンテナ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an advertisement distributing server by which the needs of a user is instantaneously grasped to easily change a sales strategy such as the sales items and a quantity of each tem.例文帳に追加

ユーザのニーズを瞬時に捉えることができ、これにより販売品目、数量の対応等販売戦略の変更が容易となる広告配信サーバを提供する。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

The device for preparing a plane TEM sample comprises a glow discharge emission spectral analysis (GDS) device part 102 and an ion milling device part 103, and sets a control program corresponding to a specific element contained in a sample 5 comprising a multilayer film.例文帳に追加

平面ＴＥＭ試料作製装置はグロー放電発光分光分析（ＧＤＳ）装置部１０２とイオンミリング装置部１０３とを備え、多層膜からなる試料５に含まれる特定元素に対応した制御プログラムを設定する。 - 特許庁

To provide a TEM cell-process measuring jig for a LSI tester, capable of easily performing the work of the radiation noise evaluation and immunity evaluation of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの放射ノイズ評価及びイミュニティ評価の作業を容易に行うことができるＬＳＩテスター用ＴＥＭセル法測定治具を提供する。 - 特許庁

The equipment D such as TEM is placed on a surface plate 1 of an air spring type vibration eliminating table A, and the AMD3 is attached in the upper part of the mirror tower d2 thereof.例文帳に追加

例えばＴＥＭのような機器Ｄを空気ばね式除振台Ａの定盤１上に載置して、その鏡塔ｄ2の上部にＡＭＤ３を取り付ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can securely TEM-observe a breakdown voltage abnormal part of a gate oxide film in gate oxide film breakdown voltage evaluation TEG, and to provide an evaluation analyzing method of the device.例文帳に追加

ゲート酸化膜耐圧評価用ＴＥＧにおけるゲート酸化膜の耐圧異常箇所を、確実にＴＥＭ観察できる半導体装置、及び、その評価解析方法を提供すること。 - 特許庁

To enable additional processings in FIB system, while observing with high magnification and high resolution by separating a thin piece processed on an wafer with FIB equipment from the wafer, and in order to observe with TEM equipment, it is integrated to a grid with adhesion.例文帳に追加

ＦＩＢ装置でウエハー上に加工された薄片をウエハーから分離してＴＥＭ装置で観察するため、グリッドに接着一体化し、高倍率高分解能で観察するとともにＦＩＢ装置での追加工を可能とする。 - 特許庁

When the exhaust temperature reaches the first prescribed temperature (Tmax), a delay time up to an increase of fuel corresponding to a time lag until the exhaust manifold reaches a heat resistance allowable temperature Tem is set in response to a variation of the exhaust temperature.例文帳に追加

排気温度が第１の所定温度Ｔmax に達した時に、排気温度の変化率に応じて、エキマニが耐熱許容温度Ｔemに達するまでのタイムラグに相当する燃料増量までのディレイ時間を設定する。 - 特許庁

To correct surface inclination errors of an observation sample, in the installation of the sample on FIB processing sample stand, with high accuracy, in the manufacture of the sample for TEM for thinning a plate by the FIB processing.例文帳に追加

ＦＩＢ加工による薄板化を行うＴＥＭ用観察試料の作製において、ＦＩＢ加工試料台への試料設置における試料表面の傾斜誤差を精度高く補正する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample reduced in its surface unevenness in preparing a cross-sectional sample for use in observing TEM or SEM by an ion beam etching method, and to provide a sample preparing apparatus.例文帳に追加

本発明は、ＴＥＭやＳＥＭ等の観察に用いる断面試料をイオンビームエッチング法により作製するに当たり、試料表面の凹凸の少ない試料を作製する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of performing the visual inspection of a semiconductor at a high speed with high resolution and uniformly preparing a sample for TEM observation and various analyses, with high position accuracy, from a region where foreign matters or defects exist.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

An integration circuit 17 extracts the TEM images of the same test piece inclination angles from the inclined image series S_1, S_2, ... S_m, and integrates these and obtains the integrated image for every test piece inclination angles θ_1, θ_2, ... θ_n.例文帳に追加

積算回路１７は、傾斜画像シリーズＳ_１，Ｓ_２，…Ｓ_ｍから同じ試料傾斜角度のＴＥＭ像を抽出してそれらを積算し、試料傾斜角度θ_１，θ_２，…θ_ｎごとに積算像を取得する。 - 特許庁

To perform TEM observation and secondary particle image observation in an identical observing position by irradiating an observed surface formed by a focused ion beam with a charged particle beam to form an observed image and then thin-processing to make transparent while supporting the observed surface.例文帳に追加

集束イオンビームで形成した観察面に荷電粒子ビームを照射し、観察像を取得し、観察面を保持したまま、さらに透過可能になるように薄片化加工を行うことで、同一観察位置のＴＥＭ観察と二次粒子像観察を図ること。 - 特許庁

A server connected to an exclusive line or a PHS line is connected to the TEM, and an analytical data is made thereby to correspond immediately to a manufacturing process for the nano-structured hyper-fine raw material, so as to solve a problem on production and to determine an end point of reaction for the raw material.例文帳に追加

また、上記ナノ構造超微細素材の製造工程に分析データを即座に対応させるため、ＴＥＭに専用回線又はＰＨＳ回線が接続されたサーバを接続させることによって、製造上の問題の解決と該素材の反応の終点の確定をするものである。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

A TEM cell 29b is used as an antenna to be used for an on-vehicle communication system in which a frequency of radio waves to be output from a communication means is set to a shut-off frequency or lower of a waveguide in a case an opening frame of a vehicle is regarded as the waveguide.例文帳に追加

信手段から出力される電波の周波数を、車両の開口部枠を導波管と見立てた場合に、該導波管の遮断周波数以下に設定した車載用通信システムに用いられるアンテナとして、ＴＥＭセル２９ｂを用いる。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample for observation, an observation method of the sample, the sample for observation, an observation device or the like capable of observation by TEM or FIB, even when an observation object is a molding prior to sintering, a porous body or the like having a weak shape-retaining force.例文帳に追加

観察対象が保形力の弱い、焼結前の成形体や多孔質体等であっても、ＴＥＭやＦＩＢによる観察が行える観察用試料の作成方法、試料の観察方法、観察用試料、観察装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the embedded trench 1c can be formed into a thin piece from a side surface direction by this alteration of an FIB processing direction, a processing depth is set to about trench width (5 μm) and the conversion of an observation region to an amorphous state or the like is not caused and the observation sample of good quality for TEM can be manufactured.例文帳に追加

ＦＩＢ加工方向をこのように変更することで、埋め込みトレンチ１ｃを側面方向から薄片化できるため、加工深さはトレンチ幅（５μｍ）程度で済み、観察部位の非結晶化等は発生せず、良質なＴＥＭ用観察試料を作製可能である。 - 特許庁

A gap 112 is specified between the channel 102A and the channel 102B and in a 'TEn 0' mode, in which (n) is an odd number, an electromagnetic wave is propagated along with the axial line of a waveguide but in a 'TEm 0' mode, in which (m) is an even number, the electromagnetic wave is suppressed.例文帳に追加

ギャップ１１２は、チャンネル１０２Ａとチャンネル１０２Ｂとの間に規定され、ｎが奇数のＴＥｎ，０モードで電磁波を導波管の軸線に沿って伝搬するが、しかし、ｍが偶数のＴＥｍ，０モードで電磁波を抑制する。 - 特許庁

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法により金属ＳｉおよびＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

Since magnetic fields are coupled so that the direction of the magnetic field of the first waveguide and that of the magnetic field of the second waveguide are matched with each other in an E plane, mode conversion between the TEM mode and other modes is excellently performed between the waveguides.例文帳に追加

第１の導波路と第２の導波路との磁界の方向を、Ｅ面内において一致させて磁界結合するようにしたので、各導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができる。 - 特許庁

Since magnetic fields are coupled so that the direction of the magnetic field of the first waveguide and that of the magnetic field of the second waveguide are matched with each other in an H plane, mode conversion between the TEM mode and another mode can be excellently performed between the waveguides.例文帳に追加

第１の導波路と第２の導波路との磁界の方向を、Ｈ面内において一致させて磁界結合するようにしたので、各導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができる。 - 特許庁

After performing a secret distribution process to the attached file sent from the mail client 1, the TEM server 2 performs an encoding process to one of distributed pieces and transmits the distributed pieces to the mail client 3 with a different timing for each piece.例文帳に追加

ＴＥＭサーバ２は、メールクライアント１から送られた添付ファイルに対して秘密分散処理を行った上で、分散片の１片に暗号化処理を行ない、分散片を１片ずつタイミングを変えてメールクライアント３に送信する。 - 特許庁

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.例文帳に追加

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁

To provide a standard sample for charged particle beam and a charged particle beam device using the same, allowing measurement of fine dimensions of an image in a submicrometer to tens of micrometers in high accuracy in TEM and/or STEM for observation by using electrons transmitted through a sample, or SEM.例文帳に追加

本発明の目的は、試料を透過した電子を用いて観察するＴＥＭやＳＴＥＭ、或いはＳＥＭにおいて、画像のサブミクロンから数１０μｍの微小寸法を高い精度で測定可能にする荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a sample preparation device of small occupied area for large diameter wafers, realizing miniaturization of devices, equipped with an introductory means of a TEM holder, to which test pieces of several microns adhere without pressure increase or contamination in vacuum vessels, and having a sample chamber of the required minimum volume enabling quick observation.例文帳に追加

装置の小型化を実現し、かつ、真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μｍの試料片が固着されるＴＥＭホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が必要最小限の、占有面積の小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To realize sure information transmission and easy handling, in an analyzer including SEM and TEM devices which is used in off-line inspection separated from a semiconductor fabrication line and for which transmission of information and a reasonable handling means become problematic.例文帳に追加

半導体製造ラインから外れたオフライン検査となり、情報の伝達や合理的な取り扱い手段が問題となっているＳＥＭ，ＴＥＭ装置を含む分析装置において、確実な情報伝達，容易な取り扱いを実現することを目的とする。 - 特許庁

Hereby, the sample 10 for analysis suitable for analyzing the surface state and the state of a plane parallel to the surface by using a SEM or a TEM can be formed easily and highly accurately without fouling the surface of an analysis object film pattern 14.例文帳に追加

これにより解析対象膜パターン１４の表面を汚すことなく、ＳＥＭやＴＥＭなどを用いた表面状態および表面と平行な面内における状態の解析に好適な解析用試料１０を、高精度かつ容易に形成することができる。 - 特許庁

To obtain a resonator and a filter in which reduction of a higher-order resonant frequency in TEM mode can be suppressed by obtaining the effect equal with SIR by tilting an outer conductor constituting the resonator, and resonance in TE11 mode can be suppressed without damaging no load Q by partially reducing the resonator.例文帳に追加

共振器を構成する外導体に傾斜をつけることで、ＳＩＲと同等な効果を得てＴＥＭモードの高次共振周波数の低下を抑えるともに、部分的に共振器を小さくして無負荷Ｑを損なうことなくＴＥ_１１モードの共振を抑えることができる共振器及びフィルタを得る。 - 特許庁

The alloy carrying material is formed in such a manner that alloy particles composed of two or more metals are carried by a carrier, and an A-value indicating a variation of a composition rate which is obtained by measuring a constituent metal ratio of the carrying alloy particles by TEM-EDX is not larger than 0.12.例文帳に追加

２種以上の金属よりなる合金粒子が担体に担持されてなる合金担持物であって、ＴＥＭ−ＥＤＸによって担持合金粒子の構成金属比率を測定して求められた組成比のばらつきを示すＡ値が０．１２以下である合金担持物。 - 特許庁

To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.例文帳に追加

ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a large diameter wafer, equipped with an introduction means of a TEM holder capable of preventing pressure increase in a vacuum vessel and contamination, for fixing a sample piece having the size of several μm, enabling quick observation, and having a sample chamber having a small volume.例文帳に追加

真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μｍの試料片が固着されるＴＥＭホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供する。 - 特許庁

Thus, a resonance frequency in a spurious mode, such as a TE101 mode, is shifted toward a lower frequency band so as to cause the resonance frequency to shift in the spurious mode from a frequency band requiring attenuation, such as around a second order higher harmonic wave band in a TEM mode that is an operating mode.例文帳に追加

これによりＴＥ_101モード等のスプリアスモードの共振周波数を低域側へシフトさせて、使用モードであるＴＥＭモードの２次高調波付近などの、減衰を必要とする帯域からスプリアスモードの共振周波数をずらせる。 - 特許庁

To provide a TEM capable of memorizing a plurality of conditions regarding each of three modes in an MDS in order to reduce electron beam damage of a sample, carrying out repetition work simply, and setting the optimum condition according to the sample and purpose arbitrarily.例文帳に追加

試料の電子線損傷を低減するためのＭＤＳにおける三つのモードのそれぞれについて複数の条件を記憶して、繰り返し作業を簡単に行うと共に、試料や目的に応じて最適な条件を任意に設定できるＴＥＭを提供する。 - 特許庁

To provide a sample stand for making a sample, so to speak, with little redeposition, in which sample stand materials are attached on a surface of the sample as ion beams sputter the stand, in making a sample used for TEM observation by an ion milling method.例文帳に追加

本発明は、ＴＥＭ観察に用いる試料をイオンミリング法により作製するに当たり、イオンビームが試料台をスパッタすることにより生じる試料台物質が試料表面に付着するいわゆるリデポジッションの少ない試料を作製する試料台を提供する。 - 特許庁

Braking for rear wheels is released (S210), when an output torque Tem, that is the sum of a torque output, from an engine to front wheels and an output torque from the motor to the rear wheels, becomes larger than a target torque Td* based on the road face slope θ, and the torque output from the motor is started to gradually release the braking for the front wheels (S230-S290).例文帳に追加

そして、エンジンから前輪に出力されるトルクとモータから後輪に出力可能なトルクとの和の出力可能トルクＴｅｍが路面勾配θに基づく目標トルクＴｄ＊より大きくなったときに後輪のブレーキを解除すると共に（Ｓ２１０）、モータからのトルク出力を開始して徐々に前輪のブレーキを解除する（Ｓ２３０〜Ｓ２９０）。 - 特許庁

To provide a carbon nano structure called CNT, CNF and GNF having superior durability, allowing high measuring accuracy and inexpensively and nonvariably manufacturable in a short time; its manufacturing method; its cutting method; a probe for STM and AFM having this structure or an electric field electron emitting source such as FED, an X-ray device, SEM and TEM.例文帳に追加

優れた耐久性を備え、高い測定精度を可能とし、短時間・低コストでばらつき無く作製できるＣＮＴ、ＣＮＦ、ＧＮＦという炭素ナノ構造体、その製造方法、その切断方法、それを有するＳＴＭやＡＦＭ用の探針あるいはＦＥＤ、Ｘ線装置、ＳＥＭ、ＴＥＭ等の電界電子放出源を提供する。 - 特許庁