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atomic electronの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 57件
Although energy is transferred from the high-energy electron 1 to the atomic electron 2, the total energy is conserved. 例文帳に追加
エネルギーは高エネルギー電子1から原子の電子2に伝達されるが、全エネルギーは保存される。 - 科学技術論文動詞集
Changes to the outer valence electrons of an atom cause changes in the intra-atomic electron-electron interactions. 例文帳に追加
原子の外側の価電子に対する変化は、原子内の電子間の相互作用における変化をもたらす。 - 科学技術論文動詞集
An electron is attracted to the positive atomic nuclei after it enters the crystal and speeds up. 例文帳に追加
電子は、結晶に入り速度を上げた後で、正の原子核に引きつけられる。 - 科学技術論文動詞集
A first layer is made of one and more materials having a small Z/A (atomic number/atomic weight) ratio selectively decreasing electron and proton radiation.例文帳に追加
第1層は、選択的に電子及び陽子放射線を減じる小なるZ/A(原子番号/原子量)比を有する1つ以上の材料からなる。 - 特許庁
the transformation of a gamma-ray photon into an electron and a positron when the photon passes close to an atomic nucleus 例文帳に追加
原子核の近くを光子が通るときに、ガンマ線光子を電子と陽電子に変換すること - 日本語WordNet
Information about the atomic structure of the object is contained in the phases of the elastically scattered electron waves. 例文帳に追加
物体の原子構造に関する情報は、弾性散乱電子波の位相に含まれている。 - 科学技術論文動詞集
X-ray diffraction is influenced by the electron density distribution of the atomic shell and electron diffraction (is influenced) by the screened Coulomb potential of the nuclei. 例文帳に追加
X線回折は、原子殻の電子密度分布に支配され、そして電子回折は、原子核の遮蔽されたクーロン電位に支配される。 - 科学技術論文動詞集
METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
The electron that enters a crystal is attracted to the positive atomic nuclei, and gains kinetic energy and a longer wavevector. 例文帳に追加
結晶に入射する電子は正の原子核に引きつけられ、運動エネルギーとより長い波動ベクトルを得る。 - 科学技術論文動詞集
The probabilities and energies for the allowed excitations of the atomic electron are mirrored in the spectrum of energy losses of the high-energy electrons. 例文帳に追加
原子の電子の許される励起についての確率とエネルギーは、高エネルギー電子のエネルギー損失スペクトルに反映される。 - 科学技術論文動詞集
The characteristic energy that is lost by inner-shell excitation is used in electron energy-loss spectroscopy to identify the atomic species. 例文帳に追加
内殻励起により失われる特有のエネルギーは、電子エネルギー損失分光で原子種を同定するために利用される。 - 科学技術論文動詞集
In inelastic scattering, the total energy and the total momentum are conserved, but the scattering redistributes the energy and momentum between the high-energy electron and the atomic electron. 例文帳に追加
非弾性散乱では、全エネルギーと全運動量は保存されるが、その散乱は高エネルギー電子と原子の電子の間のエネルギーと運動量を、再分布させる。 - 科学技術論文動詞集
Concretely, the structure of an electronic device is designated by atomic arrangement 3 and electrode arrangement 4, the behavior of the electronic device is regulated by Hamiltonian of atomic arrangement, an electronic field and electromagnetic field, and the condition of the electronic device is described by density matrix of the atomic arrangement, electron field and electromagnetic field.例文帳に追加
具体的には、電子デバイスの構造を原子配置3・電極配置4により指定し、その振る舞いを原子配置・電子場・電磁場のハミルトニアンで規定し、その状態を原子配置・電子場・電磁場の密度行列で記述する。 - 特許庁
To provide a photo-electron measuring method and a system capable of reducing the error of the atomic position by shortening a measuring time and by enlarging correction effect relative to distortion of an atomic image caused by anisotropy of electron scattering, and requiring the use of no special facility.例文帳に追加
測定時間を短く、かつ、電子散乱の異方性による原子像の歪みに対する補正効果を大きくすることにより原子位置の誤差を小さくすることができ、かつ、特別な施設を使用する必要がない、光電子測定方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a nano element consisting of a structure capable of arranging a plurality of functional atomic groups such as electron-transferring atomic groups, chromogenic atomic groups, etc., on specific positions of a double-stranded DNA substrate in a desired order and localized at desired close proximity locations in an Å order on the DNA substrate.例文帳に追加
電子移動原子団、色素原子団等の機能性原子団を、2重鎖DNA基体上の特定の位置に所望の順序で複数個配列させることができ、DNA基体上のÅオーダーで所望の近接した位置に定位させた構造体よりなるナノ素子を提供する。 - 特許庁
In the austenitic stainless steel, the content of Cu is 0.5 to 3.0 mass%, and concentration of Cu in an outermost surface layer measured by Auger electron spectral analysis is ≤0.5 atomic%, preferably, ≤0.1 atomic%.例文帳に追加
Cu含有量が0.5〜3.0質量%であり、オージェ電子分光分析により測定される極表層のCu濃度が0.5原子%以下好ましくは0.1原子%以下であるオーステナイト系ステンレス鋼材。 - 特許庁
In a forming process for forming an electron-emitting part 2, a current-carrying treatment is executed, while uniformly reducing a conductive film 3 under irradiation of atomic form hydrogen or under the atmosphere of atomic hydrogen.例文帳に追加
電子放出部2を形成するフォーミング工程において、原子状水素を照射または原子状水素の雰囲気下で導電性膜3を一様に還元させながら通電処理を行うことを特徴とする。 - 特許庁
A third layer is made of one and more materials having a small Z/A (atomic number/ atomic weight) ratio generated from the second layer and decreasing the electron and proton passing through the first and second layers and the photoelectron.例文帳に追加
第3層は、第1及び第2層を通過する電子及び陽子とともに、光電子を減じる比率が前記第2層から発した小なるZ/A(原子番号/原子量)を有する1つ以上の材料からなる。 - 特許庁
Accordingly, a window 10 formed of the material having the atomic number smaller than metal is used for the emitting port of the electron beam, whereby the distribution of an electron beam irradiation device minimized in energy loss can be realized.例文帳に追加
従って金属よりも原子番号の小さい物質からなる窓10を電子線の出射口に用いることによりエネルギー損失の少ない電子線照射装置の提供を実現できる。 - 特許庁
When an electron beam is emitted to a material having an atomic number smaller than metal, the energy loss by the interaction with the electron beam is reduced, compared with the case of metal, to reduce the generation of heat or X-ray.例文帳に追加
金属よりも原子番号の小さい物質に電子線が照射されると、電子線との相互作用によるエネルギー損失が金属の場合と比べて低下し、熱やX線の発生が減少する。 - 特許庁
Further, for example, hydrogen is generated from the metal complex (4) and proton, and an electron can be drawn out from the hydrogen molecule by holding the electron to the dehydrogenated low atomic valence metal complex.例文帳に追加
更に、例えば(4)の金属錯体とプロトンから水素を発生させると共に、前記脱水素化された低原子価金属錯体に電子を保持させ水素分子から電子を取り出すができる。 - 特許庁
Further, a metal density in a range from the surface of the electron emission film to the depth of 10 nanometers is set up to be 0.1 to 40 atom% against the carbon atomic number included in the electron emission film.例文帳に追加
さらに、電子放出膜の表面から10nmまでの範囲における金属の濃度を、電子放出膜中に含まれる炭素原子数に対し0.1原子%以上40原子%以下とする。 - 特許庁
This film material has an atomic mass less than that of the lower layer of electrodes and the electron colliding with the above film results in discharging less X-ray than the electron collides with the above electrode.例文帳に追加
この被膜材料は、下層の電極よりも少ない原子質量を有し、前記被膜に衝突する電子は、前記電極に衝突する電子よりも、X線を放出する量が少ない。 - 特許庁
When an NMR imaging is performed, an mutual reaction between an atomic nucleus dipole and en electron shell in an imaging object is controlled by an electric field.例文帳に追加
NMRイメージングを行う際に、イメージング対象における原子核双極子と電子殻との相互作用を電場によって制御する。 - 特許庁
To provide a method for producing a nano element capable of arranging a plurality of functional atomic groups such as electron-transferring atomic groups, chromogenic atomic groups, etc., on specific positions of a double-stranded DNA substrate in an objective/optional order and localized at desired close proximity locations in an Å order on the DNA substrate.例文帳に追加
電子移動原子団、色素原子団等の機能性原子団を、2重鎖DNA基板上の特定の位置に目的の/任意の順序で複数個配列させることができ、DNA基板上のÅオーダーで所望の近接した位置に定位することができるナノ素子製造方法を提供する。 - 特許庁
In a Faraday cup 2 for measuring an electron beam, tantalum or a heavy metal material having an atomic number larger than that of tantalum is used, and a Faraday cup structure having a high aspect ratio is composed, so that electron beam measurement capable of preventing large beam leakage even for a fine and highly accelerated electron beam 1 can be realized.例文帳に追加
電子ビーム計測用ファラディカップ(2)において、タンタルもしくはタンタル以上の原子番号の大きな重金属材料を用い、かつアスペクト比の高いファラディカップ構造をとることにより微細でも高加速電子ビーム(1)に対してもビーム漏えいの少ない電子ビーム計測が可能となる。 - 特許庁
To provide a method of accurately determining the effective atomic number and electron density of a subject to be tested even when a single radiation source is used for one CT measurement.例文帳に追加
1つの放射線源を用いて1回のCT測定を行う場合にも、精度よく被検体の実効原子番号と電子密度とを求める方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electron beam system capable of displaying backscattered electron images at the same brightness and same contrast at all times if the atomic number differences are the same when illumination conditions including an accelerating voltage and an emission current are varied or when the specimens are observed with different instruments.例文帳に追加
加速電圧と照射電流値の照射条件が変わる場合及び/又は異なる装置で試料を観察する場合においても、原子番号差が同じであれば常に同じ輝度とコントラストで反射電子像の表示が行えるようにする。 - 特許庁
HYDRIDE METAL COMPLEX AND LOW ATOMIC VALENCE METAL COMPLEX, AND METHOD OF DRAWING OUT ELECTRON FROM HYDROGEN MOLECULE USING THESE, METHOD OF HYDROGENATING SUBSTRATE AND METHOD FOR PRODUCING HYDROGEN FROM DEUTERIUM例文帳に追加
ヒドリド金属錯体および低原子価金属錯体、並びにそれらを用いて、水素分子から電子を取り出す方法、基質を水素化する方法、および重水素から水素を製造する方法 - 特許庁
It is considered that the hydrogen ion is permeated into the cage polyhedral oligomeric silsesquioxane, and recombined with an electron to give an inclusion compound including atomic hydrogen.例文帳に追加
この水素イオンが籠状ポリヘドラルオリゴメリックシルセスキオキサンに入り込んだ後、電子と再結合することによって原子状水素が包接された包接化合物が得られるものと考えられる。 - 特許庁
To provide an aberration correction device of a scanning transmission electron microscope, which can correct defocus and astigmatism during observation and can obtain atomic resolution; and to provide an aberration correction method thereof.例文帳に追加
デフォーカス及び非点収差を観察中に補正可能で、且つ原子分解能が得られる走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法を提供する。 - 特許庁
A gas (Ar gas) having an atomic weight lower than that of an ion emitted from a target material 6 (Cr) is introduced into a furnace 1, and the Ar gas is ionized with a filament electron source 2.例文帳に追加
ターゲット材6(Cr)より放出されるイオンよりも低原子量のガス(Arガス)を炉1内に導入し、フィラメント電子源2でArガスをイオン化し、基材4にバイアス電圧を印加する。 - 特許庁
There is provided a thin film transistor including an oxide, as an active material layer, comprising elements In, Ga and Zn in the ranges of atomic ratios of the following regions 1, 2 or 3, and has an electron field-effect mobility of 25 cm^2/Vs or greater.例文帳に追加
元素In,Ga及びZnを下記領域1、2又は3の原子比の範囲で含む酸化物を活性層とし、電界効果移動度が25cm^2/Vs以上である薄膜トランジスタ。 - 特許庁
Otherwise, the foreign substance P is irradiated with an electron beam to deposit a solid material on the foreign substance P in a deposition gas atmosphere in which the solid material is generated by irradiation with the electron beam, and a force by the probe of an AFM (atomic force microscope) is applied to the solid material.例文帳に追加
又は、電子ビームが照射されることにより固体材料が生成されるデポジションガス雰囲気中において、異物Pに電子ビームを照射して異物P上に固体材料を堆積させ、この固体材料に対してAFMの探針により力を印加する。 - 特許庁
Two hologram images are acquired based on the photo-electron intensity distribution pattern, and a difference hologram image is acquired by taking the difference between the hologram images, and Fourier transform of the difference hologram image is executed to acquire the atomic image.例文帳に追加
この光電子強度分布パターンに基づいて2つのホログラム像を取得し、これらのホログラム像の差をとって差分ホログラム像を取得し、この差分ホログラム像をフーリエ変換して原子像を取得する。 - 特許庁
Researchers are expected to identify functions of plants’ photosynthesis by intracellular movements at the atomic level or to develop innovative fuel cells, storage batteries, and solar cells by analyzing electron status in detail. 例文帳に追加
原子レベルで細胞内の動きを見ることによる植物の光合成の機能解明や、原子や電子の状態の詳細な分析による革新的な燃料電池・蓄電池・太陽電池等の開発も期待される。 - 経済産業省
The catalyst support for supporting noble metal includes a multiple oxide of an electron accepting element (La) having electron accepting property of accepting electrons from a noble metal element by approaching or contacting the noble metal element (Pt) and not varying the atomic valence by oxidation-reduction reaction, and another element (Zr).例文帳に追加
貴金属元素(Pt)が接近若しくは接触することによりその貴金属元素から電子を受容する電子受容性があり且つ酸化還元反応で原子価の変化がない電子受容性元素(La)、及び他の元素(Zr)の複合酸化物から構成されている、貴金属担持用触媒担体とする。 - 特許庁
According to one exemplary embodiment of the present invention, electrons or ion dynamics are obtained by solving a set of equations for the motion of electrons by using spin-dependent quantum trajectories calculated from electron current with one equation for each electron in the atomic structure of a material of interest.例文帳に追加
本発明の一の例示的な態様では、電子の運動に対する1セットの方程式を、電子カレントから計算されるスピン依存量子軌道を用いて、関心のある材料の原子構造におけるそれぞれの電子に対して1つの方程式によって、解くことによって、電子あるいはイオンのダイナミクスが得られる。 - 特許庁
Fig.(c) shows a state wherein each grid-like analytical point (shown by white circle) set in an analytical area R in Fig.(a) is correlated with each position in a reflected electron image (higher atomic number portion is shown by a black color) corresponding to an analytical area in Fig.(b).例文帳に追加
(a)の分析領域Rに設定されているグリッド状の分析点(白丸で示す)と(b)の分析領域に対応した反射電子像(原子番号の高い部分を黒く表示)の位置を対応させた状態が(c)である。 - 特許庁
Although the silicon single crystal fine particles 14-17 do not directly contact each other, electric potentials applied to the metal electrodes 20-27 allow exchange of atomic nucleus spin among a plurality of phosphorus atoms 31-34 with an electron as a medium.例文帳に追加
こうして、各シリコン単結晶微粒子14〜17は直接接触していなくとも、金属電極20〜27に与える電位によって複数のリン原子31〜34間での電子を媒体とした原子核スピンの交換を行うことができる。 - 特許庁
An atomic force microscope with a probe in its light condensing system is installed in the cathode luminescence composite device which detects light from a sample irradiated by a electron beam.例文帳に追加
試料に電子線を照射して、その電子線照射により試料から発生した光を検出するカソードルミネッセンス装置において、集光システムとして探針をプローブとする原子間力顕微鏡を設けたことを特徴とするカソードルミネッセンス複合装置。 - 特許庁
In a standard specimen having an average atomic number Z_0, a gain G_0 and an offset F_0 of an amplifier providing backscattered electron signal intensity A(Z_0, V_0, I_0) used as a reference when an acceleration voltage and an emission current are V_0 and I_0, respectively, are obtained in advance.例文帳に追加
平均原子番号Z_0を持つ標準試料において、加速電圧V_0,照射電流値I_0のときの基準となる反射電子信号強度A(Z_0,V_0,I_0)を与える増幅器の増幅率G_0とオフセットF_0を求めておく。 - 特許庁
In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加
電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁
To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加
STMやAFM用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁
The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加
これにより得られたTi−Al系合金ターゲットは、Alを45〜65原子%含有し、X線回折で分析したときにTi_3Al,TiAl,TiAl_2,TiAl_3の少なくとも2種以上の相を含み、EPMA分析をしたときに単体の金属Ti及び金属Alが残存していない。 - 特許庁
The ruthenium tetroxide reducing material according to this invention effectively reduces the ruthenium tetroxide having high degree of risk, occurring from atomic power plants, in utilization of radioactive rays or from the catalysts for organic synthetic reactions and in dyed samples for electron microscope or the like to ruthenium dioxide that is made insoluble with the risk reduced.例文帳に追加
本発明の四酸化ルテニウム還元材は、原子力、放射線利用、有機合成反応に用いる触媒、電子顕微鏡用の染色等で発生する、危険度の高い四酸化ルテニウムを危険度の低い二酸化ルテニウムに還元し、不溶化するのに有効である。 - 特許庁
The target 12 comprises rhodium particulates 31 which generate X-rays and a beryllium thin film 32 of a light element consisting of beryllium having an atomic number smaller than rhodium, and by the beryllium thin film 32, the rhodium particulates 31 are fixed and held at the prescribed place on electron beam B side.例文帳に追加
ターゲット12は、X線を発生させるロジウム微粒子31と、そのロジウムよりも原子番号が小さいベリリウムからなる軽元素のベリリウム薄膜32とを備え、そのベリリウム薄膜32によってロジウム微粒子31を電子ビームB側の所定箇所に固定して保持している。 - 特許庁
The semiconductor laser element having, at a light emitting end surface, the coat film including an aluminum oxide layer is characterized in that variation in binding energy of a 2p orbital electron and an atomic nucleus of aluminum between a surface part and a deep part in the aluminum oxide layer is ≤1.2 eV.例文帳に追加
本発明は、酸化アルミニウム層を含むコート膜を光出射端面に有する半導体レーザ素子であって、上記酸化アルミニウム層内の表面部と深部におけるアルミニウムの2p軌道電子と原子核の結合エネルギーの変化量が1.2eV以下であることを特徴とする半導体レーザ素子である。 - 特許庁
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