「for Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(110ページ目) - Weblio英語例文検索

To achieve the size reduction of a power converter testing device for executing a loading test by allowing a power converter to simulate motor behavior instead of using a large motor whose mounting and replacement are troublesome, as a load.例文帳に追加

大型で取り付けや交換が面倒なモータを負荷とする替わりに電力変換器にモータの挙動を模擬させて負荷試験を行う電力変換器試験装置の小型化を実現する。 - 特許庁

The biosubstance-inspecting device is constituted by separating chip components for individual testing specimens each loading reagents/solution-sending elements, and control/detection components as inspection main bodies.例文帳に追加

本発明の生体物質検査デバイスは、試薬類・送液系用のエレメントを搭載した、検体ごとのチップコンポーネントと、検査デバイス本体として、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成である。 - 特許庁

To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加

ＵＳＢインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なＵＳＢインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an emergency operation controller capable of easily testing the emergency operation of each elevator in its actual installation environment when the elevator is simply tested for emergency operation.例文帳に追加

管制運転の試験をエレベーター毎に簡単に実施するにあたり、エレベーター毎に簡単に実設備環境下で管制運転の試験を行うことが可能な管制運転制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine for ensuring accurate test-force holding time by sensing the moment a test force is exerted completely on a sample and the instant, when the test force is removed from the sample.例文帳に追加

試験力が完全に試料へ加わった瞬間の感知、及び、試験力が試料から除かれた瞬間の感知をすることにより、正確な試験力保持時間を確保する硬さ試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.例文帳に追加

材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

Apparatus for testing an opto-switch includes a first sense resistor coupled between a power source and an input of the opto-switch, and a second sense resistor coupled to an output of the opto-switch.例文帳に追加

光スイッチをテストする装置は、電源と光スイッチの入力部との間に接続する第１の検出抵抗器と、光スイッチの出力部に接続する第２の検出抵抗器とを含む。 - 特許庁

To provide a method of finding a gene-testing system for identifying animals and food products.例文帳に追加

本発明は、動物及び食品の完全な追跡可能性を保証する遺伝子検査システムに関するものであり、データ収集、記録管理及び検索目的で動物を唯一のものとして同定する方法を含む。 - 特許庁

To inexpensively detect a loop including an orderwire communication system for testing an orderwire line, which occurs in an orderwire system, without mounting special means on the other orderwire communication systems.例文帳に追加

オーダワイヤ回線のテストを行うオーダワイヤ通信装置に関し、オーダワイヤシステム内において発生した自装置を含むループを、他のオーダワイヤ通信装置に特別な手段を実装することなく、安価に検出する。 - 特許庁

To provide an apparatus for simply and inexpensively testing termite repellency performance of a wood or insulating material to be used in a building in a stringent condition corresponding to an actual status of use.例文帳に追加

建物に使用される木材や断熱材の防蟻性能を、実際の使用状況に即した厳しい条件下において、簡単且つ安価に把握することがきる防蟻性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mount for a rotating equipment vibration test that evaluates vibration resistance of rotating equipment in a state near to an operation state, and also evaluates weatherability of the rotating equipment, and also to provide a vibration testing method of the rotating equipment.例文帳に追加

回転機器の耐振性を稼働状態に近い状態で評価でき、且つ回転機器の耐候性も評価できる、回転機器振動試験用マウントと回転機器の振動試験方法とを提供する。 - 特許庁

In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部２０ｃの操作表示パネル部１のパネル面から試験片の形状（丸棒、矩形、パイプ）を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁

To provide a service life testing device for a bearing capable of realizing a long service life of a rolling bearing by acquiring establishment of a service life evaluation method in a slip generation domain, stability and high reliability.例文帳に追加

滑り発生領域での寿命評価法の確立、安定性、高信頼性を得ることにより転がり軸受の長寿命を図ることができる軸受用寿命試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable to use a system also with a penetration method by developing the testing system and method operated with incident light which has been used for inspecting a wafer.例文帳に追加

本発明の目的は、ウェーハの検査のために用いられてきた入射光によって操作する試験装置及び方法を発展させ、これらの装置を透過法によっても使用できるようにすることである。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of preventing damages of an upper cross head or a table and a lower cross head by collision even when a limit switch for collision prevention is omitted.例文帳に追加

衝突防止用のリミットスイッチを省略した場合においても、上部クロスヘッドまたはテーブルと下部クロスヘッドとが衝突により損傷することを防止することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

A testing method is employed for evaluating a permeation resistance to a permeable substance of every kind such as chloride ions or water with respect to the surface impregnation material applied to the surface of an inspection target such as reinforced concrete or the like.例文帳に追加

鉄筋コンクリート等の被検査物の表面に塗布される表面含浸材に対する塩化物イオンや水等の各種透過物に対する透過抵抗を評価する試験方法である。 - 特許庁

To provide a travel testing device for vehicles having multiple power sources whose driving source has a battery as an energy source, performing mode driving evaluation while changing a driving condition of the driving source.例文帳に追加

駆動源がバッテリーをエネルギー源とする複数の動力源を持つ車両の走行試験装置として、駆動源の運転条件を変化させながらモード運転評価を可能とするものが要望されている。 - 特許庁

To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.例文帳に追加

柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tape for wafer processing that has good sensor recognition properties, and also has good productivity and testing accuracy, even if an adhesive layer is thin (≤10 μm), and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

接着剤層が薄い（１０μｍ以下）場合であっても、センサ認識性が良好であり、生産性や検査精度が良好であるウエハ加工用テープ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, a high-speed serial controller, and an image processor which don't require preparation of apparatus for error function evaluation when evaluating an error function between connected semiconductors.例文帳に追加

接続された半導体間におけるエラー機能評価を行う際に、エラー機能評価を行うための機器類を用意する必要がないテスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁

A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加

プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁

To provide a portable mobile mold material evaluation system for collecting a minute sample from an actual product structure, processing the minute sample in the field and testing a material.例文帳に追加

実機構造物から微小なサンプル試料を採取し、その場で微小なサンプル試料を加工し材料試験を行うことができる持ち運び可能なモバイル型材料評価システムを提供することである。 - 特許庁

To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.例文帳に追加

Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.例文帳に追加

診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁

The base paper for the corrugated cardboard obtained by the method has ≥50 sec smoothness based on J Tappi paper pulp testing method No. 5, and ≥20% glossiness based on JIS-P-8142.例文帳に追加

Ｊ Ｔａｐｐｉ紙パルプ試験方法Ｎｏ．５に準ずる平滑度が５０秒以上で、かつＪＩＳ−Ｐ−８１４２に準ずる光沢度が２０％以上であることを特徴とする段ボール原紙。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.例文帳に追加

ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加

データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁

The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.例文帳に追加

試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁

To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加

本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加

対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁

To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加

高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.例文帳に追加

部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁

A flexible printed wiring board is used as wiring for transmitting a vibration signal, which is detected by a vibration detector installed to the vibration base in the vibration testing machine, from this vibration detector to another device.例文帳に追加

振動試験機の振動台の取り付けられた振動検出器で検出した振動信号を前記振動検出器から他の装置に送信するための配線をフレキシブルプリント基板にする。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42.例文帳に追加

燃焼器（２０）、該燃焼器（２０）に結合された圧力変換器（４４）、及びスパーク検出器（４２）を含むガスタービンエンジン（１０）内部に結合された点火器（４０）をテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed.例文帳に追加

直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁

To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加

本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加

検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a convenient in vitro membrane protein expression system using an inhibitor of drug efflux pump proteins and heterologous cells for testing other drug resistance-relating cell membrane proteins.例文帳に追加

薬剤排出ポンプ蛋白質の阻害物質や異なる種由来の薬剤耐性に関連する他の細胞膜蛋白質を試験するための細胞を用いた簡便なin vitro膜蛋白質発現系を提供する。 - 特許庁

To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.例文帳に追加

既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁

The depositary institution for the purposes of patent procedure issues a receipt of a reception immediately after receiving the application of patent depositary, and then it issues a Receipt of an Original Deposit after testing the microorganism and finding them to be viable. 例文帳に追加

特許庁長官の指定する機関では、寄託申請を受け付けた際、直ちに「受領書」を発行し、生存確認試験を行って、微生物の生存を確認した後に「受託証」を交付する。 - 特許庁

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁