「light microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

Instead of a conventional Cassegrain mirror for use in an infrared microscope, a parabolic mirror 6 is installed behind a convex mirror 4 constituting a Cassegrain mirror, and light of a illuminating light source 10 is radiated to the parabolic mirror 6 through an optical fiber 7, and a surface of a sample 8 is illuminated by reflected light from the parabolic mirror 6.例文帳に追加

赤外顕微鏡に使用される従来のカセグレン鏡の代わりに、カセグレン鏡を構成する凸面鏡４の背部に放物面鏡６を設置し、この放物面鏡６に光ファイバー７を介して照明光源１０の光を照射し、放物面鏡６の反射光で試料８表面を照明する。 - 特許庁

A wafer edge is scanned in three dimensions by using a confocal microscope having a light source (1) which emits a light beam, 1st and 2nd beam deflecting devices (2, 7), an objective (11) which converges and projects the light beam on a sample, and a linear image sensor (4) to image the wafer edge from a plurality of angle directions.例文帳に追加

本発明では、光ビームを発生する光源(1)、第１及び第２のビーム偏向装置(2，7)、光ビームを収束して試料に投射する対物レンズ(11)、及びリニァイメージセンサ(14)を有するコンフォーカル顕微鏡を用い、ウェハ端縁を３次元的に走査し、複数の角度方向からウェハ端縁を撮像する。 - 特許庁

A first image acquisition control part 62 of a control unit 60 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of a confocal microscope with light of a light quantity shown by the first light quantity setting data, and records the image in a memory 66.例文帳に追加

制御ユニット６０の第１の画像取得制御部６２は、第１の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ６６に記録する。 - 特許庁

In a photoelectronic microscope which images photoelectrons emitted from a specimen via an objective lens by irradiating the specimen with light from a light source, and obtains a magnified image, the objective lens includes two or more electrodes, and the two or more electrodes are installed in such a manner that the light passes between two electrodes.例文帳に追加

光源からの光を試料に照射することにより前記試料から放出される光電子を対物レンズを介して結像し、拡大像を得る光電子顕微鏡において、前記対物レンズに、２以上の電極を備えさせ、２以上の前記電極を、前記光が２つの電極間を通るように設置する。 - 特許庁

To provide a light deflector and a scanning optical microscope using the light deflector in which a high speed scan driven by resonance and a low speed scan in which a lower speed region and an arbitrary frequency are selected are realized with a single light deflector and various kinds of useful microscopic actions are realized.例文帳に追加

共振で駆動する高速スキャンと、高速スキャンよりも低速領域で且つ任意の周波数を選べる低速スキャンを一つの光偏向器で実現し、各種の有用な顕微鏡動作を実現できる光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To achieve flexible use by the easiest operation in fewest adjusting steps, in terms of a microscope including a light source and a detector device and configured such that the optical path of illuminating light extends between the light source and a specimen and the optical path 2 of a detecting line extends between the specimen and the detector device.例文帳に追加

光源及び検出器装置を有し、光源と試料との間で照明光線光路が、そして試料と検出器装置との間で検出線光路２が延在する顕微鏡に関するものであり、最も少ない調整手数でもってフレキシブルな利用が最も簡単な操作で可能となるように、構成すること。 - 特許庁

The optical microscope 100 comprises a laser light source 10, a Y scanning device 40 for performing scanning of light beams in a Y direction, an objective lens 23, an X scanning device 20 for performing scanning of light beams in an X direction, the spectrograph 31 for measuring spectra, and a line CCD camera 50.例文帳に追加

第１の態様にかかる光学顕微鏡１００は、レーザ光源１０と、光ビームをＹ方向に走査するＹ走査装置４０と、対物レンズ２３と、光ビームをＸ方向に走査するＸ走査装置２０と、スペクトルを測定するための分光器３１と、ラインＣＣＤカメラ５０が設けられている。 - 特許庁

The illuminator for the microscope is equipped with a plurality of laser beam sources 1 and 2, micromirror arrays (DMD) 4 and 5 respectively provided corresponding to the laser beam sources and reflecting the light beams from the laser beam sources, and light beam compositing means 10, 11, 19 and 15 compositing the light beams from the respective laser beam sources reflected by the respective micromirror arrays.例文帳に追加

複数のレーザ光源１，２と、各レーザ光源に対応して夫々設けられた、レーザ光源からの光線を反射させる微小鏡配列（ＤＭＤ）４，５と、各微小鏡配列で反射した各レーザ光源からの光線を合成する光線合成手段１０，１１、１９，１５とを備えている。 - 特許庁

The method of detecting the defects of the optically transparent member detects the existence of the refractive index discontinuity defects by using a polarization microscope, for which the area ratio for the intensity ratio of light of wavelength 650-750 nm to light of wavelength 250-650 nm is 0.4 or larger for the wavelength distribution of observation light.例文帳に追加

光透過性部材の欠陥検出方法であって、観察光の波長分布が波長２５０〜６５０ｎｍの光に対する波長６５０〜７５０ｎｍの光の強度比が面積比で０．４以上である偏光顕微鏡を用いて、屈折率不連続欠陥の有無を検出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 特許庁

When total reflection illumination is selected in the microscope, a piece 65 is rotated by a motor 66, and ceiling plates 62 and 63 are raised to be nearly parallel to the stage 12 so that laser light with which the sample 53 is irradiated from below may not leak to the outside through the objective lens of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡において全反射照明が選択されている場合、顕微鏡の対物レンズを介して下方から標本５３に照射されるレーザ光が外部に漏れるのを防ぐように、モータ６６により駒６５が回転し、天井板６２および天井板６３がステージ１２とほぼ平行となる位置まで持ち上げられる。 - 特許庁

To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.例文帳に追加

標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The optical microscope 19 observes a photodetector surface 22a (first object plane) by transmitted light from the partial reflection mirrors 2, 3 and observes the hologram surface 21a (second object plane) by transmitted light after reciprocating between the partial reflection mirror 2 and the partial reflection mirror 3.例文帳に追加

光学顕微鏡１９は、光検出器面２２ａ（第一物面）については部分反射ミラー２，３の透過光により観察し、ホログラム面２１ａ（第二物面）については部分反射ミラー２と部分反射ミラー３との間を往復後の透過光により観察する。 - 特許庁

This invention, preferably used in a confocal fluorescence scanning type microscope method, is relate to a device irradiating sample (1) comprising: one irradiation beam path (2) of one light source (3) and at least another irradiation beam path (4) of another light source (5).例文帳に追加

本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of promptly shaping second light of any wavelength to a desired beam shape and of superposing the beam on first light with simple and inexpensive constitution without using a phase plate and without forcing vexatious work to a user.例文帳に追加

位相板を用いることなく、簡単かつ安価な構成で、しかもユーザーに煩雑な作業を強いることなく、第２の光をいかなる波長でも即座に所望のビーム形状に整形して第１の光と重ね合わせることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This device is provided to a microscope, including an auto-focus unit 42 which focuses a light beam on an object based on the light beam returning from the object after it is projected to the object through an objective lens 41.例文帳に追加

ウェハ位置調整装置は、光ビームを対物レンズ４１を介して対象物に投光し対象物から戻ってくる光ビームに基づいて前記対象物に対する焦点合わせを行うオートフォーカスユニット４２を有するウェハ検査用の顕微鏡に備えられる。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope provided with an excitation light irradiating optical system and a fluorescence correlated spectroscopic analyzer used favorably for measuring respectively a plurality of excitation light irradiating areas concurrently or sequentially by fluorescence correlated spectrometry.例文帳に追加

複数の励起光照射領域それぞれについて同時に又は順次に蛍光相関分光法により測定するのに好適に用いられ得る励起光照射光学系を備える蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置を提供する。 - 特許庁

The microscope is equipped with an ocular 1, the objective lens 5, a stage supporting part 6, a lower stage 7, an upper stage 8, a surface light source 9 fit in the upper stage 8, and the specimen 10 placed and restricted to be detached on the light source 9 through a hard glass.例文帳に追加

顕微鏡は、接眼レンズ１と、対物レンズ５と、ステージ支持部６と、下ステージ７と、上ステージ８と、上ステージに嵌め込まれた面光源９と、硬質ガラスを介して面光源９上に取り外し可能に載置抑止された標本１０を備えている。 - 特許庁

The detector 18 includes a case 50 slidably disposed to the casing of the infrared microscope; a lighting opening 56 for guiding infrared light from the casing into the inside along the sliding direction; and a detection center section that is contained in the case 50 and detects the infrared light.例文帳に追加

検出器１８は、赤外顕微鏡の筐体に対してスライド自在に設けられるケース５０と、スライド方向に沿って筐体からの赤外光を内部に導く採光口５６と、ケース５０に内蔵され赤外光を検出する検出中心部とを備える。 - 特許庁

To detect fine powder in real time, and to raise an alarm, based on light scattered by fine powder generated by applying light near the contact section between a stator and a rotor for composing a mechanically driven ultrasonic motor for a stage using a charged particle microscope.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡に用いるステージについて、機械駆動する超音波モータを構成するステータとロータの接触部分の近傍に光を照射して発生した微粉によって散乱したを光をもとに微粉をリアルタイムに検出および警報を発する。 - 特許庁

When the optical fiber 11 is positioned with respect to the light receiving part 7, the tip end surface of the optical fiber 11 is adjusted to fall within a range S in a contour 23 of the positioning pattern 21 under a microscope.例文帳に追加

光ファイバ１１を受光部７に位置合わせする場合は、顕微鏡下において、光ファイバ１１の先端面を位置決めパターン２１の輪郭２３内の範囲Ｓに合わせて設置する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND DEVICE FOR NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

When each inspecting microscope unit 55 carries out an inspection using an incident light illumination, respective objective lenses are arranged such that their optical axes coincide with each other, thereby inspections of the front and the backside of the same portion can be carried out simultaneously.例文帳に追加

各検査用顕微鏡ユニット５５が落射照明で検査をするときは、各々の対物レンズを光軸が一致するように配置すれば、同一箇所の表面と裏面の検査を同時に行える。 - 特許庁

To provide a tomography and tomograph that can measure the thickness of affected parts easily and accurately by using short wave infrared light, or an invisible ray as a laser source of a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡のレーザ光源は近赤外光、すなわち不可視光を用い、患部の厚さを簡便かつ正確に測定することができる断層像形成方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

The light passed through the optical path inside the microscope 300 is condensed on an object to be processed 500 with an object lens 312 in a form based on a beam forming slit 306, thus a machining is processed.例文帳に追加

顕微鏡３００内部の光路を通過した光は対物レンズ３１２により加工対象物５００上にビーム整形用スリット３０６に基づいた形状で集光され，加工が行われる。 - 特許庁

To solve the problem in the appearance inspection of a ferrule with the combination of a subject microscope with an epi-illumination light source, that an appearance failure can be detected only when they are set to a specified angle and specified rotating angle range.例文帳に追加

フェルールの外観検査を行うに当り、実体顕微鏡と落射光源の組合せで行なうと特定の角度、特定の回転角範囲に合わせないと外観不良が検出できない。 - 特許庁

To provide a near-field light sensing optical system, whose noise level is low and by which a clear optical contrast can be obtained and to improve the reproducing resolution of an optical recording and reproducing apparatus and a near-field optical microscope.例文帳に追加

ノイズレベルが低く鮮明な光学コントラストが得られる近接場光検出光学系を提供し、光記録再生装置および近接場光学顕微鏡の再生分解能を向上する。 - 特許庁

In the microscope apparatus, a standard sample for generating reflection light uniformly in a scope of actual visual field of an imaging means is arranged at a position of the sample 13 in an optical system to insert and pull it into/out of the optical system (not shown).例文帳に追加

撮像手段の実視野範囲内において一様に反射光を生じる標準標本が、標本１３の位置において、光学系中に挿脱可能に配置されている（図示せず）。 - 特許庁

DISTYRYLBENZENE DERIVATIVE AND MATERIAL FOR FORMING THREE DIMENSIONAL MEMORY, LIGHT LIMITING MATERIAL, CURING MATERIAL FOR PHOTOCURABLE RESIN FOR USE IN PHOTOFABRICATION, AND FLUORESCENT PIGMENT MATERIAL FOR USE IN TWO-PHOTON FLUORESCENT MICROSCOPE, EACH COMPRISING THE SAME例文帳に追加

ジスチリルベンゼン誘導体及びこれを用いた三次元メモリ材料、光制限材料、光造形用光硬化樹脂の硬化材料、並びに二光子蛍光顕微鏡用蛍光色素材料。 - 特許庁

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.例文帳に追加

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁

The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.例文帳に追加

上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁

To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.例文帳に追加

検出装置と該検出装置を備えた共焦点顕微鏡において、波長が異なる検出光でも高解像度と高検出効率とを構造的に簡単な手段により実現する。 - 特許庁

The microscope controller 52 controls the incident-light illumination optical system or the transmitting illumination optical system to illuminate the specimen S only during the imaging period everytime when the imaging unit 18 images the specimen S.例文帳に追加

顕微鏡制御部５２は、撮影制御部５１が撮影部１８に撮影を行わせるごとに、その撮影期間のみ落射照明光学系または透過照明光学系に標本Ｓを照明させる。 - 特許庁

To provide a focus detector for a microscope accurately detecting a focusing position even when a peak shape obtained when relation between the intensity of a light quantity signal and a relative position is made a graph, is flat.例文帳に追加

光量信号の強度と相対位置との関係をグラフ化したときのピーク形状が平坦な場合でも、合焦位置を正確に検出できる顕微鏡の焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.例文帳に追加

近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁

A laser emitting image including at least linear optical image is obtained by the light L1 passing though a hologram element 9, a collimator lens 4, a condenser 5, a half mirror 6 and a microscope lens 7 one after another.例文帳に追加

ホログラム素子９、コリメートレンズ４、集光レンズ５、ハーフミラー６および顕微鏡レンズ７を順次経由した光Ｌ１によって、少なくとも線状光像を含むレーザ発光画像を取得する。 - 特許庁

To provide a focus detector which can well detect a focus without being affected by the quantity of the light from a specimen and the internal structure or the like of the specimen, a focusing device and a microscope.例文帳に追加

標本からの光量や標本の内部構造などの影響を受けることなく良好に焦点検出を行える焦点検出装置、焦点合わせ装置、および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic raman fine particle discovery device hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters on a wafer.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、ウェーハ上の微小な異物も確実に検出・同定できる顕微ラマン微小パーティクル発見装置を提供する。 - 特許庁

This microscope system 100 is constituted to sense the individual photons of a detected light beam 17 each as one event 50, and to provide an output signal in the form of a characteristic function 52.例文帳に追加

顕微鏡システム（１００）は、検出された光ビーム（１７）の個々のフォトンを各々一つの事象（５０）として知覚し、それから特性関数（５２）の形式に出力信号を提供するように、構成される。 - 特許庁

To provide an objective lens, whose service life is prolonged by suppressing photochemical reaction which is caused when microscope inspection and observation are performed by having deep ultraviolet-rays as a light source and preventing the deterioration in the optical performance.例文帳に追加

深紫外光を光源として顕微鏡検査・観察を行うときに起きる光化学反応を抑制して光学性能の低下を防止し、製品寿命の長い対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation that can be protected certainly from irregularly reflected laser light rays with a simple constitution and, in addition, can be improved conveniently and easily in color reproducibility and high resolution.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成で、レーザー光の乱反射からの確実な保護を実現し得、且つ、簡便にして容易に色再現性及び高解像度化の促進を図り得るようにすることにある。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample.例文帳に追加

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of realizing the high-speed switching of the wavelength of light irradiated to a sample and illumination with little uneveness, and acquiring an image sufficiently utilizing the dynamic range of an imaging apparatus.例文帳に追加

標本に照射する光の波長の高速での切り換えとムラの少ない照明と撮像装置のダイナミックレンジを十分に活用した画像取得とが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A light wave interference device 50 for detecting the moving amount ΔL of a stage 22 or an objective lens 23 is assembled in the microscope device whose focusing is performed by moving the stage 22 or the lens 23 up and down.例文帳に追加

ステージ２２又は対物レンズ２３を上下動させて焦準を行う顕微鏡装置に、ステージ２２又は対物レンズ２３の移動量ΔＬを検出するための光波干渉計５０を組み込んだ。 - 特許庁

To provide a video type microscope which is capable of suppressing formation of bright points which are light source images within the image of a subject photographed in photographing a subject having a smooth surface.例文帳に追加

滑らかな表面を有する被写体を撮影する際に、撮影された被写体の画像内に光源像である輝点が形成されることを抑制可能なビデオ型顕微鏡を、提供する。 - 特許庁

To realize a transmission electronic microscope which can prevent beams having large energy density from entering into the light receiving surface of a camera when it is changed from an enlarged image observation mode into a diffraction image observation mode.例文帳に追加

拡大像観察モードから回折像観察モードに切り替わった場合にエネルギ密度が大きなビームがカメラの受光面に入射することを防止しうる透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁