「light microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

The objective aqueous dispersion contains polymer particles having a DL/Dn ratio of 1.05-5.0 wherein DL is average particle diameter measured by dynamic light-scattering and Dn is number-average particle diameter determined by a transmission electron microscope.例文帳に追加

動的光散乱式測定装置によって測定した平均粒子径Ｄ_Lと、透過型電子顕微鏡によって測定した数平均子粒径Ｄ_nとの比（Ｄ_L／Ｄ_n）が１．０５〜５．０である重合体粒子を含む水系分散体を得る。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which can efficiently detect a scattering light spreading with a large angle, even if using a condenser lens of a relatively small numerical aperture.例文帳に追加

本発明は、比較的小さな開口数を持つ集光レンズを使用していても大きな角度で広がる散乱光を率よく検出することができるようにした走査型近接場光学顕微鏡を提供するを提供する。 - 特許庁

A position signal, showing the position which is output from the position detection element 37, can be used as a signal showing an irradiation position of the laser light to a sample when scanning is performed in a scanning type confocal laser microscope.例文帳に追加

位置検出素子３７から出力されるこの位置を示す位置信号は、走査型共焦点レーザ顕微鏡において走査が行われているときにおける試料へのレーザ光の照射位置を示す信号として利用できる。 - 特許庁

The microscope equipped with a vertical illuminating optical system A employs an imaging optical system D which converges transmitted illumination light traveling from a sample 13 after passing through a half-mirror 4 arranged halfway in the optical path of the vertical illuminating optical system A.例文帳に追加

落射照明光学系Ａを備える顕微鏡において、落射照明光学系Ａの光路の途中に配置されたハーフミラー４を透過した標本１３からの透過照明光を集光させる結像光学系Ｄを採用した。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁

The problem is solved by an objective lens for the microscope including a first lens group and a second lens group in order from a sample face side, wherein, a light beam splitting means is disposed between the first lens group and the second lens group.例文帳に追加

上記課題は、標本面側から順に第１レンズ群と第２レンズ群を備え、前記第１レンズ群と前記第２レンズ群の間に光線分割手段を有することを特徴とする顕微鏡対物レンズによって解決される。 - 特許庁

To detect light emission from a detection object substance, in the presence of a foreign substance of emitting self-fluorescence, in a technology for measuring and analyzing fluorescence or phosphorescence by using an optical system of a confocal optical microscope.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。 - 特許庁

To offer an auxiliary illuminating arrangement for a slit lamp in which the entire image of the eye of a patient including an image of slit light is fetched from an imaging device by a video capture means without causing the patient to sense almost no dazzle and preventing operation of a slit lamp microscope.例文帳に追加

患者に眩しさを殆ど感じさせず、かつ細隙灯顕微鏡の操作を妨げることなく、ビデオキャプチャー手段によって、撮像装置からスリット光の像を含む患者の眼の全体の画像が取り込まれるようにする。 - 特許庁

Since a zoom optical system 10 of a normal light path A is formed horizontally, and a high-power optical path C is formed horizontally outside the zoom optical system 10, thereby reducing the vertical size H1 of a microscope body.例文帳に追加

通常光路Ａのズーム光学系１０を水平に形成し、高倍率光路Ｃをそのズーム光学系１０の水平方向外側にそれぞれ形成したため、顕微鏡本体の上下寸法Ｈ１を短縮することができる。 - 特許庁

In a camera chamber 160 of the nodular graphite cast iron quality measuring device 1000, a monochrome CCD camera 150 equipped with a microscope 153 and a light source 170 are arranged, and the optical axis of the camera 150 is set in a vertical direction.例文帳に追加

球状黒鉛鋳鉄品質測定装置１０００のカメラ室１６０には、顕微鏡１５３を備えたモノクロＣＣＤカメラ１５０と光源装置１７０とが配設され、カメラ１５０の光軸は鉛直方向に設けられている。 - 特許庁

More particularly, a plurality of targets can be labeled by a metal specifically deposited and other chromogenic labels, and the use of bright field light microscope enables chromogenic immunohistochemical (IHC) detection in situ.例文帳に追加

より詳細には、複数の標的が、特異的に沈着される金属および他の発色標識で標識され得、明視野光学顕微鏡を用いることによってインサイチュで発色免疫組織化学的（ＩＨＣ）検出が可能になる。 - 特許庁

The black defect is removed by the same method as anodic oxidation by using that DLC is oxidized by partial VUV light irradiation from a scanning proximity place optical microscope probe in an ozone atmosphere, it becomes the volatile component and is removed.例文帳に追加

またはオゾン雰囲気下での走査近接場光学顕微鏡探針からの局所VUV光照射でDLCが酸化され揮発性成分となって除去されることを利用し、陽極酸化と同様な方法で黒欠陥を除去する。 - 特許庁

In the process of the increase, the power of the laser light source of the 1st microscope 21A is gradually decreased to make electrons (current) based upon internal photoelectron effect flow, thus obtaining an abnormal point based upon an actual crystal defect, etc.例文帳に追加

この上げていく過程で、同時に、第１マイクロスコープ２１Ａのレーザ光源のパワーをゆっくり下げていき、内部光電子効果に基づく電子（電流）が流れるようにして、実際の結晶欠陥等に基づく異常点を得る。 - 特許庁

By observing the light emission of the dummy circuit 3 formed on the semiconductor chip 2 under failure analysis by an emission microscope or the like, the semiconductor chip 2 under failure analysis can be easily identified within a short time.例文帳に追加

エミッション顕微鏡などにより、不良解析中の半導体チップ２に設けられたダミー回路３の発光を観察することによって、不良解析中の半導体チップ２を容易に、かつ短時間で確認することができる。 - 特許庁

A microscope (detecting means) 10 observes a polarization holding optical fiber 1 in a direction parallel to an irradiation direction of refractive index varying exciting light A and a computer 18 finds the bearing of the optical fiber 1 according to the observed image.例文帳に追加

顕微鏡（検出手段）１０は、屈折率変化誘起光Ａの照射方向と平行な方向から偏波保持光ファイバ１を観察し、コンピュータ１８は、この観察像に基づいて偏波保持光ファイバ１の方位を求める。 - 特許庁

To provide a near-field light detection method and a device therefor having excellent spatial resolution and detection sensitivity of a near field, measuring a space distribution of near-field light by examining an electric potential distribution of surface plasmon excited by the near-field light by a Kelvin force microscope having spatial resolution of an atom to a nanometer order.例文帳に追加

本発明は、原子〜ナノメートルの空間分解能を持つケルビンフォース顕微鏡により、このこの近接場光により励起される表面プラズモンの電位分布を調べることにより、近接場光の空間分布を計測するものであり、空間分解能と近接場の検出感度に優れる近接場光検出方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This confocal laser scanning microscope having at least one detector 4 to detect detecting light 3 coming from at least one laser beam source 1 for irradiating a sample 2 is provided with additional light source 5 and 8 which are not single mode (TEM00) laser beam sources in order to extend the use of the CLSM while using the light source which is inexpensively acquired and operated.例文帳に追加

試料（２）を照射するための少なくとも１つのレーザ光源（１）および試料からくる検出光（３）を検出するための少なくとも１つの検出器（４）を有する共焦点レーザ走査顕微鏡は、獲得および運転が低コストである光源の使用に関して、ＣＬＳＭ用途を拡張するために、単一モード（ＴＥＭ００）レーザ光源ではない追加光源（５，８）が設けられる。 - 特許庁

The device partially attenuates the light intensity (lightness) of the lighting of a microscope having, for example, a lighting optical path, a main objective, a light source, and a spectrum filter; and the spectrum filter (4) is so constituted that the light intensity values of different wavelength ranges (22) are attenuated to a specific extent (attenuated intensity Int 0) in mutually different spatial lighting areas (21).例文帳に追加

例えば、照明光路、主対物レンズ、光源及びスペクトルフィルタを有する顕微鏡における、照明の光強度（明るさ）を部分的に減衰する装置において、互いに異なる空間的照明領域（２１）において、異なる波長レンジ（２２）の光強度を所定の程度（減衰強度Int０）（２４）に減衰するように、スペクトルフィルタ（４）が構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided at least with a polarization modulator which lets circularly-polarized light in a rotating polarizer to modulate and irradiate the P-polarized component of linear polarization on the probe tip, and a photodetector for detecting scattered light between the probe tip and the sample at the time point, when P-polarized light is irradiated on the probe tip.例文帳に追加

円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端へ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射する偏光変調装置と、プローブ先端にＰ偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する光検出部とを少なくとも有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 特許庁

The transparent composite material comprises a transparent resin (a) and a glass filler (b) and has ≤150°C temperature expressing the minimum value of light volume when temperature dependence of the permeated light volume is measured by putting the transparent composite material in a deflection microscope in which the deflection axis intersects 90°at an angle expressing the maximum light volume in a transparent mode.例文帳に追加

透明樹脂（ａ）及びガラスフィラー（ｂ）から構成される透明複合体であって、前記透明複合体を偏向軸が９０°に交差した偏向顕微鏡に設置し、透過モードで透過する光量が最大値を示す角度において、透過する光量の温度依存性を測定した場合に、光量の最小値を示す温度が１５０℃以下である透明複合体。 - 特許庁

To provide an optical axis adjusting auxiliary device capable of guiding easily and surely an irradiation spot to the center of a light receiving surface on the light receiving surface of a quadripartite photodetector, and facilitating an optical axis adjusting work, in the optical axis adjusting work of a scanning probe microscope or the like equipped with an optical lever type optical detection system.例文帳に追加

光てこ式光学検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡等での光軸調整作業で、４分割光検出器の受光面でて照射スポットが受光面の中心に容易にかつ確実に導くことができ、光軸調整作業の容易化を図ることのできる光軸調整補助装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operating microorganism which permits good observation by allowing much illumination light to arrive at an operating site even in observation particularly at a high magnification when an observer gives a patient medical treatment of the deep operating site without the loss of the illumination light or without upsizing of the microscope.例文帳に追加

本発明の目的とするところは、照明光のロスや顕微鏡の大型化を招くこと無く、観察者が深い術部の底を処置する場合で特に高倍率の観察時においても術部に多くの照明光を到達させて良好な観察を行なうことが可能な手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The light shielding plate 140 of the scanning type confocal microscope 100 is movable (X-Y direction) within the plane perpendicular to the optical axis L of the detecting light returning from a specimen 1 and is movable back and forth in the optical axis L direction (Z direction) around a point G conjugate with the spot on the specimen 1.例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡１００において、遮光板１４０は、標本１かから戻ってきた検出光の光軸Ｌに垂直な面内で移動可能で（Ｘ−Ｙ方向）、かつ、標本１上のスポットと共役な点Ｇを中心に光軸Ｌ方向（Ｚ方向）に前後移動可能である。 - 特許庁

When the stylus-type prove 10 is irradiated with illumination light from a laser light source 4 through the glass substrate 20, an interference fringe appears resulting from the gap G, and the position in the X-direction of the interference fringe is detected by a microscope 2 and a CCD camera 3, to thereby measure the irregularity quantity on the sample S surface.例文帳に追加

レーザー光源４からの照明光をガラス基板２０を通して触針式プローブ１０へ照射すると、ギャップＧに起因して干渉縞が現れ、その干渉縞のＸ方向の位置を顕微鏡２とＣＣＤカメラ３で検出することにより、試料Ｓの表面の凹凸量を測定する。 - 特許庁

This optical microscope is provided with an objective lens 2 forming a 1st real image by enlarging the image of a sample, a light amplification means whose photoelectric surface is arranged at a position where the 1st real image is formed and an ocular 3 enlarging a 2nd real image optically amplified and outputted from the light amplification means as a virtual image.例文帳に追加

光学顕微鏡において、標本を拡大して第１の実像を結像させる対物レンズと、第１の実像の結像位置に光電面が配置された光増幅手段と、この光増幅手段から出力される光増幅された第２の実像を虚像として拡大する接眼レンズとを設ける。 - 特許庁

The total reflection fluorescence microscope makes the change over of vertical illumination and total reflection illumination possible by changing the incident angle of the illumination light to be radiated to a sample through an objective lens 7 from a laser beam source, in which the incident angle of the illumination light from the objective lens 7 on the sample is regulated to a range making the total reflection illumination obtainable.例文帳に追加

レーザ光源から対物レンズ７を介して試料に照射される照明光の入射角を変化させ落射照明と全反射照明の切換えを可能にした全反射蛍光顕微鏡であって、照明光の対物レンズ７から試料への入射角を全反射照明が得られる範囲に規制する。 - 特許庁

The detecting device for an optical device, particularly for the confocal microscope, includes: a detector; an aperture plate (2) disposed within an optical path (1) of a detected light ray so as to be positioned in front of the detector; and a lens (3) disposed in front of the aperture plate (2) and used to focus the detected light ray on the aperture plate (2).例文帳に追加

検出器と、該検出器の前に位置するように検出光の光路（１）内に配置されるアパーチャープレート（２）と、該アパーチャープレート（２）の前に配置される、検出光をアパーチャープレート（２）に合焦させるためのレンズ（３）とを備える光学装置用検出装置、特に共焦点顕微鏡用検出装置。 - 特許庁

To provide a quantitative phase microscope A designed so that light use efficiency is high, disturbance is highly resisted, a quantity of light can be easily adjusted, the need for a space filter 43 specially provided to match a wavelength is eliminated, and quantitative measurement of the thickness of a specimen S or the like can be performed with high measurement precision.例文帳に追加

光利用効率が高く、外乱に対して強く、光量調節を容易に行え、波長に応じて専用の空間フィルタ４３を用いる必要がなく、測定試料Ｓの厚みなどの定量的な測定を高い測定精度で行うことが可能な定量位相顕微鏡Ａを提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope includes a light source 35 for irradiating the photoreactive substance on the substrate 1, a sensor 27 for detecting the photoreaction produced in the photoreactive substance by inspection light, an arranging mechanism 145 for arranging a probe 40 to a photoreactive region where the photoreaction on the substrate 1 is detected and a scanning mechanism 45 for allowing the probe 40 to scan the photoreactive region.例文帳に追加

基板1上の光反応物質に検査光を照射する光源35、検査光により光反応物質で生じた光反応を検出するセンサー27、基板1上の光反応が検出される光反応部位に探針40を配置する配置機構145、及び探針40に光反応部位を走査させる走査機構45を備える。 - 特許庁

The scan near-field optical microscope comprises a light source for irradiating light on the location to be observed of the sample and adjusting the angle of incidence, and a detecting means to detect the irradiating light reflected by the sample, and can measure the angle dependency to the angle of incidence of the intensity of the reflected light detected by the detecting means.例文帳に追加

また、本発明の別態様によると、試料の観察部位に照射光を照射する、入射角度を調節可能な光源と、上記試料で反射された上記照射光を検出する検出手段とを具備し、上記検出手段で検出した反射光強度の上記入射角に対する角度依存性を測定可能に構成されていることを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

This detection device of the leakage current spot of a semiconductor chip is characterized by being equipped with an application means 13 for applying a material melting by heat and changing the reflection state of light on at least one side of the semiconductor chip 11, an optical microscope 12 for observing the material applied surface of the semiconductor chip 11, and an image processing device 14 electrically connected to the optical microscope 12.例文帳に追加

加熱により溶けて光の反射状態を変化させる物質を、半導体チップ１１の少なくとも片面に塗る塗布手段１３と、前記半導体チップ１１の物質塗布面を観察する光学顕微鏡１２と、この光学顕微鏡１２に電気的に接続された画像処理装置１４とを具備することを特徴とする半導体チップの漏洩電流箇所の検出装置。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting method capable of always detecting a high-precision focus even on an object image to be processed which has a step and is composed of a complicated pattern in a device which performs image processing such as size measurement by using a combination of a microscope and an imaging device which picks up a light image of an object formed by the microscope.例文帳に追加

顕微鏡とこれにより形成され被写体の光像を撮像する撮像装置とを組み合わせ、寸法測定等の画像処理を行う装置において、段差があり、複雑なパタ−ンで構成される被写体像でも、常に、処理対象となる被写体像に対して高精度の焦点を検出することができる自動焦点検出方法を提供する。 - 特許庁

The gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by an electric field generated by a voltage applied on a conductive probe of a submerged scanning probe microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by a high electric field enhanced at the top of the probe by irradiating a conductive probe of a submerge scanning probe microscope with laser light.例文帳に追加

ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧印加して電界または液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針にレーザを照射して針先で増強された高電界により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

In the particle diameter distribution measuring method, scattered beams of light, which are scattered by particle groups contained at respective depths, are continuously condensed from the different depths of the cell 2 by moving the condensing region of a dark-field microscope 4.例文帳に追加

本発明に係る粒子径分布測定方法は、暗視野顕微鏡４の集光領域を移動させることによって、セル２の異なる深度から各深度に含まれる粒子群によって散乱される散乱光を連続して集光する。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens which can be used not only for the light of wavelength 248 nm but also for the ultraviolet rays of short wavelength 193 nm to 157 nm by making each of all the lens components constituting 1st and 2nd lens groups a single lens arranged separated with air spacing with each other and making the objective lens satisfy specified conditions.例文帳に追加

倍率が１００倍程度で、開口数が０．９程度の大口径で、２４８ｎｍの波長光のみならず、１９３ｎｍや１５７ｎｍの短波長の紫外光でも利用することのできる顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

This microscope has a light source 1, a condenser lens 5, an opening 6a arranged in the front side focal position of the condenser lens 5, an objective lens 7 and a modulator 14 which is arranged in a position approximately conjugate with the opening 6a and has a region of transmittance T(%).例文帳に追加

光源１と、コンデンサレンズ５と、コンデンサレンズ５の前側焦点位置に配置された開口６aと、対物レンズ７と、開口６aと略共役な位置に配置されていて透過率Ｔ（％）の領域を持つ変調器１４とを備えている。 - 特許庁

To provide an information processor, an information processing method, a program, an imaging device and an imaging device having a light microscope which can generate multiple images subject to which stitching processing, while suppressing deterioration of an imaged sample.例文帳に追加

撮影される試料の劣化を抑ながら、スティッチング処理される複数の画像を生成することを可能とする情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

The surgical microscope for observing infrared fluorescence includes a camera system 25 having three chips 35, 36, 37, wherein infrared light emanating from an object 9 is supplied to only one chip among the three chips of the camera via a dichroic beam splitter 33.例文帳に追加

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡は、３つのチップ３５、３６、３７を有するカメラシステム２５を含み、対象物９から発する赤外光は、ダイクロイックビームスプリッタ３３を介して３つのカメラチップのうちの１つのみに供給される。 - 特許庁

To form right and left images having uniform brightness on an image pickup surface by correcting the respective deviation of the illuminance of right and left subject images caused by that the object light of the pair of photographing optical systems of a stereoscopic microscope is reflected by each reflection member.例文帳に追加

立体顕微鏡の一対の撮影光学系の被写体光が各反射部材に反射されることにより生じる左右の被写体像の夫々の照度の偏りを補正し、均等な明るさを有する左右の像を撮像面に形成する。 - 特許庁

There is used an ultrasonic microscope 1a in which ultrasonic waves are generated by using pulsed light, the generated ultrasonic waves are converged by an acoustic lens 2 and radiated to a sample 6 and the sample 6 is observed by using the reflected ultrasonic waves.例文帳に追加

パルス光を用いて超音波を発生させ、発生した超音波を音響レンズ２で収束させて試料６に照射し、試料６で反射した反射超音波を用いて、試料６を観察する超音波顕微鏡１ａを用いる。 - 特許庁

To provide a polariscopic phase microscope that precisely observes a specimen, and more specifically, observes a structure and change of a physiological cell by using a phase contrast of light passing through components of the physiological cell.例文帳に追加

本発明は、標本を精密に観察するための偏光位相顕微鏡に関し、より詳くは、生体細胞の構成要素を通過する光の位相差を用いて生体細胞の構造および変化を観察することが可能な偏光位相顕微鏡に関する。 - 特許庁

In another example of the visual inspecting method and apparatus, images are acquired by a confocal microscope having two corresponding pinhole arrays provided in its illumination and light receiving sides and a single TDI camera.例文帳に追加

本発明の他の態様によれば、対応する２つのピンホールアレイ（３７，３８）を顕微鏡の照明側と受光側に設けた共焦点顕微鏡と１つのＴＤＩカメラ（４０）により画像を取得する外観検査方法及び装置が提供される。 - 特許庁

To examine a physical property of a target of inspection having one of its surfaces covered with a member resistant to transmission of laser light or a magnetic field, a semiconductor IC mounted on a substrate for example, by a laser SQUID microscope with higher sensitivity.例文帳に追加

レーザー光や磁場の透過が困難な部材により片面が覆われている検査対象物、例えば基板に実装された半導体ＩＣでも、レーザーＳＱＵＩＤ顕微鏡による物理的性質の検査をより高感度に行うこと。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of securing a desired length measurement accuracy by turning the pixel size of a CCD element or the size of a light spot to the size for providing at least about four pixels at all times for one edge of a fine cycle structure to be an object.例文帳に追加

ＣＣＤ素子の画素サイズ又は光スポットの大きさを、対象となる微細周期構造の１つのエッジに対して常に少なくとも４画素程度含まれる大きさにして所望の測長精度を確保できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a near field opticalprobe which can be manufactured at low cost by simple process, a near field opticalprobe, a near field optical microscope, a near field light fine processing device and a near field optical record playback device.例文帳に追加

単純な工程で、安価なコストで作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。 - 特許庁