「memory cell array」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

The global decoder 71 comprises a second logic block 97 receiving an address specifying input 101 and outputting a signal selecting an individual row of the memory cell 13 included in the SRAM array 99.例文帳に追加

グローバルデコーダ(71)は、アドレス指定入力(101)を受け取り、SRAMアレイ(99)に含まれるメモリセル(13)の個々の行を選択する信号を出力する第2の論理ブロック(97)を含む。 - 特許庁

A decision circuit 26 holds the write prohibition data read from the storing part in an initial anode and controls an access to the memory cell array in accordance with the write prohibition data.例文帳に追加

判定回路２６は、初期化モード時に記憶部から読み出された書き込み禁止データを保持し、この書き込み禁止データに応じて、メモリセルアレイに対するアクセスを制御する。 - 特許庁

The semiconductor device includes, above the memory cell array, a plurality of bit lines extending along the first direction, connected to a plurality of bit line contact regions, and arranged successively in the second direction.例文帳に追加

メモリセルアレイ上方に、第１の方向に沿って延在し、複数のビット線コンタクト了以金に接続され、第２の方向に並んで配置された複数のビット線を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can activate the cell array according to the refresh mode without increasing the number of wirings and circuit area.例文帳に追加

配線本数の増加及び回路面積の増加を招かずに、リフレッシュの種別に応じたセルアレイ部の活性化期間を実現できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A transistor N10 is connected between a tangent line node ND1 connected to a memory cell array MCA and a resistor R1 constituting a voltage detecting circuit VDC.例文帳に追加

メモリセルアレイＭＣＡに接続される接続ノードＮＤ１と、電圧検出回路ＶＤＣを構成する抵抗Ｒ１の相互間には、トランジスタＮ１０が接続されている。 - 特許庁

A contact opening 121 is formed in the dielectric layer 120 lowered to the surface of a bit line diffused part 115 of the specified region at the outside of the memory cell sub-array.例文帳に追加

コンタクト開口１２１は、メモリセルサブアレイに対して外側にある規定された領域のビットライン拡散部１１５の表面まで下がった誘電層１２０に形成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that prevents a precharge speed from decreasing owing to a wiring layout when a memory cell array having a hierarchical bit line configuration is in precharge operation.例文帳に追加

ビット線構成が階層化されたメモリセルアレイのプリチャージ動作時に配線レイアウトに起因するプリチャージ速度の低下を防止可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device with an ECC function capable of writing data at high speed even in the case of writing data only in the specific column of a memory cell array.例文帳に追加

メモリセルアレイのうち特定の列のみにデータの書込みを行なうような場合にでも、高速に書込みができるＥＣＣ機能付き半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A storage circuit 71 stores an address of a block when a failure occurs when the erasure circuit erases data from the prescribed block of the memory cell array by the erasure circuit.例文帳に追加

記憶回路７１は、消去回路によるメモリセルアレイの所定のブロックに対するデータの消去動作時に不良が発生した場合、ブロックのアドレスを記憶する。 - 特許庁

A data bus control circuit 13 is provided to switch a data transmission circuit in the data bus coupled to the memory cell array on the basis of the result of the address decoder.例文帳に追加

上記アドレスデコーダのデコード結果に基づいて、上記メモリセルアレイに結合されたデータバスにおけるデータ伝達路の切り替えを可能とするデータバス制御回路（１３）を設ける。 - 特許庁

To provide a method for setting a threshold voltage for a reference cell in a core array, for the optimum readout allowance and for performing the best memory operation.例文帳に追加

本発明は、最適な読み出しマージン及び最良のメモリ動作を行うための、コアアレイ内の基準セルの電圧閾値を設定する手法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A flash EEPROM 100 has a trimming value storage area 130 for storing a trimming value corresponding to each erase unit area 120 included in a memory cell array 110.例文帳に追加

フラッシュＥＥＰＲＯＭ１００は、メモリセルアレイ１１０に含まれる各消去単位領域１２０に対応して、トリミング値を記憶するトリミング値記憶領域１３０を備える。 - 特許庁

Thus, the influence of a short circuit of a word line and a bit line caused at one side of a memory array side is transmitted to the other side of the memory cell array side by controlling the operation timing of the bit line separation signal by an external signal, defective bit lines of the shared sense amplifier can be detected.例文帳に追加

このように、ビット線分離信号の動作タイミングを外部信号によって制御することにより、一方のメモリセルアレイ側で発生したワード線とビット線とのショートの影響が他方のメモリセルアレイ側にも伝わり、シェアードセンスアンプの両側のビット線不良を検出することが可能となる。 - 特許庁

The method includes: a step for partitioning information into two or more information chunks; and a step for programming one of the information chunks into a memory array while concurrently determining whether a particular cell of the memory array is to be set or reset to program a subsequent one of the information chunks.例文帳に追加

二以上の情報チャンクに情報を区分するステップと、後続する前記情報チャンクの一つをプログラムするように、メモリアレイの特定のセルをセットするかリセットするかについて同時に決定する間に、前記情報チャンクの一つをメモリアレイにプログラムするステップとを具備する。 - 特許庁

A memory cell array is configured three-dimensionally by arranging a plurality of memory cells comprising a transistor formed on a semiconductor substrate and a variable resistor element connected between the source and drain terminals of the transistor and the resistance value of which varies at voltage application in the longitudinal direction and in an array.例文帳に追加

半導体基板上に形成されたトランジスタと前記トランジスタのソース・ドレイン端子間に接続された電圧印加によって抵抗値が変化する可変抵抗素子とを備えてなるメモリセルを縦方向、さらにアレイ状に複数個配置して３次元的にメモリセルアレイを構成する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory in which high speed and low power consumption data read can be performed, a high speed read region and a low power consumption read region can be set freely for a memory cell array.例文帳に追加

高速・低消費電力読み出しを可能とし、且つメモリセルアレイに対して高速読み出し領域・低消費電力読み出し領域を自由に設定可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To restrain removal of an isolation insulating film of a memory cell array region in an MOS-type semiconductor memory device, set an overlap between an isolation insulating film and a contact pad minimum, and restrain increase of a chip area.例文帳に追加

ＭＯＳ型半導体記憶装置においてメモリセルアレイ領域の素子分離絶縁膜が掘れるのを抑制し、素子分離絶縁膜とコンタクトパッドとのオーバーラップを最少に設定し、チップ面積の増大を抑制する。 - 特許庁

A crossbar switch 202 is provided for switching an address to a defective cell in the array of the first memory unit 201 to the second memory unit 201 to access a selected one of the redundant cells.例文帳に追加

第１のメモリユニット２０１のアレイにおける欠陥セルに対応するアドレスを第２のメモリユニット２０１へと切り替えて、冗長セルの中から選択されたあるセルへとアクセスするためのクロスバースイッチ２０２が設けられる。 - 特許庁

The memory cell array includes a plurality of memory cells respectively arranged at a plurality of word lines, a plurality of bit lines crossing the plurality of word lines, and intersections between the plurality of word lines and the plurality of bit lines.例文帳に追加

前記メモリセルアレイは、複数のワード線、前記複数のワード線に交差する複数のビット線、及び、前記複数のワード線と前記複数のビット線との交差部にそれぞれ設けられた複数のメモリセルを有する。 - 特許庁

To make influence given to an area of a semiconductor memory device due to installation of a redundant memory cell array and a high-sensitive redundant sense amplifier, which have large areas, in the semiconductor storage device comparatively small.例文帳に追加

半導体記憶装置に面積の大きな冗長メモリセルアレイ、高感度冗長センス増幅器を設けることによる、半導体記憶装置の面積に与える影響を比較的小さくすることが課題である。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device including a non-volatile memory with a well structure in consideration of the element alignment of memory cell array blocks and a driving voltage supply block, and to provide an electronic apparatus including the device.例文帳に追加

メモリセルアレイブロックと駆動電圧供給ブロックとでの素子配列を考慮したウェル構造を有する不揮発性メモリを有する半導体集積回路装置及びこれを含む電子機器を提供すること。 - 特許庁

Light piping is lengthened by shading of memory array 33 and several characteristics of the image sensor, holding time of memory cell being lengthened under the effect of sub threshold current that increases according to light and photocharge in the substrate.例文帳に追加

メモリアレイ３３の遮光と画像センサの幾つかの特徴とにより、光パイピング、光により増加するサブスレショルド電流、及び基体における光電荷の影響をさせることにより、メモリセルの保持時間が長くなる。 - 特許庁

To provide a data writing method that enables the write of the data pattern for function evaluation at high speed and shorten the evaluation time in a non-volatile semiconductor memory device having a cross point memory cell array.例文帳に追加

クロスポイント型のメモリセルアレイを有する不揮発性半導体記憶装置において、機能評価用のデータパターンの書き込みを高速化して評価時間の短縮化を可能とするデータ書き込み方法を提供する。 - 特許庁

In a data register (10) latching data of a selected memory cell in a memory array (MAR, MAL), when defect of the latch circuit included in this data register exists, a means for performing defect relieving is provided.例文帳に追加

メモリアレイ（ＭＡＲ，ＭＡＬ）において選択メモリセルのデータをラッチするデータレジスタ（１０）において、このデータレジスタに含まれるラッチ回路の不良が存在する場合その不良救済を行なうための手段を設ける。 - 特許庁

An electrically conducting interconnect element is deposited onto at least selected vertical pillar transistors and a non-volatile variable resistive memory cell is deposited onto the electrically conducting interconnect element to form a vertical transistor memory array.例文帳に追加

導電相互接続素子が、少なくとも選択された縦型ピラートランジスタ上に堆積されるとともに、不揮発性可変抵抗メモリセルが、導電相互接続素子上に堆積されて、縦型トランジスタメモリアレイを形成する。 - 特許庁

In a memory cell array 1, a plurality of wordlines WL0-WL31, a plurality of bit lines BL0e-BL8ko, a plurality of memory cells MC connected with a plurality of wordlines and a plurality of bit lines are arranged.例文帳に追加

メモリセルアレイ１には、複数のワード線ＷＬ０〜ＷＬ３１と、複数のビット線ＢＬ０ｅ〜ＢＬ８ｋｏと、複数のワード線及び複数のビット線に接続された複数のメモリセルＭＣが配置されている。 - 特許庁

A control unit 20 stores a data unit input finally among a plurality of data units constituting one reception unit in a memory cell with a first address in a memory array 2, and stores a data unit input previous to the data unit finally input in another memory cell with a second address different from the first address.例文帳に追加

制御部２０は、１受信単位を構成する複数のデータユニットのうち、最後に入力されたデータユニットをメモリアレイ２内の第１のアドレスのメモリセルに格納し、最後に入力されたデータユニットに先行して入力されたデータユニットをメモリアレイ内の、第１のアドレスとは別の第２のアドレスのメモリセルに格納する。 - 特許庁

In a NAND type flash memory in which a memory cell array 1 is provided in a p-well 13, a positive voltage is applied to a source line SL consisting of n+ type diffusing layers or a negative voltage is applied to the p-well 13 at the time of erasing verifying operation by which threshold voltage of a memory cell in an erasing state is judged.例文帳に追加

ｐウェル１３中にメモリセルアレイ１が設けられたＮＡＮＤ型フラッシュメモリにおいて、消去状態のメモリセルのしきい値電圧を判定する消去ベリファイ動作時に、ｎ^+ 型拡散層からなるソース線ＳＬに正の電圧を印加するか、または、ｐウェル１３に負の電圧を印加する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device 1 is equipped with; a SRAM (Static RAM) cell array 11 in which a plurality of memory cells each of which consists of CMOSFETs are arranged in matrix; and power source lines VL1 and GL1, etc., which are provided every one bit column , such as one bit column of the SRAM cell array 11.例文帳に追加

半導体集積回路装置１は、ＣＭＯＳＦＥＴから構成される複数のメモリセルが格子状に配置されたＳＲＡＭセルアレイ１１と、ＳＲＡＭセルアレイ１１の１ビット列等の１ビット列ごとに設けられた電源線ＶＬ１、ＧＬ１等を備えている。 - 特許庁

This NAND flash memory device includes a cell array connected to a plurality of bitlines, a page buffer for storing data to be programmed in the cell array, and a bitline setup circuit for successively setting up the plurality of bitlines with a specified unit in accordance with the data stored in the page buffer.例文帳に追加

本発明によるＮＡＮＤフラッシュメモリ装置は複数個のビットラインに連結されるセルアレイと、前記セルアレイにプログラムされるデータを貯蔵するページバッファと、前記ページバッファに貯蔵されたデータに応じて複数個のビットラインを一定の単位で順にセットアップするビットラインセットアップ回路とを含む。 - 特許庁

The device is provided with a read-out/write-in circuit 6a for echo signal and a data register 7a for echo signal which are arranged respectively in parallel to the read-out/ write-in circuit 6 and the data register 6 of the normal cell array 1 side and has the same constitution at the memory cell array 1a for echo signal side.例文帳に追加

ノーマルセルアレイ１側の読み出し／書き込み回路６及びデータレジスタ６とそれぞれ併設されて、エコー信号用メモリセルアレイ１ａ側にも同様の構成のエコー信号用読み出し／書き込み回路６ａおよびエコー信号用データレジスタ７ａが設けられる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a row repair circuit in which a plurality of redundant word liens are arranged in a plurality of cell array blocks by the prescribed number of pieces respectively in the same way, and repair efficiency is improved by enabling to repair a defective word line for any cell array block.例文帳に追加

複数個のリダンダントワードラインを、複数のセルアレイブロックにそれぞれ所定個数ずつ同様に配置し、どのセルアレイブロックであっても欠陥のあるワードラインをリペア可能とすることによりリペア効率を向上させるようにした、ローリペア回路を有する半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

A power supply control circuit (PCK0-PCKn) is provided corresponding to a memory cell array, and the voltage level of a cell source line (VDM, VSM) is set according to an access mode during the parallel execution of the read access and the write access.例文帳に追加

メモリセル列に対応して電源制御回路（ＰＣＫ０−ＰＣＫｎ）を設け、各列単位で、リードアクセスとライトアクセスの並行実行時のアクセス態様に応じてセルソース線（ＶＤＭ，ＶＳＭ）の電圧レベルを設定する。 - 特許庁

A contact type mask ROM including the memory cell array region 10 and a peripheral circuit region, includes a plurality of vias 104A to 104R, and 102R to 102H connecting predetermined wiring layers to each other, wherein the via 102A to 102H of the memory cell array region used for programming, and the vias 104A to 104R in the peripheral circuit region are different in diameter.例文帳に追加

メモリセルアレイ領域１０と、周辺回路領域を含むコンタクト方式のマスクＲＯＭであって、所定の配線層間を接続する複数のビア１０４Ａ〜Ｒ、１０２Ａ〜Ｈ、を含み、プログラミングに使用されるメモリセルアレイ領域１０のビア１０２Ａ〜Ｈと、前記周辺回路領域のビア１０４Ａ〜Ｒとでは、径の大きさが異なるマスクＲＯＭ。 - 特許庁

This circuit is provided with a memory cell array comprising redundant elements used for replacement of a defective element, a decoder circuit performing row and column selection of this memory cell array, and a replacement control circuit storing defective address, performing detection of coincidence between an inputted address and a defective address and controlling the decoder circuit so that the defective element is replaced by a redundant element.例文帳に追加

不良エレメントの置換に用いられる冗長エレメントを含むメモリセルアレイと、このメモリセルアレイの行列選択を行うデコーダ回路と、不良アドレスを記憶し、入力されたアドレスと不良アドレスの一致検出を行って不良エレメントを冗長エレメントで置き換えるべく前記デコード回路を制御する置換制御回路とを備える。 - 特許庁

This circuit is provided with a memory cell array 1, an ATD circuit 7 detecting transition of a row address signal and transition of a column address signal, and a control circuit 5 generating an internal circuit control signal having desired length required for row access for the memory cell array based on only a detected output of the ATD circuit and controlling row access and column access based on this control signal.例文帳に追加

メモリセルアレイ1 と、ロウアドレス信号の遷移およびカラムアドレス信号の遷移をそれぞれ検知するATD 回路7 と、ATD 検知出力のみに基づいてメモリセルアレイに対するロウアクセスに必要な所望の長さの内部回路制御信号を発生し、この制御信号に基づいてロウアクセスおよびカラムアクセスを制御する制御回路5 とを具備する。 - 特許庁

Preferably, a controller performing set-up algorithm is formed on the same chip, mostly preferably, this set-up program decides a writing current (some times, a writing current is plural) used when binary data bits are written in a memory cell array, simultaneously, a writing current holding data previously written in the other memory cell of the array.例文帳に追加

好ましくは、これと同じチップ上にセットアップアルゴリズムを実行するコントローラが形成され、最も好ましくは、このセットアッププログラムは、アレイのメモリセルに２進データビットを書き込む際に使用される書き込み電流（書き込み電流は複数の場合もある）であって、同時に、アレイの他のメモリセルに以前書き込まれたデータを保持する書き込み電流を決定する。 - 特許庁

After a CPU 102 writes data to a memory cell in a memory cell array 103, the data are read and verified and when the data are discrepant, the CPU supplies a phase program signal FP to a phase program part 109, which programs a defective address in a phase part and substitutes a spare memory for the memory cell where the defect occurs according to the address programmed in the phase part.例文帳に追加

ＣＰＵ１０２からメモリセルアレイ１０３中のメモリセルにデータを書き込んだ後、このデータを読み出してベリファイを行い、不一致のときに上記ＣＰＵからフューズプログラム部１０９にフューズプログラム信号ＦＰを供給し、上記フューズプログラム部でフューズ部に不良アドレスをプログラムし、上記フューズ部にプログラムされたアドレスに基づいて、不良が発生したメモリセルをスペアメモリセルに置換することを特徴としている。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor memory device has a memory cell array in which electrically re-writable nonvolatile memory cells are arranged, a first register group 9-1 holding control data used for operation control, an adjusting data storing region storing adjusting data for finely adjusting the control data set in the memory cell array, and a second register group 9-2 holding the adjusting data read from the adjusting data storage region.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、電気的書き換え可能な不揮発性メモリセルが配列されたメモリセルアレイと、動作制御に用いられる制御データを保持する第１のレジスタ群９−１と、前記メモリセルアレイ内に設定された、前記制御データを微調整するための調整データを記憶する調整データ記憶領域と、前記調整データ記憶領域から読み出された調整データを保持する第２のレジスタ群９−２と、を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage suited for image processing by reducing time for reading and writing data on resetting in the semiconductor storage with a memory cell array comprising an SDRAM and a register array comprising an SRAM.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭより成るメモリアレイ及びＳＲＡＭより成るレジスタアレイを備える半導体記憶装置におけるリセット時にデータのリード及びライトの時間を短縮し、もって、画像処理に好適な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To prevent writing errors of TMR elements having a small writing margin, by equalizing to each other the values of the writing currents flowing through the writing wirings formed in the array of the respective stages of the laminated cell array of a magnetic random access memory.例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリの積層セルアレイの各段アレイに形成された書き込み配線に流れる書き込み電流の値を各段で等しくなるようにし、書き込みマージンの少ないＴＭＲ素子の誤書き込みを防止する。 - 特許庁

The circuit blocks CB1 to CBN include at least one memory block MB which stores image data, and at least one data driver block DB for driving data lines; and the memory block MB includes a memory cell array, a row address decoder RD, and a sense amplifier block SAB.例文帳に追加

回路ブロックＣＢ１〜ＣＢＮは、画像データを記憶する少なくとも１つのメモリブロックＭＢと、データ線を駆動するための少なくとも１つのデータドライバブロックＤＢを含み、メモリブロックＭＢは、メモリセルアレイとローアドレスデコーダＲＤとセンスアンプブロックＳＢを含む。 - 特許庁

A nonvolatile semiconductor memory device related to one embodiment includes: a memory cell array; a plurality of memory strings; a drain side selection transistor; a source side selection transistor; a plurality of word lines; a plurality of bit lines; a source line; a drain side selection gate line; a source side selection gate line; and a controlling circuit.例文帳に追加

一態様に係る不揮発性半導体記憶装置は、メモリセルアレイ、複数のメモリストリング、ドレイン側選択トランジスタ、ソース側選択トランジスタ、複数のワード線、複数のビット線、ソース線、ドレイン側選択ゲート線、ソース側選択ゲート線、及び制御回路を有する。 - 特許庁

A memory cell array comprises: a charge storage film formed on a channel region through a gate insulating film; and a plurality of memory strings being arranged and comprising memory cells that include control gates formed on the charge storage film through an inter-gate insulating film and are series-connected.例文帳に追加

メモリセルアレイは、チャネル領域上にゲート絶縁膜を介して形成された電荷蓄積膜と、その電荷蓄積膜上にゲート間絶縁膜を介して形成された制御ゲートとを備えたメモリセルを直列接続してなるメモリストリングを複数配列してなる。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage device has a memory cell array area formed by arraying a plurality of memory cells 100 having first and second MONOS memory cells 108A and 108B controlled by a word gate and a control gate in first and second directions A and B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲートとコントロールゲートにより制御される第１，第２のＭＯＮＯＳメモリセル１０８Ａ，１０８Ｂを有するメモリセル１００を、第１，第２の方向Ａ，Ｂにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域を有する。 - 特許庁