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memory cell arrayの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1853件
The calibration controller 50 tests the combination of a particularly selected memory cell 44 and one sense amplifier 26 of the array 44 of sense amplifiers related to the memory cell 14 in view of then existing environmental conditions, to assure that the sense amplifier 26 has an acceptable calibration state.例文帳に追加
較正コントローラ50は、そのときの環境条件を考慮して、個別に選択されたメモリセル14と、それに関連するセンス増幅器アレイ44の1つのセンス増幅器26との組合せを検査することにより、そのセンス増幅器26が許容可能な較正状態を確実に有するようにする。 - 特許庁
In the DRAM 1, the gate insulating film (not shown in the figure) of each transistor in a memory cell array block 11 and an I/O circuit block (I/O circuit area) 13 constituting the memory cell area of the DRAM 1 is formed thicker in thickness than the gate insulating film of each transistor in the peripheral circuit block (peripheral circuit area) 12.例文帳に追加
DRAM1において、メモリセル領域を構成するメモリセルアレイブロック11およびI/O回路ブロック13(I/O回路領域)の各トランジスタのゲート絶縁膜(図示せず)を、周辺回路ブロック12(周辺回路領域)のトランジスタのゲート絶縁膜よりも厚く形成したものである。 - 特許庁
The memory cell array 1 is provided with a core selecting means selecting cores of arbitrary numbers to perform write-in/erasion of data, data is written in a selected memory cell in a selected core based on a write-in command, and data erasion of a selected block in a selected core is performed based on an erasion command.例文帳に追加
データ書き込み/消去を行うために任意個数のコアを選択するコア選択手段を備え、書込みコマンドに基づいて選択されたコア内の選択されたメモリセルにデータ書き込みを行い、消去コマンドに基づいて選択されたコア内の選択されたブロックのデータ消去を行う。 - 特許庁
The source line SL of a memory cell Trm formed in the N well of a memory cell array 11 is connected commonly to a column source line CSL being a source line in a block and a block source source line BSL in common, and is connected to a source line MSL outside the block via a block source select gate BSSG.例文帳に追加
メモリセルアレイ11のNウェルに形成したメモリセルTrmのソース線SLを、ブロック内ソース線であるカラムソース線CSLおよびブロックソース線BSLで共通に接続するとともにブロックソースセレクトゲートBSSGを介してブロック外ソース線MSLに接続する。 - 特許庁
A scramble circuit 27 is provided between an address buffer 25, a row decoder 21 and a column decoder 23, scrambling is executed with the scramble circuit 27 to the address signal supplied from an external circuit and only one memory cell 19 is selected from the memory cell array 17 depending on the scrambled address signal.例文帳に追加
アドレスバッファ25と行デコーダ21及び列デコーダ23との間にスクランブル回路27を設け、スクランブル回路27によって外部から供給されるアドレス信号にスクランブル処理を施し、そのスクランブル処理されたアドレス信号に従って、メモリセルアレイ17の中から一つのメモリセル19を選択する。 - 特許庁
The memory cell array is provided with a core selecting means selecting the arbitrary number of cores to perform write-in/erasion of data, thereby the data are written in the selected memory cell in a core selected based on a write-in command, and data erasion of a selected block in a selected core is performed based on an erasion command.例文帳に追加
データ書き込み/消去を行うために任意個数のコアを選択するコア選択手段を備え、書込みコマンドに基づいて選択されたコア内の選択されたメモリセルにデータ書き込みを行い、消去コマンドに基づいて選択されたコア内の選択されたブロックのデータ消去を行う。 - 特許庁
In a magnetic memory provided with a memory cell array in which memory cells having magnetic resistance elements being writable by changing resistance by making current flow are arranged in a matrix state, the test method of the memory includes a writing step performing writing of test data for the memory cell by using a writing pulse having height of writing pulse height or less during use also having narrower width than width of the writing pulse.例文帳に追加
電流を流して抵抗を変化させることにより書き込みが可能な磁気抵抗素子を有するメモリセルがマトリクス状に配列されたメモリセルアレイを備えた磁気メモリにおいて、使用時の書き込みパルスの高さ以下の高さを有しかつ当該の書き込みパルスの幅よりも狭い幅を有する書き込みパルスを用いて前記メモリセルに試験データの書き込みを行う書き込みステップを備えている。 - 特許庁
A self-test circuit built-in semiconductor memory 20 comprises a semiconductor substrate, a memory cell array 30 formed on the semiconductor substrate, testing circuits 50, 54 provided on the semiconductor substrate, storing a program, testing a memory cell array conforming to the stored program, and outputting a test result, and a controller 52 provided on the semiconductor substrate and rewriting the contents of programs stored in the test circuits 50, 54.例文帳に追加
自己テスト回路内蔵半導体記憶装置20は、半導体基板と、半導体基板上に形成されたメモリセルアレイ30と、半導体基板上に設けられ、プログラムを記憶して記憶されたプログラムにしたがってメモリセルアレイのテストを行ない、テスト結果を出力するためのテスト回路50,54と、半導体基板上に設けられ、テスト回路50,54に記憶されるプログラムの内容を書き換えるためのコントローラ52とを含む。 - 特許庁
A data holding characteristic is improved by providing a non- volatile memory group 40 for reference of which a characteristic is inferior to a non-volatile memory in a memory cell array, and rewriting data accumulated in a non-volatile memory by a control circuit 44 based on a referred result of the non-volatile memory group 40 for reference.例文帳に追加
メモリセルアレイ内の不揮発性メモリ(7)に比して特性の劣る参照用の不揮発性メモリ群(40)を設けて、前記参照用の不揮発性メモリ群(40)の参照結果に基づいて、制御回路(44)により前記不揮発性メモリ(7)に蓄積されたデータを再書き込みすることで、データ保持特性の向上を図るものである。 - 特許庁
In this refresh control method of a graphics memory provided with a memory cell array 50 which is separated into a frame buffer area 40 performing a screen refresh operation and a DRAM refresh data storage area 42 performing a DRAM refresh operation, the memory array of the DRAM refresh data storage area 42 other than the frame buffer area 40 is refreshed in accordance with a DRAM refresh control signal REF.例文帳に追加
スクリーンリフレッシュ動作を行うフレームバッファ領域40とDRAMリフレッシュ動作を行うDRAMリフレッシュデータ貯蔵領域42に分離されたメモリセルアレイ50を具備したグラフィックメモリ装置のリフレッシュ制御方法であって、DRAMリフレッシュ制御信号REFに応じてフレームバッファ領域40を除いたDRAMリフレッシュデータ貯蔵領域42のメモリセルアレイをリフレッシュする。 - 特許庁
A cell array block is formed on a semiconductor substrate 51, and a plurality of pieces of first wiring WLL, a plurality of pieces of second wiring BLL crossing the plurality of pieces of first wiring WLL, and a plurality of cell array layers MA having a memory cell MC connected between both pieces of wiring at the crossing section of the first and second wiring are laminated.例文帳に追加
セルアレイブロックは、半導体基板51上に形成されて、複数の第1の配線WLL、これら複数の第1の配線WLLと交差する複数の第2の配線BLL、及び第1及び第2の配線の交差部で両配線間に接続されたメモリセルMCを有するセルアレイ層MAを複数積層してなる。 - 特許庁
The nonvolatile semiconductor memory comprises a memory cell array region 210 where a plurality of memory cells 100, having two MONO memory cells 108A and 108B controlled by a word gate 104 and control gates 106A and 106B, are arranged in directions A and B, and fist and second select regions 220 and 222.例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲート104とコントロールゲート106A,106Bにより制御される2つのMONOSメモリセル108A,108Bを有するメモリセル100を、方向A,Bにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域210と、第1,第2の選択領域220,222とを有する。 - 特許庁
The MONOS memory 2 has a memory cell array in which a plurality of memory cells storing data by accumulating electric charges in an electric charge trap in a plurality of ferroelectric films laminated on the semiconductor are arranged in a matrix state and memory cells are connected by a plurality of common lines of a row direction and a column direction.例文帳に追加
MONOSメモリ2が、半導体上に積層された複数の誘電体膜内の電荷トラップに電荷を蓄積してデータを記憶する複数のメモリセルを行列状に配置させ、行方向および列方向の複数の共通線によりメモリセル間を接続させたメモリセルアレイを有している。 - 特許庁
A nonvolatile semiconductor memory device has one word gate 104 and a memory cell array 200 in which twin memory cells 100 having first and second nonvolatile memory cells 108A, 108B controlled by first and second control gates 106A, 106B are arranged respectively in the directions of column and row.例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置は、1つのワードゲート104と、第1,第2のコントロールゲート106A,106Bにより制御される第1,第2の不揮発性メモリセル108A,108Bとを有するツインメモリセル100を、列方向及び行方向にそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ200を有する。 - 特許庁
After a memory transistor and a selection transistor are formed in a memory cell array area and a transistor is formed in a peripheral area on a wafer 10, an interlayer dielectric is formed from BPSG films 27 and 40 so as to cover the whole.例文帳に追加
半導体基板10上のメモリセルアレイ領域に、メモリセルトランジスタ及び選択トランジスタを、周辺領域にトランジスタを形成した後、全面を覆うようにBPSG膜27、40により層間絶縁膜を形成する。 - 特許庁
When address values that exceed the number of the word lines 3 are designated, the limiting circuit 8 outputs "1" from an unillustrated over output line through the control line 8 to inhibit the data control part 5 from accessing a memory cell in the memory array 2.例文帳に追加
ワード線3数を越えるアドレス値の指定があった場合に、リミッタ回路8が制御線8を介して、不図示なOVER出力線から「1」を出力し、データ制御部5のメモリアレイ2内のメモリセルへのアクセスを禁止する。 - 特許庁
A memory cell array (MCA) includes memory cells arranged in respective coordinates of orthogonal coordinate faces consisting of first and second axes, and it has a first region (DCA) along an outer circumference and a second region (MCA) located on a side opposite to the outer circumference of the first region.例文帳に追加
メモリセルアレイ(MCA)は、第1、第2軸からなる直交座標面の各座標に配置されたメモリセルからなり、外周に沿った第1領域(DCA)および第1領域の外周と反対側に位置する第2領域(MCA)を有する。 - 特許庁
The non-volatile memory device integrates a memory cell array 2, a voltage generating circuit REG supplying operation voltage Vr to be adjusted to a ward line LWL1, and short circuit detecting circuit 10 in the same chip 100.例文帳に追加
不揮発性メモリ装置は同一チップ(100)に、メモリセルのアレイ(2)と、選択したワード線(LWL1)に被調整動作電圧(Vr)を供給する電圧発生回路(REG)と、短絡検出回路(10)とを集積している。 - 特許庁
To constitute appropriately a chip connection part independently of volume of capacity of a provided memory cell array in a semiconductor memory device which is constituted of semiconductor chips and is stuck on a surface of the other semiconductor chip, and used by joining.例文帳に追加
半導体チップにより構成されて、他の半導体チップの表面に張り合わせ、接合して使用される半導体記憶装置において、備えられるメモリセルアレイの容量の大小に拘わらず、チップ接続部の構成を適切にする。 - 特許庁
In the reconfiguration of this gate array, an optical memory 3 is arranged on the chip and this optical memory 3 is irradiated with light, and by simultaneously irradiating each of the light receiving elements with optical signals depending on programs, the logic cell is reconfigured.例文帳に追加
このゲートアレイを再構成するに際し、チップ上に光メモリ3を配置し、この光メモリ3に光を照射して、受光素子のそれぞれにプログラムに応じた光信号を同時に照射することにより、ロジックセルを再構成する。 - 特許庁
Moreover, a semiconductor device including a memory cell array can operate stably by making nodes included in first to m-th memory cells connected in series have the same parasitic capacitance value.例文帳に追加
また、メモリセルアレイを有する半導体装置において、直列に接続された第1乃至第mのメモリセルに含まれる各ノードに生じる寄生容量の値を同等の値とすることで、安定して動作可能な半導体装置とする。 - 特許庁
To reduce power required for programming or erasing a memory and to achieve a small pitch at a high density by providing a nonvolatile flash memory capable of saving two bits per cell in one NAND array.例文帳に追加
1つのNANDアレイにおいてセルあたり2つビットを保存することが可能な不揮発性フラッシュメモリを提供することによって、メモリをプログラミングあるいは消去するのに必要な電力を低減し、高密度で小さなピッチを達成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device in which an electrode at the lower layer section of a cell array section can simultaneously be formed with a gate electrode of a transistor in a peripheral circuit section and resistance of the electrode is low and to provide a manufacturing method of the semiconductor memory device.例文帳に追加
セルアレイ部の下層部分の電極を周辺回路部のトランジスタのゲート電極と同時に形成することができ、且つ、この電極の抵抗が低い半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The semiconductor storage circuit 100 includes a memory cell array 110 that has plural multi-bit-type memory cells, multiplexers 120 including two multiplexers MUX0 and MUX1, and sense amplifiers 130 including two sense amplifiers SA0 and SA1.例文帳に追加
半導体記憶回路100は、マルチビット型のメモリセルを複数備えたメモリセルアレイ110、MUX0とMUX1の2つのマルチプレクサを含むマルチプレクサ120、SA0とSA1の2つのセンスアンプを含むセンスアンプ130で構成される。 - 特許庁
In a memory cell array MCA, a plurality of dielectric films comprising a discrete level for storing information as quantity of captured electric charges have a plurality of memory cells laminated between a semiconductor in which a channel is formed and a control electrode.例文帳に追加
メモリセルアレイMCAは、情報を捕獲電荷量として記憶するための離散準位を内部に含む複数の誘電体膜が、チャネルが形成される半導体と制御電極との間に積層されたメモリセルを複数有している。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device which enables to construct a hierarchical input/output line structure regardless of the number of sub-arrays, to reduce a chip size, and to retain the continuity among a memory cell array, a bit line sense amplifier, and a column decoder.例文帳に追加
サブアレイの数に関係なく階層型入出力ライン構造を構成でき、チップサイズを小さくすることができ、しかもメモリセルアレイ、ビットラインセンス増幅器およびカラムデコーダの連続性を保持できる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
An integrated circuit device comprising a memory cell array comprises a plurality of sense amplifiers being able to couple to the memory cells, and each of sense amplifiers has related pull-up and pull-down switching devices coupled to first and second latch nodes respectively.例文帳に追加
メモリセルのアレイを含む集積回路装置はメモリセルに結合可能な複数のセンスアンプを含み、センスアンプの各々はその第1および第2のラッチノードにそれぞれ結合される関連するプルアップおよびプルダウンスイッチング装置を有する。 - 特許庁
The semiconductor memory has an input/output circuit 120 including a write path to supply write data and a read path to supply read data, and data lines WLINE and RLINE to connect the input/output circuit 120 and the memory cell array 103.例文帳に追加
ライトデータが供給されるライトパス及びリードデータが供給されるリードパスを有する入出力回路120と、入出力回路120とメモリセルアレイ103とを接続するデータラインWLINE,RLINEとを備える。 - 特許庁
To provide a memory cell array where a ferroelectrics layer constituting a ferroelectrics capacitor has a specific pattern for less floating capacity of a signal electrode, manufacturing method thereof, and a ferroelectrics memory device.例文帳に追加
強誘電体キャパシタを構成する強誘電体層が特定のパターンを有し、信号電極の浮遊容量を小さくすることができるメモリセルアレイ、およびその製造方法、ならびに強誘電体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
A gap 2 which does not share a sense amplifier column is provided between specific adjacent memory cell blocks of each cell array, this gap 2 is utilized as a bank border, and change to 4 independent banks constitution can be performed by only changing connection of address wirings.例文帳に追加
各セルアレイの特定の隣接メモリセルブロック間にセンスアンプ列を共有しないギャップ2を設けて、このギャップ2をバンク境界として利用して、アドレス配線接続の変更のみにより、独立4バンク構成への変更を可能とした。 - 特許庁
To reduce the number (n) of transistors being connected in series and each deciding a resistance value in a current path and the number (m) of bank selecting lines per bit contact by changing constitution of a memory cell array in a NOR type cell for mask ROM.例文帳に追加
マスクROM用NOR型セルにおいて、メモリセルアレイの構成を変更することによって、それぞれ前記電流経路中の抵抗値を決める直列接続のトランジスターの数(n)とビットコンタクト当たりのバンク選択線の本数(m)を削減する。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor memory device including 3-dimensional cell arrays to reduce a chip size by allowing one unit block cell array laminated in a vertical direction to share one sense amplifier unit.例文帳に追加
非揮発性半導体メモリ装置に関し、半導体メモリ装置のセルアレイを3次元で具現し、垂直方向に積層された1つの単位ブロックセルアレイが1つのセンスアンプ部を共有するようにしてチップサイズを低減させることができるようにする。 - 特許庁
To provide a fault location specifying device of a memory cell array part in which potential conditions in a cell core can be adjusted without function operation when an analysis tool for specifying a fault location is applied and abnormal current caused by a fault can be generation-promoted.例文帳に追加
故障箇所特定用解析ツール適用時にファンクション動作を行わずにセルコア内電位条件を調整可能とし、故障起因の異常電流を発生促進できるメモリセルアレイ部故障箇所特定装置を提供する。 - 特許庁
The changeover circuit 7 divides four IO lines of a memory cell array 5 into two sets so as to perform a changeover operation, and it changes over the IO lines to a corresponding set according to the computed results of the OR circuits 23, 24.例文帳に追加
切替え回路7はメモリセルアレイ5の4つのIO線を2つの組に分けて切替え動作を行い、オア回路23,24の演算結果に応じて対応する組に切替える。 - 特許庁
Thus, arithmetic processing in which bit lines BL and transistors in a memory cell array 1 are used is not required, and hence a read-out time can be shortened and power consumption can be reduced.例文帳に追加
このように、ビット線BLやメモリセルアレイ1内のトランジスタを使った演算処理を行う必要がないため、読出時間を高速化することができ、消費電力を低減できる。 - 特許庁
Thus, even when the scale of a memory cell array increases, an increase in a layout area and timing skew which are caused by arrangement of the local switch drivers LSD and the main switch drivers MSD can be suppressed.例文帳に追加
メモリセルアレイの規模が大きくなっても、ローカルスイッチドライバLSDとメインスイッチドライバMSDの配置によるレイアウト面積の増大及びタイミングスキューを抑制することができる。 - 特許庁
To provide a technology which compensates variation in a cell characteristic in an array and to provide a three-dimensional integrated circuit memory reducing complexity caused by level difference.例文帳に追加
アレイ内のセル特性におけるばらつきを補償する技術を提供するとともに、レベルの違いによって起こる複雑性を少なくする3次元集積回路メモリを提供する。 - 特許庁
Also, when a decode-address of a memory cell array is taken in by the first command, increasing the number of pins is prevented by diverting a conventional command control pin of a SDR/DDR-SDRAM to an address pin.例文帳に追加
また、メモリセルアレイのデコードアドレスを第1のコマンドで取り込むにあたり、従来のSDR/DDR−SDRAMのコマンドコントロールピンをアドレスピンに転用してピン数の増加を防いでいる。 - 特許庁
Batch write in is carried out for each block of a memory cell array which is to be erased (S11), and thereafter soft erase is carried out for each block with a predetermined voltage as a start voltage (S12).例文帳に追加
処理S11のように消去するメモリセルアレイの各ブロック毎に一括書き込みをし、その後、S12のように、所定電圧をスタート電圧とし各ブロック毎にソフト消去して行く。 - 特許庁
A redundancy word refresh counter 11 is prepared in addition to a normal word refresh counter 5 which generates the address of the word line for refreshing the normal area 2 in a memory cell array 1.例文帳に追加
メモリセルアレイ1内の通常領域2のリフレッシュを行うためのワード線のアドレスを生成する通常ワードリフレッシュカウンタ5に加えて、冗長ワードリフレッシュカウンタ11を設ける。 - 特許庁
To integrate a nonvolatile memory cell array and two kinds of MIS(metal insulator semiconductor) transistor circuits, which are different in the thickness of the gate insulator film in a simple process to exhibit desired characteristics, respectively.例文帳に追加
不揮発性半導体メモリセルアレイと共にゲート絶縁膜厚の異なる二種のMISトランジスタ回路をそれぞれ所望の特性を発揮させるべく、簡単な工程で集積形成する。 - 特許庁
The gate insulation films 21a and 21b are formed into two kinds of different thicknesses in the three regions, that is, in the cell array of the nonvolatile memory and in the high voltage circuit and the low voltage circuit of the peripheral circuit section.例文帳に追加
不揮発性メモリのセルアレイと周辺回路部の高電圧系回路と低電圧系回路の三領域でゲート絶縁膜21a 、21b の厚さを2種類にした。 - 特許庁
When the element is applied to a magnetic memory cell which uses the magnetization array of the electrodes as recording information, reading-out output may be taken larger than in the prior art using a ferromagnetic tunnel effect.例文帳に追加
電極の磁化配列を記録情報とする磁気メモリセルに応用した場合、強磁性トンネル効果を用いた従来例に比べ、読み出し出力を大きく取ることが可能となる。 - 特許庁
To simplify selection of an I/O line, and to prevent increment of area of a memory cell array, with respect to a semiconductor device which uses an open bit line system and can switch the number of I/O.例文帳に追加
オープンビット線方式を用いたI/O数が切り替え可能な半導体装置において、I/O線の選択が単純化するとともに、メモリセルアレイの面積増大を防止する。 - 特許庁
An anti-fuse memory cell array 7 is provided with a switch which is connected between VPP and a bit line and turned on or off in accordance with writing data DIN and the writing control signal WE.例文帳に追加
さらにアンチヒューズメモリセルアレイ7にはVPPとビット線間に接続され、書き込みデータDINと書き込み制御信号WEとに基づき、オン・オフされるスイッチを設ける。 - 特許庁
To provide a semiconductor device that can be improved in yield by eliminating a step of an interlayer insulating film formed between a memory cell array region and a peripheral circuit region.例文帳に追加
メモリセルアレイ領域と周辺回路領域との間に生じる層間絶縁膜の段差を解消し、歩留まりの向上を図ることができる半導体装置を提供すること。 - 特許庁
A phase correction means 19 reads out the corresponding correction value from the memory, based on the M-series signal output from photoreception cell array groups 43, 44 for an M-series, to correct phase shifts.例文帳に追加
位相補正手段19は、M系列用受光セルアレイ群43,44から出力されるM系列信号に基づいて対応する補正値をメモリから読み出して位相ずれを補正する。 - 特許庁
In this case, the unit memory cell array constituting one bank is divided to be allotted to the same bank, by selecting cells positioned at a position being a diagonal element each other for the center of the interface circuit.例文帳に追加
このとき1個のバンクを構成する単位メモリセルアレイの分割は、インタフェース回路の中心に対して互いに対角要素の位置にあるものを選択して、同−バンクに割り付ける。 - 特許庁
At the time, definition of read/write is performed by a first command, a decode-address of a memory cell array also is taken in by the first command and shortening more the random access time tRAC is realized.例文帳に追加
この際、リード/ライトの定義を第1のコマンドで行い、且つメモリセルアレイのデコードアドレスも第1のコマンドで取り込んでランダムアクセスタイムtRACの更なる高速化を実現する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of preventing lowering of an access speed caused by a redundancy determination while reducing a precharge circuit in a memory cell array having a hierarchy bit line configuration.例文帳に追加
階層化ビット線構成を有するメモリセルアレイにおいてプリチャージ回路を削減しつつ冗長判定に伴うアクセス速度の低下を防止し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁
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