「memory cell array」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

When a CPU outputs a test mode signal to a flash memory 15 and reads out data, only an source of a memory cell transistor 16 belonging to a word column selected by a row decoder 17 is connected to ground by a switch array 21, the other sources are connected to a power source VDR.例文帳に追加

ＣＰＵが、フラッシュメモリ１５に対して検査モード信号を出力しデータの読出しを行う場合に、行デコーダ１７で選択されたワード列に属するメモリセルトランジスタ１６のソースだけをスイッチアレイ２１によってグランドに接続し、その他のソースを電源ＶDRに接続する。 - 特許庁

A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.例文帳に追加

制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁

A non-volatile memory 10 is constituted of plural flip-flop connected to each other end of each bit line other than a first register 11 consisting of plural flip-flop connected to each one end of each bit line 2 of a memory cell array 1, and is provided with a second register 12 for testing the discontinuity of each bit line 2.例文帳に追加

不揮発性メモリ１０は、メモリセル・アレイ１の各ビット線２の各一端と接続される複数のフリップ・フロップからなる第１レジスタ１１の他に、各ビット線２の各他端と接続される複数のフリップ・フロップからなり、各ビット線２の断線検査用の第２レジスタ１２を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a chip size is reduced by making a bit line fine or in which a sense amplifier and a memory cell array with an enhanced operating speed, by lowering a threshold voltage can be operated satisfactorily at a voltage which is lower than an external power-supply voltage.例文帳に追加

ビット線の細線化によってチップサイズが縮小され、或いは、しきい値電圧の低下によって作動速度が向上したセンスアンプやメモリセルアレイを、外部電源電圧よりも低い電圧で良好に作動させることができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The refresh control circuit 12 generates a refresh address 34 for executing refresh of the memory cell array 13 until the refresh address 34 coincides with the most significant row address 44 every timing for supplying the refresh request signal 33 generated by the memory controller 11.例文帳に追加

リフレッシュ制御回路１２は、メモリコントローラ１１で生成されたリフレッシュ要求信号３３が供給されるタイミング毎に、メモリセルアレイ１３のリフレッシュを実施するためのリフレッシュアドレス３４が最上位ロウアドレス４４と一致するまで当該リフレッシュアドレス３４を生成する。 - 特許庁

A plurality of bit lines are separated into first and second bit line groups at the border of a selected memory cell column in a memory array at data write and read, and one of first and second voltages and the other are applied to the first and second bit lines groups, respectively.例文帳に追加

データ書込および読出時において、メモリアレイ内の選択メモリセル列を境界として複数のビット線を第１および第２のビット線群に分割し、第１のビット線群と第２のビット線群とをそれぞれ第１および第２の電圧の一方および他方と接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage apparatus wherein the unevenness of effective voltages applied to variable resistance elements, which is caused by a difference in wire length due to a positional difference in a memory cell array, can be eliminated, thereby suppressing the variation in resistance characteristics of the variable resistance elements between memory cells.例文帳に追加

メモリセルアレイ内での位置の違いに起因する配線長の違いによる可変抵抗素子に加わる実効電圧の不均一を是正し、メモリセル間の可変抵抗素子の抵抗変化特性のばらつきを抑制することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This device is constituted so that input/output of data is performed in two directions of two side parts 113, 114 being adjacent and orthogonal each other of a square memory cell array in which memory cells are arranged in a matrix state at intersection positions of word lines and bit lines arranged in a lattice state and intersecting orthogonally each other.例文帳に追加

格子状に配列された互いに直交するワード線およびビット線の交差位置にメモリセルがマトリクス状に配置されている方形のメモリセルアレイの、互いに隣接して垂直な２つの縁（辺）部１１３，１１４の２方向にデータの入出力を行うように構成する。 - 特許庁

A write dummy bit is constituted of a first dummy line and a second dummy line corresponding to complementary bit lines of a memory array and a plurality of first dummy cells which are formed in the same form as a static type memory cell and a write current path is connected between the first dummy line and the second dummy line.例文帳に追加

メモリアレイの相補ビット線に対応した第１ダミー線と第２ダミー線と、スタティック型メモリセルと同じ形態で形成され、書き込み電流経路が上記第１ダミー線と第２ダミー線との間に接続された複数の第１ダミーセルとで書き込みダミービットを構成する。 - 特許庁

Supply of word line voltage being boosting voltage being higher than external power source voltage, memory array substrate voltage being negative voltage supplied to a semiconductor substrate, and bit line pre-charge voltage used for reproducing data held in a memory cell are stopped for the prescribed period.例文帳に追加

リフレッシュ動作の終了毎に、外部電源電圧よりも高い昇圧電圧であるワード線電圧、半導体基板に供給する負電圧であるメモリアレイ基板電圧、及びメモリセルに保持されたデータを再生するために用いられるビット線プリチャージ電圧の供給を所定の期間だけ停止する。 - 特許庁

A memory cell array having (n+1) bit lines arranged in parallel inclusive of their redundant parts is divided into a plurality of blocks BLK1-BLK8, and substitution designation parts 11a1-11a8 are provided, which each designate bit lines having defective memory cells to each of the blocks BLK1-BLK8, respectively.例文帳に追加

冗長分を含めて平行に配置されたｎ＋１本のビット線を有するメモリセルアレイを複数のブロックＢＬＫ１〜ＢＬＫ８に分割し、各ブロックＢＬＫ１〜ＢＬＫ８に対してそれぞれ不良メモリセルを有するビット線を指定する置換指定部１１ａ１〜１１ａ８を設ける。 - 特許庁

The semiconductor memory device is provided with a plurality of data inputting circuits 100-115 for inputting data DQ0-DQ15 from the outside and a plurality of data writing circuits 200-215 for writing the data inputted by means of the circuits 100-115 in a memory cell array 300.例文帳に追加

外部からデータＤＱ０〜ＤＱ１５を入力するための複数のデータ入力回路１００〜１１５と、前記複数のデータ入力回路１００〜１１５により入力されたデータをメモリセルアレイ３００に書き込むための複数のデータ書込回路２００〜２１５を備える。 - 特許庁

The memory is also provided with a switch control circuit 10 turning off the boosting power source switch SWi corresponding to the other blocks excluding a voltage detecting circuit 9 detecting decline of a voltage level of the power source line 8 and a block in which the memory cell array 1 is selected by an output of this voltage detecting circuit 9.例文帳に追加

電源線８の電圧レベル低下を検知する電圧検出回路９と、この電圧検出回路９の出力によりメモリセルアレイ１の選択されているブロックを除き、他のブロックに対応する昇圧電源スイッチＳＷｉをオフにするスイッチ制御回路１０が設けられている。 - 特許庁

In order to distinguish a defective block in a memory cell array, the defective block data is written into the defective block so that the threshold voltage of all or a specific part of memory cells in the defective block may be larger than the word line voltage VB applied to a selection word line when reading low-order page data.例文帳に追加

メモリセルアレイ中の不良ブロックを区別するため、不良ブロック中のメモリセルの全部又は特定の一部の閾値電圧が、下位ページデータを読み出す場合に選択ワード線に印加されるワード線電圧ＶＢより大きくなるよう、不良ブロックへの不良ブロックデータの書き込みを行なう。 - 特許庁

The reference voltage REF is applied to gates of NMOS 42 of each detecting circuit, a cell current INS flowing in a NMOS 43 from a memory cell array 10 is compared with the reference current INR, and a detected signal Si being a compared result is outputted to an output node N4i.例文帳に追加

基準電圧ＲＥＦは各検出回路４０ＡのＮＭＯＳ４２のゲートに印加され、メモリセルアレイ１０からＮＭＯＳ４３に流れ込むセル電流ＩＮＳと基準電流ＩＮＲとが比較されて、出力ノードＮ４_ｉに比較結果の検出信号Ｓｉが出力される。 - 特許庁

To prevent breakdowns of an insulating film between stacked gates and a gate insulating film of a transistor in an NAND cell, even if an etching residue of a polysilicon film for forming a floating gate is generated in the column direction along a projection side face of an STI region at an end in the row direction of a cell array of an NAND type flash memory.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのセルアレイの行方向端におけるSTI 領域の突出側面に沿って列方向に浮遊ゲート形成用ポリシリコン膜のエッチング残りが発生しても、NANDセル内のトランジスタの積層ゲート間絶縁膜およびゲート絶縁膜の破壊を防止する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein a replica bit line is rapidly drawn out by a leak current of a dummy cell, and wherein desired start timing of a sense amplifier cannot be obtained, in a semiconductor storage device having a memory array, a sense amplifier circuit, a replica circuit connected to the replica bit line, the dummy cell, and a sense amplifier control circuit.例文帳に追加

メモリアレイと、センスアンプ回路と、レプリカビット線に接続されたレプリカ回路、ダミーセルおよびセンスアンプ制御回路とを有する半導体記憶装置であって、レプリカビット線をダミーセルのリーク電流により速く引き抜いてしまい、所望のセンスアンプ起動タイミングが得られない。 - 特許庁

In order to erase data of a memory cell array 103 in which a plurality of memory cells where data can be written and erased electrically by a floating gate are arranged, there are provided a temperature detecting circuit 110 for detecting the temperature of a chip, a voltage conversion circuit 104 for varying erasure voltage supplied to the source of the memory cell, and a voltage conversion control circuit 111 for controlling the voltage conversion circuit.例文帳に追加

浮遊ゲートにより電気的にデータの書き込み、消去のできる複数のメモリセルを配列したメモリセルアレイ１０３のデータ消去を行うにあたり、チップの温度を検知する温度検知回路１１０と、メモリセルのソースに供給する消去電圧を変化させる電圧変換回路１０４と、電圧変換回路を制御する電圧変換制御回路１１１を備えることを特徴とする。 - 特許庁

In the nonvolatile semiconductor memory device for programming memory cells which have a first or a second logic status, and for deleting them in sector units in accordance with input data having a plurality of bit information, the memory cell transistors of cell array block and transistors of column decoder block have a plurality of sectors which are formed by sharing a bulk area, to provide a sector structure formed of the shared bulk.例文帳に追加

第１または第２論理状態を有するメモリセルを、複数のビット情報を有する入力データに応じてプログラムしセクタ単位に消去する不揮発性半導体メモリ装置において、セルアレイブロックのメモリセルトランジスタとコラムデコーダーブロックのトランジスタが一つのバルク領域を共有して形成されたセクタを複数有し、共有バルクで形成されたセクタ構造を有する半導体メモリ装置とした。 - 特許庁

This device includes a memory array, a decoder circuit for asserting a decoding signal for selecting an access position in the memory cell array in response to an address signal supplied from the outside, and a circuit for setting the decoding signal of the decoder circuit in an asserted state irrespective of the value of the address signal in response to the assertion of a standby signal supplied from the outside.例文帳に追加

半導体記憶装置は、メモリセルアレイと、外部から供給されるアドレス信号に応答して、該メモリセルアレイ内のアクセス位置を選択するデコード信号をアサートするデコーダ回路と、外部から供給されるスタンバイ信号のアサートに応答して、該デコーダ回路の該デコード信号を該アドレス信号の値に関わらずにアサート状態にする回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁

More specifically, the synchronous DRAM includes: a memory array containing at least first and second column blocks being divided by a column address; the first bit line sense amplifier being composed so that data outputted from the first column block of the memory cell array are sensed; and a second bit line sense amplifier being composed so that data outputted from the second column block are sensed.例文帳に追加

より具体的に、同期式ＤＲＡＭはカラムアドレスにより分けられる少なくとも第１カラムブロックと第２カラムブロックとを含むメモリセルアレイ、メモリセルアレイの第１カラムブロックから出力されるデータをセンシングするように構成された第１ビットラインセンスアンプ及びメモリセルアレイの第２カラムブロックから出力されるデータをセンシングするように構成される第２ビットラインセンスアンプを含む。 - 特許庁

A nonvolatile semiconductor memory device has: a plurality of first wiring lines; a plurality of second wiring lines that intersects with the first wiring lines; and a memory cell array having a plurality of memory cells that comprises variable resistive elements for storing electrically re-writable resistance values, which are arranged at each intersection between the first wiring lines and the second wiring lines, in a nonvolatile manner as data.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、複数の第１の配線、第１の配線に交差する複数の第２の配線、並びに第１及び第２の配線の各交差部に配置された電気的書き換え可能な抵抗値をデータとして不揮発に記憶する可変抵抗素子からなる複数のメモリセルを有するメモリセルアレイを有する。 - 特許庁

This ferroelectric memory device 1000 has a memory cell array 100 in which memory cells are arranged in a matrix-like state and a lower electrode 12, an upper electrode 16 arranged in a direction intersecting the lower electrode 12, and the ferroelectric layer 14 which is positioned in at least the intersecting area of the upper and the lower electrodes 16 and 12 are contained.例文帳に追加

強誘電体メモリ装置１０００は、メモリセルがマトリクス状に配列され、下部電極１２と、下部電極１２と交差する方向に配列された上部電極１６と、少なくとも上部電極１６と下部電極１２との交差領域に配置された強誘電体層１４と、を含むメモリセルアレイ１００を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and a semiconductor device in which the matching distance of contact hole opening lithography and gate electrode forming lithography is not required to be secured and the area of a cell array and the like can be reduced, and to provide manufacturing methods for these.例文帳に追加

コンタクトホール開口のリソグラフィとゲート電極形成のリソグラフィの整合距離を確保する必要がなく、セルアレイなどの面積の縮小が可能な半導体記憶装置、半導体装置とそれらの製造方法を提供する。 - 特許庁

Each of a plurality of memory cells 100 included in the cell array 101 has a switching element and a capacitative element in which supply, holding and discharge of charge are controlled by the switching element.例文帳に追加

さらに、駆動回路１０２上にセルアレイ１０１が設けられており、セルアレイ１０１が有する複数の各メモリセル１００は、スイッチング素子と、スイッチング素子により電荷の供給、保持、放出が制御される容量素子とを有する。 - 特許庁

Since the control terminal 113 is isolatedly disposed in a module in such a way that the terminal 113 is electrically independent from the outside connecting terminal of a data recording medium, the second memory cell array connected to the word lines Wi becomes a read-only area.例文帳に追加

この端子１１３はデータ記録メディアの外部接続端子とは電気的に独立に、モジュール内部に孤立するように配設することにより、このワード線Ｗｉと接続された第２のメモリセルアレイは、読取り専用領域となる。 - 特許庁

An opening is formed in the first conductive film so that the word lines in the memory cell array forming region are separated and arranged by first dry etching, and the side wall insulating film of the word lines is formed in the opening.例文帳に追加

次に、第１のドライエッチングによってメモリセルアレイ形成領域におけるワード線が互いに離間して配置されるように、第１の導電膜に開口部を形成した後、開口部にワード線の側壁絶縁膜を形成する。 - 特許庁

For an insulated gate type field effect transistor inside a memory cell array (1), the transistor of a gate insulating film (Tox1) thicker than the gate insulating film (Tox2) of the insulated gate type field effect transistor of peripheral circuits (3, 4 and 5) is utilized.例文帳に追加

メモリセルアレイ（１）内の絶縁ゲート型電界効果トランジスタには、周辺回路（３，４，５）の絶縁ゲート型電界効果トランジスタのゲート絶縁膜（Ｔｏｘ２）よりも膜厚の厚いゲート絶縁膜（Ｔｏｘ１）のトランジスタを利用する。 - 特許庁

When the block discriminating signal /BD is asserted, each sub-address discriminating part 133-0 to 133-n performs operation discriminating whether inputted address signals A0Y-AnY indicate a defective part in a memory cell array or not.例文帳に追加

ブロック判定信号／ＢＤがアサートされると各サブ・アドレス判定部１３３−０〜１３３−ｎは，入力されるアドレス信号Ａ０Ｙ〜ＡｎＹがメモリセルアレイにおける不良箇所を示すものか否かを判定する動作を行う。 - 特許庁

The memory cell array is arranged correspondingly to sections of the local bit lines LBL, the local bit lines LBL and the global bit lines GBL are arranged with equal pitch, and the global sense amplifier 11 and the local sense amplifier 12 are arranged with twice pitch of the above pitch.例文帳に追加

メモリセルアレイ１０はローカルビット線ＬＢＬの区分に対応して配置され、ローカルビット線ＬＢＬとグローバルビット線ＧＢＬが等ピッチで配置され、その２倍のピッチでグローバルセンスアンプ１１及びローカルセンスアンプ１２が配置されている。 - 特許庁

Accordingly, the memory cell array can operate at the first data transfer rate while allowing the output circuit to output data to an external terminal at the second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate, in a test mode of operation.例文帳に追加

これにより、テストモードで、前記メモリセルアレイは前記第１データ転送速度で動作する一方、前記出力回路は前記第１データ転送速度より低い前記第２データ転送速度でデータを前記外部ターミナルに出力しうる。 - 特許庁

The memory cell array 4 stores and holds data in a plurality of magnetoresistive elements connected to a word line WLy (y=0, 1, ..., 2n, 2n+1, ...), and a bit line BLix, and a source line SLix (i=0, 1, ..., m, ..., M; x=0, 1).例文帳に追加

メモリセルアレイ４は、それぞれワード線ＷＬｙ（ｙ＝０，１，…２ｎ，２ｎ＋１，…）、ビット線ＢＬｉｘ及びソース線ＳＬｉｘ（ｉ＝０，１，…，ｍ，…，Ｍ；ｘ＝０，１）に接続された複数の磁気抵抗素子に対してデータを記憶保持する。 - 特許庁

As a mask for forming the lamination gate of a memory cell array is used to perform an SAS etching process, another mask for the SAS etching process is unwanted and a process margin in a bit line contact region can be ensured.例文帳に追加

メモリセルアレーの積層ゲートを形成するためのマスクを用いてＳＡＳエッチング工程を行うので、別途のＳＡＳエッチング工程用のマスクを必要とせず、ビットラインコンタクト領域における工程マージンを確保することができる。 - 特許庁

The read protection is released only when detecting that a specified operation procedure is performed by a rewrite operation detection part 108 for detecting the operation procedure to a memory cell array 121 based on a control signal 811.例文帳に追加

制御信号８１１に基づいてメモリセルアレイ１２１に対する動作手順を検知する書き換え動作検知部１０８において、規定された通りの動作手順が行われたことを検知した場合にのみ読み出しを禁止を解除する。 - 特許庁

A ratio of a parity bit for user data written in a memory cell array 201 is reduced by making the number of bits of data input to the ECC circuit 205 exceed the number of bits of data input from the outside for writing.例文帳に追加

ＥＣＣ回路２０５に入力されるデータのビット数を、書き込みのため外部から入力されるデータのビット数よりも多くすることにより、メモリセルアレイ２０１に書き込まれるユーザデータに対するパリティビットの比率を低減させる。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage device comprises a first MOS transistor included in a memory cell array part and a second MOS transistor included in a constant-voltage logic circuit unit situated next to the first MOS transistor on an SOI substrate 1.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ＳＯＩ基板１上に、メモリセルアレイ部に属する第１のＭＯＳトランジスタと、第１のＭＯＳトランジスタに隣接し、定電圧ロジック回路部に属する第２のＭＯＳトランジスタとを備える。 - 特許庁

A memory cell array is divided into a plurality of blocks, data input/output path is selectively controlled through a predetermined data rate option and inputted addresses to perform data input/output at a x8 or x16 speed in one chip.例文帳に追加

複数のブロックにメモリセルアレイを分割し、指定された倍速オプション及び入力されるアドレスを通じてデータの入出力経路を選択的に制御して一つのチップで×８または×１６のデータ入出力を実行可能にする。 - 特許庁

With this setup, the plate electrode 28 is exposed in the peripheral region 56, the interlayer dielectric 29 results in appearing in the peripheral part 55 of a memory cell array region 54, and the interlayer dielectric 29 functions substantially as an etching mask.例文帳に追加

これにより周辺回路領域５６にはプレート電極２８が露出され、メモリセルアレイ領域５４の周辺部５５には層間絶縁膜２９が現れており、この層間絶縁膜２９が実質的にエッチングマスクとして機能する。 - 特許庁

By this arrangement, potential rise of the drain power source line 12 is delayed and the time supplying the drain voltage MCD from the charging circuit 50 becomes longer, and the memory cell array 10_i can be surely charged up to the drain voltage MCD.例文帳に追加

これにより、ドレイン電源線１２の電位上昇が遅延して充電回路５０からドレイン電圧ＭＣＤを供給する時間が長くなり、メモリセルアレイ１０_ｉを確実にドレイン電圧ＭＣＤまで充電することができる。 - 特許庁

PMOS switch transistors SPa and SPb and NMOS switch transistors SNa and SNb constituting the selective transfer gates 15a and 15b are arranged on the opposite sides with a memory cell array 11 in-between.例文帳に追加

そして、それぞれの選択トランスファーゲート１５ａ，１５ｂを構成する、ＰＭＯＳスイッチトランジスタＳＰａ，ＳＰｂおよびＮＭＯＳスイッチトランジスタＳＮａ，ＳＮｂが、それぞれ、メモリセルアレイ１１を挟んで反対側に配置されてなる構成となっている。 - 特許庁

In addition, since it is also possible to make equal wiring distances from the input/output control circuit 20 to an address decoder 18 and an output multiplexer 19, it is possible to minimize the read time from the memory cell array 17.例文帳に追加

しかも、入出力制御回路２０から、アドレスデコーダ１８、及び出力マルチプレクサ１９までの配線距離についても、同距離にすることができるため、メモリセルアレイ１７からの読み出し時間を最短にすることができる。 - 特許庁

According to this method, electron beam data conversion can be performed in one process, which reduces the required time and system resources to about a half, and the method is particularly effective in verifying cell array region or the like of a semiconductor memory element.例文帳に追加

この方法によれば、電子ビームデータの変換過程が一回で済み、所要時間及び必要とされるシステムの資源を半分程度に低減でき、特に半導体メモリ素子のセルアレイ領域などを検証するのに有効である。 - 特許庁

A read/write circuit 117 is controlled by delayed internal control signals MAE1, WBE1, thereby, read or write for a memory cell array is performed in timing in accordance with a value set to the AL setting register 132.例文帳に追加

読み出し／書込み回路１１７は、遅延された内部制御信号ＭＡＥ１，ＷＢＥ１によって制御され、これによりＡＬ設定レジスタ１３２に設定された値に応じたタイミングでメモリセルアレイに対する読み出し又は書込みを行う。 - 特許庁

To provide a magnetoresistance effect element having a large MR change rate, and to provide a magnetic head assembly, a magnetic recorder/reproducer, and a memory cell array using the same, and a manufacturing method of a magnetoresistance effect element.例文帳に追加

本発明の実施形態によれば、劣化しにくく、ＭＲ変化率の大きい磁気抵抗効果素子、それを用いた磁気ヘッドアセンブリ、磁気記録再生装置、メモリセルアレイ、及び磁気抵抗効果素子の製造方法を提供することができる。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit includes a plurality of input/output terminals for transmitting input/output data and a plurality of memory cell array areas to which bits of different in number among the input/output data are assigned, and addresses different from one another are assigned.例文帳に追加

入出力データを伝達する複数の入出力端子と、入出力データのうち互いに異なる番号のビットが割り当てられ、互いに異なるアドレスが割り当てられた複数のメモリセルアレイ領域とを備えている。 - 特許庁