「microanalyzer」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL ALIGNMENT OF X-RAY MICROANALYZER例文帳に追加

Ｘ線マイクロアナライザーの光学的心合せ - 特許庁

STAGE DRIVING METHOD FOR ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザーのステージ駆動方法 - 特許庁

X-RAY MICROANALYZER HAVING SOUND MONITOR FUNCTION例文帳に追加

サウンドモニタ機能を備えたＸ線マイクロアナライザ - 特許庁

PARTICLE ANALYZING DEVICE BY MEANS OF ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザによる粒子解析装置 - 特許庁

GEOLOGICAL AGE MEASURING METHOD BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザによる地質年代測定法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

ELECTRON BEAM ANALYZING AND OBSERVING APPARATUS AND ELECTRON BEAM MICROANALYZER例文帳に追加

電子線分析・観察装置および電子線マイクロアナライザ - 特許庁

INCLUSION ANALYSIS METHOD OF SAMPLE BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プロ—ブマイクロアナライザによる試料の介在物分析方法 - 特許庁

ANALYTICAL AUXILIARY TOOL USED IN ANALYSIS BY ELECTRON BEAM MICROANALYZER例文帳に追加

電子線マイクロアナライザーの分析で用いるための分析補助具 - 特許庁

IMAGE PROCESSING METHOD AND DEVICE FOR X-RAY IMAGE OF ELECTRONIC MICROANALYZER例文帳に追加

電子マイクロアナライザーのＸ線像の画像処理方法及び装置 - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD OF MATERIAL IN ARBITRARY SHAPE BY ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 - 特許庁

The C.V. value is calculated from element mapping by an electron beam microanalyzer.例文帳に追加

Ｃ．Ｖ．値は、電子線マイクロアナライザーによる元素マッピングから算出される。 - 特許庁

To provide an electron beam microanalyzer equipped with a sample holder used for analyzing the electron beam microanalyzer, easy to attach and detach a sample and producing no charge-up.例文帳に追加

電子線マイクロアナライザ分析用の試料ホルダであって試料の着脱が容易で且つチャージアップが発生しない試料ホルダを備えた電子線マイクロアナライザを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DISPLAYING ELEMENT QUALITATIVE ANALYSIS SPECTRUM IN EPMA, AND X-RAY MICROANALYZER例文帳に追加

ＥＰＭＡにおける元素定性分析スペクトルの表示方法及びＸ線マイクロアナライザ - 特許庁

To efficiently measure a geological age using an electron probe microanalyzer, and to efficiently display an age map.例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザを用いる地質年代測定と年代マップの表示を効率よく行う。 - 特許庁

To provide an electronic probe microanalyzer capable of accurately measuring the average compsn. of particles.例文帳に追加

粒子の平均組成を正確に測定することが可能な電子プローブマイクロアナライザを提供する。 - 特許庁

To accurately align an X-ray spot on a sample at a characterized portion of interest, in an X-ray microanalyzer.例文帳に追加

Ｘ線マイクロアナライザーにおいて、Ｘ線スポットを試料上の関心がある特徴部に正確に心合せする。 - 特許庁

MOLECULE RECOGNITION CHIP, ITS MANUFACTURING METHOD, MOLECULE RECOGNITION CHIP ANALYSIS METHOD, AND INFRARED DNA MICROANALYZER例文帳に追加

分子認識チップとその製造方法、分子認識チップ分析方法並びに顕微赤外ＤＮＡ解析装置 - 特許庁

To provide the X-ray microanalyzer not requiring a unit for separate acoustic displays.例文帳に追加

別個の聴覚的表示のためのユニットを必要としないサウンドモニタ機能を備えたＸ線マイクロアナライザを提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam microanalyzer having a means for observing the surface of a sample in place of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡に代わる試料表面の観察手段を有した電子線マイクロアナライザを提供する。 - 特許庁

This device is equipped with an analysis area determination means 21 for determining the analysis area of living tissue to be analyzed using X-ray microanalyzer.例文帳に追加

Ｘ線マイクロアナライザーで分析する生体組織の分析エリアを決定する分析エリア決定手段21を備えた。 - 特許庁

To provide an X-ray microanalyzer capable of easily comparing spectra with each other.例文帳に追加

本発明はＸ線マイクロアナライザに関し、スペクトル同士の比較が容易に行なえるＸ線マイクロアナライザを提供することを目的としている。 - 特許庁

To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.例文帳に追加

斜出射ＥＰＭＡ分析において、複数の波長分散形Ｘ線分光器に対するＸ線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁

To provide an electronic probe microanalyzer constituted so as to be capable of recognizing a correlation between the positional and geometrical characteristics of particles to be measured and the chemical compositional characteristics of them at a glance.例文帳に追加

測定粒子の位置及び幾何学上の特徴と化学組成の特徴の相互関係を一目で認識できるようにした電子プローブマイクロアナライザを提供する。 - 特許庁

To provide an inclusion analysis method of a sample by the EPMA (electron probe microanalyzer) for performing efficient measurement by avoiding unneeded measurement and without decreasing measurement accuracy.例文帳に追加

無駄な測定を避け且つ測定精度を低下させずに効率的な測定を行えるようにした、ＥＰＭＡによる試料の介在物分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multistack microanalyzer which is microminiature and ultra-lightwieght in a palmtop size, which is low-cost and by which various gases and liquids can be measured with high accuracy.例文帳に追加

パームトップサイズといった超小型、超軽量で、安価であり、各種のガスや液体を高精度に測定することのできるマルチスタックマイクロ分析計を提供すること。 - 特許庁

To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material.例文帳に追加

包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体に対するＥＰＭＡによる面分析法において、包埋材への電子線照射をできるだけ低減できるようにする。 - 特許庁

To provide an analytical auxiliary tool used in analysis by an electron beam microanalyzer capable of dispensing with use of a mold releasing agent, and capable of preventing a sample from being contaminated.例文帳に追加

本発明の目的は、離型剤を使用することなく、かつ試料汚染を防止することができる、電子線マイクロアナライザーの分析で用いるための分析補助具を提供する。 - 特許庁

To provide a particle analyzing device by means of an electron probe microanalyzer capable of correctly determining the compounds to be analyzed even if particles are small enough to fall under an electron diffusion domain of an electron beam irradiated to a specimen.例文帳に追加

試料照射電子線の電子拡散領域以下の小さい粒子の場合でも、正しく分析目的の化合物を判定することが可能な電子プローブマイクロアナライザによる粒子解析装置を提供する。 - 特許庁

An epi-illumination device S3, an observation device K2, a reflecting objective lens 10 with a hole, and an optical mechanism arranged on an optical path connecting those are used for observing a reflected optical image for accurately aligning the analytical point, in this electron probe microanalyzer.例文帳に追加

分析点の位置合わせを精度よく行うための反射光学像の観察は、落射照明装置Ｓ３と観察装置Ｋ２と有孔反射対物レンズ１０とこれらを結ぶ光路に配置された光学機構を用いる。 - 特許庁

To carry out highly precise analysis in spite of a low retrieval frequency of a coordinate value and carry out highly precise analysis without any divergence of control even when an extent of a height directional change is greatly increased in an electron prove microanalyzer.例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザーにおいて、座標値の少ない取得回数で高い精度の分析を行い、また、高さ方向の変化の程度が大きい場合であっても、制御が発散することなく高精度の分析を行う。 - 特許庁

In the ceramic substrate containing Si, the concentration of silicon oxide and silicon complex oxides in the surface of the substrate is set to 2.7 Atom% or below by surface measurement using an electron probe microanalyzer.例文帳に追加

Ｓｉを含有してなるセラミックス基板であって、基板表面における酸化シリコン及びシリコンの複合酸化物の濃度が、電子プローブマイクロアナライザを用いた表面測定で２．７Ａｔｏｍ％以下に設定されていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an energy dispersion type microanalyzer enabling anyone to simply set an analyzing condition optimum to a sample even if he has no exclusive knowledge or ability and capable of obtaining a highly accurate analyzing result in spite of simple handling.例文帳に追加

専門的な知識や能力がなくても、試料に最適な分析条件を誰にでも簡単に設定することができ、取り扱いが簡単でありながらも精度の高い分析結果を得ることのできるエネルギー分散型マイクロアナライザを提供すること。 - 特許庁

The bond magnet 1 has at least one position where a phosphorus atom and a metal atom originating in a phosphoric acid metal salt is detected down to a depth of 40 μm or more from the surface of the protective layer by line analysis using an X-ray microanalyzer.例文帳に追加

そして、このボンド磁石１は、リン酸金属塩に由来するリン原子及び金属原子が、Ｘ線マイクロアナライザーを用いた線分析により、保護層の表面から４０μｍ以上の深さ位置まで検出される検出箇所を少なくとも一箇所有している。 - 特許庁

When forming the emitter region 2e and the collector region 2c, the acceleration voltage is set at 20 kV and the ion current is set at 10 μA by a secondary ion microanalyzer (IMA) and the two points on the Si substrate 1 are irradiated with Ar^+ and He^+, which are rare gas element ions, for about two hours.例文帳に追加

エミッタ領域２ｅ及びコレクタ領域２ｃの形成に当たっては、二次イオン質量分析器（ＩＭＡ）により加速電圧を２０ｋＶ、イオン電流を１０μＡとして、希ガス元素のイオンであるＡｒ^+及びＨｅ^+を２時間程度、Ｓｉ基板１の２箇所にイオン照射する。 - 特許庁

The electron beam microanalyzer has a U-shaped holding frame for forming a space which houses an embedded sample, holding the embedded sample in a force-acting state by the coil spring CS installed on the base of the frame, and having a sample mask RW placed on the upper surface thereof to hold the same while holding the conductive system between a holder CH and the sample.例文帳に追加

包埋試料を収納する空間を形成するＵ字形保持枠を有し、枠の底部に設置したコイルバネにて包埋試料を力が作用した状態で保持し、しかも上面には試料マスクを載置してホルダと試料間の導電系を保持させつつ保持するものである。 - 特許庁

To exactly perform correlation computation processing even between pieces of X-ray image data which are acquired by different sequences and in which displacement exists regarding an X-ray image data processing method and device in an EPMA (electronic probe microanalyzer).例文帳に追加

本発明はＥＰＭＡ(電子プローブマイクロアナライザ)におけるＸ線像データ処理方法及び装置に関し、異なるシーケンスで取得し位置ずれが存在しているＸ線像データ同士であっても、相関演算処理を正確に行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁

In addition, the device is also equipped with a dyed image acquisition means 51 for acquiring a dyed image of the living tissue, and an image compositing means 41 for compositing the dyed image of the living tissue acquired by the dyed image acquisition means 51, with a trace element distribution image acquired by the X-ray microanalyzer.例文帳に追加

さらに、生体組織の染色画像を取得する染色画像取得手段51と、染色画像取得手段51で得られた生体組織の染色画像とＸ線マイクロアナライザーで得られた微量元素分布画像とを合成する画像合成手段41とを備えた。 - 特許庁

The method of detecting a void in a cement hardened body includes impregnating a void present in the cement hardened body with a resin solution having an organic halogen compound dissolved or mixed thereto followed by hardening, polishing the surface, and analyzing the distribution state of halogen atoms derived from the organic halogen compound by an electron-beam microanalyzer.例文帳に追加

セメント硬化体に存在する空隙部に、有機ハロゲン化合物を溶解又は混合した樹脂液を含浸させて硬化させた後、表面を研磨し、電子線マイクロアナライザーにより、該有機ハロゲン化合物由来のハロゲン原子の分布状態を分析することを特徴とするセメント硬化体中の空隙部を検出する方法。 - 特許庁

This analytical auxiliary tool used in the analysis by the electron beam microanalyzer comprises a teflon underlay plate for laying the sample, and a teflon pipe mounted on the teflon underlay plate to surround the sample laid on the teflon underlay plate and to inject a resin in its inside to surround the resin.例文帳に追加

本発明の電子線マイクロアナライザーの分析で用いるための分析補助具は、試料を載置するためのテフロン製下敷き板と、該テフロン製下敷き板に載置された試料を包囲し、内部に樹脂を注入して樹脂を包埋するように前記テフロン製下敷き板に載置されるテフロン製パイプとから成る。 - 特許庁

To provide an electron probe microanalyzer, provided with an optical observation system of satisfying both requests of shallow focal point depth and high magnification observation for accurately aligning the analytical point, and of wide-view field and low magnification observation for searching for the analytical point in a thin sample by a transmission optical image.例文帳に追加

分析点の位置合わせを精度よく行うための浅い焦点深度及び高倍率観察と、薄片試料の分析点探しを透過光学像によって行うときの広い視野及び低倍率観察という両方の要求を満たす光学観察系を備える電子プローブマイクロアナライザの提供。 - 特許庁

In the method for clarifying the pollution state of the soil prior to the cleaning process of the polluted soil, a concentration distribution of a harmful element, existing in the particle of the polluted soil, is analyzed by using a mapping technology by an electronic probe microanalyzer (EPMA) and the pollution conformation of the polluted soil particles is clarified from a state of the concentration distribution of the harmful element.例文帳に追加

汚染土壌の浄化処理に先だって行う土壌の汚染状態解明方法において、電子プローブ・マイクロ・アナライザ（ＥＰＭＡ）によるマッピング技術を用いて、汚染土壌の粒子に存在する有害元素の濃度分布を分析し、有害元素の濃度分布の状態から汚染された土壌粒子の汚染形態を解明する。 - 特許庁

In the case the depth by which the peak value of an oxygen profile measured by an X-ray microanalyzer of the surface after the hot rolling of a laminated material obtained by laminating an Al-Si brazing filler metal on the surface of a core material composed of aluminum or an aluminum alloy reaches 1/2 is defined as a surface oxidized film thickness, the surface oxidized film thickness is ≤250 Å.例文帳に追加

アルミニウム又はアルミニウム合金からなる芯材の表面にＡｌ−Ｓｉ系ろう材が積層された積層材が熱間圧延された後の表面のＸ線マイクロアナライザで測定される酸素プロファイルのピーク値が１／２となる深さを表面酸化膜厚さとすると、その表面酸化膜厚さは２５０Å以下である。 - 特許庁

The porous shaped article comprises an organic polymer resin and an inorganic ion adsorbent, wherein the ratio of 95% cumulative relative X-ray intensity to 5% cumulative relative X-ray intensity (cumulative relative X-ray intensity ratio) of ingredient elements composing an inorganic ion adsorbent that is supported by the porous article ranges from 1 to 10 as measured using an electron probe microanalyzer (EPMA).例文帳に追加

有機高分子樹脂及び無機イオン吸着体を含んでなる多孔生の成形体であって、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）を用いて得られる、該多孔性の成形体に担持されている無機イオン吸着体を構成する成分元素の９５％相対累積Ｘ線強度と５％相対累積Ｘ線強度の比（相対累積Ｘ線強度比）が１〜１０となることを含む、上記多孔性成形体。 - 特許庁

In the energy dispersion type microanalyzer equipped with an electron microscope 11, an energy dispersion type X-ray analyzer 22 and computers 13 and 24 for controlling them, memory media 13a and 24a storing the analyzing condition set with respect to the electron microscope 11 and the analyzing condition set with respect to the energy dispersion type X-ray analyzer 22 on the basis of the condition corresponding to the set analyzing condition are provided.例文帳に追加

電子顕微鏡１１とエネルギー分散型Ｘ線分析装置２２とこれらを制御するコンピュータ１３，２４とを備えたエネルギー分散型マイクロアナライザにおいて、電子顕微鏡１１について設定する分析条件と、その条件に対応する条件でエネルギー分散型Ｘ線分析装置２２について設定する分析条件とを記憶した記憶媒体１３ａ，２４ａを設けている。 - 特許庁